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SJ 20284 93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS TTL八缓冲器3S详细规范

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:2165次
SJ 20284 93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS   TTL八缓冲器3S详细规范

半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和

JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

1范围

1.1主题内容

    本规范规定了硅单片JT54LS240、JT54LS241和JT541、JT54LS 244型八缓冲器(3S)(以下简称器件)的详细要求。

1.2适用范围

    本规范适用于器件的研制、生产和采购。

1.3分类

    本规范给出的器件按型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。

1.3.1器件编号

    器件编号应按GJB 597<徽电路总规范>第3.6.2条的规定。

1.3.1.1器件型号

器件型号如下:

    器件型号

    器  件  名  称

    JT54LS240

    八反相缓冲器/线驱动器/线接收器(3S.两组控制)

    JT54LS241

    八缓冲器/线驱动器/线接收器(3S.两组控制)

    JT54LS244   

    八缓冲器/线驱动器/线接收器(3S.两组控制)

 

1.3.1.2器件等级

  器件等级应为GJB 597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。

1.3.1.3封装形式

封装形式如下:

字     母

封装形式1)

C

D

J

C20P3(陶瓷无限引线片载体封装)

D20S3(陶瓷双列封装)

J20S3(陶瓷熔封双列封装)

 

 

    注:1)按GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》。
1.3.2绝对最大额定值

绝对最大额定值如下:

  项  目

 

  符号

 

    JT54LS240

    JTS4LS241

    JT54LS244

  单位

 

最小

最大

最小

 最大

最小

 最大

电源电压

  Vcc

    -0.5

    7.O

    -0.5

    7.0

    -0.5

    7.0

    V

输入电压

  V1

    -1.5

    7.0

    -1.5

    7.0

一1.5

    —7.O

    y

贮存温度

  TSTG

    - 65

    150

    -65

    150

    - 65

    150

    ℃

功耗1)

PD

   —

 

    275

    —

 

 

    297

 

    297

 

    mW

引线耐焊接

温度(lOs)

  Th

 

    300

 

    300

 

    300

 

    ℃

 

结  温

  Tj

    175

    175

   —

    175

    ℃

注:1)器件应能经受测试输出短路电流(}璐)时所增加的功耗。

1.3.3推荐工作条件

推荐工作条件如下:

    项    目

 

    符  号

 

    数    值

    单  位

 

    最  小

   最  大

电源电压

    Vcc

    4.5

    5.5

    V

输入高电平电压

    VIH

    2.0

   V

输入低电平电压

    VIL.

   —

    O.7

    V

输出低电平电流

    VOL

    —

    18

    mA

输出高电平电流

    IOH

    -12

    mA

工作环境温度

    TA

    -55

    125

    ℃

 

2引用文件

 GB 3431.1—82     半导体集成电路文字符号  电参数文字符号

 GB 3431.2—86     半导体集成电路文字符号引出端功能符号

 GB 3439—82       半导体集成电路TTI.电路测试方法的基本原

 GB 4590u84        半导体集成电路机械和气候试验方法

GB 4728.12—85    电气图用图形符号二进制逻辑单元

GB 7092           半导体集成电路外形尺寸

 GJB 548—88       微电子器件试验方法和程序

GJB 597—88       微电路总规范

 GJB x xx          电子产品防静电放电控制大纲
3.1详细要求   

    各项要求应按GJB 597和本规范的规定。

3.2设计、结构和外形尺寸   

    设计、结构和外形尺寸应符合GJB 597.和本规范的规定。

3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列

    逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。

JT54 LS240

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

 

 

图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
JT54 LS241

 

 

   SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范


]T54 LS244

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范
3.2.2功能表

功能表如下:

 JT54LS240

        输                    入

    输    出

    EN                              A

    Y

    L                               H

    L                               L

    H                               X

  

    L

    H

    Z

 

b. JT54LS24

    输    入

  输出

    ENA      A

    Y

    L

    L

    H

    L

    H

    X

    L

    H

    Z

    输      入

  输出

    ENB

    H

    H

    L

    A

    L

    H

    x

    Y

    L

    H 

    Z

 

e JT54LS244

 

    输                         入

    输         出

    EN                          A

Y

    L

    L

    H

    L

    H

    X

L

H

         Z

 

  注l H-一高电平;L-一低电平lX一一任意;z一一高阻。

3.2.3电原理图

    制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。制造厂的电原理图应由鉴定机构存档

备查。

3.2.5封装形式

    封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。

3.3引线材料和涂覆

    引线材料和涂覆应按GJB 597第3.5.6条的规定。

3.4电特性

    电特性应符合本规范表1的规定。
表1—1 JT54LS240电特性 

    特  性

 

符号

 

     条   件

    (若无其他规定-55℃≤TA≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

输入箝位电压

VIK

 

VCC=4.5V, IIK=-18mA

TA=25℃

-1.5

 

V

 

输入高电平电压

 

 

 

VOH1

 

Vcc=4.5V, VIL=0.7 V

IOH=-3mA

2.4

 

  V

 

 

VOH2

 

Vcc=4.5V, VIL=0.5 V

IOH=-12mA

2

 

输出低电平电压

 

 

 

VOL1

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOL=-12mA, VIL=0.7V

 0.4

 

  V

 

 

VOL2

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOL=18mA, VIL=0.7V

0.45

 

输出高阻态时高电平电流

 

IOZH

 

Vcc = 5.5V, VIH=2.0 V

Vo=2.7V

 20

 

μA

输出高阻态时低电平电流

 

 

IOZL

 

Vcc = 5.5V, VIH=2.0 V

Vo=2.7V,VIL=0.7V

-20

 

μA

最大输入电压时的输入电流

I1

Vcc=5.5V, V1H=7.0V

100

μA

输入高电平电流

IIH

Vcc=5.5V, V1H=2.7V

  20

μA

输入低电平电流

IIL

Vcc=5.5V, V1L=0.4V

-200

μA

电源电流

ICCH

   

Vcc= 5.5V

  所有输出为高电平

  27

 mA

ICCL

所有输出为低电平

  44

ICCZ

所有输出为高阻态

  50

输出短路电1)

IOS

VCC=5.5V

-40

-225

mA

输出传输时间

 

tPLH

 

VCC=5.0 V,  CL=45 pF

RL=667Ω

   18

ns

 

tPHL

 

23

输出允许时间

 

tPZH

VCC=5.0 V,  CL=45 pF

RL=667Ω

   39

 ns

 

tPZL

39

袖出禁止时间

 

tPHZ

VCC=5.0 V,  CL= 5 pF

RL=667Ω

   45

 ns

 

 

tPLZ

39

 

注:l)不能有一个以上的输出端同时短路,输出短路时间不超过1秒。
表1—1  JT54LS240电特性

    特  性

 

符号

 

    条   件

  (若无其他规定-55℃≤TA≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

输入箝位电压

VIK

 

VCC=4.5V, IIK=-18mA

TA=25℃

-1.5

 

V

 

输入高电平电压

 

 

 

VOH1

 

Vcc=4.5V, VIL=0.7 V

IOH=-3mA

2.4

 

  V

 

 

VOH2

 

Vcc=4.5V, VIL=0.5 V

IOH=-12mA

2

 

 

 

输出低电平电压

VOL1

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOL=-12mA, VIL=0.7V

 0.4

 

  V

 

 

VOL2

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOL=18mA, VIL=0.7V

0.45

 

输出高阻态时高电平电流

 

IOZH

 

Vcc = 5.5V, VIH=2.0 V

Vo=2.7V

 20

 

μA

输出高阻态时低电平电流

 

 

IOZL

 

Vcc = 5.5V, VIH=2.0 V

Vo=2.7V,VIL=0.7V

-20

 

μA

最大输入电压时的输入电流

I1

Vcc=5.5V, V1H=7.0V

100

μA

输入高电平电流

IIH

Vcc=5.5V, V1H=2.7V

  20

μA

输入低电平电流

IIL

Vcc=5.5V, V1L=0.4V

-200

μA

电源电流

ICCH

    Vcc=5.5V

  所有输出为高电平

  27

mA

ICCL

所有输出为低电平

  44

ICCZ

所有输出为高阻态

  50

输出短路电1)

IOS

VCC=5.5V

-40

-225

mA

输出传输时间

 

tPLH

 

VCC=5.0 V,  CL=45 pF

RL=667Ω

   18

ns

 

tPHL

 

23

输出允许时间

 

tPZH

VCC=5.0 V,  CL=45 pF

RL=667Ω

   39

 ns

 

tPZL

39

袖出禁止时间

 

tPHZ

VCC=5.0 V,  CL= 5 pF

RL=667Ω

   45

 ns

 

 

tPLZ

39


表l一3JT54LS244电特性

    特    性

 

符号

 

     条   件

  (若无其他规定-55℃≤TA≤125℃))

  规范值

单位

 

最小

最大

输入箝位电压

VIK

 

VCC=4.5V, IIK=-18mA

TA=25℃

-1.5

 

V

 

输出高电平电压

 

 

 

VOH1

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOH=-12mA, VIL=0.7V

2.4

 

  V

 

 

VOH2

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOH=-12mA, VIL=0.5V

2

 

输出低电平电压

 

 

 

VOL1

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOL=12mA, VIL=0.7V

 0.4

 

  V

 

 

VOL2

 

Vcc=4.5V, VIH=2.0 V

IOL=18mA, VIL=0.7V

0.45

 

输出高阻态时高电平电流

IOZH

 

Vcc = 5.5V, VIH=2.0 V

Vo=2.7V  VIL=0.7V

 20

 

μA

输出高阻态时低电平电流

 

 

IOZL

 

Vcc = 5.5V, VIH=2.0 V

Vo=0.4V,    VIL=0.7V

-20

 

μA

最大输入电压时的输入电流

I1

Vcc=5.5V, V1H=7.0V

100

μA

输入高电平电流

IIH

Vcc=5.5V, V1H=2.7V

  20

μA

 输入低电平电流

IIL

Vcc=5.5V, V1L=0.4V

-200

μA

  电源电流   

ICCH

  Vcc=5.5V

  所有输出为高电平

27

mA

ICCL

所有输出为低电平

 46

ICCZ

所有输出为高阻态

 54

输出短路电流1)

IOS

VCC=5.5V

-40

-225

mA

输出传输时问

 

tPLH

 

VCC=5.0 V,  CL=45 pF

RL=667Ω

  23

ns

 

tPHL

 

  23

输出允许时间

 

tPZH

VCC=5.0 V,  CL=45 pF

RL=667Ω

  39

 ns

 

tPZL

39

输出禁止时间

 

tPHZ

VCC=5.0 V,  CL= 5 pF

RL=667Ω

  45

 ns

 

 

tPLZ

39

 

注:1)不能有一个以上的输出端同时短路,输出短路时间不超过1秒。
 3.5电试验要求

    各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组,各分组的电测试按本规范表

3的规定。

表2电试验要求

    项    目

 

                   分    组(见表3)

 

    B级器件

 

    B1级器件

中间(老化前)电测试

A1

 A1

中间(老化后)电测试  

All

All)

最终电测试

A2, A3, A7, A9

A2, A3, A7, A9

A组检验电测试

AI, A2, A3, A7, A9, AI0, A 11

AI,A2, A3, AT. A9

B组终点电测试

AI   

C组终点电测试(方法5005)

AI.A2.A3

A1,A2.A3

C组检验增加的分组

不要求

AIO, AII

D组终点电测试(方法500S)

A1.A2.A3

A1.A2.A3

注;1)该分组要求PDA计算(见4 2条)。

表3—1 JT54L$125电测试

分组

 

符号

 

引用标准

GB 3439

      条件

(若无其他规定-55 0C≤取≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

  Al

VIK

2.1条

Vcc =4.5 V,被测输入IIK=-18mA

1.5

V

VOH1

 

2.2条

 

Vcc =4.5V.A端接0.7V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接0.7V,逐一测每个输出端IOH=-3mASJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

2.4

 

V

 

 

VOH2

 

2.2条

 

Vcc =4.5V.A端接0.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接0.7V,逐一测每个输出端IOH=-12mASJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

 

2

 

V

VOL1

 

  2.5条

 

Vcc =4.5V.A端接2V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接0.7V,逐一测每个输出端IOH=12mASJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

 

0 4

 

V

VOL2

 

2.5条

 

Vcc =4.5V.A端接02V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接0.7V,逐一测每个输出端IOH=18mASJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

 

0 45

 

V

IOZH

 

2.23条

 

Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接2V

被测输出端VO=2.7V

 

20

 

 

μA

 


续表3--1

分组

 

符号

 

引用标准

GB 3439

      条件

(若无其他规定-55 0C≤取≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

  Al

 

 

IOZL

2.24条

 

Vcc=5.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接2V.

被测输出端Vo=O.4V

-20

 

μA

IIH

  2.12条

  Vcc=5.5V.被测输入V1=2.7V

 20

μA

II

  2.12条

  Vcc=5.5V.被测输入VI= 7V

 100

μA

  IL1

  2.13条

  Vcc=5.5V.被测输入端VI=O.4V

-200

μA

ICCH

  2.26条

Vcc=5.5V.所有输入端接地

27

mA

ICCL

  2.27条

Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接GND,其它输入端按5.5V

  44

mA

 ICCZ

  2.27条

  Vcc=5.5V, SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端按5.5V

  50

mA

IOS

2.21条

 

 Vcc=5.5V.被测门输入端接地,被测输出端接地(SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范端接地)

-40

 

-225

 

mA

A2

TA=125℃,除VIK不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组

A3

TA=-55℃,除VIK不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组

A7

Vcc=5V.按功能表进行测试

A9

tPLH

 

3.4条

Vcc =5V.CL= 45pF,

 RL= 667Ω

见本规范图2

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范接地

A→y

  14

  nS

tPHL

 

3.5条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范接地

A→y

  18

tPZH

3.6条

 

被测门输入接地

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

 

30

tPZL

3.7条

被测门输入接4.5V

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

  30

tPHZ

3.8条

Vcc =5V.CL=5 pF

RL= 667Ω

见本规范图2

被测门输入接地

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

 

  35

tPLZ

3.9条

被测门输入接4.5V

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

30

  AlO

tPLH

 

3.4条

TA= 125℃,条件同A9分组

A→y

 

18

  ”S

tPHL

 

3.5条

A→y

 

23

tPZH

3.6条

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

 

 

39

tPZL

3.7条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

 

39

tPHZ

3.8条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

 

 

45

tPLZ

3.9条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范→y

 

39

  All

 TA=- 55℃,参数、条件、规范值同AI0分组


表3--2 JT54LS241电测试

分组

 

符号

 

引用标准

GB 3439

         条件

(若无其他规定-55 0C≤取≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

  Al

VIK

2.1条

Vcc =4.5 V,被测输入IIK=-18mA

1.5

V

VOH1

 

2.2条

 

 Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接0.7V,ENB端接2V,A端接2V,逐一测每个输出端IOH=-3mASJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

2.4

 

  y

 

 

VOH2

 

2.2条

 

 Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接0.5V,ENB端接2V,A端接2V,逐一测每个输出端IOH=-12mA

 

2

 

    V

 

 

VOL1

 

2.5条

 

Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接0.7V,ENB端接2V,A端接0.7V,逐一测每个输出端IOL=18mA

 

0.4

 

  y

 

 

VOL2

 

2.5条

 

 Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接0.7V,ENB端接2V,A端接0.7V,逐一测每个输出端IOL=12mA

0.45

 

  V

 

 

IOZH

 

2.23条

 

Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接2V.ENB端接0.7V

被测输出端Vo=2.7V

20

 

μA

IOZL

2.24条

 

Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接2V.ENB端接0.7V

被测输出端Vo=0.4V

 

-20

 

μA

IIH

2.12条

  Vcc= 5.5V.被测输入V1=2.7V

 

20

μA

II

2.12条

 Vcc =5.5V,被测输入V1=7V

 

100

μA

IL1

2.13条

  Vcc =5.5V.被测EN端V1=O.4V

-200

μA

ICCH

2.26条

 

  Vcc=5.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接地.ENB端接5.5V.其它输入端接

5.5V

 

27

 

mA

ICCL

2.26条

 

Vcc=5.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接地.ENB端接5.5V.其它输入端接

5.5V

 

46

 

mA

ICCZ

2.27条

  Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接5.5V.ENB端接地

54

mA

IOS

2.21条

 

  Vcc=5.5V.被测门输入端接5.5V,

被测输出接地(SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接地.ENB端接5.5V)

-40

 

-225

 

mA

A2

TA=125℃,除VIK不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组

A3

TA=-55℃,除VIK不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组

A7

 Vcc=5.5V,按功能表进行测试

A9

 

 

tPLH

 

 3.4条

Vcc =5V.CL= 45pF,

 RL= 667Ω

见本规范图2

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范接地

ENB接5.5V

A→y

 

  14  14

 

  

 

ns

 

 

 

tPHL

 

3.5条

 

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范接地

ENB接5.5V

A→y

  18

 

 

 

^
续表3--2

分组

 

符号

 

引用标准

GB 3439

           条件

(若无其他规定-55 0C≤取≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

A9

 

 

tPZH

3.6条

 

Vcc =5V.CL= 45pF,

 RL= 667Ω

见本规范图2

 

被测门输入接

4.5V

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

30

 

 ns

 

 

tPZL

3.7条

被测门输入接

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

30

 

tPHZ

3.8条

 Vcc =5V.CL=5 pF

RL= 667Ω

见本规范图2

被测门输入接

4.5V

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

35

 

 

tPLZ

3.9条

被测门输入接

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

30

 

  A10

tPLH

 

3.4条

 

 

TA= 125℃,条件同A9分组

A→Y

  18

 ns

tPHL

 

3.5条

A→Y

  23

tPZH

3.6条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  39

tPZL

3.7条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  39

tPHZ

3.8条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  45

tPLZ

  3.9条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  39

  All

  TA=- 55℃,参数、条件、规范值同AI0分组

 

表3—3 JT54LS244电测试

分组

 

符号

 

引用标准GB 3439

              条件

(若无其他规定-55 0C≤取≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

  A1

VIK

2.1条

Vcc =4.5 V,被测输入IIK=-18mA

1.5

V

VOH1

 

2.2条

 

Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB端接0.7V,A端接2V,逐一测每个输出端IOH=-3mASJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

2.4

 

V

VOH2

 

2.2条

 

Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB端接0.5V,A端接2V,逐一测每个输出端IOH=-12mA

2

 

V

VOL1

 

2.5条

 

Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB端接0.7V,A端接0.7V,逐一测每个输出端IOL=-12mA

0.4

 

V

VOL2

 

2.5条

 

 Vcc =4.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB端接0.7V,A端接0.7V,逐一测每个输出端IOL=18mA

0.45

 

V

IOZH

 

2.23条

 

Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB端接2V.

被测输出端Vo=2.7V

20

 

μA

IOZL

2.24条

 

Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB端接2V.

被测输出端Vo=0.4V

-20

 

μA


续表3--3

分组

 

符号

 

引用标准

GB 3439

              条件

(若无其他规定-55 0C≤取≤125℃)

  规范值

单位

 

最小

最大

  Al

IIH

2.12条

  Vcc= 5.5V.被测输入V1=2.7V

 

20

μA

II

2.12条

 Vcc =5.5V,被测输入V1=7V

 

100

μA

IL1

2.13条

  Vcc =5.5V.被测EN端V1=O.4V

-200

μA

ICCH

2.26条

 

  Vcc=5.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接地.ENB端接地.其它输入端接

5.5V

27

 

mA

ICCL

2.26条

 

Vcc=5.5V,SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接地.ENB端接地.其它输入端接地

46

 

mA

ICCZ

2.27条

  Vcc=5.5V.SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端.ENB端接5.5V

54

M A

IOS

2.21条

 

  Vcc=5.5V.被测门输入端接5.5V,

被测输出接地(SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A端接地.ENB端接5.5V)

-40

 

-225

 

mA

  A2

TA=125℃,除VIK不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组

  A3

TA=-55℃,除VIK不测试外,参数、条件、规范值要求同A1分组

  A7

 Vcc=5.5V,按功能表进行测试

  A9

 

 

tPLH

 

 3.4条

Vcc =5V.CL= 45pF,

 RL= 667Ω

见本规范图2

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范接地

ENB接地

A→Y

  14

 

 

  ns

 

 

tPHL

 

3.5条

 

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范接地

ENB接地

A→Y

  18

 

 

tPZH

3.6条

 

被测门输入接

4.5V

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

30

 

  30

 

tPZL

3.7条

被测门输入接地

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

30

 

tPHZ

3.8条

Vcc =5V.CL=5 pF

RL= 667Ω

见本规范图2

被测门输入接

4.5V

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

  35

 

 

 

tPLZ

3.9条

被测门输入接地

 

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A→Y

ENB→Y

30

 

 

  A10

tPLH

 

3.4条

TA= 125℃,条件同A9分组

A→Y

  18

  ns

tPHL

 

3.5条

A→Y

  23

tPZH

3.6条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  39

tPZL

3.7条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  39

tPHZ

3.8条

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范A、ENB→Y

  45

tPLZ

  3.9条

卧“、ENB-~1

  39

  All

 TA=- 55℃,参数、条件、规范值同AI0分组

 


 传输延迟时间的电压波形

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范 

三态输出允许和禁止的电压波形

注;①  S1闭合,S2开启时测量tpzl;s1开启,S2闭合时测量tPZH;

        S1闭合,S2开启时测量 tPHZ、tPLZ、tPHL和tPHL。
②  测tPHL、tPHL、tpzl.和tPZH时OL= 45pF;测tPHZ和tpzL时CL=5pF(包括显示器探头和夹具电容)。

      ③  RL= 667Ω±5%。   

      ④所有二极管为2DK76或等效型号。

      ⑤脉冲发生器f=lMHz,Zo=50Ω,Vm=3V,t1≤15ns t1≤6 ns

 

                   图2开关测试负载线路和电压波形图

3.6标志

    标志应按GJB 597第3.6条的规定。

3.7微电路的划分

    本规范所涉及的器件为第9微电路组(见GJB 597附录E)。

4质量保证规定

4.1抽样和检验

    除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。

4.2筛选

    在鉴定检验和质量一致性检验之前:全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规

定进行筛选。

若无其它规定,表4中采用的方法系指GJB548的试验方法。

                               表4筛选程序

    项    目

    条  件  和  要  求

    说    明

    B级器件

    BI级器件

方法

  条  件

方法

    条  件

内部目检

(封帽前)

2010

 

试验条件B

 

 2010

 

试验条件B

 

 

稳定性烘焙(不要求终点测

试)

1008

 

 

试验条件C

(150℃.24h)

 

1008

 

 

试验条件C

(150℃,24h)

 

 

温度循环

1010

试验条件C

 1010

试验条件C

可用方法1011试验条件A替代

恒定加速度

 

200l

 

试验条件E

YI方向

200l

 

试验条件D.

YI方向

 

目检

 

 

 

 

 

可在“密封”筛选后进行。引线断落、

外壳破裂、封盖脱落为失效

中间(老化前)电测试

 

本规范AI分组

 

 

本规范Al分组

 

由制造厂决定是否进行本筛选

 

老化

 

lOl5

 

试验条件D或E

(125"C, 160h)

1015

 

试验条件D或E

(125℃,160h)

采用本规范图3线路

 

中同(老化后)电测试

 

本规范AI分组

 

 

 

    .

 

本规范AI分组

 

 

 


                               续表4

    项    目

    条  件  和  要  求

    说    明

    B级器件

    Bl级器件

方法

  条  件

方法

    条  件

允许的不合格品

率(PDA)计算

 

 

10%.本规范A1分组,

当不合格品率不超过

20%时可重新提交老化.

但只允许一次

10%.本规范AI分组,

当不合格品率不超过

20%时可重新提交老化.

但只允许一次

所有批,若老化前未进行中间电测

试,则老化后中间电测试(老化后)

AI分组的失效也应计入PDA

 

密封

  细检漏

  粗检漏

1014

 

 

 

 1014

 

 

 

 

最终电测试

 

 

本规范A2、A3、

AT,A9分组

 

本规范A2、A3、

A7、A9分组

本筛选后,若引线涂覆改变或返工,

则应再进行A1分组测试

外部目检

2009

 

 2009

 

 

鉴定或质量一致

性检验的试验样

品抽取

5005

 

 

第3.5条

 

 

5∞5

 

 

第3.5条

 

 

 

 

a. JT54LS240

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范
b. JT54LS241

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

c. JT54LS244

SJ 20284-93 半导体集成电路JT54LS240、JT54LS241和JT54LS244型LS - TTL八缓冲器(3S)详细规范

  注:①输入信号:fl=lOOkHz,f2= 50kHz.q=50%方波

                VIL=-0.5~0.7V,VIH= 2~5.5V;

      ②R1=470Ω+5%, R2 =27Ω±5%;

      ③R3和Vcc选择应保证加在器件的实际电压至少为5V。

              图3老化和稳态寿命试验线路

4.3鉴定检验

    鉴定检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、

B、C和D组检验(见本规范4.4.1~4.4.4条)的规定。

4.4质量一致性检验

    质量一致性检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548的方法5005和本

规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1~4.4.4条)的规定。

4.4.1 A组检验
    A组检验应按本规范表5的规定。

    电试验要求按本规范表2的规定,各分组的电测试按本规范表3的规定。

    各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时,允许100%检

验。

    合格判定数(C)最大为2。

表5 A组检验

    试    验

 

    L TPD

 

    B级器件

 

    B1级器件

    A1分组(25℃下静态测试)

    2

    2

    A2分组(125℃下静态测试)

    3

    3

    A3分组(- 55℃下静态测试)

    5

    5

    A7分组(25℃下的功能测试)

    2

    2

    A9分组(25℃下开关测试)

    2

    2

    AI0分组(125℃下开关测试)

    3

    不要求

    All分组(- 55℃下开关测试)

    5

    不要求

4.4.2B组检验

B组检验应按本规范表6的规定。

BI~B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。

                          表6 B组检验

若无其它规定,表6中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。

    项  目

       条件和要求

样品数/

(接收数)

  或L TPD

    说  明

    B级器件

 B1级器件

方  法

条  件

方  法

条  件

BI分组

  尺寸

 

    2016

 

 

    2016

 

    21(0)

 

 

B2分组

  抗溶性

 

    2015

 

 

    2015

 

    4/(0)

 

 

B3分组

  可焊性

 

 

 

    2022

    或

    2003

 

焊接温度

    245℃

 

 

    2022

    或

    2003

 

  焊接温度

    245U

 

    15

 

 

 

 LTPD系对引线

数而言,被试器件应多于3个

B4分组

  内部目检

  和机械性能

 

 

    2014

 

 

 

 

    2014

 

 

 

    1/(o)

 

 

 

在封帽和打印后

的任意工序抽取

试验样品


 

续表6

    项  目

    条件和要求

 样品效/

 (接收数)

 或L TPD

  说  明

    B级器件

    B1级器件

方  法

条  件

方  法

条  件

B5分组

  健合强度

  (1)热压焊

  (2)超声焊

 

 

    2011

 

 

 

 

试验条件

  C或D

 

 

 

    2011

 

 

 

 

试验条件

  C或D

 

 

    7

 

 

 

 

 

可在封装工序前

的内部目检后随

机抽取样品进行

本试验

B8 分组

(a)电测试

 (b)静电放电灵敏度等级

(c) 点测试  

 

 

 

 

GJB×××

 

 

 

 

  本规范

  A1分组

AI分组

 

 

 

  不要求

 

 

 

  15/(O)

 

 

 

 

 

 

 

仅在初始鉴定或

产品重新设计时

进行

 

4.4.3C组检验

C组检验应按本规范表7的规定。

若无其它规定,表7中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。

表7 C组检验

    项  目

    条件和要求

 

样品数/

(接收数)

 或L TPD

  说  明

    日级器件

    BI级器件

方  法

条  件

方  法

条  件。

C1分组

  稳态寿命

 

终点电测试

 

 

 

 

  1005

 

 

 

 

 

 

试验条件古

或E

A1.A2.A3

分组

(见本规范表2和表3)

 

    1005

 

 

 

 

 

 

试验条件D

或E

AI.A2.A3

分组

(见本规范表2和表3)

    5

 

 

 

 

 

 

 

采用本规范图3

的试验线路

 

 

 

 

C2分组

  温度循环

  恒定加速度

 

  密封

    细检漏

    粗检漏

  目检

 

 

1010

2001

 

1014

 

 

 

 

 

试验条件C

试验条件E.

YI方向

 

 

 

按1010的目

检判据

 

1010

2001

 

1014

 

 

 

 

 

试验条件C

试验条件

D.yl方向

 

 

按1010的目

判据   

    15

 

 

 

 

 

 

 

 

 


 

续表7

    项    目

    条件和要求

 样品数/

(接收数)

 或L TPD

    说  明

    B级器件

    B1级器件

方  法

条  件

方  法

条  件

终点电测试

 

 

 

 

AI, A2, A3

分组

(见本规范表2和表3)

 

A1.A2.A3

分组

(见本规范表2和表3)

 

 

C3分组

  125℃下开关

  测试

 

 

 

 

不要求

 

 

 

 

 

 

   

 

 

AIO分组

(见本规范表2和表3)

    3   

 

 

 

 

 

C4分组

    - 55℃下开

    关测试

 

 

 

不要求

 

 

 

 

All分组

(见本规范表2和表3) 

    5

 

 

 

 

 

4.4.4D组检验

    D组检验应按本规范表8的规定。

    DI、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。

若无其它规定,表8中采用的试验方法系指G]B 548的试验方法。

表8 D组检验

    项    目

    条件和要求

样品数/

(接收数)

  或L TPD

    说  明

    B级器件

    BI级器件

方  法

条  件

方  法

条  件

DI分组

  尺寸

 

  2016

 

 

    2016

 

    15

 

 

 D2分组

  引线牢固性

 

 

 

  密封

    细检漏

    粗检漏

 

  2004

 

 

 

  1014

 

 

 

试验条件B2

(片状载体采用试验条件D)

 

 

 

 

    2004

 

 

 

    1014

 

 

 

试验条件B2

(片状载体采用试验条伴D)

 

 

 

    15

 

 

 

 

 

 

 

 

 D3分组

  热冲击

 

  温度循环

 

 

  1011

 

  1010

 

 

试验条件B.

15次循环

试验条件C

100次循环

 

    1011

 

    1010

 

 

试验条件A.

15次循环

试验条件C.

10次循环.

    15

 

 

 

 

 


续表8

    项  目

    条件和要求

 

样品效/

(接收效)

  或L TPD

  说  明

    B级器件

    BI级器件

  方  法

  条  件

  方  法

  条  件

  抗潮湿

 

 

 

  密封

    细检漏

    粗检漏

 

  目检

 

 

  终点电测试

 

 

 

 

  1004

 

 

 

    1014

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

片状载体不

要求引线弯

曲应力的预

处理

 

 

 

按1010和

1004目检判

据   

AI, A2, A3

分组(见本规范表2和表3)

    1004

 

 

 

    1014

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

按1010和

1004目检判

AI.A2.A3

分组(见本规范表2和袭3)

 

Bl级器件可按

GB 4590第3.6

条,严格度;D

 

 

 

 

Bl级器件可按

GB 4590第3.6

条的目检判据

可在“抗潮湿”后

和“密封”试验前

进行终点测试

 

D4分组   

  机械冲击

 

  变额振动

  恒定加速度

 

  密封

    细检漏

    粗检漏

  目检

 

终点电测试

 

 

 

 

2002

 

2007

2001

 

1014

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

试验条件B

 

试验条件A

试验条件E

 Y1方向

按2002和

2007目检判

据AI.A2.A3

分组(见本规范表2和表3)

 

2002

 

2007

2001

 

1014

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

试验条A

 

试验条件A

试验条件D

YI方向

 

 

按2002和

2007目检列

据AI.A2.A3

分组(见本规范表2和表3)

    15

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D3分组的样品可

用于D4分组

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D5分组

  盐雾   

 

 

 

 

  密封

    细检漏

    粗检漏

 

    1009

 

 

 

 

    1014 

 

 

 

试验条件A,

片状载体不

要求引线弯

曲应力的预

处理

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

    15

 

 

 

 

 

 

 

 

 

对BI级器件用

户要求时进行该

分组试验

 

 

 

 

 


续表8

    项    目

    条件和要求

 

样品数/

(接收效)

或L TPD

    说  明

    B级器件

    BI级器件

  方  法

  条  件

  方  法

  条  件

  目检

 

 

按1009的目

检判据

 

 

 

 

D6分组

 

    内部水汽含

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

    1018

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

IOOU时最大

水汽含量为

5000 ppm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

    .

 

 

 

 

不要求

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3/(0)或

 5/(1)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

当试验试3个器

件出现1个失效

时,可加试2个器

件并且不失效。

若第一次试验未

通过,可在鉴定机

构认可的另一试

验室进行第二次

试验。若试验通

过,则该批被接收

D7分组

  引线涂覆粘

附强度

 

    2025

 

 

不适用于片

状载体

 

    2025

 

 

不适用于片

状载体

    15

 

 

 

LTPD系对引线

数而育

D8分组

  封益扭矩

 

 

  2024

 

 

仅适用于熔

封陶瓷外壳

 

    2024

 

 

仅适用于熔

封陶瓷外壳

    5/(0)

 

 

 

 

4.5检验方法

    检验方法规定如下:

4.5.1电压和电流

    所有给出的电压均以器件GND端为基准,给定的电流以流入引出端为正。

5交货准备   

5.1包装要求

    包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。

6说明事项

6.1订贷资料

    订货合同应规定下列内容:

    a.  完整的器件编号(见1.3.1条)。

    b.  需要时,对器件制造厂提供与所交付器件相对应的检验批质量一致性数据的要求。
    c.  需要时,对合格证书的要求。

    d.  需要时,对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。

    e.需要时,对失效分析(包括GJB 548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求。

    f.  对产品保证选择的要求。

    g.  需要时,对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。

    h.  对认{芷标志的要求。

    I.需要时,其他要求。

6.2缩写、符号和定义   

    本规范所采用的缩写、符号和定义按GB 3431.1、GB 3431.2和GJB 597的规定。

6.3替代性

    本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。不允许用普通工业用器件替代军用器

件。

附加说明:

本规范由中国电子技术标准化研究所归口。

本规范由中国电子技术标准化研究所起草。

本规范主要起草人:李燕荣、孙人杰。

计划项目代号:B010410

2165
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