SJ 20281 93 半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS TTL与非门详细规范
半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和
JT54LS132型LS--TTL与非门详细规范
1范围
1.1主题内容
本规范规定了半导体集成电路JT54LS13、JT54LS14和JT54LS132型LS-TTL与非门
（有施密特触发器）（以下简称器件）的详细要求。
1.2适用规范
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。
1.3.1器件编号器件编号应按GJB 597《徽电路总规范》第3.6.2条的规定。
1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
|
器件型号 |
器件名称 |
|
JT54LSI3 |
双4输入与非门（有施密特触发器） |
|
JT54LSI4 |
六反相器（有施密特触发器） |
|
JT54LS132 |
四2输入与非门（有施密特触发器） |
1.3.1.2器件等级
器件等级应为GJB 597第3.4条规定的B级和本规范规定的Bl级。
1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
|
字 母 |
封装形式 |
|
C |
C20P3（陶瓷无引线片式载体封装） |
|
D |
D14S3(陶瓷双列封装) |
|
F |
F14X2(陶瓷扁平封装) |
|
H |
H14X2（陶瓷熔封扁平封装） |
|
J |
J14S3(陶瓷熔封双列封装) |
注：1）按GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》的规定。
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
|
|
|
数 值 |
| ||
|
项 目
|
符 号
|
最 小 |
最 大 |
单 位
| |
|
电源电压 |
Vcc |
-0.5 |
7.0 |
V | |
|
输入电压 |
VI |
—1．S |
7.0 |
V | |
|
贮存温度 |
Tg |
-65 |
150 |
℃ | |
|
功耗 |
JT54LSI3 |
PD |
— |
38.5 |
mW |
|
JT54LSI4 |
115.5 | ||||
|
JT54LSI32 |
77 | ||||
|
引线耐焊接温度（1洮） |
Th |
— |
300 |
℃ | |
|
结温 |
T1 |
— |
175 |
℃ | |
注。1）器件应能经受测试输出短路电流（IOS）时所增加的功耗。
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下：
|
|
|
规范值 |
| |
|
项 目
|
符 号
|
最小 |
最大 |
单 位
|
|
电源电压 |
Vcc |
4.5 |
5.5 |
V |
|
输入高电平电压 |
VIH |
1.4 |
— |
V |
|
输入低电平电压 |
VlL |
— |
1.0 |
V |
|
输出高电平电流 |
IoH |
— |
- 400 |
μA |
|
输出低电平电流 |
IcL |
— |
4.0 |
mA |
|
工作环境温度 |
TA |
一55 |
125 |
℃ |
2引用文件
GIB 3431.1--82 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
GB 3431.2--86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号
GB 3439--82 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
GB 4590---84 半导体集成电路机械和气侯试验方法
GB 4728.12--85 电气图用图形符号二进制逻辑单元
GB 7092--93 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548--88 微电子器件试验方法和程序
GJB 597--88 微电路总规范
GJB 1649-93 电子产品防静电放电控制大纲
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB 597和本规范的规定。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB 597和本规范的规定。
3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。
JT54LS13
逻辑符号 引出端排列
逻辑图
JT54LS14
L逻辑符号 引出端前排
逻辑图
JT54LS132
逻辑符号 引出端排列
逻辑图
图1逻辑符号、逻辑匿和引出端排列
3.2.2功能表．
功能表如下：
JT54LS13
|
输 入 |
输 出 | |||
|
A |
R |
C |
D |
Y |
|
L |
L |
L |
L |
H |
|
H |
L |
L |
L |
H |
|
L |
H |
L |
L |
H |
|
H |
H |
L |
L |
H |
|
L |
L |
H |
L |
H |
|
H |
L |
H |
L |
H |
|
L |
H |
H |
L |
H |
|
H |
H |
H |
L |
H |
|
L |
L |
L |
H |
H |
续表
|
输入 |
输 出 | |||
|
H |
L |
L |
H |
H |
|
L |
H |
L |
H |
H |
|
H |
H |
L |
H |
H |
|
L |
L |
H |
H |
H |
|
H |
L |
H |
H |
H |
|
L |
A |
H |
H |
H |
|
H |
H |
H |
H |
L |
JT54LS14
|
输 入 |
功 能 |
|
A |
Y |
|
L |
H |
|
H |
L |
JT54LS132
|
输 入 |
输 出 | |
|
A |
B |
Y |
|
L |
L |
H |
|
H |
L |
H |
|
L |
H |
H |
|
H |
H |
L |
注：H为高电平；L为低电平
3.2.3电原理图
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原理图应由鉴定机构存
档备查。
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。．
3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB 597第3.5.6条的规定。
3.4电特性
电特性应符合本规范表l的规定。
表1-1 JT54LS13的电特性
|
特 性
|
符号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输入正阈值电压 |
VIT+ |
Vcc=5.5 |
1,4 |
1.9 |
V |
|
输入负阈值电压 |
VIT- |
Vcc=5.5 |
O．5 |
1．O |
V |
|
滞后电压 |
△VT |
Vcc=5.5 |
O．4 |
1.4 |
V |
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIL=0.5 V VOH=-0.4mA |
2.5
|
— |
V
|
|
输出低电平电压 |
VOL
|
Vcc = 4.5V, VIH = 1.9V, IOL = 4mA |
— |
— |
V |
|
输入箝位电压 |
VIK |
Vcc= 4.5V, IIK=-18mA |
— |
-1.5 |
V |
|
最大输入电压时输 入电流 |
II |
Vcc = 5.5V, V1=7V
|
— |
0.1
|
mA
|
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc= 5.5V, V1 =2.7V |
— |
20 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IIL |
Vcc= 5.5V, V1=O.4V |
— |
-9.4 |
mA |
|
输出短路电流2） |
IOS |
Vcc= 5.5V, |
-20 |
- 100 |
mA |
|
输出高电平时电源 电流
|
ICCH |
Vcc = 5.5V, V1 = GND |
— |
6.0
|
mA
|
|
输出低电平时电源 电流
|
ICCL |
Vcc=5.5V V1=5.5V |
— |
7．O
|
mA
|
|
传输延迟时间 |
tPHL
|
Vcc= 5.0V R L = 2kΩ CL = lSpF |
— |
52 |
ns
|
|
tPLH
|
— |
52 | |||
注：1）完整的测试条件列于表3。
2)每次只能短路一个输出端
表1-2 JT45LS14的电特性
|
特 性
|
符号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输入正向朗值电压 |
VIT+ |
Vcc=5.5 |
1,4 |
1.9 |
V |
|
输入负向闷值电压 |
VIT- |
Vcc=5.5 |
O．5 |
1．O |
V |
|
滞后电压 |
△VT |
Vcc=5.5 |
O．4 |
1.4 |
V |
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIL=0.5 V VOH=-0.4mA |
2.5
|
— |
V
|
|
输出低电平电压 |
VOL
|
Vcc = 4.5V, VIH = 1.9V, IOL = 4mA |
— |
— |
V |
|
输入箝位电压 |
VIK |
Vcc= 4.5V, IIK=-18mA |
— |
-1.5 |
V |
|
最大输入电压时输 入电流 |
II |
Vcc = 5.5V, V1=7V
|
— |
0.1
|
mA
|
续表I-2
|
特 性
|
符号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | ||||
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc= 5.5V, V1 =2.7V |
— |
20 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IIL |
Vcc= 5.5V, V1=O.4V |
— |
-0.4 |
mA |
|
输出短路电流2） |
IOS |
Vcc= 5.5V, |
-20 |
- 100 |
mA |
|
输出高电平时电源 电流 |
ICCH |
Vcc = 5.5V, V1 = GND |
— |
16
|
mA
|
|
输出低电平时电源 电流
|
ICCL |
Vcc=5.5V, V1=5.5V |
— |
21
|
mA
|
|
传输延迟时间 |
tPHL
|
Vcc= 5.0V R L = 2kΩ CL = lSpF |
— |
52
|
ns
|
|
tPLH
|
— |
52
| |||
注；1）完整的测试条件列于表3。
2)每次只偿短路十个输出端。
表1-3 JT45LSI32的电特性
|
特 性
|
符号
|
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小
|
最大
| ||||
|
输入正向阈值电压 |
VIT+ |
Vcc=5.5 |
1,4 |
1.9 |
V |
|
输入负向阈值电压 |
VIT- |
Vcc=5.5 |
O．5 |
1．O |
V |
|
滞后电压 ． |
△VT |
Vcc=5.5 |
O．4 |
1.4 |
V |
|
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, VIL=0.5 V VOH=-0.4mA |
2.5
|
— |
V
|
|
输出低电平电压 |
VOL
|
Vcc = 4.5V, VIH = 1.9V, IOL = 4mA |
— |
— |
V |
|
输入箝位电压 |
VIK |
Vcc= 4.5V, IIK=-18mA |
— |
-1.5 |
V |
|
最大输入电压时输 入电流 |
II |
Vcc = 5.5V, V1=7V
|
— |
0.1
|
mA
|
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc= 5.5V, V1 =2.7V |
— |
20 |
μA |
|
输入低电平电流 |
IIL |
Vcc= 5.5V, V1=O.4V |
— |
-9.4 |
mA |
|
输出短路电流2） |
IOS |
Vcc= 5.5V, |
-20 |
- 100 |
mA |
|
输出高电平时电源 电漉
|
ICCH |
Vcc = 5.5V, V1 = GND |
— |
6.0
|
mA
|
|
输出低电平时电源 电流
|
ICCL |
Vcc=5.5V, V1=5.5V |
— |
7．O
|
mA
|
|
传输延迟时间 |
tPHL
|
Vcc= 5.0V R L = 2kΩ CL = lSpF |
— |
52 |
ns
|
|
tPLH
|
— |
52 | |||
注：1）完整的测试条件列于表3。
2) 每次只能短路一个输出端。
3.5电试验要求
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按本规范表
3的规定。
表2电试验要求
|
项 目
|
分 组《见表3） | |
|
B级件 |
BI级器件 | |
|
中间（老化前）电测试 |
Al |
Al |
|
中间（老化后）电测试 |
AlI |
Al |
|
最终电测试 |
2,A3，KI、蚺 |
A2, A3. A7. A9 |
|
A组试验要求 |
AI, A2, A3, AT, Ag, AI0, AU |
A1, A2, A3, AT, A9 |
|
C组终点电测试(方法5005) |
AI．A2,A3 |
A1．A2．A3 |
|
C组检验增加的分组 |
不要求 |
AIO, All |
|
D组终点电测试（方法5005） |
AI．A2．A3 |
AI,A2,A3 |
注：1）该分组要求PDA计算（见4.2条）。
表3-1JT54LS13电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |||
|
最小 |
最大 | |||||||
|
Al
|
VOH
|
2.2
|
VCC=4.5 V．输入条件投功能表预置1）．被测输出IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
| ||
|
VOL
|
2.5
|
VCC=4.5 V，被测出所有输入VIH=2.0V．被测输出IOL=4 mA |
— |
O．4
|
V
| |||
|
VIK |
2．1 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
1.5 |
V | |||
|
II |
2.11 |
Vcc =5.5 V．被测输入V1=7.V |
— |
O．1 |
mA | |||
|
IIH |
2.12 |
Vcc= 5.5V．被测输入V1=5.5 V |
— |
20 |
μA | |||
|
IIL |
2.13 |
Vcc= 5.5V，被测输入V1=0.4V |
— |
-0.4 |
μA | |||
|
IOS |
2.21 |
Vcc= 5.5V．被测输入接地 |
一20 |
- 100 |
mA | |||
|
ICCH |
2.26 |
Vcc=5.5V．所有输入接地，输出开路 |
— |
6．O |
mA | |||
|
ICCL |
2.27 |
Vcc=5.5V．所有输入V1=5.5 V．输出开路 |
— |
7．O |
mA | |||
|
A2 |
TA=125℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||||
|
A3 |
TA=55℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||||
|
A9 |
tPHL
|
3.5 |
Vcc =5．OV．见本规范图2 |
— |
27 |
ns | ||
|
tPLH
|
3.4 |
— |
22 | |||||
续表3-1
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | |||||
|
A10 |
tPHL
|
3.5 |
Vcc =5．OV．见本规范图2 TA= 125℃ |
— |
52 |
ns |
|
tPLH
|
3.4 |
— |
52 | |||
|
All |
除TA= - 55℃，参数、条件、规范值同A10分组 | |||||
注1）功能表中H为2.0V，L为0.7V。
表3-2 JT54LS14电测试
|
分组
|
符号
|
引用标憔 GB 3439 |
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| ||
|
最小 |
最大 | ||||||
|
Al
|
VOH
|
2.2
|
VCC=4.5 V．输入条件投功能表预置1）．被测输出IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
| |
|
VOL
|
2.5
|
VCC=4.5 V，被测出所有输入VIH=2.0V．被测输出IOL=4 mA |
— |
O．4
|
V
| ||
|
VIK |
2．1 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
1.5 |
V | ||
|
II |
2.11 |
Vcc =5.5 V．被测输入V1=7.V |
— |
0.1 |
mA | ||
|
IIH |
2.12 |
Vcc= 5.5V．被测输入V1=5.5 V |
— |
20 |
μA | ||
|
IIL |
2.13 |
Vcc= 5.5V，被测输入V1=0.4V |
— |
-0.4 |
μA | ||
|
IOS |
2.21 |
Vcc= 5.5V．被测输入接地 |
-20 |
- 100 |
mA | ||
|
ICCH |
2.26 |
Vcc=5.5V．所有输入接地，输出开路 |
— |
16 |
mA | ||
|
ICCL |
2.27 |
Vcc=5.5V．所有输入V1=5.5 V．输出开路 |
— |
2l |
mA | ||
|
A2 |
TA=125℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | ||||||
|
A3 |
TA=55℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | ||||||
|
A9 |
tPHL
|
3.5 |
Vcc =5．OV．见本规范图2
|
— |
22 |
ns | |
|
tPLH
|
3.4 |
— |
22 | ||||
|
AlO |
tPHL
|
3.5 |
Vcc =5．OV．见本规范图2 TA= 125℃ |
— |
52 |
ns | |
|
tPLH
|
3.4 |
— |
52 | ||||
|
All |
除TA= - 55℃，参数、条件、规范值同A10分组 | ||||||
注1）功能表中H为2.0V．L为0.7V。
表3-3 JT54LS132电测试
|
分组
|
符号
|
引用标准 GB 3439 |
条件1) （若无其他规定，-55℃≤TA≤125℃） |
规范值 |
单位
| |
|
最小 |
最大 | |||||
|
Al
|
VOH
|
2.2
|
VCC=4.5 V．输入条件投功能表预置1）．被测输出IOH=-400μA |
2.5
|
— |
V
|
|
VOL
|
2.5
|
VCC=4.5 V，被测出所有输入VIH=2.0V．被测输出IOL=4 mA |
— |
O．4
|
V
| |
|
VIK |
2．1 |
Vcc =4.5 V，被测输入IIK=-18mA |
— |
1.5 |
V | |
|
II |
2.11 |
Vcc =5.5 V．被测输入V1=7.V |
— |
O．1 |
mA | |
|
IIH |
2.12 |
Vcc= 5.5V．被测输入V1=5.5 V |
— |
20 |
μA | |
|
IIL |
2.13 |
Vcc= 5.5V，被测输入V1=0.4V |
— |
-0.4 |
μA | |
|
IOS |
2.21 |
Vcc= 5.5V．被测输入接地 |
-20 |
- 100 |
mA | |
|
ICCH |
2.26 |
Vcc=5.5V．所有输入接地，输出开路 |
— |
11 |
mA | |
|
ICCL |
2.27 |
Vcc=5.5V．所有输入V1=5.5 V．输出开路 |
— |
14 |
mA | |
|
A2 |
TA=125℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||
|
A3 |
TA=55℃， VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组. | |||||
|
A9 |
tPHL
|
3.5 |
Vcc= 5.0V．见本规范图2 |
— |
22 |
ns |
|
tPLH
|
3.4 |
— |
22 | |||
|
AlO |
tPHL
|
3.5 |
Vcc =5．OV．见本规范图2 TA= 125℃ |
— |
52 |
∞ |
|
tPLH
|
3.4 |
— |
52 | |||
|
All |
除TA= - 55℃，参数、条件、规范值同A10分组 | |||||
注1）功能表中H为2.0V．L为0.7V。
负载线路 波形图
注：①输入波形：?= 1MHz，tr≤15ns, tr≤6ns,tw=200±20ns。
②R=2kΩ,CL=15pF(包括探头和央具电容),二极管为2CK76或其等效型号。
图2负载线路和波形图
3.6标志
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件为第8微电路组（见GJB 597附录E）。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法。
|
项目 |
条件和要求 |
说明 | |||
|
B级器件 |
BI级器件 | ||||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
|
内部目检 （封帽前） |
2010
|
试验条件B
|
2010
|
试验条件B
|
|
|
稳定性供焙 （不要求终点电测 试） |
1008
|
试验条件C (150℃．24h)
|
1008
|
试验条件C (150℃．24h)
|
|
|
温度循环
|
1010
|
试验条件C
|
lOlO
|
试验条件C
|
可用方法1011试验条件 A替代。 |
|
恒定加速度
|
200l
|
试验条件E, YI方向。 |
200l
|
试验条件D． Y1方向。 |
|
|
目检
|
|
|
|
|
可在“密封”筛选后进行。 引线断落、外壳破裂、封 盖脱落为失效。 |
|
中间（老化前）电 测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范AI分组
|
由制造厂决定是否进行 本筛选。 |
|
老化
|
1015
|
试验条件D (125℃,160h) |
1015
|
试验条件D． (125℃,160h) |
采用本规范图3线路
|
|
中闻（老化后）电 测试 |
|
举规范A1分组
|
|
本规范AI分组
|
|
续表4
|
项目 |
条件和要求 |
说明 | |||
|
B级器件 |
B-级器件 | ||||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
|
允许的不合格品率 (PDA)计算
|
5%．本规范A1分组，当不合 格品率不超过10%时可重新 提交老化，但只允许一次。
|
10%，本规范A1分组，当不 合格品率不超过20%时可重 新提交老化，但只允许一次。
|
所有批。着老化前未进 行中间电测试，则老化后中间（老化后）电测试A1分组的失效也应计入PDA. | ||
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3、A9分 组
|
|
本规范A2,、A3、A9分组
|
本筛选后，若引线涂覆改变或返工，则应再进行A1分组测试。 |
|
密封 纳检漏 租检漏 |
lOl4
|
|
1014
|
|
|
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
|
|
鉴定或质量一致性 检验的试验样品抽 取． |
5005
|
第3.5条
|
5005
|
第3.5条
|
|
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、
C和D组检验（见本规范4.4.1--4.4.4条）的规定。
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597的规定。所进行的检验应符合GJB 548的方法5005和本
规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1--4.4.4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。
电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检
验。
合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
试 验
|
LTPD | |
|
B级器件 |
B1级器件 | |
|
AI分组(25℃下静态测试) |
2 |
2 |
|
A2分组(125℃下静态测试) |
3 |
3 |
续表5
|
试 验
|
LTPD | |
|
B级器件 |
BI级器件 | |
|
A3分组（-55℃下静态测试） |
5 |
5 |
|
A7分组（25葛下功能测试） |
2 |
2 |
|
A9分组(25℃下开关测试) |
2 |
2 |
|
AI0分组(125'C下开关测试) |
3 |
不要求 |
|
All分组（-55℃下开关测试） |
5 |
不要求 |
注：①输入信号：
?= 100kHz, q= 50％
⑦R1=lkΩ±5%，R2值的选择应使器件Vcc蜡至少为5V.
图3老化和寿命试验线路
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
Bl～B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若夫其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法。
|
项 目 |
条件和要求 |
样品数／ （接收效） 或LTPD |
说明 | |||
|
B级器件 |
Bl级器件 | |||||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | |||
|
BI分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
2/(0)
|
|
|
132分组 抗溶性 |
2015 |
|
2015 |
|
4／(0)
|
|
|
B3分组 可焊性
|
2022或 2003 |
焊接温 度245℃ |
2022或 2003 |
焊接温 度245℃ |
15
|
LTPD系对引线效而盲．被试 器件效应多3个。 |
|
B4分组 内部目检 和机械性能 |
2014
|
|
2014
|
|
l／(O)
|
|
|
B5分组 键合强度 (1)热压焊 (2)超声焊 |
2011
|
试验条件 C或D
|
2011
|
试验条件 C或D
|
7
|
可在封装工序前的内部目检 后随机抽取样品进行本试验。
|
|
髓分组 (B)电参数 (b)静电放电灵敏 度等级
(c)电参数 |
GJBI649
|
A1分组
A1分组 |
|
不要求
|
15/(0)
|
仅在初始鉴定或产品重新设 计时进行。 ．．
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7C组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法。
|
项 目
|
条件和要求 |
样品数/（接收效）或LTPD |
说明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | |||
|
Cl分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
试验条件D或E (125℃，1000h) A1．A2．A3分组 （见本规范袭2和表3） |
1005
|
试验条件D或E （125℃，1000h) AI．A2．A3分组 （见本规范表2和表3） |
5
|
采用本规范图3 的试验线路。
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1010 2001
lOl4
|
试验条件C。 试验条件E，Y1 方向
按1010的目检判 据 A1．A2．A3分组 （见本规范表2和 表3） |
1010 200|
l014
|
试验条件C。 试验条件DYI 方向
按1010的目检判 据 AI．A2．A3分组 （见本规范表2和表3） |
15
|
|
|
C3分组 125℃下开关测 试 |
|
不要求
|
|
AIO分组（见本规 范表2和表3） |
3
|
|
|
CA分组 - 55℃下开关 测试 |
|
不要求
|
|
All分组（见本规 范表2和表3） |
5
|
|
4.4.4D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1.D2.D5．D6.D7．D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表8 D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548"的试验方法。
|
项 目
|
条件和要求 |
样品数／（接收效） 或LTPD |
说明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | |||
|
DI分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
15
|
|
|
IY2分组 引线牢固性 密封 细检漏 粗检漏 |
2004
lOl4
|
试验条件陇（片 状载体采用试验 条件D）
|
2004
1014
|
试验条件m（片 状载体采用试硷 条件D）
|
15
|
|
|
D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿 密封 细检漏 租检漏 目检
终点电测试
|
lOll
1010
1004
IOl4
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环 片状羲体不要求 引线弯曲应力的 预处理。 按1010和1004 目检判据 AI．A2和A3分朗 （见本规范表2 寝3） |
10,1
10 LO
10 )4
10 [4
|
试验条件A 15凑循环 试验条件C 10次循环 片状载体不要求 引线弯曲应力的 预处理。 按1010和1004 目检判据 A1．A2和A3分组 （见本规范表2 表3） |
15
|
Bl级器件允许按 GB4590第3.6条 严格度D进行试 验。
Bl级器件允许按 GB4590第3.6条 的目检判据可在 抗潮湿后和密封 前进行。 |
|
D4分组 机械冲击 变顿振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
2002 2007 200l
lOl4
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E． Y1方向
按2002,2007
目检判据 AI．A2．A3分组 （见本规范衰2和表3）
|
2002 2007 2001
lOl4
|
试验条件A 试验条件A 试验．条件D． Y1方向
按2002.2007
目检判据 At．A2．A3分组 （见本规范表2和表30 |
15
|
用于I)3分组的 样品可用于134 分组
|
续表8
|
项 目
|
条件和要求 |
样品致／（接收效）或LTPD |
说明
| |||
|
B级器件
|
BI级器件
| |||||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | |||
|
D5分组 盐雾
密封 细检漏 粗检嗣 目检
|
1009
1014
|
试验条件A．片状 载体不要求引线 弯曲应力的预处 理 按1009的目检判 据 |
1014
|
按1009的目检判 据 |
15
|
对BI级器件用 户要求时进行该 分组试验。
|
|
136分组 内部水汽含量
|
lOI8
|
100℃时最大水汽
古量为$000ppm
|
．
|
不要求
|
3/(0)或5/(X)
|
当试验3个器件 出现1个失效时
可加试两个器件 并且不失效。若 第一次试验未通 过，可在鉴定机构 认可的另一试验 室进行第二次试 验。若试验通过， 砌该批梭接收。 |
|
D7分组 引线涂覆粘附 强度 |
2025
|
不适用于片状裁 体 |
2025
|
不适用予片状载 体 |
15
|
LTPD系对引线
数而富。 |
|
I)8分组 封蔫扭矩
|
2024
|
仪适用于熔封陶 瓷外亮 |
2024
|
仅适用于熔封陶 瓷外壳 |
s/(0)
|
|
4.5检验方法
检验方法规定如下：
4.5.1电压和电流
所有给出的电压均以器件GHD端为基础。给定的电流以流入引出端为正。
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订贷资料
采购合同规定下列内容：
a． 完整的器件编号（见1.3.1条）。
b． 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求。
c． 需要时，对合格证书的要求。
d． 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。
e．需要时，对失效分析包括GJB 548方法5003要求的试验条件、纠正措施和结果提供
报告的要求。
f． 对产品保证选择的要求。
g． 需要时，对待特殊、引线长度或引线形状的要求。
h． 对认证标志的要求。
i． 需要时其他要求。
6.2缩写、符号和定义
本规范所采用的缩写、符号和定义在GB 343.1、GB 343.2和GJB 597中规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。但不允许普通工业器件替代军用器
件。
附加说明：
本规范由中华电子工业部科技质量局提出。
本规范由电子工业部第四研究所负责起草。
本规范主要起草人：胡燕、童本敏。
计划项目代号：B 01032
1810
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