中华人民共和国电子工业部部标准
3DG104型NPN硅外延平面 SJ/2271—83
超高频小功率三极管
本标准适用于3DG104型NPN硅外延平面超高频小功率半导体三极管。该产品用于电子设备的高频放大和振荡电路中。
1该产品除本标准规定外,三类应符合SJ 281—76《三类半导体二、三极管总技术条件》的规定;二类应符合SJ 614—73《半导体三极管总技术条件》的规定。
2外型结构和尺寸应符合SJ 139--81《半导体三极管外形尺寸》的B-1型.
3技术要求和试验方法
3.1 电参数应符合参数规范表的规定,电参数的测试方法,应符合SJ 155~170—65《半导体三极管测试方法》的规定。
3.2 hFE不分档。如需分档,按如下规定:
hFE 范 围 |
25~40 |
40~55 |
55~80 |
80~120 |
120~180 |
色 标 |
橙 |
黄 |
绿 |
蓝 |
紫 |
注:允许测试误差为±10%。
3.5环境试验后,按顺序测量下列电参数,反向电流和饱和压降应符合参数规范表的规范值,电流放大系数的相对变化不得超过±20%。
a.反向电流;
b.饱和压降;
c.电流放大系数。
3.4高温贮存和额定功率试验条件:
175℃下进行;b.额定功率试验条件:功率为PCM值,电压矿VCB为lOV。
5.5高温贮存和额定功率试验后,按下列标准考核:
a.Icbo不得大于规范值的两倍;
b.hFF的相对变化,不得超过±35%;
c.VBE(sat)的相对变化,不得超过+20%;
d.VCE(sat)的相对变化,不得超过0.1V+VCE(sat)初,20%;
e.反向击穿电压不得低于规范值。
4 生产单位应在产品说明书、手册或样本中提供下列特性曲线:
a.IB—VBE
b.IC—VCE
c.V(BR)CEO、V(BR)CBO—Ta;
d.hFE—Ta;
e.hFE—Ic;
f. fT—Ic;
g. Gp—Ic;
h. COb—VCB;
i. ICEO、ICBO—Ta。
3DG104型NPN硅外延平面超高频小功率三极管规范
电参数
型号 |
极限参数 |
直流参数 | ||||||||
PCM |
ICM |
ICBO |
ICBO |
IEBO |
VEB(SAT) |
VCE(SAT) |
hFE |
hFE |
V(BR)CBO | |
mW |
mA |
μA |
μA |
μA |
V |
V |
|
|
V | |
3DG104 |
100 |
15 |
≤0.1 |
≤5 |
≤0.1 |
≤0.95 |
≤0.25 |
≥25 |
≥15 |
≥20 |
测试条件 |
|
|
Vcb=10V |
Vcb=10V Ta=125℃ |
Veb=1.5V |
Ib=1mA |
Ic=10mA |
Vce=6V Ic=2mA |
Vce=6V Tc=2mA Ia=55℃ |
Ic=50μA |
试验类别 |
|
JS |
LX |
JS |
C |
JS |
电参 数
型号 |
直流参数 |
交流参数 | |||||||||
V(BR)CEO |
V(BR)EBO |
fT |
Cob |
Gpc |
Fn |
S11 |
LφS11 |
S12 |
LφS12 |
||
V |
V |
GHz |
pF |
dB |
dB |
|
度 |
|
度 |
| |
3DG104 |
≥15 |
≥4 |
1 |
1 |
≥8 |
5 |
0.93 |
-17 |
0.08 |
+50 |
3.4 |
测试条件 |
Ic=50μA |
IE=50μA |
Vcc=6V Ic=2mA f=400MHz |
VCB=10V f=1MHz |
Vcc=6 Ic=2 |
f=400MHz |
VCE=6V Ic=2mA f=100MHz | ||||
试验条件 |
JS |
C |
C |
JS |
C |
C |
续表
电参数
型号 |
交 流 参 数 | ||||||||||
LφS21 |
|
LφS22 |
LφS11 |
LφS12 |
LφS21 |
LφS22 | |||||
度 |
|
度 |
|
度 |
|
度 |
|
度 |
|
度 | |
3DG104 |
+138 |
0.93 |
-13 |
O.43 |
-45 |
0.15 |
+55 |
2 |
+89 |
0.64 |
-24 |
测试条件 |
VCE=6V Ic =2mA f=100MHz |
VCE=6V Ic =2mA f= 400MHz | |||||||||
试验类别 |
C |
1199