GB T 2317.3 2008 电力金具试验方法 第3部分：热循环试验3

丝紧紧缠绕在测点处导线上，图例见图D．1

图D．1  电位测点

附录E

  （规范性附录）

热循环试验程序图

测量导线及金具的温度

 O.lN 0. 2N 0. 3N 0. 4N 0. 5N 0. 55N 0. 6N 0. 65N 0. 7N 0. 75N 0. 8N 0. 85N 0. 9N  0. 95hr   lN

测量电阻值     R2   R3   R4    R5     R6      R7   R8    R9    R10    R11

注：Rl ,R2 --R11为统计法中使用的电阻值，见附录F．

    图E．1热循环试验程序明细表

图E．2   0.1 N或0.05 N次热循环程序明细表

附录F

（规范性附录）

统计法

F．1概述

    附录提出的统计法，目的是对0.5N～N次热循环试验结果提供一个客观的评价方法，这是因为对电阻·热循环次数关系曲线进行直观判断不易作出准确评价．当然，采用统计法并不是摒弃直观判断的方法，因为在对一个试件的统计方法中，尽管要记录11个数据中的每一个数据，但是一个明显偏离最佳拟合直线的数据会对试验结果产生严重影响，对此数据应该剔除．例如B类电气接续金具，6个试件中5个通过了试验，而第6个试件要不是由于试验误差造成的一次靠不住的读数，试验也将被通过。在6个电阻读数中，依据一次不良的电阻读数而报废设计的金具，这不符合常识。舍去这一不良读数，继续在此区问进行试验的结果或许跟其余试验数据一致。

    判定准则有以下三步：

    a)计算电PJ1变化盘M。用圾小二乘法对数据拟合最佳直线，以此为基准线计算o．SN—N次热循环中电阻的升降变化援．将此变化盘表示成对0. 5N~N次热循环中电阻平均读数的比

    值，计作M．

    注意：电阻升降变化_最M通常取为正值．

    b)计算离激发S．计算对于最佳拟合直线的电阻离散度，将其表示威对0. SN～N次热循环中电阻平均他的比值，计作S。

    c)计算x虑r电阻变化摄D=M+S。参数D实际上是0.5N～|N次热循环的电阻变化量，将其淡示成为0.5N～N次热循环中的电阻平均值的比值．假如电阻对最佳拟合直线成正态分

    布，有95%的监信度，则可接受的判定准则是D不得超过0.15．

F．2测量电阻的表示方法

    被测最的电阻值见表F．1．

表F．1  被测量的电阻值

F．3计算电阻平均值R

F．4计算电阻最佳拟合直线的斜率B

F．5计算电阻变化量M

    根据拟合直线的斜率，将其表示成对平均电阻的比值．

          M=                             

F．6将M与判定准则相比较

若M>0.15，则试样不合格；

若M≤0.15，则继续进行F．7的计算。

F．7对拟台直线离散度S的计算

    S=…………………………………………………………(F．4)

    式中：

    A1=R1-R+5B

    A2= R2 -R+4B

    A3=R3 -R+3B

    A=R4 -R+2B

    A5=R5-R+B

    A6=R6 -R

    A7=R7-R-B

    A8= R8 -R-2B

    A9=R9 -R- 3B

    A10 =R10 -R-4B

    A11 =RII -R- 5B

F．8将M+S与判定准则比较

    对于合格试件．D-M+S≤0.15