SJ 20282 93 半导体集成电路JT54LS02、JT54LS27JT54LS266型LS TTI或非门详细规范
半导体集成电路JT54LS02、JT54LS27
JT54LS266型LS-TTI或非门详细规范
1．范围
1.1主题内容
本规范规定了硅单片JT54LS02、JT54LS27、JT54LS266型LS--TTL或非门（以下简称器
件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。
1.3.1器件编号器件编号应按GJB 597<微电路总规范>第3.6.2条的规定。
1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
|
器件型号 |
器件名称 |
|
JT54t.S02 JT$4LS27 JT54LS266 |
四2输入或非门 三3输入或非门 四2输入异或非门(OC) |
1.3.1.2器件等级
器件等级应为GJB 597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。
1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
|
字 母 |
封装形式 |
|
C D F H J |
CP, OP3(陶瓷无引线片式载体封装) D14S3（（陶瓷双列封装） FI4X2 《陶瓷扁平封装) （HI4×2陶瓷熔封扁平封装） 14S3(陶瓷熔封双列封装) |
注:1）按GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》。
1.3.2绝对最大额定值
|
项 目
|
符4号
|
数 值 |
单 位
| ||
|
最 小 |
最 大 | ||||
|
电源电压 |
Vcc |
— |
7.0 |
V | |
|
输入电压 |
V1 |
— |
7.0 |
V | |
|
贮存温度 |
TSTG |
-65 |
150 |
℃ | |
|
弓I线耐焊接温度(lOs) |
TH |
— |
300 |
℃ | |
|
结温 |
TI |
— |
175 |
℃ | |
|
功耗 |
JT54LS02 |
PD |
— |
30 |
mW |
|
JT54LS27 |
— |
38 | |||
|
JT54LS66 |
— |
72 | |||
注：1）应能承受测试ION时所增加的功耗。
1.3.3推荐工作条件
|
项 目
|
符 号
|
规范值 |
单 位
| ||
|
最 小 |
最 大 | ||||
|
电源电压 |
Vcc |
4.5 |
5.5 |
V | |
|
输入高电平电压 |
VIH |
2．O |
|
V | |
|
输入低电平电压 |
VIL |
— |
0.7 |
V | |
|
输出截止态电压 |
JT$4LS266 |
VO(OFF) |
— |
5.5 |
V |
|
输出高电平电流
|
JT54LS02
JT54LS27 |
IOH
|
— |
- 400
|
衅
|
|
输出低电平电流 |
IOL |
— |
4.0 |
mA | |
|
工作环境温度 |
TA |
-55 |
125 |
℃ | |
2引用文件
GB 3431.1—82 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
GB 3431.2—86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号
GB 3439—82 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
BG4590—84 半导体集成电路机械和气候试验方法
GB 4728.12—85 电气图用图形符号二进制逻辑单元
GB 7092-- 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548—88 微电子器件试验方法和程序
GJB 597—88 微电路总规范
GJB xxx 电子产品防静电放电控制大纲
3.1详细要求
各项要求应按GJB 597和本规范的规定。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应按GJB 597和本规范的规定。
3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
逻辑符号、逻辑圈和引出端排列应符合图l的规定。引出端排列为俯视图。
JT54LS02
图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
|
输入 |
输出 | |
|
A |
B |
Y |
|
L |
L |
OFF |
|
L |
H |
L |
|
H |
L |
L |
|
H |
H |
OFF |
JT54LS02 JT54LS27 JT54LS266
|
输入 |
输出 | |
|
A |
B |
Y |
|
H |
x |
L |
|
x |
H |
L |
|
L |
L |
H |
|
输 入 |
输出 | ||
|
A |
B |
c |
Y |
|
H |
x |
x |
L |
|
x |
H |
'x |
L |
|
x |
x |
H |
1． |
|
L |
L |
L |
H |
注：H-高电平；L-低电平；X-任意态；OFF-截止态
3.2.3 电原理图
制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。
3.2.4 封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。
3.3 引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。
3.4 电特性
电特性 应符合表1的规定。
表1—1 JT54LS02的电特性
|
特 性
|
符 号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIL=0.7 V IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
|
|
输出低电平电压
|
VOL
|
VCC=4.5 V, IOL=4 mA VIH=2.0V |
— |
O．4
|
V
|
|
输入钳位电压
|
VIK |
Vcc=4.5 V, IIK=-18mA TA=25℃ |
— |
-I.5
|
V
|
|
最大输入电压时 输入电流 |
II |
Vcc=5.5 V, V1=7.0 V |
— |
100
|
μA |
|
输入高电平电流 |
IIH |
VCC=5.5 V, V1=2.7 V |
— |
20 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IIL |
VCC=5.5 V, V1=0.4 V |
— |
-0.4 |
mA |
|
输出短路电流2) |
IOS |
VCC=5.5V |
-20 |
- 100 |
mA |
|
输出高电平时 电源电流 |
ICCH |
VCC=5.5 V, V1=0 V |
— |
3.2
|
mA
|
|
输出低电平时 电源电流 |
ICCL |
Vcc=5.5 V, V1=5.5 V |
— |
5.4
|
mA
|
|
输出由高到低电平 传输延时间 |
tPHL
|
VCC=5.0 V, CL=15 pF RL=2 kΩ |
— |
26 |
ns |
|
输出由低到高电平 传输延迟时间 |
tPLH
|
VCC=5.0 V, CL=15 pF RL=2 kΩ |
— |
26 |
ns |
注，1）完整的测试条件列于表3。
2) 每次只短路一个输出端。
表1--2 JT54LS27的电特性
|
特 性
|
符 号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最 小 |
最 大 | ||||
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIL=2.0 V IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
|
|
输出低电平电压
|
VOL
|
VCC=4.5 V, IOL=4 mA VIH=2.0V |
— |
O．4
|
V
|
|
输入箝位电压
|
VIK |
Vcc=4.5 V, IIK=-18mA TA=25℃ |
— |
-1.5
|
V
|
续表1--2
|
特 性
|
符 号
|
条件1) （若无其他规定 -55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |
|
最， 小 |
最 大 | ||||
|
最大输入电压时 输入电流 |
II |
Vcc=5.5 V, V1=7.0 V |
— |
100
|
雄
|
|
输入高电平电流 |
IIH |
VCC=5.5 V, V1=2.7 V |
— |
20 |
衅 |
|
输入低电平电流 |
IIL |
VCC=5.5 V, V1=0.4 V |
— |
-0.4 |
mA |
|
输出短路电流2) |
IOS |
VCC=5.5V |
-20 |
- 100 |
mA |
|
输出高电平时 电源电流 |
ICCH |
VCC=5.5 V, V1=0 V |
— |
4.0
|
mA
|
|
输出低电平时 电源电流 |
ICCL |
Vcc=5.5 V, V1=4.5 V |
— |
6.8
|
mA
|
|
输出由商到低电平 传输延迟时间 |
tPHL
|
VCC=5.0 V, CL=15 pF RL=2 kΩ |
— |
26 |
ns |
|
输出由低到高电平 传输延迟时间 |
tPLH
|
VCC=5.0 V, CL=15 pF RL=2 kΩ |
— |
26 |
n3 |
注：l）完整的测试条件列于表3。
2)每次只短路一个输出端。
表I--3 JT54LS266的电特性
|
特 性
|
符 号
|
条件1) （若无其他规定 -55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |
|
最 小 |
最 大 | ||||
|
输出低电平电压
|
VOL
|
VCC=4.5 V, IOL=4 mA VIH=2.0V |
— |
0.4
|
V
|
|
输入箝位电压
|
VIK
|
Vcc=4.5 V, IIK=-18mA TA=25℃ |
— |
-1.5
|
V
|
|
输出截止态电流
|
IO(OFF)
|
Vcc=4.5V, VIH=2.0V Vo=5.5V |
— |
100
|
μA |
|
最大输入电压时 输入电流 |
II |
Vcc=5.5 V, V1=7.0 V |
— |
200
|
μA |
|
输入高电平电流 |
IIH |
VCC=5.5 V, V1=2.7 V |
— |
40 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IIL |
VCC=5.5 V, V1=0.4 V |
— |
-0.8 |
mA |
|
电源电流 |
ICC |
VCC=5.5V |
— |
13 |
mA |
|
输出由高到低电平 传输延迟时问 |
tPHL
|
VCC=5.0 V, CL=15 pF RL=2 kΩ |
— |
45 |
ns
|
|
输出由低到高电平 传输延迟时间 |
tPLH
|
VCC=5.0 V, CL=15 pF RL=2 kΩ |
— |
45 |
ns
|
注：1）完整的测试条件列予表3。
3.5电试验要求
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按表3的规定。
表2电试验要求
|
项 目
|
分组（见表3） | |
|
B级器件 |
B1级器件 | |
|
中阊（老化前）电测试 |
A1 |
AI |
|
中问（老化后）电测试 |
A11) |
Al |
|
最终电测试 |
A2．A3,A9 |
A2．A3．A9 |
|
A组试验要求 |
AI, A2,A3,Ag, AI0, AI i |
AI, A2, A3,A9 |
|
C组终点电测试 |
AI．A2．A3 |
A1．A2．A3 |
|
C组检验增加的电试验分组 |
不要求 |
AIO, AIl |
|
D组终点电测试 |
AI,A2,A3 |
AI,A2.A3 |
注：1）该分组要求PDA计算（见4.2条）
表3--1 JT54LS02的电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条 件 （若无其他规定．TA= 25℃） |
规范值 |
单位
| |||
|
最小 |
最大 | |||||||
|
AI |
VOH
|
2.2条
|
VCC=4.5 V，被测出一个输入V1L=7.0 V ，其 余所有输入VI=5.5 V．被测输出IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
| ||
|
VOL
|
2.5条
|
VCC=4.5 V，被测门所有输入VIH=2.0V，其余所有输入V1=0 V，被测输出IOL=4 mA |
— |
0.4
|
V
| |||
|
VIK |
2.1条 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
-1.5 |
V | |||
|
II |
2.11条 |
VCC=4.5 V，被测门一个输入V1L=7.0 V ，其 余所有输入VI=0 V． |
— |
100 |
μA | |||
|
IIH |
2.12条 |
VCC=4.5 V，被测输入V1=2.7 V，其余所有 输入V1=0 V |
— |
20 |
μA | |||
|
IIL |
2.13条
|
Vcc =5.5 V．被测输入V1=0.4 V,其余所有 输入VI=5.5V |
— |
-0.4
|
mA
| |||
|
IOS |
2.21条 |
Vcc =5.5 V，被测门所有输入V1=0 V．其余 所有输入开路，被测输出V1=0 V |
-20 |
- I00 |
mA | |||
|
ICCH |
2.26条 |
Vcc =5.5 V，所有输入V1=O V，输出端开路 |
— |
3.2 |
mA | |||
|
ICCL |
2.27条 |
VCC=4.5 V，所有输入VI=5.5V，输出端开路 |
— |
5.4 |
mA | |||
|
A2 |
TA=125℃，参数、条件、规范值均同AI分组 | |||||||
|
A3 |
TA=-55℃，参数、条件、规范值均同AI分组 | |||||||
|
A9
|
tPHL
|
3.5条 |
Vcc=5.0 V， 见本规范图2 非被测输入V1=0V |
A, B →Y |
— |
15 |
ns | |
|
tPLH
|
3.4条
|
— |
15
|
ns
| ||||
|
AIO
|
tPHL
|
3.5条 |
TA=125℃,Vcc=5.0 V，见 本规范图2，非被测输入 V1=0V V1=2.7 V |
A, B →Y |
— |
26 |
ns | |
|
tPLH
|
3.4条
|
— |
26
|
ns I'ltS | ||||
|
Al1 |
TA=-55℃，参数、条件和规范值均同A10分组。 | |||||||
表3—2 JT54LS27的电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条 件 （若无其他规定．TA= 25℃） |
规范值 |
单位
| ||||||
|
最小 |
最大 | ||||||||||
|
Al |
VOH
|
2.2条
|
VCC=4.5 V，被测门一个输入V1L=7.0 V ，其 余所有输入VI=5.5 V．被测输出IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
| |||||
|
VOL
|
2.5条
|
VCC=4.5 V，被测门所有输入VIH=2.0V，其余所有输入V1=0 V，被测输出IOL=4 mA |
— |
0.4
|
V
| ||||||
|
VIK |
2.1条 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
-1.5 |
V | ||||||
|
II |
2.11条 |
VCC=4.5 V，被测门一个输入V1L=7.0 V ，其 余所有输入VI=0 V． |
— |
100 |
μA | ||||||
|
IIH |
2.12条 |
VCC=4.5 V，被测输入V1=2.7 V，其余所有 输入V1=0 V |
— |
20 |
μA | ||||||
|
IIL |
2.13条
|
Vcc =5.5 V．被测输入V1=0.4 V,其余所有 输入VI=5.5V |
— |
-0.4 |
mA | ||||||
|
IOS |
2.21条 |
Vcc =5.5 V，被测门所有输入V1=0 V．其余 所有输入开路，被测输出V1=0 V |
-20 |
- 100 |
mA | ||||||
|
ICCH |
2.26条 |
Vcc =5.5 V，所有输入V1=O V，输出端开路 |
— |
4.0 |
mA | ||||||
|
ICCL |
2.27条 |
VCC=4.5 V，所有输入VI=5.5V，输出端开路 |
— |
6.8 |
mA | ||||||
|
A2 |
TA=125℃，参数、条件、规范值均同AI分组 | ||||||||||
|
A3 |
TA=-55℃，参数、条件、规范值均同AI分组 | ||||||||||
|
A9
|
tPHL
|
3.5条 |
Vcc=5.0 V， 见本规范图2 非被测输入V1=0V |
A, B →Y |
— |
15 |
ns | ||||
|
tPLH
|
3.4条 |
— |
15
|
ns
| |||||||
|
AlO
|
tPHL
|
3.5条 |
TA=125℃,Vcc=5.0 V，见 本规范图2，非被测输入 V1=0V V1=2.7 V |
A, B →Y |
— |
26 |
ns | ||||
|
tPLH
|
3.4条 |
— |
26 |
ns | |||||||
|
All |
TA=-55℃，参数、条件和规范值均同A10分组。 | ||||||||||
表3--3 JT54LS266的电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条 件 （若无其他规定．TA= 25℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | |||||
|
A1 |
IO(OFF)
|
2.22条
|
VCC=4.5 V，被测门一个输入V1L=7.0 V ，其余所有输入VI=5.5 V．被测输出VO=5.5 V |
— |
100 |
μA |
|
VOL
|
2.5条
|
CC=4.5 V，被测出所有输入VIL=0.7V另一个输入VIH=2.0V,其余所有输入V1=5.5V，被测输出IOL=4mA |
— |
0.4
|
V
| |
|
VIK |
2.1条 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
-1.5 |
V | |
|
II |
2.11条
|
Vcc =5.5 V．被测输入V1=7.0 V，其余所有输入V1=0 V |
— |
200 |
μA | |
|
IIH |
2.12条
|
VCC=4.5 V，被测输入V1=2.7 V，其余所有输入V1=0V |
— |
40 |
μA | |
|
IIL |
2.13条
|
Vcc =5.5 V．被测输入V1=0.4 V,其余所有输入VI=5.5V |
— |
-0.8
|
mA | |
|
ICCH |
2.26条 |
Vcc =5.5 V，所有输入V1=O V，输出端开路 |
— |
13 |
mA | |
|
A2 |
TA= 125℃，参数、条件、规范值均同A1分组 | |||||
续表3—3
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条 件 （若无其他规定．TA= 25℃） |
规范值 |
单位
| |||
|
最小 |
最大 | |||||||
|
A3 |
TA=- 55℃，参效、条件、规范值均同AI分组 | |||||||
|
A9
|
tPHL
|
3.5条 |
Vcc=5．OV．本规范
图2 |
非梭测输入V1=0V
|
A, B →Y
|
— |
30 |
ns |
|
tPLH
|
3.4条 |
— |
30 |
ns
| ||||
|
tPHL
|
3.5条 |
非被测输入V1=2.7V
|
A, B →Y
|
— |
30 |
ns | ||
|
tPLH
|
3.4条 |
— |
30 |
ns | ||||
|
A10
|
tPHL
|
3.5条 |
TA= 125℃ VCC= 5.0V
本规范圈2 |
非被测输入V1= OV
|
A, B →Y
|
— |
45 |
nS |
|
tPLH
|
3.4条
|
— |
45 |
n3 | ||||
|
tPHL
|
3.5条
|
非被测输入V1= 2.7V |
A, B →Y
|
— |
45
|
nS
| ||
|
tPLH
|
3.4条 |
— |
45 |
n3 | ||||
|
A1l |
TA=一55℃，参数、条件、规范值均同AI0分组 | |||||||
①输入波形：∫=l MHz，tr≤15 ns，tf≤6ns，tw=0.5μs
②负载：cL=15PF（包括探头及夹具电容），RL=2 kΩ，所有二极管为2DK76或等效型号。
图2开关测试负载线路和电压波形
3.6 标志
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件虑为第8微电路组（见GJB 597附录E）。
4 质量保证规定
4.1 抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规
定进行筛选。
表4筛选
|
筛选项目 |
条件和要求(GJB 548) |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检 （封装前） |
2010
|
试验条件B
|
2010
|
试验条件B
|
|
续表4
|
筛选项目 |
条件和要求(GJB 548) |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
稳定性烘焙 （不要求终点电 测试） |
1008
|
试验条件C (150℃,24h)
|
1008
|
试验条件C (150℃,24h)
|
|
|
温度循环
|
1010
|
试验条件C
|
1010
|
试验条件C
|
可用方法1011试验条件 A替代 |
|
恒定加速度
|
2001
|
试验条件E Y1方向 |
2001
|
试验条件D， YI方向 |
|
|
目检
|
|
|
|
|
可在“密封”筛选后进行。 引线断落、外壳破裂、封 盖脱藩为失效 |
|
中间（老化前） 电测试 |
|
本规范AI分组
|
|
本规范AI分组
|
由制造厂决定是否进行 本筛选 |
|
老化
|
1015
|
试验条件D或E (125"C, 160h) |
1015
|
试验条件D或E (125℃．t60h) |
采用本规范图3线路
|
|
中间（老化后） 电测试 |
|
本规范AI分组
|
|
本规范AI分组
|
|
|
允许不合格品 率(PDA)计算
|
|
5%．本规范AI分 组。当不合格品 率不超过20%时， 可重新提交老化， 但只允许一次
|
|
10%．本规范 AI分组。当不 合格品率不超 过20%时．可萤 新提交老化．但 只允许一次 |
若老化前未进行中间（老 化前）电测试，则老化后 中间（老化后）电测试AI 分组的失效也应计入 PDA
|
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3 A9分组
|
|
本规范A2、A3 A9分组
|
本项筛选后，若引线涂覆 改变或返工．则应再进行 AI分组测试 |
|
密封
细检漏 粗检漏 |
1014
|
|
1014
|
|
|
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
|
|
鉴定和质量一 致性检验的试 验样品抽取 |
5005
|
第35条
|
5005
|
第35条
|
|
JT54LS02
JT54LS27
JT54LS266
图3老化和寿命试验线路
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、
C和D组检验（见本规范4.4.1条至4.4.4条）的规定。
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应按GJB 548方法5005和本规范
A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1条至4.4，4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。
电试验要求应按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检．
验。
合格判定效(C)最大为2。
表5 A组检验
|
试 验
|
LTPD | |
|
B缀器件 |
BI级器件 | |
|
A1分组 25℃下静态测试 |
2 |
2 |
|
A2分组 125℃下静态测试 |
3 |
3 |
|
A3分组 -55℃下静态测试 |
5 |
5 |
|
A9分组 25℃下动态测试 |
2 |
2 |
|
AIO分组 125℃下开关测试 |
3 |
不要求 |
|
All分组 一55℃下开关测试 |
5 |
不要求 |
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1-B5分组可用同一检验批中电性能合格的器件作为样本。
若无其他规定，表6中引用的试验方法为GJB 548中规定的方法。
’表6 B组检验
|
试 验
|
条件和要求 |
样品投／（接收效）或
LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
BI分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
2/(0)
|
|
|
B2分组 抗溶性 |
2015 |
|
2015 |
|
4/(0)
|
|
|
∞分组 可焊性
|
2022 或 2003 |
焊接温度： 245±5℃
|
2002 或 加03 |
焊接温度； 245±5℃
|
15
|
LTPD系对引线数而 育，被测器件效应不 少于3个
|
|
B4分组 内部目捡和机 械性能 |
2014
|
|
2014
|
|
l／(O)
|
|
续表6
|
试 验
|
条件和要诛 |
样品投／（接收数）或
LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条’ 件 | |||
|
135分组 奠合强度 (1)热压焊 (2)超声焊 |
2011
|
试验条件C 或D
|
加lI
|
试验条件C 或D
|
7
|
可在封装前的“内部 目检”筛选后，随意 抽取样品进行本分 组试验 |
|
髓分组 (a)电参数 (b)静电放电 灵敏度等级 (c)电参效 |
GJB ×××
|
本规范A1分整
本规范AI分鞋 |
|
不要求
|
ls/(o)
|
仅在初始鉴定或产 品重新设计时进行
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
若无其他规定，表中引用的试验方法为GJB 548中规定的方法。
表7 C组检验
|
试 验 |
条件和要求
|
样品数／（接收效）或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
Cl分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
试验条件D或E (125℃,1000h) 本规范AI、A2 和A3分组（见本 规范表2和表3） |
1005
|
试验条件D或E ( 125'C．1000h) 本规范AI、A2 和A3分组（见本 规范表2和袭3） |
5
|
采用本规范图3线路
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检 终点电测试
|
lOlO 2001
1014
|
试验条件C 试验条件E． Ys方向
按方法1010 的目检判据 本规范Al、A2 和A3分组（见本 规范表2和表3） |
lOlO 2011
1014
|
试验条件C 试验条件D． Yi方向
按方法I010 的目检判据 本规范AI、A2 和A3分组（见本 规范表2和表3） |
15
|
|
续表7
|
试 验 |
条件和要求 |
样品数／（接收效）或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
c3分组 125℃下 开关测试
|
|
不要求
|
|
本规范AIO分 组（见本规范 表2和表3） |
3
|
|
|
C4分组 -55℃下 开关测试 |
|
不要求
|
．
|
本规范All分 组（见本规范 表2和表3） |
5
|
|
4.4.4D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
DI、D2、135、D6、137和D8分组可用同一检验批中电性能不合格器件作为样本。
若无其他规庭，表8中引用的试验方法为GJB 548中规定的方法。
表8 D组检验
|
试 验
|
条件和要求 |
样品数／（接收数）或LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条-件 |
方法 |
条 件 | |||
|
DI分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
15
|
|
|
D2分组 引线牢固性
密封 细检橱 粗检蒲 |
2004
1014
|
试验条件磁 （片式载体采 用试验条件D）
|
2004
1014
|
试验条件B2 （片式载体采 用试验条件D）
|
15
|
|
|
D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 细检精 粗检漏 |
lOll
10IO
1004
1014
|
试验条件B， 15次循环 试验条件C． 100次循环 片式载体不要 求引线弯曲 应力的预处理
|
10ll
lOlO
1004
IOl4
|
试验条件A． 15次循环 试验条件C 10次循环 片：式载体不要 枣引线弯曲 应力的预处理
|
15
|
B1级器件允许按 GB 4590第3.6．条 严格度zD进行试验
|
续表8
|
试 验
|
条件和要求 |
样品数／（接收效）或LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
目检
终点电测试
|
|
按方法1004 和1010的目 检判据 本规范Al、 A2和A3分组 （见本规范 表2和表3） |
|
按方法1004 和1010的目 检判据 本规范AI、 A2和A3分组 （见本规范． 表2和表3） |
|
B1级器件允许按 GB 4590第3.6条的 目检判据 可在“抗潮湿”后 和“密封”试验前 进行终点电测试
|
|
D4分组 机械冲击 交藏振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
2002 2007 200l
lOl4
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E． Yt方向
按方法2002 或2007的目 检判据 本规范AI、 A2和A3分组 （见本规范 表2和表3） |
2002 2007 2007 2001 1014
|
试验条件A 试验条件A 试验条件n YI方向
按方法2002 或2007的耳 检判据 本规范AI、 A2和A3分组 （见本规范 表2和衷3） |
15
|
用于D3分组的样品 可用在134分组
|
|
D5分组 盐雾
密封 细检漏 粗检漏 目检
|
1009
1014
|
试验条件A 片式载体不要 求引线弯曲应 力的预处理
按方法1009 的目检判据 |
|
|
15
|
Bi级器件可在订货 协议上要求
|
|
I)6分组 内部水汽含量
|
lOl8
|
100℃时最大 水汽含量为 5000ppm
|
|
不要求
|
31(0)或51(1)
|
当试验3个器件出现 1个失效时，可加试两 个器件并且不失效。 若第一次试验未通过， 可在鉴定机构认可的 另一试验室进行第二 次试验，若试验通过， 则该批应被接收 |
续表8
|
试 验 |
条件和要求 |
样品数／（接收数）或LTPD
|
说 明 | |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
D7分组
引线涂覆 粘附强度 |
2025
|
不适用于片 式载体 |
2025
|
不适用于片 式载体 |
15
|
LTPD系对引线数 而亩
|
|
138分组
封盖扭矩
|
2024
|
仅用亍熔封 陶瓷外壳 |
2024
|
仅用于熔封 陶瓷外壳 |
5/(0)
|
|
检验方法应按下列规定：
4.5.1 电压和电流
所有给出的电压均以器件GND端为基准，给出的电流均以流入器件引出端为正。
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订贷资料
订货合同应规定下列内容：
a．完整的器件编号（见本规范1.3.1条）。
b．需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求。
c．需要时，对合格证书的要求。
d．需要时．对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。
e．需要时．对失效分析（包括GJB 548方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求。
f．对产品保证选择的要求。
g．需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。
h．对认证标志的要求。
j．需要时的其他要求。
6.2缩写、符号和定义
本规范所使用的缩写、符号和定义均按GB 3431.1、GB 3431.2和GJB 597的规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。不允许用普通工业用器件替代军用器
件。
1557
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