GBT 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范

对于更高要求的硅单晶抛光片规格，如：颗粒测试硅片、光刻分辨率试验用硅片以及金属离子监控片等，参见SEMI24《硅单晶优质抛光片规范》。 关键字：GB/T26065-2010，GB/T 26065，GB/T26065，GB/T 26065-，GBT 26065-2010，GBT
免费版 资料语言： 简体中文 更新时间： 标准名称： 硅单晶抛光试验片规范 英文名称：
GB/T26065-2010硅单晶抛光试验片规范 作者： 类别：工具书/标准 出版社： ISBN：，以及GB/T26065-2010硅单晶抛光试验片规范的摘要、书评、在线阅读等信息，为您购买GB/T
1、推荐使用WinRAR v3.10 以上版本解压本站资源。 2、本站上所有资源均为网上搜集而来，未做任何删改。本站所有资源仅供学习和研究使用，不得用于任何商业用途。如有需要
下载说明： 1、推荐使用WinRAR v3.10 以上版本解压本站资源。本站资源解压密码均为：bzsoso 2、本站上所有资源均为网上搜集而来，未做任何删改。本站所有资源仅
当当为您提供GB/T26065-2010硅单晶抛光试验片规范图片，包含GB/T26065-2010硅单晶抛光试验片规范的高清图、外观图、细节图等信息，让您360度完全欣赏。 硅单晶抛光试验片规范，Specification for polished test silicon wafersGB/T 26065-2010，，H80 合成氨工业水污染物排放标准 GB29436.1-2012 甲醇单位产品能源消耗限额 第1部GB29140-2012 纯碱单位产品能源消耗限额 GBT26065-2010 硅单晶抛光试验片规范 GB28184-
GBT26065-2010 硅单晶抛光试验片规范 点击阅读
所属分类： 国家标准 GBT27506-2011 机械称量式烘干法水分测定仪 点击阅读
所属分类： 国家标准 GBT24656-2009 拖拉机
GB/T25091-2010 高压直流隔离开关和接地开关GBT25091-2010 高压直流隔离开关和接地开关 本标准规定了高压直流隔离开关和接地开关的使用条件、额定值、设计与结构、试验

GBT 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范

GB/T26065-2010 硅单晶抛光试验片规范GBT26065-2010 硅单晶抛光试验片规范 本标准规定了半导体器件制备中用作检验和工艺控制的硅单晶试验片的技术要求。本标准涵盖尺寸规格、结晶取向及表面缺陷等特性要求。本标准涉及了50.8mm~300mm 所有标准直径的硅抛光试验片技术要求。对于更高要求的硅单晶抛光片规格，如:颗粒测试硅片、光刻分辨率试验用硅片以及金属离子监控片等，参见SEMI24《硅单晶优质抛光片规范》。英文名称:Specification for polished test silicon wafers