中华人民共和国电子工业行业标准
电子元器件详细规范.
半导体集成电路CT54153/CT74153型 SJ/T 10081—91
双4选1数据选择器
Detail specification for electronic components
Semiconductor integrated circuit
CT54153/CT74153 dual 4-line to-10-1ine data selectors
本规范规定了半导体集成电路CT54153/CT74153型双4选1数据选择器质量评定的全部内容。
本标准符合GB 4589.1《半导体器件,分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。
中华人民共和国机械电子工业部 |
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评定器件质量的依据: GB 4589.l《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》 GB/T12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》 |
SJ/T 10081-91
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CT54153/CT74153型超前进位产生器详细规范 订货资料:见本规范第7章。
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1 机械说明 外形依据:GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》, 外形图:GB 709Z
引出端排列 引出端符号名称见本规范第11.4条。 标志:按GB 4589.1第2.5条及本规范第6章。
|
2 简要说明 双极型运算器 半导体材料:硅 封装:空封,非空封 逻辑图、功能表:见本规范第ll章。 品种:
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3质量评定类别 Ⅰ,ⅡA, ⅡB, ⅡC
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4.极限值(绝对最大额定值)
若无其他规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
参数 |
符 号 |
数 值 |
| ||
最小 |
最大 |
单 位
| ||||
4.1 |
工作环境温度 |
54 |
Tamb
|
—55 |
125 |
℃ |
74 |
O |
70 | ||||
4.2 |
贮存温度 |
Tatg |
—65 |
150 |
℃ | |
4.3 |
电源电压 |
Vcc |
— |
7 |
V | |
4.4 |
输入电压 |
VI |
— |
5.5 |
V | |
4.5 |
多发射极晶体管 输入端间的电压 |
VII
|
— |
5.5
|
V
|
5电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第八章
5.1电工作条件
若无其他规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
参 数 |
符 号 |
数 值 |
单 位 | ||
最 小 |
最 大 | |||||
5.1.1 |
电源电压
|
54 |
Vcc |
4.5 |
5.5 |
|
74
|
VIH
|
4.75 |
5.25 |
V
| ||
5.1.2 |
输入高电平电压 |
Vn |
2 |
|
V | |
5.1.3. |
输入低电平电压 |
Vch
|
— |
0.8
|
V
| |
5.1.4 |
输入高电平电流
|
Ioh
|
— |
—800
|
∪A
| |
5.1.5 |
输出低电平电流 |
Iol |
— |
16 |
mA |
5.2电特性
若无其他规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
特性和条件 |
符号 |
规范值 |
单位 |
试验 | |||
最小 |
最大 | |||||||
5.2.1 |
输入高电平电压 VCC=最小VIH=2V VH=0.8V IOH=-800UA |
VOH
|
2.4 |
— |
V |
A3 | ||
5.2.2 |
输入低电平电压 VCC=最小VIH=2V VH=0.8V IOH=16mA |
VOL |
— |
0.4 |
V |
A3 | ||
5.2.3 |
输入钳位电压 VCC=最小 IIK=-12mA |
IIH |
— |
-1.5 |
V |
A3 | ||
5.2.4 |
输入高电平电流 VCC=最大VIH=2.4V |
CP CTT |
IIL |
— |
80 |
A |
A3 | |
其他输入 |
40 | |||||||
5.2.5 |
输入低电平电流 VCC=最大VIH=2.4V |
CP CTT |
IIL |
— |
-3.2 |
mA |
A3 | |
其他输入 |
-1.6 | |||||||
5.2.6 |
最大输入电压下的输入电流 VCC=最大 II=3.5V |
II |
— |
1 |
mA |
A3 | ||
5.2.7 |
输出短路电流 VCC=最大 |
54 |
IOS |
—20 |
-57 |
mA |
A3 | |
74 |
—18 |
-57 | ||||||
5.2.8 |
电源电流 VCC=最大 输出端开路其他输入端接地 |
54 |
ICCH |
— |
85 |
mA |
A3 | |
— |
94 | |||||||
74 |
ICCI |
— |
91 | |||||
— |
101 | |||||||
5.2.9 |
最高工作频率 CL=15PF Rt=400 Vcc=5V Tamb=25℃ |
fmax
|
25
|
— |
MNz |
A4 | ||
5.2.10 |
传输时间 CL=15PF Rt=400 Tamb=25℃Vcc=5V |
D→Y |
tPLH |
— |
18 |
ns
|
A4 | |
tPHL |
— |
23 | ||||||
tPLH |
— |
34 | ||||||
A→Y |
tPHL |
— |
34 | |||||
ST→Y |
tPLH |
— |
30 | |||||
tPHL |
— |
23 | ||||||
注:Vcc 为最小或最大,按本规范5.1.1条
6标志
器件上的标志示例:
若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。
7.订货资料
若无其他规定,订购器件至少需要下列资料:
a. 产品型号;
b. 详细规范编号;
c. 质量评定类别;
d. 其他
8试验条件和检验要求
抽样要求:根据采用的质量评定类别,参照GB/T 12750第9章的有关规定
A组检验的抽样要求
分组 |
AQL | |||
I 类 |
Ⅱ 类 | |||
IL |
AQL |
IL |
AQL | |
A1 |
I |
0. 65 |
I |
0. 65 |
A2 |
I |
0.1 |
I |
0.1 |
A3 |
I |
0.15 |
I |
0.15 |
A3a |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.O |
A3b |
S4 |
1.0 |
Sl |
1.0 |
A4 |
S4 |
1.O |
S4 |
1.O |
B组、C组和D组检验的抽样要求
分 组 |
LTPD | ||||
Ⅰ类 |
Ⅱ类 | ||||
A |
B |
C | |||
B1 |
15 |
15 |
15 |
15 | |
C1 |
20 |
20 |
20 |
26 | |
C2b |
15 |
15 |
15 |
IS | |
C3 |
15 |
15 |
15 |
15 | |
B4 C4 |
10 |
lO |
10 |
10 | |
B5 C5 |
10 |
lO |
10 |
10 | |
C6 |
20 |
20 |
20 |
20 | |
C7 |
15 |
15 |
IS |
15 | |
B8 C8 |
10 |
5 |
7 |
10 | |
C9 |
15 |
5 |
7 |
15 | |
C11 |
20 |
20 |
20 |
20 | |
B21 |
20 |
10 |
1D |
15 | |
C23 |
20 |
10 ' |
15 |
20 | |
C24 |
20 |
10 |
15 |
20 | |
D8 |
10 |
5 |
7 |
10 | |
A组——逐批
全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其他规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
A1分组 外部目检 |
GB 4589.1, 4.2.l.1条 |
|
标志清晰,表面无损伤和气孔 |
A2分组 25℃下的功能验证 |
|
按本规范5.2.1条、5.2.2条和 11.3条 |
按本规范5.Z.1条、5.2.2条和11.3条 |
A3分组 25℃下的静态特性.
|
GB 3439《半导体集 成电路TTL电路测试方法的基本原理》 |
按本规范5.2.1条至5.2.8条和10.1条 |
按本规范5.2.1条至 5.2.8条 |
A3a分组 最高工柞强度下的静态特性 |
GB 3439 |
Tamb按本规范4.1条规定的最 大值.条件:同A3分组
|
同A3分组
|
A3b分组 最低工作温度下的静态特征 |
GB 3439
|
Tamb按本规范4.1条规定的最 小值.条件:同A3分组
|
同A3分组 |
A4分组 25℃下的动态特性 |
GB 3439 |
按本规范5.2.9条 |
按本规范5.2.9条 |
B组——逐批
标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条件 若无其他规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第条4.1条) |
检验要求 规范值 |
B1分组尺寸 |
GB 4589.1 4.2.2条及附录B |
|
按本规范第1章 |
B4分组 可焊性 |
GB 4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》 2.5条 |
按方法b(槽焊法) |
按2.5.6条 |
B5分组 温度快速变化 a.空封器件 随后进行: 电测量 密封:细检漏 粗检漏 b.非空封和环氧 封的空封器件 随后进行: 外部目检 稳态湿热 电测量 |
GB 4589.3.1条 GB 4589.3.11条或3.12条 GB 4589.3.13条
GB 4589.3.1条
GB 4589.1,4.2.1.1条 GB 4589.3.7条
|
温度按本规范第4.2条规定 循环次数:10次l1=5min 同A2、A3分组 恢复2h 按规定 温度按本规范第4.2条规定 循环次数:10次l1=5min 按规定 严格度A 时间:24h 同A2、A3分组 |
同A2、A3分组
同A1分组
同A2、A3分组 |
B组——逐批(续)
检验或试验
|
引用标准 |
条 件 若无其他规定,Tamb|25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
B8分组 电耐久性 ( 168h) 最后测量 (同A2、A3、A4分组) |
GB 4590.4.7条
|
Tamb按本规范4.1条规定的最大值,其他按本规范lO.3条 同A2、A3和A4分组
|
同A2、A3和A4分组 |
B21分组 高压蒸汽(D) (非空封器件) 最后测量 (同A2和43分组) |
GB 4590.4.5条
|
严格度C 时间:24h 同A2和A3分组 |
同A2和A3分组 |
CRRL分组 |
就B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果。 |
C组一一周期
标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准
|
条件
若无其他规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
C1分组 尺寸 |
GB 4589.1,4.2.2.条 及附录B |
|
按本规范第1章 |
C2b分组 最高和最低工作 温度下的动态特性 |
GB 3439
|
温度按本规范第4.1条 同A4分组 |
规范值为A4分组最大值的1.5倍,最小值的0.8倍 |
C3分组 引线强度 拉力(D) 弯曲(D) |
GB 4590《半导体集成电 路机械和气候试验法》 2.1条.2.2条 |
外加力的值按2.1条表l
外加力的值按2.2条表2
|
按2.1.5条
无损伤 |
C4分组 耐焊接热(D) 最后测量 (同A3分组) |
GB 4590 第2.6条 |
按方法I(260℃槽焊) 同A3分组 |
同A3分组 |
c组——周期(续)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件: 若无其他规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值
|
C5分组 温度快速变化(D) (非空封和环氧 封的空封器件) 随后进行: 外部目检 稳态湿热 电测量 (同A3分组) |
4590.3.1条 4589.1,4.2.2.1条 4590.3.7条
|
TA=-65℃ Ta=150℃ 循环次数:500次tI= 5min 严格度A 时间:24h 同A3分组 |
同A1分组 同A3分组 |
C6分组 稳态加速度 (空封器件) 最后测量 (同A3分组) |
GB 4590.2.10条 |
加速度:按规定 同A3分组 |
同A3分组 |
C7分组 稳态湿热(D) a.空封器件 b.非空封器件 最后测量 (同A2,A3,分组) |
GB 4590.3.6条 GB 4590.3.7条
|
严格度D:56d 严格度A.时间:1000h 同A2,A3分组
|
同A2、A3分组 |
C8分组 电耐久性(1000h) 最后测量 (同B8分组) |
GB 4590.4.7条 |
同B8分组 |
同B8分组 |
C9分组 高温贮存 最后测量 (同B8分组) |
GB 4590.3.3条 |
同B8分组 |
同B8分组 |
C11分组 标志耐久姓 |
GB 4590.4.3条 |
按方法2 溶液 A型 |
GB 4590.4.3.2条 |
C23分组 抗溶性(D) (非空封器件) |
GB 4590.4.4条 |
GB 4590.4.4.2条 |
GB 4590.4.4.2条 |
C组——周期(续)
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其他规定,Tamb= 25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
C24分组 易燃性(D) (非空封器件) |
GB 4590.4.I条
|
按GB 4590.4.1.2条 |
按GB 4590.4.1.2条
|
CRRL分组 |
就C2b、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C11、C23和C24分组提供计散检查结果 |
注1:1》连续三次通过后,周期可放宽为一年一次
9 D组
D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其他规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
D8分组 电耐久性(D) 最后测量 (同B8分组) |
GB 4590 第4.7条
|
Ⅰ类 :2000h Ⅱ 类:3000h 其他同B8分组 同B8分组 |
同.B8分组 |
10 附加资料
10.1 静态特征的测量
静态特征的测量按GB 3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。
10.2 动态特性的测量
10.2.1动态特性的测量按GB 3439。
10.2.2.负载线路
10.3电耐久性试验线路
Vm=3V f1=100kH f2=50kHz Vcc=5V R=400
11 型号说明
11.1 逻辑符号
11.2 逻辑图
11.3
输入 |
输出 |
A1 A0 D0 D1 D2 D3 ST |
Y |
× × × × × × × L × × × × × × L L H × × × L L H × L × × L H H × H × × L H L × × H × L H H × × × L L H H × × × H L
|
L L H L H L H L H |
功能表
11.4引出端符号名称
引出端符号 |
名称 |
1D0~1D3 2D0~2D3 |
数据输入端 |
A0 A1 |
选择输入端 |
1ST 2ST |
选通输入端(低电平有效) |
1Y 2Y |
数据输入端 |
附录A
筛 选
补充件
Ⅰ类器件:生产厂自行规定筛选条件。
Ⅱ类器件:筛选项目和条件如下:
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