中华人民共和国电子行业军用标准
半体成电路
JF36型低噪声宽带放大器详细规范 SJ 50597/43-97
Semiconductor integrated circuits
Detail specification for type JB36 low noise
wide- band amplifier
1范围
1.1主题内容
本规范规定了半导体集成电路JF36型低噪声宽带放大器(以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类。
1.3.1器件编号器件编号应符合GJB 597A- 96(半导体集成电路总规范)第3.6.2条的规定。
1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件型号 |
器件名称 |
JB 36 |
低噪声宽带放大器 |
1.3.1.2器件等级
器件等级应为GJF 597A - 96第3.4条规定的B级和B1级。
|
|
数 值 |
| |
项 目
|
符号
|
最小 |
最大 |
单位
|
电源电压 |
Vcc |
- |
14 |
V |
贮存温度 |
Tstg |
-65 |
150 |
℃ |
结 温 |
Tj |
- |
175 |
℃ |
引线耐焊接温度(30s) |
Th |
- |
300 |
℃ |
功 耗 |
PD |
- |
270 |
mW |
1.3.1.3封装形式
封装形式如下;
a. 12引线陶瓷双列封装
b. GB/T 7092<半导体集成电路形尺寸>中的D14S2的14引线陶瓷双列封装。
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下:
|
|
数 值 |
| |
项 目
|
符号
|
最小 |
最大 |
单位
|
电源电压 |
Vcc |
9 |
12 |
V |
工作环境温度 |
TA |
-55 |
125 |
℃ |
2引用文件:
GB 3431.1 - 82半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
GB 3431.2 - 86半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB/T 7092 - 93半导体集成电路外形尺寸
GJB 548A - 96 微电子器件试验方法和程序
GJB 547A - 96 半导体集成电路总规范
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB 597A和本规范的规定。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应按GJBB 597A和本规范的规定。
3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图l的规定。引出端排列为俯视图。
3.2.2外形图 图1 引出端排列
12引线陶瓷双列封装外形图应符合图2的规定,14引线陶瓷双列封装外形图应符合
GB/T 7092中的D14S2型。
3.2.3电路图
电路图应符合图3规定。
图3电路图
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。外形应符合本规范3.2.2的规定。
3.3引出端材料和镀涂
引出端材料和镀涂应按GJB 597A第3.5.6条的规定。
3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
表1电特性
|
|
条 件(若无其 |
规范值 |
| ||
特性
|
符号
|
它规定,见图4和Vcc= 12V. TA=55-125℃.Rs=RL=50Ω) |
最小 |
最大 |
单位
| |
|
|
|
TA=25℃ |
26 |
|
|
电压增益 |
AV |
f=1OOMHz |
|
25 |
dB | |
增益平坦度
|
△AV
|
TA = 25'C
fL= 5MHz, fH = 120MHz |
-2.0
|
2.0
|
dB
| |
最大输出电压 |
VcM(rms) |
f= 100MHz, TA = 25℃ |
100 |
|
mV | |
|
|
|
TA= 25℃ |
- |
17 |
|
工作电流 |
Icc |
输入信号为零 |
|
18 |
mA | |
噪声系效 |
NF |
f= 100MHz, TA = 25℃, Rs= 50Ω |
- |
2 |
dB | |
带宽 |
BW |
TA=25℃ |
120 |
|
MHz |
3.5电试验要求
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分组,各分组的电测试按表3的规定。
表2电试验要求
项 目 |
分 组(见表3) |
中间(老练前)电测试 |
A1、A4 |
中间(老炼后)电测试 |
A11)、A41) |
最终电测试 |
A2、A3、A5、A6 |
A组试验要求 |
A1,A2, A3,A4,A5,A6 |
C组终点电测试 |
A1、A4和表9△极限 |
D组终点电测试 |
A1、A4 |
注:1)该分组要求PDA计算。
图4测试电路
注:①所有电容误差小于等于±5%
②电感误差大干等于±5%
③测静态参数时输入信号为零,测动态参数时,信号源频率为100MHz,幅度为- 35dBm
3.6标志
标志应按GJB 597A第3.6条的规定。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB 597A和本规范的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB 548A方法5004A和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
|
条件和要求(GJB 548A) |
| |||
筛选项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说明 | ||
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
内部目检 (封盖前) |
2010A
|
试验条件B
|
2010A
|
试验条件B
|
|
稳定性烘培(不要 求终点电测试) |
1008A
|
试验条件C (150℃.24h) |
1008A
|
试验条件C (150℃.24h) |
|
温度循环
|
IOIOA
|
试验条件C (10次循环) |
1010A
|
试验条件C (10次循环) |
可用方法1011A 试验条件A替代。 |
续表4
|
条件和要求(GJB 548A) |
| |||
筛选项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说明 | ||
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
恒定加速度
|
2001A
|
试验条件E Yl方向
|
2001A
|
试验条件D Y1方向
|
试验后进行目检. 引线断落、外壳 破裂、封盖脱落 为失效。 |
中间(老炼前)电 测试 |
|
本规范A1、A4 分组 |
|
本规范A1、A4 分组 |
|
老炼
|
1015A
|
试验条件E. 125℃.160h |
1015A
|
试验条件E 125℃, 160h |
采用本规范图5 电路 |
中间(老炼后)电 测试 |
|
本规范A1、A4 分组 |
|
本规范A1、A4 分组 |
|
允许的不合格品 率(PDA)计算
|
5%.本规范A1、A4 分组,当不合格晶率 不超过10%时,可重 新提交老化,但只允 许一次 |
10%.本规范A1、A4 分组,当不合格品率 不超过20%时,可重 新提交老化,但只允 许一次 |
若老炼前未进行 中间电测试,则老 炼后中间电测试 A1、A4分组的失 效也应计入PDA。 | ||
最终电测试
|
|
本规范A2,A3, AS、A6分组
|
|
本规范A2、A3、 A5、A6分组
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本筛选后,着引线 镶涂改变或返工, 再进行A1、A4分 组测试 |
密封 细检漏 粗检漏 |
1014A
|
试验条件AI 试验条件Cl |
1014A
|
试验条件AI 试验条件Cl |
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鉴定或质量一致性检验的试验样品抽取 |
5005A
|
第3.5条
|
5005A
|
第3.5条
|
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外部目检 |
2009A |
按规定 |
2009A |
按规定 |
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1557