CB T 18500. 1 2001半导体器件 集成电路第4部分：接口集成电路第一篇：线性数字／模拟转换器DAC 空白详细规范 L
中华人民共和国国家标准
半导体器件 集成电路
第4部分：接口集成电路
第一篇：线性数字／模拟转换器(DAC)
空白详细规范
引言
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作．该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受．
本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用．
IEC 747-10/QC 700000半导体器件第10部分1分立器件和集成电路总规范
IEC 748-II/QC 79100半导体器件集成电路第11部分l半导体集成电路（不包括混合电路）分规范
要求的资料
本页和后面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填入相应的栏中详细规范的识别
[1]授权发布详细规范的国家标准化机构名称。
[2]详细规范的IECQ编号。
[3]总规范、分规范的编号及版本号．
[4]详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求幻其他资料。
器件的识别
[5]主要功能和型号．
[6]典型结构（材料、主要工艺）和封装资料．
如果具有若干种派生产品，则应指出其差别，例如用对照表列出特性差异。
如果器件属静电敏感型，应在详细规范中附加预防说明。
[7]外形图、引出端识别、标志和／或有关外形的参考文件．
[8]按总规范2.6的质量评定类别．
001 -11- 05批准 2002- OG-01实施[9]参考数据。
参考数据示例:
——带单一输入和固定基准的线性D／A转换器或带双输入及其中一个输入为可变模拟基准的线性乘法D/A转换器；
——单极性和／或双极性电路；
——电压或电流输出；
——失调和可调增益误差或零点和满量程非可调误差等．
（给出上述基本值．）
[本规范方括号给出的条款仅供指导详细规范的编写，而不纳入详细规范中。]
[当某一条款指导编写可能引起混淆时，应在括号内说明。]
|
[国家代表机构(NAI) [1] (和可以提供规范的团体)名称（地址）] |
[详细规范的mCQ编号、版本号 [2] 和／或日期] QC 790303 |
|
评定电子元器件质量的依据 [3] 总规范。 IEC 747-10/QC700000 分规范． IEC 748-11/QC790100 [及编号不同时的国家编号] |
[详细规范的国家编号] [4] [若国家编号IECQ编号一致，本栏可不填]
|
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线性数字／模拟转换器①Ac)空白详细规范 [5] [有关器件的型号] 订货资料l见本规范1.2
| |
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机械说明 [7] 外形依据。 [应给出标准封装资料IEC编号（如有，则需 遵循）和／或国家编号] 外形图: [可移入第8章或在那里给出更详细的资料] 引出端识别: [画出引出端排列图，包括图形符号] 标志: [字母和图形，或色码] [若有时，详细规范应规定器件上标志的内容] [见总规范2.5和／或本规范1.1]
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简要说明 [6] 应用： 功能: 典型结构:[Si、单片、双极型、MOS] 封装:[空封或非空封] [派生产品的特性对照表] 注意:静电敏感器件 |
|
质量评定类别 [按总规范2.6] [8]
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参考数据 [9] [能在各型号间比较的最重要性能的参考数据]
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|
按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合格产品目录中查到． | |
1 标志和订货资料
1.1标志
见总规范2.5。
详细规范应规定有关型号标志如字母、图形和／或代码。
当标志含有总规范2.6规定之外的信息时，例如制造厂内部使用的，应予以区分。
如全部资料已经在前页[7]栏中出现，也应指明。
1.2订货资料
除另有规定外，订购器件至少需要下列资料。
——准确的型号（必要时，标称电压值）；
——适用时，详细规范的IECQ编号、版本号和／或日期；
——分规范第9章规定的质量评定类别，以及需要时，分规范第8章规定的筛选顺序；
——发货包装；
——任何其他特殊的资料。
2应用说明
应给出器件在设备或线路中应用资料以及与相关器件的关系，这些内容取决于所描述的功能。
3功能说明
必要时，应给出集成电路的详细框图或等效电路资料。
4极限值（坌色对最大额定值体系）
本条款不用于检验．
除另有规定外，这些极限值适用于整个工作温度范围。
应给出器件特定的机械或环境额定值和相关极限条件。
最好在详细规范第9章给出曲线。
|
|
|
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数 值 |
| |
|
条款号
|
参 数
|
符号
|
最小 |
最大 |
单位
|
|
4.1 4.2 4.3.1 4.3.2 4.3.3 4.4 4.5 |
电源电压（见本规范第5章的注） 电源电流（适用时） 数字输入电压 基准放大器输入电压（适用时）或者 基准放大器差分输入电压（适用时） 模拟输出电压（适用时） 基准输入电流（适用时） |
VCC VEE ICC IEE VI VREF VREF(D) VO IREF |
× × × × ×
|
× × × × × × × × × |
V V mA mA V V V V mA |
表(完）
|
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|
|
数 值 |
| |
|
条款号
|
参 数
|
符号
|
最小 |
最大 |
单位
|
|
4.6 4.7 4.8 4.9 4.10 4.11 4.12 |
模拟输出电流（适用时） 其他端电压和／或电流 功耗 输出短路电流 短路持续时间（适用时） 工作温度* 贮存温度** |
IO Ptot Ios Tos Tamb Tstg |
× × |
× × × × × × × |
mA V和／或mA W mA s ℃ ℃ |
|
* 见GB/T 16464---1996，第Ⅵ篇10.4.1注1）和注2）。 ** 见GB/T 16464--1996，第Ⅵ篇10.4.2。 | |||||
5工作条件（在规定的工作温度范围内）
在相关测试方法中规定工作条件（见IEC 748-4: 1987，第IV篇，第三节，Ⅱ类）。
检验要求见本标准13.3．
一般测试条件和相应值。
5.1 电源电压 Vcc VEE
5.2电源电流 ICC IEE
5.3数字输入
5.3.1全位逻辑“1”
5.3.2全位逻辑“0”
6电特性
这些特性要求基于单一输入和固定基准的线性DAC或双输入及其中一个输入为可变模拟基准的线性乘法DAC而规定．
电特性的符号、术语和条件依据IEC 748-4:1987相关条款给出。术语和定义见第1章I类第。2条，电特性的条件见第一章第二节I类第4条。
最好在本标准第9章给出曲线。
除另有规定外，下述特性适用于整个工作环境温度范围。
若电路的性能在整个工作环境温度范围内变化，则应规定25℃和在极限工作温度范围内适用的电特性数值．
电特性表
|
条款号 |
静态特性 |
符号 |
数值 |
单位 | |
|
最大 |
最小 | ||||
|
6.1.1
6.1.2
6.1.3
6.1.4 6.1.5 6.1.6
6.1.7
6.1.8
6.1.9 |
基准偏置电流 或 基准偏置电压（适用时）和 基准电压相对温度变化 输入高电平电压和 输入低电平电压（适用时） 输入高电平电流和／或 输入低电平电流（适用时） 输出电流和输出电压随电源电压变化灵 敏度（适用时） 模拟输出电流（适用时） ——输出电流范围（单极性和／或双极性） ——满量程或增益点 ——零点或失调点 模拟输出电压（适用时） ——输出电压范围（单极性和／或双极性） ——满量程或增益点 ——零点或失调点 模拟输出短路电流（适用时）
|
IREF
VREF ΔVREF VIH IIH IIL KSVS(I) KSVS(V)
IO IO
VO VO IOS |
×
×
×
×
|
×
× ×
× × × ×
×
×
× |
mA
V V/℃ V V mA mA %FS/ %VCC
mA mA
V V mA,A
|
|
*VIH和VIL不测试但作为定义其他特性的测试条件。 | |||||
6.2转换误差特性
|
条款号 |
转换误差特性
|
符号 |
数值 |
单位 | |
|
最大 |
最小 | ||||
|
6.2.1 6.2.2 6.2.3 6.2.4 6.2.5 6.2.6 6.2.7 6.2.8 6.2.9
6.2.10 6.2.11
6.2.12 |
失调误差（适用时） 增益误差（适用时） （终点）线性误差（适用时） 最佳直线线性误差（适用时） 满量程误差（适用时） 零点误差（适用时），单极性 绝对线性误差（适用时） 微分线性误差（适用时） 双极性转换器:满量程不对称电流或电压（适用时） 零点误差（适用时）（双极性） 零点或失调点温度系数， 单极性和／或双极性电路（适用时） 满量程或增益点温度系数， 单极性和／或双极性电路（适用时） |
|
EO EG EL EL(adj) EFS EZS ET ED IFSS VFSS EZS αEZS αEO αEFS αEG |
× × × × × × × × × × × ×
×
|
1LSB的分数
%FS/℃ %FS/℃
|
|
*l LSB=（模拟）分辨率，见IEC 748-41 1987第1篇2.2.3.1注． | |||||
6.3动态特性
|
条款号 |
动态特性 |
符号 |
数值 |
单位 | |
|
最大 |
最小 | ||||
|
6.3.1 6.3.2 6.3.3 6.3.4 6.3.5 6.3.6 6.3.7 6.3.8 6.3.9
6.2.10
6.2.11 6.2.12 |
时钟脉冲(适用时) (教字)建立时间(适用时) (教字)延迟时间(适用时) (教字)输出电压平均变换速率 基准建立时间 基准延迟时间 基准输出电压平均变换速率<适用时) 基准输出电流平均变换速率<适用时) 教字输入最高工作频率(剖定基准) (适用时) 剖定教字输入的基准模拟输入最高工作频率(适用时) 尖峰能量(适用时)致 馈通误差(适用时) |
tr、tf、tw tsd tdd SVOAVD tsr tdr SVOAVD SIOAVD fmax(D) fmax(R) GE EF
|
|
× × × × × × × ×
×
× |
μs μs μs mV/μs μs μs mV/μs mV/μs kHZ MHz kHZ MHz %FS/VP-P |
|
1)见IEC 748-41 1987，修改单l(1991)。 2)见IEC748-411987，第l篇2．3．4．2。 3)VP-P=模拟输出误差电压。 | |||||
7编程
不适用．
8机械和环境额定值、特性和数据
任何适用的机械和／或环垓额定值依据锄GB／T16464--1996第Ⅵ篇10.8的规定(卫[1也可参址参见GB／T 17573-1988)
9附加资料
该资料不用于检验．作为基本设计数摒至少纷出如下资料．
9.1 框图
功能图或／和该集成电路其他资料．
9.2外接功能和控制电路
如适用，给出尖调和增益漫差枝正原理H以及应用于DAC的基准输入网络和其他控制电路。
9.3输出负载能力(倒如适当的电压和电流输出电路)
9.4带不同逻辑系州的DAC输入接口
9.5测试图、时序图。特性曲线（特别是D到A转换特性)
9.6注意事项
应包括限名0机械或电气环境条件的任何刚加资料．
10筛选
如必要，皮参考规范第8章补充技走要求。
例如：内部目检(包封前)(IEC 748-11-1／OC 790101)
11质量评定程序
详细规冱皮规定是适用鉴定批准程序还是能力批准程序．
11.1鉴定批准程序
见总规范第8章和分规范5.1．
11.2能力批准程序
见总规范文3.ll。
12结构相似性程序
见分规范第6章．
13试验条件和检验要求
13.1 总则
空白详细规冱用亍保证详细规范中试验的一致性．
13.2抽样要求和险验批的均戍
抽样要求见分规冱第9章和总规范3．7。
对于A组，详细规范皮规定选取AQL还是LTPD体系．
检验批的构成见分规范5.l.1和程序规州l2．2(IEC QC001002)。
如果器件采用结构柑似程序，见分规范第8章和程序规州8.5.3。
当鉴定批准采用程序规州ll.3.1方法a时，详细规范应纷出捕样要求(见分规范第9章)。
13.3检验表(试验顺序)
[试验顺序由下州表纷出，采用的数值和确切的试验条件应按器件的型号要求以及有关标准中的有关试验的要求确定．]
[两者选一的试验或试验方法，在编写详细规范时应规定一种．]
[同一详细规范中包括几种器件时，柑应的条件和／或数值应依次连续纷出，尽可能避免重复柑同的条件和／或数值。]
13.3.1A组——逐批
所有试验是非破坏性的(见心规范3．6．6[试验AD])．
特性的IEC引用条款号和测试条件己在本规范第5章和第6章规定。
测试条件按器件型号和第5章的规定．
|
检验或试验 |
符号 |
引用条款 |
试验条件 |
检验要求极限值 | |
|
最小 |
最大 | ||||
|
A 1分组 外部目检 |
|
|
IEC747-10:1991 4.2.1.1 GB/T4937-1995 5.1 |
外部目检 | |
|
（目测）失效 | |||||
|
A2分组 25℃下的功能验证 | |||||
|
非可调转换器 绝对线性误差或 满量程相对精度误差 |
ET |
6.2.7 |
按规定 |
|
× |
|
可调转换器 积分线性误差（端点） |
EL |
6.2.3 |
按规定 |
|
× |
|
A 3分组 25℃下的静态特征 数字输入信号特征 | |||||
|
电源电流（适用时） |
ICC IEE |
5.2 |
VIL和VIH |
|
× × |
|
功耗 |
PD |
|
见相关详细规范 |
|
× |
|
模拟输出信号特征 | |||||
|
输出电流或输出电压 随电源电压变化灵敏度（适用时） |
KSVS(I)或 KSVS(V) |
6.1.6 |
按规定 |
|
× |
|
基准偏置电流或基准偏置电压和基准电压相对温度变化（适用时） |
IREF或V REF和VREF |
6.1.1和6.1.2 |
按规定 |
|
× |
|
输出电流范围单极性/或双极性连接（适用时） |
IO |
6.1.7 |
按规定 |
× |
× |
|
满量程或增益点输出电流单极性/或双极性连接（适用时） |
IO |
6.1.7 |
按规定 |
|
× |
|
零点或失调点输出电流单极性/或双极性连接 |
IO |
6.1.7 |
按规定 |
× |
|
|
输出电压范围单极性/或双极性连接（适用时） |
VO |
6.1.8 |
按规定 |
× |
|
|
满量程或增益点输出电压单极性/或双极性连接（适用时） |
VO |
6.1.8 |
按规定 |
|
× |
|
零点或失调点输出电压单极性/或双极性连接（适用时） |
VO |
6.1.8 |
按规定 |
× |
|
|
转换误差特征 非可调转换器（适用时） 绝对线性误差或满量程相对精度误差 |
ET |
6.2.7 |
见A2分组 |
|
× |
表（续）
|
检验或试验 |
符号 |
引用条款 |
试验条件 |
检验或试验 |
检验要求极限值 | |
|
最小 |
最大 | |||||
|
可调转换器 单极性/或双极性失调误差 |
EO |
6.2.1 |
按规定 |
|
× | |
|
单极性/或双极性失调调整范围（校正）（适用时） |
EO |
|
见相关详细规范 |
× |
| |
|
单极性/或双极性增益误差 |
EG |
6.2.2 |
按规定 |
|
× | |
|
单极性/或双极性增益调整范围的（校正）（适用时） |
EG |
|
见相关详细规范 |
× |
| |
|
（端点）线性误差 |
EL |
6.2.3 |
按规定 |
|
× | |
|
最佳直线线性误差（适用时） |
EL |
6.2.4 |
按规定 |
|
× | |
|
微分线性误差 |
ED |
6.2.8 |
按规定 |
|
× | |
|
双极性转换器满量程不对称电流或电压（适用时） |
IFSS或VFSS |
6.2.9 |
按规定 |
|
× | |
|
双级转换器零点误差（适用时） |
EZS |
6.2.10 |
按规定 |
|
× | |
|
零点或失调点温度系数（ 单极性/或双 电路）（适用时） |
αEO或αEZS |
6.2.11 |
按规定 |
|
× | |
|
满量程或增益点温度系数（单极性/或双电路）（适用时） |
αEO或αEFS |
6.2.12 |
按规定 |
|
× | |
|
工作温度 A3a分组 最高或最低 数字输入信号特征（同A3分组） |
|
6.1 |
电气条件同A3分组 |
见相关详细规范极限值可以与A3分组不同 | ||
|
模拟输出信号特征（同A3分组） |
|
6.1 |
电气条件同A3分组 |
见相关详细规范极限值可以与A3分组不同 | ||
|
转换误差特征 |
|
6.2 |
电气条件同A3分组 |
见相关详细规范极限值可以与A3分组不同 | ||
|
可调转换器（适用时） 单极性或双极性失调误差 |
EO |
6.2.1 |
电气条件同A3分组 |
|
× | |
|
单极性/或双极性增益误差 |
EG |
6.2.2 |
电气条件同A3分组 |
|
× | |
|
微分线性误差 |
ED |
6.2.8 |
电气条件同A3分组 |
|
× | |
表（完）
|
检验或试验 |
符号 |
引用条款 |
试验条件 |
检验要求极限值 | |
|
最小 |
最大 | ||||
|
A4分组 25℃动态特征 | |||||
|
时钟脉冲 |
tt、tf、twW |
6.3.1 |
按规定 |
|
× |
|
(数字)建立时间（适用时） |
tad |
6.3.2 |
按规定 |
|
× |
|
(数字)延迟时间（适用时） |
tdd |
6.3.3 |
按规定 |
|
× |
|
基准建立时间（适用时） |
tat |
6.3.5 |
按规定 |
|
× |
|
基准延迟时间（适用时） |
tdt |
6.3.6 |
按规定 |
|
× |
|
基准输出电压平均变化速率（适用时） |
SVOAVR |
6.3.7 |
按规定 |
× |
|
|
(数字)输出电压平均变化速率 |
SVOAVD |
6.3.4 |
按规定 |
× |
|
|
基准输出电流平均变化速率（适用时） |
SIOAVR |
6.3.8 |
按规定 |
× |
|
|
数字输入最高工作频率（固定基准） |
fmax(D) |
6.3.9 |
按规定 |
|
× |
|
固定数字输入的基准模拟输入最高工作频率（适用时） |
fmax(r) |
6.3.10 |
按规定 |
|
× |
|
尖峰能量（适用时） |
GE |
6.3.11 |
按规定 |
|
× |
|
馈通误差（适用时） |
GF |
6.3.12 |
按规定 |
|
× |
|
*木标准的条款． **EO和EG由器件的可调外接校正电辛给白． 1)仅郭下缺陷规定为(目州)失效． ——铗少或错误的型号识别标忐． ——引白竣识别的参考点错误． ——外引线铗少和／或断裂。 ——封装损坏或不完整，导致芯片或矬合线暴露． 2)最大缴分线性误差涛导诬尊调特性(见IEC748-4:1987,第Ⅱ篇2.2.5.7)。 3)臻详缁规范另有规定外，特性与A3分组冉l同． 4)如果IEC未规定具体特性．应包括适刊于彼州莘忙的途些特性． | |||||
13.3.2B组——逐批
仅标有（D）的试验是破坏性是（见总规范3.6.6）
|
检验和试验 |
引用条款 |
条件除另有条件外， Tamb=25℃ （见总规范第4章） |
检验要求极限值 | |
|
最小 |
最大 | |||
|
B1分组 尺寸 |
IEC747-10:1991,4.2.2和附录B |
|
首页[7] | |
|
B3分组（D） 引线弯曲（适用时）（按封装规定） |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，1.2 |
|
无损坏 | |
|
B4分组（D） 可焊性 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，2.1 |
[按规定] |
润湿良好 | |
|
B5分组(D) 遇度失递变化 1)空封 遇度失递变化： 随后 ——电溉试 ——劣封．缁检清和 ——劣封．目：检清 b)非空封和环氧空封 温度快递变化： 随后 ——外部目检 ——稳志湿热 ——电测试 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇,1.1 [有关标准] GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，7.3或7.4 IEC68-2-17:1987,Qc试验 GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，1.1 IEC747-10:1991,4.2.1 GB/T4937-1995,第Ⅱ篇,5B [有关标准] |
10次循环
[从A2和A3分组中选择]
[按规定] [按规定] 10次循环
严酷度1（85℃,85%R.H,24h） [从A2和A3分组中选择] |
|
|
|
B8分组 电耐久性 电测试 |
[见有关标准] |
时间：168h 按分规范12.3和12.4（适用时）的规定 |
|
|
|
CRRL分组 |
就B3、B4、B5和B8分组提供计数检查结果 | |||
13.3.3C组——周期试验
仅标有（D）的试验为破坏性试验的（见总规范3.6.6）
|
检验和试验 |
引用条款 |
条件除另有条件外， Tamb=25℃ （见总规范第4章） |
检验要求极限值 | |
|
最小 |
最大 | |||
|
C1分组 尺寸 |
IEC747-10:1987,4.2.2和附录B |
|
|
|
|
C2Tamb max和Tamb min下的功能验证 |
|
同[A2]分组 |
|
|
|
C3分组（D）和 引出端强度引线弯曲 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，第1章IEC748-11 |
[按适用封装的规定。如拉力或转矩] |
|
|
|
C4分组（D） 耐焊接热 电测试 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，2.2 |
[按规定] [从A2和A3分组中选择] |
|
|
|
C5分组（D） 温度快递变化 a)空封 温度快递变化： 随后 ——电测试 ——密封．细检漏和 ——密封．粗检漏 b)非空封和环氧空封 温度快递变化： 随后 ——外部目检 ——稳态湿热 ——电测试 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，1.1 [有关标准] GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，7.3或7.4IEC68-2-17:1987,Qc试验 GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，1.1 IEC747-10:1987,4.2.1.1 GB/T4937-1995,第Ⅱ篇， 5B[有关标准]
|
10次循环 [从A2和A3分组中选择] [按规定] [按规定] 500次循环 严酷度1（85℃，85%R.H,24h） [从A2和A3分组中选择] |
|
|
|
C6分组（D） 恒定加速度 （仅适用于密封器件） 电测试 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，第5章 [有关标准] |
[按规定] [从A2和A3分组中选择] |
|
|
|
C7分组（D） 稳态湿热 a)空封 b)非空封和环氧空封 随后 电测试 |
GB/T4937-1995,第Ⅱ篇，5AGB/T4937-1995,第Ⅱ篇,5B [有关标准] |
严酷度：[Ⅱ类和Ⅲ类为56d，Ⅰ类为21d] 严酷度1（85℃，85%R.H） 偏置：[按详细规范规定] 时间：[Ⅱ类和Ⅲ类为1000h，Ⅰ类为500h] [从A2和A3分组中选择] |
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表（完）
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检验和试验 |
引用条款 |
条件除另有条件外， Tamb=25℃ （见总规范第4章） |
检验要求极限值 | |
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最小 |
最大 | |||
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C8分组(D) 电耐久性 |
[有关标准] |
1000h[温度按规定] |
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C9分组(D) 高温贮存 |
[有关标准] |
1000h[温度按规定] |
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C11分组(D) 标志耐久性 |
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[按规定] |
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CRRL分组 |
就C3、C4、C6、C7、C9和C11分组提供计数检查结果 | |||
D组-鉴定批准试验
需要时，应在详细规范中仅对鉴定批准规定这些试验
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检验和试验 |
符号 |
引用条款 |
条件除另有条件外， Tamb=25℃ （见总规范第4章） |
检验要求极限值 | |
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最小 |
最大 | ||||
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D2分组 电源电流 |
ICCIEE |
5.2和5.3 |
[按规定] |
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× |
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D8分组（D） 电耐久性 （加速试验程序见分规范12.4） |
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[有关标准] |
Ⅱ类：2000h Ⅲ类：4000h 条件 |
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*本标准条款 1)耐久性时间为C组、D组耐久性试验的累加时间． 2)进行耐久试验的条什碲定鲫下一功耗、工作温度和电源电压应按鲫下优先顺序选择． a.电路异功能可使用部分的平均功耗为详细规范允许最大值． b.环境温度或参考点温度应为a条功耗下为详细规范允许的最大值． c.电源电压应与木规范笏5章特性涎试一般条什的规定相同． | |||||
13.4延期交货
[除另有规定外。见IEC标准747-10：1991，3.6.7。]
14 附加测试方法
不适用。
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