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SJ T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161 CT74161型 4位二进制同步计算器异步清除

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:2924次
SJ T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161 CT74161型 4位二进制同步计算器异步清除
 

中华人民共和国电子工业行业标准

 

电子元器件详细规范.

半导体集成电路CT54161/CT74161型      SJ/T 10083—91

4位二进制同步计算器(异步清除)

Detail specification for electronic components

Semiconductor integrated circuit

CT54161/CT74161 4-bit synchronous binary counter (direct clear)

 

  本规范规定了半导体集成电路CT54161/CT74161型4位二进制同步计算器(异步清除)质量评定的全部内容。  

本标准符合GB 4589.1《半导体器件,分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。

中华人民共和国机械电子工业部

 

评定器件质量的依据:

GB 4589.l《半导体器件  分立器件和集成电路总规范》

GB/T12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》

SJ/T 10083-91

 

CT54161/CT74161型超前进位产生器详细规范

订货资料:见本规范第7章。

 

1   机械说明

外形依据:GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》,

外形图:GB 7092

           

D型

5.3.1条

J型

5.4条及5.4.1条

P型

5.5条及5.5.1条

F型

5.1条及5.1.1条

引出端排列

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

 引出端符号名称见本规范第11.4条。

 标志:按GB 4589.1第2.5条及本规范第6章。

 

2  简要说明

   双极型运算器

   半导体材料:硅

封装:空封,非空封

逻辑图、功能表:见本规范第ll章。

品种:

 


环境温度

型号

 

封装形式

0~70℃

(C)

—55~125℃

(M)

陶瓷直插(D)

 

CT54161MD

黑瓷直插(J)

CT74161CJ

CT54161MJ

塑料直插(P)

CT74161CP

 

多层陶瓷扁平(F)

 

CT54161MF

 

3质量评定类别

Ⅰ,ⅡA, ⅡB, ⅡC

 

4.极限值(绝对最大额定值)

若无其他规定,适用于全工作温度范围。

条款号

参数

符  号

数    值

 

 

最小

 

最大

单  位

 

4.1

工作环境温度

54

 

 

Tamb

 

 

 

—55

 

125

74

O

70

4.2

贮存温度

Tatg

—65

150

4.3

电源电压

Vcc

7

V

4.4

输入电压

VI

5.5

V

4.5

多发射极晶体管

输入端间的电压

 

VII

 

 

5.5

 

 

V

 

 

5电工作条件和电特性

   电特性的检验要求见本规范第八章

 

5.1电工作条件

若无其他规定,适用于全工作温度范围。

条款号

参    数

符  号

数    值

单  位

最  小

最  大

5.1.1

 

电源电压

 

 

 

54

Vcc

 

4.5

 

5.5

 

74

 

VIH

 

 

4.75

 

5.25

V

 

5.1.2

输入高电平电压

Vn

2

 

V

 

5.1.3.

输入低电平电压

 

Vch

 

 

0.8

 

 

V

 

5.1.4

输入高电平电流

 

Ioh

 

—800

 

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)A

 

5.1.5

输出低电平电流

Iol

16

mA

5.1.6

脉冲宽度

CP

tw

25

ns

CR(——)

20

5.1.7

建立时间

CTT CTP

tset

20

ns

D

20

5.1.8

保持时间

LD(——)

tH

25

ns

D

0

5.2电特性

若无其他规定,适用于全工作温度范围。

条款号

特性和条件

符号

规范值

单位

试验

最小

最大

5.2.1

输入高电平电压

VCC=最小VIH=2V

VH=0.8V  IOH=-800UA

VOH

 

 

2.4

V

A3

5.2.2

输入低电平电压

VCC=最小VIH=2V

VH=0.8V  IOH=16mA

VOL

 

0.4

V

A3

5.2.3

输入钳位电压

VCC=最小  IIK=-12mA

IIH

 

-1.5

V

A3

5.2.4

输入高电平电流

VCC=最大VIH=2.4V

CP CTT

IIL

80

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)A

A3

其他输入

40

5.2.5

输入低电平电流

VCC=最大VIH=2.4V

CP CTT

IIL

-3.2

mA   

A3

其他输入

-1.6

5.2.6

最大输入电压下的输入电流

VCC=最大  II=3.5V

II

1

mA

A3

5.2.7

输出短路电流

VCC=最大

54

IOS

—20

-57

mA

A3

74

—18

-57

5.2.8

电源电流

VCC=最大

输出端开路其他输入端接地

54

ICCH

85

mA

A3

94

74

ICCI

91

101

5.2.9

最高工作频率

CL=15PF Rt=400

Vcc=5V Tamb=25℃

fmax

 

 

25

 

MNz

A4

5.2.10

传输时间

CL=15PF Rt=400SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除) 

Tamb=25℃Vcc=5V

CP→CO

tPLH

    —

35

ns

A4

tPHI

35

CP→Q

(LD(——)=H)

tPLH

20

tPHI

23

CP→Q

(LD(——)=L)

tPLH

25

ns

tPHL

29

CTT→CO

tPLH

16

ns

tPHL

16

CR(——)→Q

tPHI

38

ns

注:Vcc  为最小或最大,按本规范5.1.1条

 

6标志

器件上的标志示例:            

                  SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。

 

7.订货资料   

    若无其他规定,订购器件至少需要下列资料:

a. 产品型号;  

 b.  详细规范编号;

c.  质量评定类别;  

d. 其他

8试验条件和检验要求

抽样要求:根据采用的质量评定类别,参照GB/T 12750第9章的有关规定

A组检验的抽样要求

分组

AQL

I    类

Ⅱ   类

IL

AQL

IL

AQL

A1

0. 65

0. 65

A2

0.1

0.1

A3

0.15

0.15

A3a

S4

1.0

S4

1.O

A3b

S4

1.0

Sl

1.0

A4

S4

1.O

S4

1.O

 

B组、C组和D组检验的抽样要求

   

分 组

LTPD

Ⅰ类

Ⅱ类

A

B

C

B1

15

15

15

15

C1

20

20

20

26

C2b

15

15

15

IS

C3

15

15

15

15

B4   C4

10

lO

10

10

B5   C5

10

lO

10

10

C6

20

20

20

20   

C7

15

15

IS

15

B8   C8

10

5

7

10

C9

15

5

7

15

C11

20

20

20

20

B21

20

10

1D

15

C23

20

10  '

15

20

C24

20

10

15

20

D8

10

5

7

10

 

A组——逐批

全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

检验或试验

  引用标准 

  条    件

若无其他规定,Tamb=25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

 检验要求

规范值

A1分组  

外部目检

GB 4589.1,

4.2.l.1条

 

标志清晰,表面无损伤和气孔

A2分组

25℃下的功能验证 

 

 

按本规范5.2.1条、5.2.2条和

11.3条

 按本规范5.Z.1条、5.2.2条和11.3条

A3分组

25℃下的静态特性.

  

GB 3439《半导体集

成电路TTL电路测试方法的基本原理》

按本规范5.2.1条至5.2.8条和10.1条

按本规范5.2.1条至

5.2.8条

  A3a分组

 最高工柞强度下的静态特性  

GB 3439

Tamb按本规范4.1条规定的最

大值.条件:同A3分组

 

同A3分组   

 

A3b分组   

    最低工作温度下的静态特征

GB 3439

 

Tamb按本规范4.1条规定的最

小值.条件:同A3分组

 

同A3分组

A4分组

25℃下的动态特性

GB 3439

按本规范5.2.9条

按本规范5.2.9条和5.2.10

 

B组——逐批

标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

检验或试验

引用标准

条件

若无其他规定,Tamb=25℃

(见GB 4589.1第条4.1条)

检验要求

规范值

B1分组尺寸

GB 4589.1

4.2.2条及附录B

 

按本规范第1章

B4分组

可焊性

GB 4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》

2.5条

按方法b(槽焊法)

按2.5.6条

B5分组

温度快速变化

a.空封器件

     随后进行:

     电测量

密封:细检漏

      粗检漏

 b.非空封和环氧  封的空封器件

随后进行:

外部目检

稳态湿热

电测量

GB 4589.3.1条

GB 4589.3.11条或3.12条

GB 4589.3.13条

 

GB 4589.3.1条

 

GB 4589.1,4.2.1.1条

GB 4589.3.7条

 

温度按本规范第4.2条规定

循环次数:10次l1=5min

同A2、A3分组  恢复2h

按规定

温度按本规范第4.2条规定

循环次数:10次l1=5min

按规定

严格度A

时间:24h

同A2、A3分组

同A2、A3分组

 

同A1分组

 

同A2、A3分组

 

B组——逐批(续)

 

检验或试验

 

引用标准

条    件

若无其他规定,Tamb|25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

 

检验要求

规范值

B8分组

电耐久性

( 168h)

最后测量

(同A2、A3、A4分组)

GB 4590.4.7条

 

Tamb按本规范4.1条规定的最大值,其他按本规范lO.3条

同A2、A3和A4分组

 

同A2、A3和A4分组

B21分组

高压蒸汽(D)

(非空封器件)

最后测量

(同A2和43分组)

 

GB 4590.4.5条

 

 

严格度C

时间:24h

同A2和A3分组

同A2和A3分组

CRRL分组

就B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果。

 

C组一一周期

标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

 

检验或试验

 

引用标准

 

 

 

条件

 

若无其他规定,Tamb=25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

检验要求

规范值

C1分组

尺寸

GB 4589.1,4.2.2.条

及附录B

 

按本规范第1章

C2b分组

最高和最低工作

温度下的动态特性

 

GB 3439

 

 

温度按本规范第4.1条

同A4分组

规范值为A4分组最大值的1.5倍,最小值的0.8倍

C3分组

引线强度

拉力(D)

弯曲(D)

 

GB 4590《半导体集成电

路机械和气候试验法》

2.1条.2.2条

外加力的值按2.1条表l

 

外加力的值按2.2条表2

 

按2.1.5条

 

无损伤

C4分组

耐焊接热(D)

最后测量 

(同A3分组)

GB 4590 第2.6条

 

按方法I(260℃槽焊)

同A3分组

同A3分组

 

c组——周期(续)

检验或试验

引用标准

条  件:

若无其他规定,Tamb=25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

检验要求

规范值

 

C5分组

温度快速变化(D)

(非空封和环氧

封的空封器件)

随后进行:

外部目检

稳态湿热

电测量

(同A3分组)

4590.3.1条

4589.1,4.2.2.1条

4590.3.7条

 

TA=-65℃

Ta=150℃

循环次数:500次tI= 5min

严格度A

时间:24h

同A3分组

同A1分组

同A3分组

C6分组

稳态加速度

(空封器件)

最后测量

(同A3分组)

GB 4590.2.10条

加速度:按规定

同A3分组

同A3分组

C7分组

稳态湿热(D)

a.空封器件

b.非空封器件

最后测量

(同A2,A3,分组)

GB 4590.3.6条

GB 4590.3.7条

 

严格度D:56d

严格度A.时间:1000h

同A2,A3分组

 

 

同A2、A3分组

C8分组

电耐久性(1000h)

最后测量

(同B8分组)

GB 4590.4.7条

同B8分组

同B8分组

C9分组

高温贮存

最后测量

(同B8分组)

GB 4590.3.3条

同B8分组

同B8分组

C11分组

标志耐久姓

GB 4590.4.3条

按方法2 溶液

A型

GB 4590.4.3.2条

C23分组

抗溶性(D)

(非空封器件)

GB 4590.4.4条

GB 4590.4.4.2条

GB 4590.4.4.2条

 

C组——周期(续)

检验或试验

 

引用标准

 

 

条  件

若无其他规定,Tamb= 25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

 

检验要求

规范值

C24分组

易燃性(D)

(非空封器件)

 

GB 4590.4.I条

 

 

按GB 4590.4.1.2条

 

按GB 4590.4.1.2条

 

CRRL分组

就C2b、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C11、C23和C24分组提供计数检查结果

 

注1:1》连续三次通过后,周期可放宽为一年一次

 

9  D组

   D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。

检验或试验

 

引用标准

 

条    件

若无其他规定,Tamb=25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

 

 

检验要求

规范值

D8分组

电耐久性(D)

最后测量

(同B8分组)

GB 4590

第4.7条

 

 

Ⅰ类 :2000h

Ⅱ 类:3000h

其他同B8分组

同B8分组

同.B8分组

 

10        附加资料

10.1 静态特征的测量

   静态特征的测量按GB 3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。

10.2 动态特性的测量

10.2.1动态特性的测量按GB 3439。

10.2.2.负载线路

 

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

10.3电耐久性试验线路 

Vm=3V   f1=100kH  f2=50kHz  Vcc=5V R=400SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

11        型号说明

11.1  逻辑符号

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

11.2  逻辑图

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

11.3 功能表

输入

输出

CR(——)  LD(——)  CTP  CTT  CP  DO  DI  D7  D3

Q0  Q1  Q2  Q3

L  ×  ×  ×  ×  ×  ×  ×  ×

H   L  ×  ×  ↑  d0  d1  d2  d3

H   H   H   H  ↑   ×  ×  ×  ×

H   H   L  ×  ×   ×  ×   ×  ×

H   H  ×   L   ×  ×  ×   ×   ×

L  L  L  L

d0  d1  d2  d3

计         数

保         持

保         持

 

11.4 波形图

SJ/T 10083—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54161/CT74161型 4位二进制同步计算器(异步清除)

 

11.5 引出端符号名称

引出端符号

名称

CO

进位输出端

CP

时钟输入端(上升沿有效)

CR(——)

异步清除输入端(低电平有效)

CTP

计数控制端

CTT

计数控制端

D0~D3

并行数据输入端

LD(——)

同步

Q0~Q3

输出端

 

 

附录A

筛  选

补充件

  

 Ⅰ类器件:生产厂自行规定筛选条件。

 Ⅱ类器件:筛选项目和条件如下:

 

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