半导体器件
第12-5部分:光电子器件
纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤
的pin光电二极管空白详细规范
引言
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
本空白详细规范是半导体器件的一系列空白洋细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用。
IEC 60747-10(QC 700000):1991 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范
IEC 60747-12(QC 720100):1985半导体器件 第12部分光电子器件分规范
要求的资料
本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应,这些资料应填入相应栏中。
详细规范的识别
[1]授权发布详细规范的国家标准化机构(NAI)名称。
[2]详细规范的IECQ编号。
[3]总规范、分规范的编号及版本号.
[4]详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料。
器件的识别
[5]主要功能和型号。
[6]外形图、引线识别、标志和(或)引用有关的外形标准。
[7]典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果一种器件有几种派生产品,则应指出其差异,例如,在
对照表中列出特性差异。
如果器件是静电敏感型,应在详细规范中给出注意事项。
[8]按总规范的2.6质量评定的类别。
[本规范下页方括号给出的条款构成了详细规范的首页,那些条款仅供指导详细规范的编写,而不应纳入详细规范中.]
[国家标准化机构(和可能提供规范的 [1] 团体的)名称(地址)。 |
[IECQ详细规范编号、版本号和(或)日期。] [2]
|
评定电子元器件质量的依据: [3] 总规范:IEC 60747-10/QC 700000 分规范,IEC60747-12/QC 720100
|
[详细规范的国家编号] [4] [如果国家编号与IECQ编号相同,则本栏可不 填写。] |
纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范: [5] [有关器件的型号和适用时结构相似性器件的型号] 订货资料:见本规范第7章.
| |
1机械说明 [6]
外形标准或底座和管壳标准: --IEC 60191-2 ——国家标准(如果没有IEC的外形) 外形图和连接 (引出端到管壳) [光端口的特性]。 输入光纤(尾纤)的资料(见第9章): ——光纤类型、芯径和包层直径; ——数值孔径; ——被覆(一次/二次); ——尾纤结构; ——尾纤长度; ——带连接器的尾纤端面的制备(适用时)。 [可转到本规范第9章给出详细资料。] 标志:字母和图形或色码 [见本规范第6章。] 如采用特殊方法,需标明极性。
|
2简要说明 [7] 纤维光学系统或子系统用带尾纤的pin光电二 极管 半导体材料.Si、Ge、InGaAs、… 封装:金属/玻璃/塑料/其他 应用:数字信号、模拟信号… [可以增加某些重要参考数据。]
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3质量评定类别 [8]
[按总规范的2.6。]
|
4极限值(绝对最大额定值体系)
除非另有规定,这些极限值适用于每个二极管的整个工作温度范围。
[只重复使用带有标题的条号。任何附加的值在适当的地方给出,但没有条号。]
[曲线最好在本规范的第10章给出。]
条号 |
参数名称 |
符 号 |
数值 |
单位 | |
最小值 |
最大值 | ||||
4.1
4.2 4.3
4.4
4.5 4.6 4.7 4.8
4.9 4.10 4.11 |
工作环境温度或管壳温度
贮存温度 焊接温度 (应给出焊接时间和距管壳的最小距离) [可以在第10章给出推荐条件(温度、持 续时间)] 尾纤的弯曲半径 (距管壳规定的距离处) 冲击 振动 加速度(适用时) 沿尾纤轴线方向上的张力 ——松套结构 光纤的张力 光缆的张力 ——紧套结构 光缆的张力
反向电压 连续正向电流 入射功率 |
Tamb 或Tcase Tstg Tsld
r
F F
F VR IF |
X
X
X
X |
X X
X X X
X X
X X X X |
℃
℃ ℃
mm(cm) m/s2,Hz m/s2
N N
N V
mA(A) Mw(w) |
适用于带尾纤的器件。 |
5光电特性
检验要求见本规范第8章。
[括号中标有“适用时”的相应特性有以下两种选择:
——那些标有“适用时”的特性在本章及有关检验的章节中或者省略,或者规定,如规定,则要进行测试。
——可以选择更适宜的等效特性进行替换,以便让不同的制造厂使用相同的详细规范。]
[只重复使用带有标题的条号。任何附加的特性在适当的地方给出,但没有条号。]
[当在同一详细规范中规定几种器件时,有关的值应以连续的方式给出,以避免相同值的重复。]
[曲线最好在本规范的第10章给出。]
|
特性和条件 |
|
数 值 |
|
| |
条号
|
除非另有规定,Tcase(或Tamb)=25℃, VR[规定的1] |
符号
|
最小值 |
最大值 |
单位
|
试验 分组 |
5.2.1
5.2.2
|
光谱响应度 和△下反向暗电流(1) =0,VR按规定 反向暗电流(2) =0,VR按规定 T= Tamb,max或Tcase,max 正向电压 在规定的IF下 回波损耗 条件在考虑中 总电容 =0,f,VR按规定 噪声电流 在规定的,△或频谱范围和IR、RL (如果不是50)fo和△fN下 |
S
IR(1)
IR (2)
VF
RL
Ctot
IN
|
×
|
×
×
×
×
×
×
×
|
A/W
uA
uA
V
dB
pF
pA/Hz
|
|
5.7.1
5.7.2
|
开关时间 在规定的VR、、△、RL、输入辐射脉 冲峰值功率1和偏置辐射功率2: 上升时间 下降时间 小信号截止频率 在规定的VR、、△、RL |
Tt Tf
fc
|
×
|
× ×
|
ns ns MHz (GHz) |
C2a C2a C2a
|
1) 除非另有规定,VR对于所有特性可以是相同的。 2)适用时. 3) 只适用于器件的光端口.不适用于器件的其他部分,否则会导致测量错误.在实际应用中,“光端 口”这个术语由详细规范定义,同时也适用于发射器件. |
6标志
[实际上要标记在器件上和初始包装上的信息。]
[除了前面第[6]栏(第1章)和(或)IEC 747-10的2.5所给出的外,任何其他特殊信息应在这里 规定。]
[除非另有规定,订购一种具体器件至少需要以下资料:
——准确的型号;
——当有关时,带版本号和(或)日期的IECQ详细规范标准;
——按分规范的3.7规定的质量评定类别,如要求时按分规范的3.6规定的筛选顺序;
——其他细节。]
8试验条件和检验要求
[在下表中给出试验条件和检验要求,其中所有数值和确切的试验条件,应按照给定型号的要求和按GB/T 15651的有关试验的要求规定。表中“×”表示在详细规范中应规定的数值。]
[当在同一详细规范中包括几种规格的器件时,有关条件和(或)数值应以连续的方式给出,以尽可能避免相同条件和(或)数值的重复。]
[编写详细规范时,应选定可供替换的试验或试验方法。]
[在以下各表中除非另有规定,引用的条号对应予总规范的条号,测试方法引自分规范的第4章。]
[抽样要求,按照适用的质量评定类别,参照或重述分规范的3.7的数值。]
[对于A组,在详细规范中可以选择AQL或I,TPD任一方案。]
[下面B组和C组的LSL和USL(低/高极限值)相应=PA组的最小和最大极限值。]
A组
逐批试验
全部试验都是非破坏性的(3.6.6).
检验或试验 |
符号 |
引用标准 |
特性和条件 除非另有规定,Tcase(或Tamb)=25℃, VR[规定的2] |
检验或试验 要求/极限值 | |
最小值 |
最大值 | ||||
AO分组 ESD检验(逐个晶 片上) |
|
|
按规定
|
|
|
A1分组 外部目检 |
|
|
总规范4.2.1.1 |
|
|
A2a分组 不能工作器件∞ |
|
|
|
|
|
A2b分组 ——反向暗电流(1)
——光谱响应度 |
IR(1)
S |
GB/T 15651 Ⅳ,2.2 GB/T 15651 |
=0 、,△从按规定 |
×
|
×
× |
A3分组 [如果详细规范要 求] ——回波损耗 ——总电容 继之以 ——开关时间 或 ——小信号截止 频率 |
RL Ccot
Tt Tf
fc |
GB/T 15651
GB/T 15651 1V,2.8
GB/T 15651 IV,2.6 |
=0,f,VR按规定 VR、、△、RL输入辐射脉冲峰值 功率1和偏置辐射功率屯按规定 R、、△、RL、按规定 |
× |
×
× ×
|
1) 除非另有规定,VR对于所有特性可以是相同的. 2) 在下列情况不适用. ——IR高于规定数值的100倍; ——极性错误; ——引线或尾纤破损; ——短路:VF<0.1VFmax; ——开路.Vp>0.5VFmax; 检验条件在本规范的第5章中给出. 3)适用时. |
B组
逐批试验
LSL=规范的下限值
USL=规范的上限值 根据A组
只有标(D)的试验是破坏性的(3.6.6)。
检验或试验 |
引用标准 GB/T 4937 |
条 件 除非另有规定,Tamb或Tcase=25℃ |
检验或试验 要求/极限值 | |
最小值 |
最大值 | |||
Bla分组 尺寸 |
|
总规范第4.2.2/附录B |
| |
Blb分组 与光学有关的尺寸 |
|
按规定 |
见第1章第[6]栏
| |
B3分组(D) 引出端强度 包括尾纤 |
如适用
|
力(见Ⅱ.1的1.2)
|
无损伤
| |
B4分组(D) 可焊性(适用时) |
Ⅱ,2.1 |
按规定 |
润湿良好 | |
B5分组(D) 快速温度变化 继之以: ——湿热循环 终点测试: ——IR(1) ——S ——IR(2) 或: ——密封(对空封器件) |
Ⅲ,1
Ⅲ.4
Ⅲ,7 |
按规定
按规定
按A2b分组 按A2b分组 按A2b分组
按规定 |
LSL
|
USL
USL
|
B8分组 电耐久性
终点测试 ——IR(1)
——S |
|
168 h,Tamb,max或Tcase,max。 =0,VR按规定 按A2b分组
按A2b分组 |
LSL |
1.2USL 2IVD2
|
ESD分组(D) 终点测试 --IR |
|
按规定
|
|
1OIVD
|
CRRL分组 |
|
提供B3,B4,B5和B8的属性资料 |
|
|
1)适用时. 2)“IVD”为每一样品的初始值, |
C组
周期试验
LSL=规范的下限值
USL----规范的上限值 根据A组
只有标(D)的试验是破坏性的(3.6.6)。
检验或试验 |
引用标准 GB/T 4937 |
条 件 除非另有规定,Tamb或Tcase=25℃ (见总规范第4章) |
检查或试验 要求/极限值 | |
最小值 |
最大值 | |||
C1分组 尺寸 |
|
总规范第4.2.2/附录B |
(见第1章 第E63栏) | |
C2a分组 光电特性 ——噪声电流(IN) ——上升时间(tr) ——下降时间(tt) 或: ——截止频率(fc) 继之以 ——总电容(Ccot) ——回波损耗(RL) |
|
按A3分组 按A3分组 按A3分组
按A3分组
按A3分组 在考虑中 |
×
|
× × ×
× × |
C2b分组 ——反向暗电流(2) (IR(2)) |
|
=0,VR按规定 T=Tamb,max或Tcase,max, |
|
×
|
C3分组(D) 引出端强度。 ——电引出端强度: 拉力检验 ——尾纤强度: 拉力检验 终点测试 ——S |
Ⅱ,1
|
按规定 [对特殊外形器件不要求,例如超 小型器件]
按A2b分组 |
不损伤或
LSL |
按规定
|
C4分组(D) 耐焊接热 终点测试, ——目检 ——J-R(1) ——S ——JR(2)3’ |
Ⅱ,2.2
|
按规定 按规定 按A1分组 按A2b分组 按A2b分组 按A2b分组 |
LSL
|
USL
USL |
C组(续)
检验或试验 |
引用标准 GB/T 4937 |
条 件 除非另有规定,Tamb或Tcase=25℃ (见总规范第4章) |
检查或试验 要求/极限值 | |
最小值 |
最大值 | |||
C9分组(D) 高温贮存
终点测试: ——IR(1) ——S ——IR(2) |
Ⅲ,2
|
在最高贮存温度Lq下至少1000 h
按A2b分组 按A2b分组 按A2b分组 |
9.9IVD
|
10IVD4) 10IVD |
ESD分组 终点测试 ——IR |
|
按规定
|
|
IOIVD |
CRRL分组
|
|
提供C3、C4、C5、C6、C7和C9的 属性资料,提供C8分组前、后的 测试结果。 |
|
|
1) 除非另有规定,VR对于所有特性可以是相同的. 2> 对于带尾纤器件. 3) 适用时. 4) “IVD”为每一样品的初始值. 5) 除非在详细规范中另有规定. |
9 D组——鉴定批准试验
[当要求时,这些试验应在详细规范中规定,且仅用于鉴定批准。]
10附加资料(不作为检验用)
10
[只有规范和器件应用需要时给出,例如:
——与极限值有关的温度降额曲线;
——推荐的安装条件;
——总电容与频率的函数;
——指定的特性;
——与波长相关的响应曲线;
——与温度相关的响应曲线;
——反向暗电流与‰在不同温度下的关系;
——测量电路或补充方法的完整说明;
——详细外形图。
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