SJ 20614 96 交流薄膜电致发光矩阵显示器件总规范

交流薄膜电致发光矩阵显示器件总规范

1范围

1.1主题内容

    本规范规定了军用交流薄膜电致发光矩阵显示器件的要求、质量保证规定、交货准备及有关规则。

1.2适用范围

    本规范适用于各种军用交流薄膜电致发光矩阵显示器件（以下简称显示器件）。

2引用文件

  GB 191-90       包装储运图示标志

  GB/T 4857.5-92  包装 运输包装件  跌落试验方法

  GB/T 4857.10-92包装 运输包装件  正弦变频振动试验方法

  GB 5839-86      电子管和半导体器件额定值制

  GB 6388-86      运输包装收发货标志

  GB 7408-87      星期编号

  GJB 150.3-86    军用设备环境试验方法高温试验

  GJB 150.4-86    军用设备环境试验方法低温试验

  GJB 150.5-86    军用设备环境试验方法温度冲击试验

  GJB 150.16-86   军用设备环境试验方法振动试验

  GJB 150.18-86   军用设备环境试验方法冲击试验

  GJB 179-86      抽样检查程序及表

  GJB 360.2-87    电子及电气元件试验方法盐雾试验

  GJB 360.3-87    电子及电气元件试验方法稳态湿热试验

  GJB 360.5-87    电子及电气元件试验方法低气压试验

  GJB 360.18-87   电子及电气元件试验方法可焊性试验

  GJB 360.21-87   电子及电气元件试验方法引出端强度试验

  GJB 546-88      电子元器件的可靠性试验大纲

  GJB 921-90      电子管包装总规范

  SJ              交流薄膜电致发光矩阵显示器件测试方法

3要求

3.1详细规范

    每个显示器件的要求应符合本规范和相应的详细规范的规定。若本规范与详细规范的要求相抵触时，应以详细规范为准。

3.1.1破坏性试验(D)

    除另有规定外，显示器件破坏性试验项目见表1。

表1破坏性试验

试验项目	引  证
可焊性	3.7．1
引出端强度	3.7.2
盐雾	3.8.8
寿命	3.9

 

    当本规范中所使用的“按规定”或“规定”，在未规定文件或出处时，系指详细规范中的规定。

3.2合格鉴定

    按本规范提交的产品应是经鉴定合格或定型批准的产品。

    质量认证的规则和程序按中国军用电子元器件质量认证章程。

3.3产品保证要求

    承制方应按GJB 546的要求制定产品可靠性保证大纲文件。

    产品在研制、生产中必须建立一整套质量保证、管理和控制制度，并应以文件形式颂布实施，并记录实施情况，鉴定机构或有关主管部门可对文件的实施情况进行检查，以作为保持产品鉴定合格资格的依据。

3.4设计、结构和材料

    按本规范供货的显示器件，其设计、结构和材料应符合本规范和有关详细规范以及设计文件的规定。

3.4.1结构与尺寸

    显示器件外形结构与尺寸应符合详细规范的规定。

3.4.1.1额定值制

    详细规范中的额定值应符合GB 5839的规定。

3.4.1.2电极引出线

    显示器件的电极引出线应采用具有合适的物理、电气和机械性能的材料制造，与电极的连接应符合详细规范的规定。

3.4.2材料

    显示器件用平板玻璃、发光层、绝缘层材料和封接材料等结构材料应符合相应有关标准的规定，用这些材料制造的显示器件应能满足详细规范所规定的要求。

    显示器件外观质量应符合本规范和（或）详细规范的规定。

    a．  显示器件上的标志应清晰、准确、牢固、位置正确：

    b．  显示面玻板不应有气泡、杂质、针孔、黑点和影响图象质量的划伤；

    c．  封接处应光滑、无裂纹；

    d．  电极引出线不应有虚焊、脱焊或漏焊。

3.6光电特性

    显示器件的阈值电压、亮度、亮度均匀性、对比度、视角、死点、极间漏电流、功耗和发光光谱等光电参数应符合详细规范的规定。

3.7机械特性

3.7.1可焊性

    显示器件应经受详细规范规定条件的可焊性试验。试验后，显示器件应符合详细规范的

规定。

3.7.2引出端强度

    显示器件应经受以下某一施加的力、时间5—10s的引出端强度试验。试验后，显示器件应符合详细规范的规定。

    推荐显示器件应经受的施加力：

    2.5、5.0、10.ON。

3.8环境适应性

    除另有规定外，显示器件应经受下列环境试验。

3.8.1高温

3.8.1.1高温工作

    显示器件应经受温度为55℃、时间为2h的高温工作试验。试验后，外观质量、阈值电压、亮度、功耗应符合详细规范的规定。

3.8. 1.2高温贮存

    显示器件应经受温度为70℃、时间为48h的高温贮存工作试验。试验后，外观质量、阈值电压、亮度、功耗应符合详细规范的规定。

3.8.2低温

3.8.2.1低温工作

    显示器件应经受温度为-40℃、时间为2h的低温工作试验。试验后，外观质量、阈值电

压、亮度、功耗应符合详细规范的规定。

3.8.2.2低温贮存

    显示器件应经受温度为-55℃、时间为24h的低温贮存试验。试验后，外观质量、阈值电压、亮度、功耗应符合详细规范的规定。

3.8.3温度冲击

    显示器件应经受高温为70℃、低温为- 55℃、试验温度保持1h、转换时间不大于5min、循环次数为3次的温度冲击试验。试验后，外观质量、阈值电压、亮度、死点应符合详细规范的规定。

3,8.4稳态湿热

    显示器件应经受温度为40±2℃、相对湿度为90%～95%、时间为96h的稳态湿热试验。

试验后，外观质量、阈值电压、亮度、死点、极间漏电流应符合详细规范的规定。

 

3.8.5冲击

    显示器件在非工作条件下，应经受半正弦波冲击脉冲、峰值加速度30g、持续时间11ms、

对试验样品三个互相垂直轴的六个方向上各施加三次冲击（共18次）的冲击试验。试验后，外观质量、死点应符合详细规范的规定。

3.8.6振动

    显示器件应经受详细规范规定条件的振动试验。试验后，外观质量、死点应符合详细规范的规定。

3.8.7低气压

    显示器件应经受详细规范规定条件的低气压试验。试验后，外观质量、死点应符合详细规范的规定。

3.8.8盐雾

    显示器件应经受氯化钠含量为5±1%的盐溶液、PH值为6.5～7.2、温度35±2℃、时间

48h的盐雾试验。试验后，外观质量、暴露的金属件应符合详细规范的规定。

3.9寿命

    除另有规定外，显示器件的寿命应不低于1000h，且外观质量、阈值电压、死点等考核项目应符合详细规范的规定，亮度允许变化10%。

3.10重量

    显示器件的重量应符合详细规范的规定。

3.11标志

3. 11.1显示器件上应有下列标志：

    a．  承制方的识别（商标或代号）；

    b．  型号和名称；

    c．  军用合格标志“J”；

    d．  制造编号或制造年、月；

    e．  检验批识别代码；

    f．  合格标志或认证合格标志“J”；

    g．  交收日期（如需要）；

    h．  保证使用寿命（如需要）；

    I．  存放寿命（如需要）；

    j．  其他。

    如标志区域不足，应按上述顺序标注尽可能多的标志。

    注；若产品经质量认证合格并进入认证合格产品表( QPL)，可用标志“J”取代“J”标志。

3. 11.1.1检验批识别代码

    显示器件应标有检验批识别代码。通过该识别代码能识别其检验批的编号。识别代码中

前两位数字表示该年份的最后两位数字，后两位数字表示该年的星期编号，星期编号应符合

GB 7408的规定。

3.12加工质量

    应保证显示器件质量的一致性，且显示器件上不应有影响寿命、使用可靠性或外观质量的缺陷。

3.12.1返工措施

    按本规范提供的显示器件所进行的返工，均应记录并提供给鉴定机构和订购方审查。

4质量保证规定

4.1检验责任

    除合同或订单另有规定外，承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任一检验项目进行检查。

4.1.1合格责任

    所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范规定的检验应成为承制方

整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求，承制方

还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品，

也不能要求订购方接收有缺陷的产品。

4.2检验分类

    本规范规定的检验分为：

    a．鉴定检验（见4.4条）；

    b．质量一致性检验（见4.5条）。

4.3检验条件

    除另有规定外，试验的标准大气条件为：

    温度    15～35℃

    相对湿度20%～80%

    气压    试验场所的气压

4.4鉴定检验

    鉴定检验应包括详细规范中质量一致性检验和包装检验的全部项目以及鉴定检验条款下所列项目。

4.4.1抽样

    鉴定检验的样品数为4．允许的不合格品数为零，当年产量小于或等于25只时，样品数为2，允许的不合格品数为零。

4.4.2鉴定合格资格的保持

    为了保持鉴定合格资格，承制方应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告，报告应包括下列内容：

    a．  已进行的质量一致性检验中A组和B组结果摘要，其中至少应表明批次合格率。

    b．  C组和D组检验结果摘要。其中应包括失效的数量和分析报告，该摘要应包括在12个月内所进行和完成的全部C组和D组检验的结果。

    如果该试验结果摘要表明不符合规范要求，并且亦未采取使鉴定机构认可的纠正措施，则应取消该产品的鉴定合格资格。

    如果在报告有效期内停产，承制方应提交一份报告，说明承制方仍保持生产这种产品所的必须的能力。

    如果连续三个报告期内未生产，承制方在提供认证标志产品之前，需重新进行鉴定试验。

4.5质量一致性检验

    质量一致性检验包括A组和B组的逐批检验，以及C组和D组的周期检验。

4.5.1检验批的构成

    承制方在两周（最长不超过3个月）的时间内提交质量一致性检验的全部显示器件构成一个检验批，通过提交检验批来决定是否符合详细规范的规定。每一个检验批可由一个或几个生产批组成，这些生产批应在条件（材料、工艺、设备）基本相同情况下制造，且采用同一详细规范。

4.5.2结构相似性

    当具有共同性能的几种经定型或合格鉴定的产品（也可制定一份共用详细规范）同时或连续生产时，其共同性能的检验可以从其中一种产品中抽样进行，其结果可以代替其他产品的检验。

    除另有规定外，可采用的共同性能和有关的检验项目如下：

    a．玻板和引出线

    ——尺寸

    ——可焊性

    ——引出端强度

    b．  包括安装和定位在内的电极结构

    ——高温（规定的使用环境条件相同时）

    ——低温（规定的使用环境条件相同时）

    ——湿热

    ——冲击

    ——振动

    c．显示面

    ——颜色

    ——亮度

4.5.3检验项目

    检验项目见A组、B组、C组和D组所列项目。

4.5.4抽样方案

    除另有规定外．A组和B组检验按GJB 179中一次正常抽样方案进行。

4.5.5 A组检验

    A组检验按表2和详细规范的规定进行。

表2A组检验

 

			抽样要求
检验或试验	要求的章条号	试验方法章条号	IL	AQL
外观质量     结构和尺寸     光电参数     一阈值电压     一亮度     一死点     一对比度	3.5 3.4.1 3.6	4.7.3  4.7.4  4.7.5	Ⅱ	1.0

 

4.5.6B组检验

    B组检验应按表3和详细规范的规定进行，其样品应从A组检验合格的批中抽取。

表3B组检验

检验或实验	要求的章条号	试验方法章条号	抽样要求
			IL	AQL
光电参数 ——亮度均匀性 ——极间漏电流——视角 ——功耗 ——发光光谱	3.6	4.7.5	S-3	6.5

 

4.5.7C组检验

    C组检验应按表4和详细规范的规定进行，其检验周期为12个月。

    C组检验的样品可以从上一次C组检验后的任一或几个已通过A组和B组检验的批中抽取。

表4C组检验

检验或试验	要求的章条号	试验方法章条号	样本大小	允许的不合格品数
Cl分组 重量	3.10	4.7.9	2	0
C2分组     高温工作     高温贮存     低温工作     低温贮存     温度冲击     稳态湿热	3. 8.1.1 3.8.1.2 3.8.2.1 3.8.2.2 3.8.3 3.8.4	4.7.7.1 4.7.7.1 4.7.7.2 4.7.7.2 4.7.7.3 4.7.7.4	2	0
C3分组     可焊性     引出端强度	3.7．1     3.7.2	4.7.6.1 4.7.6.2	2	O
C4分组     冲击     振动     低气压（需要时）     盐雾（需要时）	3. 8.5 3.8.6 3.8.7 3.8.8	4.7.7.5 4.7.7.6 4.7.7.7 4.7.7.8	2	0

 

    注：①破坏性试验可用不影响该项试验结果的缺陷样品。

        ②试验样品在试验相互不影响的条件下可连续进行各分组的试验，但破坏性试验应放在最后进行。

4.5.8D组检验

    D组检验应按表5和详细规范的规定进行，其检验周期为12个月。

 

    D组检验的样品可以从上一次D组检验后的任一或几个已通过A组和B组检验的批中

抽取。

表5    D组检验 

检验或试验	要求的章条号	试验方法章条号	样本大小	允许的不合格品数
寿命	3.9	4.7.8	2	O

 

4.5.9C组和D组的测试

    C组和D组试验后和（或）试验过程中，应按规定对每个样品的光电性能进行测试。

    除另有规定外，有恢复时间要求的应在恢复时间到达后的4h内完成测试。未规定恢复时间的应在试验结束后48h内完成。

    每一个C组、D组试验后的最后测试应包括外观质量检验，因机械夹具引起的标志损坏，

不应作为拒收的依据，但标志损坏的显示器件应重新打印标志，以保证交货前标志清晰。

4.5.10失效判据

    试验中和（或）试验后的失效判据在详细规范中规定。

4.5.11不合格

    如果A、B、C和D组检验中有任一项试验，样品性能超过4. 5.9条的规定，则判该组检验不合格，并按4.8.1条处理。

4.6包装检验

4,6.1检验项目

    a．  直观和尺寸检验；

    b．  功能检验

    ——跌落

    ——振动

4.6.2检验要求

4.6.2.1直观和尺寸检验

    a．  标志是否准确、牢固、清晰；

    b．  包装器材是否符合规定；

    c．  产品是否清洁；

    d．  防护包装是否符合要求；

    e．  包装件外形尺寸、质量是否符合要求；

    f．  装箱方法是否得当；    ‘

    g．  被包装产品数量；

    h．  成套装箱文件是否齐全。

4.6.2.2功能检验

    经功能检验项目完成试验之后的包装件，其所有材料应不损坏，没有可能影响防护方法或装箱效果的错位现象，被用作试验的包装箱内的显示器件，没有可见的损坏现象，且A组性能符合详细规范规定。

4.6.3抽样方案

4.6.3.1鉴定检验

    鉴定检验时样本大小为2．允许的不合格品数为零．

 

4.6.3.2质量一致性检验

    a．直观和尺寸

    按GJB 179中一次正常抽样方案、特殊检查水平(IL)S-4，可接受质量水平(AQL)4.0，

对4.6.2.1中全部项目进行检验。

    b．功能

    每12个月进行一次，取样本大小为1．允许的不合格品数为零。

4.6.4检验方法

    除另有规定外，本规范4.7条所列的包装检验应按下列规定的方法进行。

4.6.4.1直观和尺寸

    用目测或借助有关量具检验4.6.2.1的内容。

4.6.4.2功能

4. 6.4.2.1跌落

    按GB/T 4857.5进行，推荐跌落高度为800mm。

 4.6.4,2.2振动

    按GB/T 4857.10进行，推荐扫频频率为5Hz～lOOHz～5Hz，扫频速率为每分钟1/2个倍频程，最大加速度为5±1m/s²。

4.7检验方法

4.7．1替代法

    本规范所列的各项目的检验方法，允许详细规范给出与国家（行业）标准或国家（行业）军用标准相等效的替代法。凡详细规范中已引证规定的方法，就不能采用替代法。

4.7.2试验设备故障或操作人员差错引起的失效

    当确定某一失效是由于设备故障或操作人员差错引起的，应将失效情况记入试验记录．该记录应与确认这种失效不应判定该产品不合格的全部资料一起保存备查。此时在征得订购方同意后，在该批产品中应重新抽样品进行该检验组（或分组）的全部试验

4.7.3外观质量

    外观质量检验用目测法进行。

4,7.4结构与尺寸

    结构与尺寸检验用目测和量具进行。

4.7,5光电特性

    光电特性检验应按SJ交流薄膜收发矩阵显示器件测试方法和详细规范规定的方法进行。

4,7.6机械特性

4.7.6.1可焊性

    可焊性试验按GJB 360.18进行。

4.7.6.2引出端强度

    引出端强度试验按GJB 360.21进行。

4.7.7环境适应性

4.7.7.1 高温工作和高温贮存

    高温工作和高温贮存试验按GJB 150.3进行。

4.7.7.2低温工作和低温贮存

    低温工作和低温贮存试验按GJB 150.4进行。

 

4.7.7.3温度冲击

    温度冲击试验按GJB 150.5进行。

4.7.7:4稳态湿热

    稳态湿热试验按GJB 360.3进行。

4.7.7.5冲击

    冲击试验按GJB 150.18进行。

4.7.7.6振动

    振动试验按GJB 150.16进行。

4.7.7.7低气压

    低气压试验按GJB 360.5进行。

4.7.7.8盐雾

    盐雾试验按GJB 360.2进行。

4.7.8寿命

    除另有规定外，寿命试验应按详细规范的一般试验条件进行。

    试验样品经A组、B组复测合格后，才能进行。

    寿命试验时数及考核标准由详细规范规定，并分别在下列测量点测试规定的考核项目：

    0、50、125、250、500、700、1000h，1000h以后每隔500h测量一次。

4.7.9重量

    重量检验用称量法进行。

4.8其他有关要求

4.8.1不合格批的重新提交

    当提交鉴定或质量一致性检验的任一检验批不符合A、B、C和D组检验中任一组要求时，应根据不合格的原因，采取纠正措施后，对不合格的检验组或分组重新提交一次检验。

    A组和B组重新检验应采用GJB 179中一次加严检查抽样方案进行；C组和D组应采用样品数加倍，允许不合格品数为零的抽样方案进行。

  4.8.2样品的处理

    经非破坏性试验的样品在批合格和其性能符合规范要求时，可交货。

    经破坏性试验的样品不可交货。

  4.8.3数据要求

    所有质量一致性检验的结果都应记录并在承制方至少保留三年。定期总结报告和要求的其他数据报告应提交鉴定机构。对所有提交质量一致性检验的批或成品的处理应作全面记录。凡不满足规定要求的批应记作失效批而不管该批是重薪提交还是退回。重新提交批的处理情况也应加以记录，以获得每一受试批从初次提交到最后处理（包括失效、重新提交、退回）的完整档案资料。

  4.8.4存放期超过12个月的批的交货程序

    通过了质量一致性检验并且在承制方存放时间超过12个月的显示器件，在交货前应由承制方按A组检验规定的全部检验要求重新检验。当重新检验不合格时，应对该批全都失效参数和特性进行100%检验，并将在这些试验中失效的所有显示器件从批中剔除，剩余的显示器件应保留原来的识别代码。重检日期标志应符合5.1.3条的规定。

  4.8.5保证使用寿命

    详细规范或合同中规定了保证使用寿命时（6.2条），显示器件可不经受寿命试验。但应按3.11条的要求给予标志。

4.8.6提前放行规则

    在C组和D组检验合格的周期内．A组、B组检验均合格的批可以交货。在C组和D组检验不合格的情况下，应停止产品交货。待按4. 8.1条的规定采取纠正措施并重新检验合格后方可恢复交货。

4.8.7周期检验的规定

    当产品鉴定后，显示器件的结构、工艺、材料出现更改以及生产间断时间超过12个月后重新生产时均应进行周期检验。

5交货准备

5.1包装

5. 1.1包装要求

    除另有规定外，单元包装应符合GJB 921中24类包装c级防护的要求。

5.1.2装箱内容

    除另有规定外；包装箱内应附有合格证、使用说明书等。

5.1.3装箱标志

    除另有规定外，包装箱上应有符合GB 191和GB 6388要求的有关标志以及相应设计图

纸的要求。

    显示器件单元包装上的标志应有详细规范编号和检验日期以及最后重检日期（如果进行

重检时）。

5.2运输

    产品应有牢固的包装箱，装有显示器件的包装箱允许用任何运输工具运输。在运输中应

避免雨雪淋袭和机械撞击。

5.3贮存

    除另有规定外，显示器件应在温度为一10～40℃、相对湿度不大予80%、通风良好、无腐蚀性气体下库房中贮存。

6说明事项

6.1预定用途

    本规范规定的显示器件预定用于各种军用电子设备中作终端显示。

    使用中的特殊要求应在详细规范或合同中规定。

6.2订货文件内容

    合同中应包括下列内容：

    a．  显示器件型号及名称；

    b．  详细规范编号；

    c．  数量；

    d．  应提供的试验数据；

    e．  保证使用寿命（如需要）；

    f．  特殊的交货要求（如需要）；

    g．其他。

6.3定义

    显示器件所用的术语、缩写词、符号和代号应从本规范第2章引用文件中选取．并采用下列补充的缩写词。

    a．P周期

    b．SLG保证使用寿命

    c．TC一般试验条件

6.4使用和注意事项

6.4.1使用

    显示器件应在详细规范中规定的工作条件下使用。

6.4.2注意事项

    如需要，详细规范应给出特定的显示器件的使用注意事项。

附加说明：

本规范由中华人民共和国电子工业部提出。

本规范由中国电子技术标准化研究所归口。

本规范由电子工业部第五十五研究所和中国电子技术标准化研究所起草。

本规范主要起草人：于捍平、朱生良、庞卓英。

计划项目代号：B410170

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