SJ 50597 42 96 半导体集成电路 三端固定负输出电压调整器 详细规范10
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.8微电路组的划分
本规范所涉及的器件为第52微电路组（见G]B 597附录E）。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按本规范表5的规定进行筛选。
表5筛 选
若无其他规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
项 目 |
条件和要求 |
说 明 | |||
|
B级器件 |
B1级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检 （封装前） |
2010
|
试验条件R
|
2010
|
试验条件B
|
|
|
稳定性烘焙 （不要求终 点电测试） |
1008
|
试验条件C (150°24h)
|
1008
|
试验条件C 150℃24h)
|
|
|
温度循环 |
1010 |
试验条件C |
1010 |
试验条件C |
可用方法1011试验条件A替代 |
|
恒定加速皮
|
200l
|
试验条件E Y1方向
|
200l
|
试验条件D Y1方向
|
试验后进行目检 引线断落，外壳破裂． 封壳脱落为失效。 |
|
热关闭 电路试验 |
|
TA= 25℃ 至少30min |
|
TA= 25℃ 至少30min |
采用图10线路
|
|
中问（老化 前）电测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
由制造厂决定是否进行本筛选
|
|
老化
|
1015
|
试验条件C (125℃ 160h)
|
l叭5
|
试验条件C (125℃160h)
|
采用图11线路
不进行反偏老化 |
|
中闭（老化 后）电测试 |
|
本视范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
|
|
允许不合格品 率(PDA)计算
|
|
5%．本规范 A1分组，当不 合格品率来超 过20%时．可 重新提交老化 但只允许一次 |
|
10%．本规范 A1分组，当不 合格品率朱超 过20%时，可最 新提交老化但 只允许一次 |
若老化前束进行中问电测试，则老化后屯测试A1分组的失效也应计入PDA
|
续表5
若无其他规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
项 目 |
条件和要求 |
说 明 | |||
|
B级器件 |
B1级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
最终电测试
|
|
本规范A2、 A3、A4分组
|
|
本规范A2、 A3、A4分组
|
本项筛选后，若改变器件的引线撩 覆或者返工则应再进行AI分组测 试 |
|
密封 细检漏 租检漏 |
1014
|
试验条件 A1或A2 C1或C2 |
1014
|
试验条件 A1或A2 C1或C2 |
|
|
外部目检 |
2009 |
按规定 |
2009 |
按规定 |
|
|
鉴定或质量一 致性检验的试 验样品选取 |
5005
|
3.5条
|
5005
|
3.5条
|
|
|
器件型号 参数 |
JW79L05 |
JW79L06 |
JW79L09 |
JW79L12 |
JW79L15 |
JW79L18 |
JW79L24 |
|
V1(min) |
-20V |
-20V |
-25V |
-25V |
-25V |
-25V |
-25V |
图10热关闭试验线路
注：1）如果器件能够保持繇态．2.0μF电容可以减小或取消。
图11老化和寿命试验线路
注．①试验在无散热器下进行。
⑦TA=125℃。
1)如果器件能够保持稳态．2.0μF电容可以溅小或取消。
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GIB .597的规定，所进行的检验应按GJB 548方法5005和本规范A、B、C和D组检验（见第4.4.1至第4.4.4条）的规定。
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597的规定，所进行的检验应按GJB 548方法5005的本规范
A、B、C和D组检验（见第4.4.1至第4,4,4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验应按本规范表6的规定。
电试验要求应按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用同一个样本进行，当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组测试可按任意顺序进行。
合格判定数(C)最大为2。
表6 A组（B级和B1级器件）
|
试验 |
LTPD |
|
A1分组 25℃下静态测试 |
2 |
|
A2分组 125℃下静态测试 |
3 |
|
A3分组 -55℃下静态测试 |
5 |
|
A4分组 25℃下动态测试 |
2 |
|
A5分组 125"C下动态测试 |
3 |
|
A6分组 -55℃下动态测试 |
5 |
|
A7分组 25℃下功能测试 |
2 |
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范嵌7的规定。
B1～B5分组可JTj同一检验批中的电性能不合格的器件为样本。
表7 B组榆验
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
试 验
|
条件和要求 |
样品数/ （接收数） 或 LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件 |
B1级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
B1分组 尺寸 |
2016 |
2016 |
|
2(0)
|
| |
|
B2分组 抗溶性 |
2015 |
|
2015 |
|
4(O)
|
|
|
B3分组 可焊性
|
2003
|
焊接温度 245=5℃ |
2003
|
焊接温度 245= 5℃ |
15
|
|
|
B4分组 内部目检和 机械性能 |
2014
|
|
2014
|
|
1/(0)
|
|
续表 B组检验
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
试 验
|
条件和要求 |
样品数／ （接收数） 或 LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件 |
B1级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
B5分组 键合强度 超声焊 |
2011
|
试验条件 C或D |
2011
|
试验条件 C或D |
15
|
可在封装前的“内部目 检”筛选后，琏意抽取 样品进行本分组试验 |
|
B8分组 (a)电参投
(b)静电放电 灵敏度等级 (c)电参数 |
GJB 1649
|
本规范A1 分组
本规范A1 分组 |
|
适用时
|
15/(O)
|
仅在初始鉴定或产品 重新设计时进行。
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范袭8的规定。
表8 C组检验
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
项 目
|
条件和要求 |
样品数/ （接收投） 或 LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件 |
B1级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
Cl分组 初始电测试 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
本规范A1分组 试验条件C (125℃1000h) 率规范A1分组和 表4Δ极限（见 本规范表2和表3） |
1005
|
本规范A1分组 试验条件C (125℃．1000h) 本规范A1分组和 表4△极限（见 本规范表2和表3） |
5
|
采用本规范 图11的线路
|
|
C2分组 初始电测试 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1010 2001l
1014
|
本规范A1分组 试验条件C 试验条件E Y1方向
试验条件A1或A2 试驹条件C1或C2 按方法1010 的目检判据 A1分组和表4△极 限（见表2和发3） |
1010
1014 |
本规范A1分组 试验条件C 试验条件D Y1方向
试验条件A1或A2 试验条件C1或C2 按方法1010 目检判据 A1分组和衷4Δ极 限（见表2和表3） |
15
|
|
4.4.4D组检验
D组检验应按本规范表9的规定。
D1、D2、D5、D6和D7的分组，可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表9 D组检验
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
项 目
|
条件和要求 |
样本散／ （接收数） 或 LTPD |
说 明
| |||
|
B级器件 |
B1级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方祛 |
条 件 | |||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
15 |
|
|
D2分组 引线牢固性 密封 细检漏 租检漏 |
2004 1014
|
试验条件B2 试验条件 A1或A2 C1或C2 |
2004 lOl4
|
试验条件B2 试验条件 A1或A2 C1或C2 |
15
|
|
|
I)3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 细检捕 粗检漏 目检
终点电测试 |
1000
1010
1004
1004
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环 按规定
试验条件 A1或A2 C1或C2 按方法1010和 1004的目检判据 本规范A1分组 |
1011
lOIO
1004
1014
|
试验条件A 15次循环 试验条件C 10次循环 按规定
试验条件 A1或A2 C1或C2 按方法1010和 1004的目检判据 本规范A1分组 |
15
|
&缓器件允许按
GB 4590第3.6条 56d进行试验
|
|
D4分组 机械冲击 变频振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试 |
2002 2007 2001
1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Y1方向 试验条件 A1或A2 C1或C2 按方法2002或 2007的目检判据 本规范A1分组 |
2002 2007 2001
1014
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Y1方向 试验条件 A1或A2 C1或C2 按方法2002或 2007的目检判据 本规范A1分组 |
15
|
用于D3分组的样品 可用在134分组
|
|
D5分组 盐雾 |
1009 |
试验条件A |
|
适用时 |
15
|
|
表9 D组检验
若无其它规定，表中引用的试验方法指GJB 548。
|
项 目
|
条件和要求 |
样本数/ （接收数） 或 LTPD |
说 明
| |||
|
B缓器件 |
B1级器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
密封 细检漏 粗检漏 目检
|
1014
|
试验条件 A1或A2 C1或C2 按方法1009的 目检判据 |
|
同B级器件
|
|
|
|
D6分组 内部水汽 含量
|
1018
|
100℃,时最大 水汽古量为 5000ppm
|
|
不要求
|
3/(0) 或 5(1)
|
当被测3个器件 出现一个失效时，可加试 两个器件试验并且不 失效。若第一次试验未 通过时，可在鉴定机构 认可的另一实验室进行 第二次试验，若试验通过 则该批应被接收。 |
|
D7分组 引线涂覆 粘附强度 |
2025
|
按规定
|
2025
|
按规定
|
15
|
|
4.5检验方法
检验和试验方法应符合本规范的规定。本规范给出的或GJB 548涉及的试验方法的电试验线路均可使用。替代的测试线路应由鉴定机构批准。
4.5.1 电压和电流
所有给定的电压均以外部电源电压零点为基准,给出的电流以流入器件引出端为正。
4.5.2老化和寿命试验冷却程序
器件进行工作寿命或老化试验后，应先将器件冷却至室温，才能去除倔置，然后进行25℃下测量。
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GIB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订货资料
订货合同应规定下列内容。
a． 完整的器件编号（见第1.3.1条）。
b． 需要时，对器件制造厂提供与所交付的器件相应的检验批质量一致性检验数据的要
求。
c． 需要时，对合格证书的要求。
d． 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。
e． 包装和包装箱的要求。
f．需要时，对失效分析（包括GJB 548方法5003要求的试验条件）、纠正措旋和结果提供报告的要求。
g． 对产品保证选择的要求。
h． 需要时，对引线形式的要求。
i． 对认证标志的要求。
j． 需要时的其他要求。
6.2缩写词、符号和定义
除本规范所有的缩写词、符号和定义外，均按GB 3431.1、GB 3431.2、GB 4377和GJB 597中的规定。
6.2.1输出峰值电流peak ortput current
在规定的条件下，使输出电压变化达到规定值的最大负载电流。
6.2,2热调整率：thermal regulation
在规定时间及功率条件下，由于芯片热效应引起输出电压的变化。
6.2.3瞬态响应：transient response
在规定时间内，输入电压或输出电流的变化，引起输出电压变化之比。
6.3替代性
本规定规定的器件其功能可替代普通工业用器件。不允许用普通工业用器件替代军用器件。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。
本规范由北京半导体器件五厂起草。
本规范主要起草人：张宝华、李龙文、刘燕、沈琪。
计划项目代号：B21038。
1597
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