SJ 20283 93 半导体集成电路JT54LS125 JT54LS126型LS TTL四缓冲器3S详细规范
半导体集成电路JT54LS125, JT54LS126型
LS- TTL四缓冲器(3S)详细规范
1 范围
1.1主题内容
本规范规定了硅单片JT54LSI25 ,JT54 LS126型四总线缓冲器(3s)（以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3分类
1 本规范给出的器件按型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。
1.3.1器件编号器件编号应按G,TB 597<微电路总规范>第3.6.2条的规定。
1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
|
器件型号
|
器件名称
|
|
JT54LS125 |
四总线缓冲器(3S) |
|
JTS4LSI26
|
四总线缓冲器(3S．EN 高电平有效）
|
1.3.1.2 器件等级
器件等级应为GJB 597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级：
1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
|
字 母
|
封装形式 |
|
C D F H J
|
C20P3（陶瓷无引线片式载体封装） D14S3（陶瓷双列封装） FI4X2(陶瓷扁平封装) H14X2(陶瓷熔封扁平封装) JI4S3(陶瓷熔封双列封装)
|
注:1）按GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》。
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
|
项 目
|
符 号
|
JT54LSI25 |
JT54LSI26" |
单 位
| ||
|
最 小 |
最 大 |
最 小 |
最 大 | |||
|
电源电压 |
Vb |
-0.5' |
7.0 |
-0.5 |
7.0 |
V |
|
输入电压 |
yI |
-1.5 |
7．O |
-1.5 |
7．O |
V |
|
贮存温度 |
T吨 |
- 65 |
150 |
-65 |
150 |
℃ |
|
功 耗I） |
PD |
— |
llO |
— |
121 |
mW |
|
引线耐焊接温度 (lOs) |
Th
|
— |
300
|
— |
300
|
℃
|
|
结 沮 |
Tj |
— |
175 |
— |
175 |
℃ |
注：1） 器件应能经受测试输出短路电流（IOS）时所增加的功耗
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下：
|
项 目
|
符 号
|
JT54LSI25 |
JT54LSI26 |
单 位
| ||
|
最 小 |
最 大 |
最 小 |
最 大 | |||
|
电源电压 |
Vcc |
4.5 |
5.5 |
4.5 |
5.5 |
V |
|
输入高电平电压 |
VIH |
2.0 |
— |
2.0 |
— |
V |
|
输入低电平电压 |
VIL |
— |
0.7 |
— |
0.7 |
V |
|
输出高电平电流 |
IOH |
— |
-1 |
— |
-1 |
mA |
|
输出低电平电流 |
IOL |
— |
12 |
— |
12 |
mA |
|
工作环境温度 |
TA |
-55 |
125 |
- 55 |
125 |
℃ |
2引用文件
GB 3431.1—82 半导体集成电路文字符号，电参数文字符号
GB 3431.2—86 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB 3439--82 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
GB 4590--84 半导体集成电路机械和气候试验方法
GB 4728.12--85电气图用图形符号二进褂逻辑单元
GB 7092 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548--88 微电子器件试验方法和程序
GJB 597--88 微电路总规范
GJB××× 电子产品防静电放电控制大纲
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB 597和本规范的规定。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB 597和本规范的规定。
3.2.1 逻辑符号、逻辑图和引出端排烈
逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图l的规定。引出端排列为俯视图。
图1 逻辑符号 逻辑图和引出端排列
3.2.2功能表
功能表如下：
a.JT54LS125
|
输 入 |
输 出 |
|
EN A |
L H Z |
|
L L L H H X |
b. JT54LS12
|
输 入 |
输 出
|
|
EN A | |
|
H L H H L X X |
L H Z |
注：H--高电平；L--低电平；X--任意；Z--高阻态。
3.2.3电原理图
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。制造厂的电原理图应由鉴定机构存档
备查。
3.2.5封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。
3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB 597第3.5.6条的规定。
3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。
表1—1 JT54LS125电特性
|
特 性
|
符号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最 小 |
最大 | ||||
|
输入箝位电压 |
VIK
|
Vcc=4.5 V, IIK=-18mA (TA=25℃) |
— |
-1.5 |
V |
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIH=2.0 V IOH=-1mA VIL=0.7V |
2.4
|
— |
V
|
|
输出低电平电压
|
VOL
|
VCC=4.5 V, IOL=12 mA VIL=0.7V |
— |
O．4
|
V
|
|
输出高阻态时高 电平电流 |
IOZH
|
VCC=5.5 V, VIH=2.0V Vo=2.4V,VIL=0.7V |
— |
20
|
μA |
|
输出高阻态时低 电平电流
|
IOZL |
VCC=5.5 V, VIH=2.0V Vo=0.4V,VIL=0.7V |
— |
- 20
|
μA |
|
最大输入电压时 的输入电流 |
II |
VCC=5.5 V, V1H=7 V |
— |
l00
|
μA |
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc = 5.5V, V1H=2.7 V |
— |
20 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IL1 |
Vcc =5.5V．被测 |
— |
- 400 |
μA |
|
IL2
|
Vcc= 5.5V． 被测A端VI=0.4V |
— |
-40
| ||
|
IL3
|
Vcc=5.5V． 被测A端VI=0.4V
|
— |
- 400
| ||
|
电源电流
|
ICC
|
Vcc=5.5V． A端接GND．输出端开路 |
— |
20
|
mA
|
|
输出短路电流1） |
IOS |
Vcc=5.5V |
- 40 |
- 225 |
mA |
|
输出传输时间
|
tPLH
|
Vcc=5.5V RL=667Ω CL=45pF |
— |
20 |
ns
|
|
tPHL
I眦 |
— |
24 | |||
端接GND．
端接4.5V．续表1-1
|
特性 |
符号
|
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输出允许时间
|
TPZH |
VCC=5.0 V, CL=45pF RL=667Ω |
— |
28 |
ns |
|
TPZL |
— |
46 33 | |||
|
输出禁止时间
|
TPHZ |
VCC=5.0 V, CL=5pF RL=667Ω |
— |
41 |
ns |
|
TPLZ |
— |
33 | |||
注：1）不能有一个以上的输出端同时短路，输出短路时间不超过1秒。
表I—2 JT541.S126电特性
|
特 性
|
符号
|
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输入箝位电压 |
VIK
|
Vcc=4.5 V, IIK=-18mA TA=25℃ |
— |
-1.5 |
V |
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIH=2.0 V IOH=-1mA |
2.4
|
— |
V
|
|
输出低电平电压
|
VOL
|
VCC=4.5 V, VH=2 V IOL=12 mA VIL=0.7V |
— |
0.4
|
V
|
|
输出高阻态时高 电平电流 |
IOZH
|
VCC=5.5 V, VIH=2.0V Vo=2.4V,VIL=0.7V |
— |
-20
|
μA |
|
输出高阻态时低 电平电流 |
IOZL |
VCC=5.5 V, VIH=2.0V Vo=0.4V,VIL=0.7V |
— |
-20
|
μA |
|
最大输入电压时 的输入电流 |
II |
VCC=5.5 V, V1H=7 V |
— |
100
|
μA |
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc = 5.5V, V1H=2.7 V |
— |
20 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IL1 |
Vcc =5.5V．被测EN端VIL= 0.4V |
— |
-400 |
μA |
|
IL2
|
Vcc =5.5V．EN端VIL=0V 被测A端VI=0.4V |
— |
-40
| ||
|
IL3
|
Vcc =5.5V, EN端V1H=5.5 被测A端VIL=0.4V |
— |
-400
| ||
|
电源电流
|
ICC
|
Vcc =5.5V．A端EN端接GND．输出端 开路 |
— |
22
|
mA
|
|
输出短路电流1） |
IOS |
Vcc=5.5V |
-40 |
- 225 |
mA |
|
输出传输时间
|
tPLH
|
Vcc=5.5V RL=667Ω CL=45pF |
|
20 |
ns
|
|
tPHL
|
— |
24 | |||
续表1-2
|
特 性
|
符号
|
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输出允许时间
|
TPZH |
VCC=5.0 V, CL=45pF RL=667Ω |
— |
28 |
ns |
|
TPZL |
— |
46 33 | |||
|
输出禁止时间
|
TPHZ |
VCC=5.0 V, CL=5pF RL=667Ω |
— |
41 |
ns |
|
TPLZ |
— |
33 | |||
注；1）不能有一个以上的输出端同时短路，输出短路时间不超过1秒。
3.5电试验要求
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定．的有关分组，各分组的电测试按本规范表3的规定。
表2电试验要求
|
项 目
|
分 组（见表3） | |
|
B级．器件 |
BI级器件 | |
|
中间（老化前）电测试 |
AI |
AI |
|
中间（老化后）电测试 |
AII) |
AlI) |
|
最终电测试 |
A2, A3, A7, A9 |
A2, A3, A7, A9 |
|
A组检验电测试 |
A 1. A2. A3, A7, Ag, A 10, A 11 |
AI,A2, A3, A7, A9 |
|
B组终点电测试 |
AI |
— |
|
C组终点电测试(方法5005) |
A1．A2．A3 |
A1．A2．A3 |
|
C组检验增加的分组 |
— |
A10, AII |
|
D组终点电测试(方法5005) |
AI．A2．A3 |
AI．A2．A3 |
注l1）该分组要求PDA计算（见4.2条）。
表3—1 JT54LS125电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准GB 3439 |
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |||
|
最小 |
最大 | |||||||
|
Al |
VIK |
2.1条 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
1.5 |
V | ||
|
VOH
|
2.2条
|
Vcc =4.5V．A端接2V， 被测输出端IOH=-1mA |
2.4
|
— |
V
| |||
|
IOZH
|
2.5条
|
Vcc =4.5V． 被测输出端IOL=-12 mA
|
— |
0.4
|
V
| |||
|
IOZL |
2.23条
|
Vcc =5.5V． 被测输出端Vo =0.4V |
— |
20
|
μA | |||
|
IIH |
2.12条 |
VCC=4.5 V，被测输入V1=2.7 V （测A |
— |
-20
|
μA | |||
|
II |
2.12条 |
VCC=4.5 V，被测门一个输入V1L=7.0 V (测A |
— |
20
|
μA | |||
|
IL1 |
2.13条 |
Vcc =5.5V．被测 |
— |
-400 |
μA | |||
|
IL2
|
2.13条
|
Vcc =5.5V． 被测A端VI=0.4V |
— |
-40
|
μA | |||
|
IL3
|
2.13条
|
Vcc =5.5V, 被测A端VIL=0.4V |
— |
-400
| ||||
|
ICC
|
2.26条 |
Vcc=5.5V，A端接GND． |
— |
20 |
mA
| |||
|
IOS |
2.21条
|
Vcc =5.5V． |
-40
|
-225
|
mA
| |||
|
A2 |
TA=125℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||||
|
A3 |
TA=-55℃，VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||||
|
A7 |
Vcc=-5V，按功能表进行测试 | |||||||
|
A9 |
tPLH
|
3.4条 |
Vcc =5V．CL= 45pF, RL= 667Ω 见本规范图2 |
|
A→y |
— |
15
|
ns |
|
tPHL
|
3.5条 |
|
A→y |
— |
18
| |||
|
tPZH |
3.6条
|
A接5V
|
|
— |
20
| |||
|
tPZL |
3.7条 |
A接GND |
|
— |
25 | |||
|
tPHZ |
3.8条 |
Vcc =5V．CL=5 pF RL= 667Ω 见本规范图2 |
A接5V
|
|
— |
20
| ||
|
tPLZ |
3.9条 |
A接GND |
|
— |
20 | |||
端接0.7V，
端接2V，A端接0.7V．
端接2V，A端接0.7V．
时接GND）
时接GND）
端VIL= 0.4V
端VIL=0V
端V1H=5.5
端接4.5V，输出端开路
端接GND．A端接4.5V．被测输出接GND
端接GND
端接GND
→y
→y
→y
→y
．
续表3-1
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| ||
|
最小 |
最大 | ||||||
|
A10 |
tPLH
|
3.4条 |
TA= 125℃，条件同A9分组 |
A→y |
— |
20 |
ns
|
|
tPHL
|
3.5条 |
A→y |
— |
24 | |||
|
tPZH |
3.6条 |
|
— |
28 | |||
|
tPZL |
3.7条 |
|
— |
33 | |||
|
tPHZ |
3.8条 |
|
— |
41 | |||
|
tPLZ |
3.9条 |
|
— |
33 | |||
|
Al1 |
TA=- 55℃，参数、条件、规范值同AI0分组 | ||||||
→y
→y
→y
→y表3—2 JT54LS126电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | |||||
|
A1 |
VIK |
2.1条 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
1.5 |
V |
|
VOH
|
2.2条 |
Vcc =4.5V,VIH=2V.被测输出端IOH =-1mA |
2.4 |
— |
V
| |
|
VOL
|
2.5条
|
Vcc =4.5V．A端接0.7V．EN端接2V． 被测输出端IOL=12mA |
— |
0.4
|
V
| |
|
IOZH
|
2.23条
|
Vcc =4.5V． 被测输出端V0=2.4V |
— |
20
|
μA | |
|
IOZL |
2.24条
|
Vcc =5.5V． 被测输出端V0=0.4V |
— |
-20
|
μA | |
|
IIH |
2.12条
|
Vcc= 5.5V．被测输入V1=2.7V (测A时 |
— |
20
|
μA | |
|
II |
2.12条
|
Vcc =5.5V，被测输入V1=7V (测A时 |
— |
100
|
μA | |
|
IL1 |
2.13条 |
Vcc =5.5V．被测EN端V1=O.4V |
— |
-400 |
μA
| |
|
IL2
|
2.13条
|
VCc=5.5V．EN端接GND． 被测A输入端VIL=0.4V
|
— |
—40
| ||
|
IL3
|
2.13条
|
Vcc =5.5V．EN端5.5V． 被测A输入端VIL=0.4V |
— |
-400
| ||
|
ICC
|
2.26条 |
Vcc =5.5V．A端接GND．EN端接GND．输出端开路 |
— |
20 |
mA
| |
|
IOS |
2.21条
|
Vcc =5.5V．EN端接4.5V．A端接4.5V， 被测输出接GND |
-40
|
-225
|
mA
| |
|
A2 |
TA= 125℃．除VIK不测试外，参数、条件、规范值要求同AI分组 | |||||
端接0.7V，A端接0.7V．
端接0.7V．A端接2V．
接5.5V)
接5.5V)续表3-2
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB3439 |
条件 （若无其他规定-55 0C≤取≤1250C） |
规范值 |
单位
| |||
|
最小 |
最大 | |||||||
|
A3 |
TA=-55℃，VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||||
|
A7 |
Vcc=-5V，按功能表进行测试 | |||||||
|
A9 |
tPLH
|
3.4条 |
Vcc=5y．CL= 45pF． RL= 667Ω 见本规范图2 |
EN接5V |
A→y |
— |
15 15
|
ns
|
|
tPHL
|
3.5条 |
EN接5V |
A→y |
— |
18 18 | |||
|
tPZH |
3.6条
|
A接5V
|
|
— |
25
| |||
|
tPZL |
3.7条 |
A接GND |
|
— |
35 | |||
|
tPHZ |
3.8条 |
Vcc=5V,CL=5pF RL= 6671Ω 见本规范图2 |
A接5V
|
|
— |
25
| ||
|
tPLZ |
3.9条 |
A接GND |
|
— |
25 | |||
|
A10 |
tPLH
|
3.4条 |
T^= 125U．条件同A9分组 |
A→y |
— |
20 |
ns
| |
|
tPHL
|
3.5条 |
A→y |
— |
24 | ||||
|
tPZH |
3.6条 |
|
— |
33 | ||||
|
tPZL |
3.7条 |
|
— |
46 | ||||
|
tPHZ |
3.8条 |
|
— |
39 | ||||
|
tPLZ |
3.9条 |
|
— |
39 | ||||
|
All |
TA=- 55℃，参数、条件、规范值同AIO分组 | |||||||
→y
→y
→y
→y
→y
→y
→y
→y
负载线路
电压波形
传输延迟时间的电压波形
三态输出允许和禁止的电压波形
注；① S1闭合,S2开启时测量tpzl;s1开启,S2闭合时测量tPZH;
S1闭合,S2开启时测量 tPHZ、tPLZ、tPHL和tPHL。
② 测tPHL、tPHL、tpzl.和tPZH时OL= 45pF;测tPHZ和tpzL时CL=5pF（包括显示器探头和夹具电容）。
③ RL= 667Ω±5%。
④所有二极管为2DK76或等效型号。
⑤脉冲发生器f=lMHz,Zo=50Ω,Vm=3V,t1≤15ns t1≤6 ns
图2开关测试负载线路和电压波形图
3.6标志
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.7微电路的划分
本规范所涉及的器件为第9微电路组（见GJB 597附录E）。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序．应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的
规定进行筛选。
若无其它规定，表4中采用的方法系指GJB 548的试验方法。
表筛选程序
|
项 目 |
条 件 和 要 求 |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检 （封帽前） |
2010
|
试验条件B
|
2010
|
试验条件B
|
|
|
稳定性烘爝 （不要求终点电测 试’ |
1008
|
试验条件C (150℃，24h)
|
1008
|
试验条件C (15O℃．24h)
|
|
|
温度循环
|
1010
|
试验条件C
|
10t0
|
试验条件C
|
可用方法1011试 验条件A替代 |
|
恒定加速度
|
2001
|
试验条件E． Y1方向 |
2001
|
试验条件D YI方向 |
|
|
目检
|
|
．
|
|
|
可在“密封”筛选 后进行。引线断 落、外壳破裂、封 盖脱落为失效 |
|
中间（老化前）电测试 |
|
本规范AI分组
|
|
本规范AI分组
|
由制造厂决定是 否进行本筛选 |
|
老化
|
1015
|
试验条件D或E (125U．160h) |
1015
|
试验条件D或E (125U．l60h) |
采用本规范图3 线路 |
|
中间（老化后）电测 试
|
|
本规范AI分组
|
|
本规范AI分组
|
所有批。若老化前未进行中间电测试，则老化后中间电测试（老化后)Al分组的失效也应计入PDA |
|
允许的不合格品率 (PDA)计算
|
1096．本规范A1分组，当不合 格品率不超过20%时可重新提 交老化，但只允许一次
|
lO%．本规范AI分组，当不合 格品率不超过2096时可重新提交老化，但只允许一次
| |||
|
密封 细检漏 粗检漏 |
1014
|
．
|
1014
|
|
PDA
|
|
最终电测试
|
|
平桃佗AZ、A5、 A7、A9分组
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
本筛选后，若引线 涂覆改变或返工． 则应再进行Al分 组测试 |
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
|
续表4
|
项 目 |
条 件 和 要 求 · |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
鉴定或质量一致性检验的试验样品抽取 |
5005
|
第3.5条
|
5005
|
第3.5条
|
|
a. JT54LS125
b. JT54LS12
注：①输入信号：fl=lOOkHz，f2= 50kHz．q=50%方波
VIL=-0.5～0.7V,VIH= 2～5.5V;
②R1=470Ω+5%, R2 =27Ω±5%;
③R3和Vcc选择应保证加在器件的实际电压至少为5V。
图3老化和稳态寿命试验线路
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、
C和D组检验（见本规范4.4.1--4.4.4条）的规定。
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548的方法5005和本
规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1--4.4.4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。
电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检
验。
合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
试 验
|
LTPD | |
|
B级器件 |
B1级器件 | |
|
AI分组(25℃下静态测试) |
2 |
2 |
|
A2分组(125℃下静态测试) |
3 |
3 |
|
A3分组（- 55℃下静态测试） |
5 |
5 |
|
A7分组(25℃下的功能测试) |
2 |
2 |
|
A9分组(25℃下开关测试) |
2 |
2 |
|
A10分组(125℃下开关溯试) |
3 |
不要求 |
|
A11分组（-55℃下开关测试） |
5 |
不要求 |
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
BI - B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
若无其它规定，表6中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
襄6 B组检验
|
项 目 |
条件和要求 |
样品数／ （接收效） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
B1级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法’ |
条 件 | |||
|
B1分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
2/(0)
|
|
|
132分组 抗溶性 |
2015 |
|
2015 |
|
4/(0)
|
|
续表6
|
项 目 |
条件和要求 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 | |||
|
133分组 可焊性
|
2022 或 2003 |
焊接温度 245℃
|
2022 或 2003 |
焊接温度 245℃
|
15
|
LTPD系对引线 数而言，被试器件 数应多于3个 |
|
134分组 内部目检 和机械性能
|
2014
|
|
2014
|
|
1/(O)
|
在封帽和打印后 的任意工序抽取 试验样品 |
|
B5分组 键合强度 (1)热压焊 (2)超声焊
|
2011
|
试验条件 C或D
|
2011
|
试验条件 C或’D
|
7
|
可在封装工序前‘ 的内部目检后随 机抽取样品进行 本试验 |
|
B8分组 (a)电测试 (b)静电放电灵敏度等级 (c)电测试 |
GJB×××
|
本规范 A1分组
A1分组 |
|
不要求
|
15/(0)
|
仅在初始鉴定或 产品重新设计时 进行
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
若无其它规定，表7中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
表7 C组检验
|
项 目 |
条件和要求 |
样品数／（接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 | |||
|
Cl分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
试验条件D 或E AI．A2．A3
分组 （见本规范表2和表3） |
1005
|
试验条件D 或E Al．A2．A3
分组 （见本规范表2和衷3） |
5
|
采用本规范图3 的试验线路
|
|
C2分组 温度循环 |
1010 |
试验条件C |
1010 |
试验条件C |
15
|
|
续表7
|
项 目 |
条件和要求
|
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 | |||
|
恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
2001
1014
|
试验条件E． Y1方向
按1010的目 检判据 A1．A2．A3 分组 （见本规范表2和表3） |
2001
1014
|
试验条件D YI方向
按I010的目 检判据 A1．A2．A3 分组 （见本规范表2和表3） |
|
|
|
C3分组 125℃下开关 测试
|
|
不要求
|
|
AI0分组（见 本规范表2 和表3） |
3
|
|
|
CA分组 - 55℃下开 关测试
|
|
不要求
|
|
All分组（见本规范表2和表3） |
5
|
|
4.4.4D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
DI、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
若无其它规定，表8中采用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
表8．D组检验
|
项 目 |
条件和要求 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 | |||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
15
|
|
|
D2分组 引线牢固性
|
2004
|
试验条件B2 （片状载体采用试验条件D) |
2004
|
试验条件132. （片状载体采用试验条件D) |
15
|
|
续表8
|
项 目 |
条件和要求
|
样品数／ (接收效） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件， | |||
|
密封 细检漏 粗检漏 |
1014
|
|
1014
|
|
|
|
|
I)3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1011
1010
1004
1014
|
试验条件B． 15次循环 试验条件C． 100次循环 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理
按1010和 1004目检判 据 AI,．A2．A3 分组 （见本规范表2和表3） |
1011
lO1O
1004
1014
|
试验条件A． 15次循环 试验条件C． 10次循环
按1010和 1004目检判 据 A1, A2，A3 分组 （见本规范表2和表3） |
15
|
BI级器件可按 GB 4590第3.6 条，严格度：D
BI级器件可按 GB 4590第3.6 条的目检判据 可在“抗潮湿”后 和“密封”试验前 进行终点电测试
|
|
I)4分组 机械冲击
变频振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检满 目检
终点电测试
|
2002
2007 2001
1014
|
试验条件B
试验条件A 试验条件E． YI方向
按2002和 2007目检判 据 Al．A2．A3 分组 （见本规范表2和表3） |
2002
2007 2001
1014
|
试验条件A
试验条件A 试验条件D， YI方向
按2002和 2007目检判 据 AI．A2．A3 分组 （见本规范表2和表3） |
15
|
用于D3分组的样 品可用于D4分组
|
续表8
|
项 目 |
条件和要求 |
样品数／ （接收数） 或LTPD
|
说 明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | |||||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 | |||
|
D5分组 盐雾
密封 细检漏 粗检漏 目检
|
1009
1014
|
试验条件A． 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理
按1009的目 检判据 |
|
|
15
|
对B1级器件用户 要求时进行该分 组试验
|
|
D6分组
内部水汽含 量
|
1018
|
100℃时最大 水汽含量为 5000ppm
|
-
|
不要求
|
31C0)或 51(1)
|
当试验试3个器 件出现1个失效 时，可加试2个器 件并且不失效。 若第一次试验未 通过，可在鉴定机 构认可的另一试 验室进行第二次 试验。若试验通 过，则该批被接收 |
|
D7分组 引线涂覆粘 附强度 |
2025
|
不适用于片 状载体 |
2025
|
不适用于片 状载体 ‘ |
15
|
LTPD系对引线 数而盲 |
|
D8分组 封苴扭矩
|
2024
|
仅适用于熔 封陶瓷外壳 |
2024
|
仅适用于熔 封陶瓷外壳 |
5/(0)
|
|
4.5检验方法
检验方法规定如下：
4.5,1电压和电流
所有给出的电压均以器件GND端为基准，给定的电流以流入引出端为正。
5 交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订货资料
订贷合同应规定下列内容：
a． 完整的器件编号（见1.3.1条）。
b．需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相对应的检验批质量一致性数据的要求。
c． 需要时，对合格证书的要求。
d． 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。
e．需要时，对失效分析（包括GJB 5.48方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提
供报告的要求。
f． 对产品保证选择的要求。
g． 需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。
h． 对认证标志的要求。
I． 需要时，其他要求。
6.2缩写、符号和定义
本规范所采用的缩写、符号和定义按GB 3.431.1、GB 3431.2和GJB 597的规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。不允许用普通工业用器件替代军用器
件。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。
本规范由中国电子技术标准化研究所起草。
本规范主要起草人：李燕荣、孙人杰。
计划项目代号：B01040。
2254
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