SJ 20071 92 半导体分立器件2cK4148型硅开关二极管详细规范

半导体分立器件

2cK4148型硅开关二极管详细规范

1 范围

1.1主题内容

    本规范规定了2CK4148型硅开关二极管（以下简称器件）的详细要求，该种器件按GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级（GP、GT和OCT级）。

1.2外形尺寸

mm

图1外形尺寸

1.3最大额定值

注：1）当TA>25℃时，按1.20mA/℃速率线性地降额。

1.4主要电特性(TA=25℃)

2引用文件

  GB 4023—86 半导体分立器件 第2部分 整流二极管

  GB 6571—86 小功率信号二极管、稳压及基准电压二极管测试方法

  GB 7581—87 半导体分立器件外形尺寸

  GJB 33—85  半导体分立器件总规范

  GJB 128—86 半导体分立器件试验方法

3要求

3.1详细要求

    各项要求应按GJB 33和本规范的规定。

3.2设计、结构和外形尺寸

    器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范图1的规定。

3.2.1引出端材料和涂层

    引出端材料应为铜包铁丝，引出端表面应为锡层，对引出端涂层另有要求时，应在合同或订贷单中规定（见6.1条）。

3.3标志

  器件标志应按GJB 33的规定。

4质量保证规定

4.1 抽样和检验

    抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定。

4.2 鉴定检验

    鉴定检验应按GJS 33的规定。

4.3 筛选（仅通用于GT和GCT级）

   筛选应符合GJB 33的表2和本规范的规定。下列测试应按本规范中表l的规定进行。超过本规范表1极限值的器件应剔除。

4.3.1电老化试验

    电老化条件规定如下：

4.4质量一致性检验

    质量一致性检验应符合GJB 33和本规范的规定。

4.4.1 A组检验

    A组检验应按GJB 33和本规范表l的规定进行。

4.4.2B组检验

    B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行。

4.4.3C组检验

    C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行。

4.5检验和试验方法

    检验和试验方法应符合相应的表和下述的规定：

4.5.1稳态工作寿命

    在器件的反向施加规定的正弦半波峰值电压，接着在正向施加规定的正弦半波平均整流

电流。整流电流的正向导通角应不大于和不小于。

4.5.2脉冲测试

  脉冲测试应按GJB 128的3.3.2.1条的规定．

表l A组检验

续表l

表2 B组检验

表3 C组检验

表4 B组和C组最后测试

5交货准准

5.1包装要求

  包装要求应按GJB 33的规定。

5.2贮存要求

  贮存要求应按GJB 33的规定。

5.3运输要求

  运输要求应按GJB 33的规定。

6说明事项

6.1对引出端涂层有特殊要求时应在合同或订货单中规定。

6.2如需典型特性曲线，可在合同或订贷单中规定。

附加说明：

本规范由中国电子工业总公司科技质量局提出。

本规范由中国电子技术标准化研究所归口。

本规范由中雷电子技术标准化研究所和国营八七三厂负责起草。

本标准主要起草人：于志贤、刘东才。

计翊项目代号：BO1O1O。