SJ 50597.17 94 半导体集成电路JT54LS28、JT54LS37、JT54LS38、JT54LS40型LS TTL缓冲器详细规范2
表3-4 JT54LS40 电测试
|
|
|
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
| |||
|
分组 |
符 号 |
OB3439 |
（若无其他规定，TA =25℃） |
最 小 |
最 大 |
单 位 | ||
|
A1 |
VOH |
2.2条 |
Vcc =4,5V, VIL=0.7V, VIH=2.0V, IOH=1.2mA |
2.5 |
— |
V | ||
|
VOL |
2.5条 |
Vcc =4.5V，VIH=2.0V, IoL= 12mA |
— |
O．4 |
V | |||
|
VIK |
2.1条 |
Vcc =4，SV．被测输入端IIK=-l8mA |
— |
-1.5 |
V | |||
|
II
|
2.11条
|
Vcc =5.5V，被测输入端V1=7.0v． 其余输入端V1=0V。 |
— |
100
|
uA
| |||
|
IIH
|
2.12条
|
Vcc=5.5V，被测输入端V1=2.7V． 其余输入端V1= OV。 |
— |
20
|
uA
| |||
|
IIL
|
2.13条
|
Vcc =5.5V．被测输入端V1= 0.4V， 其余输入端V1=5.5V。 |
— |
-0,4
|
mA
| |||
|
IOS |
2.21条 |
Vcc = 5.5V |
-30 |
-130 |
mA
| |||
|
ICCH |
2.26条 |
Vcc= 5.5V．输入端V1= 0.4V 输出端开路. |
— |
l |
mA | |||
|
ICCL |
2.27条 |
Vcc =5.5V．输入端V1=4.5V |
— |
6 | ||||
|
A2 |
TA==125℃，除VIK不测外，参数、条件、规范值均同A1分组。 | |||||||
|
A3 |
TA=- 55'C，除VIK不测外，参数、条件、规范值均同A1分组。 | |||||||
|
A7 |
Vcc= 5V，按功能表进 |
Vcc= 5V，按功镌表进行。 | ||||||
|
A9 |
tPLH |
3.4条 |
Vcc =5.0V, CL=45pF±10% |
__ |
24 |
| ||
|
tPHL |
3.5索 |
RL =667Ω±5% 见本规范图2 |
__ |
24 |
ns | |||
|
A10 |
tPLH |
3,4条 |
TA= 125℃ |
__ |
3l |
| ||
|
tPHL |
3,5条 |
测试条件同A9分组。 |
__ |
31 |
ns | |||
|
A11 |
TA=-55℃，测试条件、参数和规范值同A10分组。 | |||||||
3.6 标志
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.7 微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第9微电路组（见GJB 597附录E）。
4质量保证规定
4.1 抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应接GIB 597和GIB 548方法5005的规定。
4.2 筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规定进
行筛选。
表4 筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
B1缀器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检 |
2010 |
试验条件B |
2010 |
试验条件B |
|
|
稳定性烘焙 （不要求终点测试）
|
1008
|
试验条件C (温度：l50℃ 时间：24h) |
1008
|
试验条件C (温度：150E 、 时筒：24h) |
|
|
温度循环
|
1010
|
试验条件C
|
1010
|
试验条件C
|
可用方法I011试验条件A替 代。 |
|
恒定加速度
|
2001
|
试验条件E Y1方向 |
2001
|
试验条件D Y1方向 |
试验后进行目检，引线断落、外 亮破裂、封盏脱落为失效。 |
|
中间（老化前）电测试
|
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
由制造厂选捧是否进行。
|
|
老化
|
1015
|
试验条件D (温度：125℃ 时间：160h) |
1015
|
试验条件D (温度：125℃ 时间：160h) |
按本规范图3线路或等效线路。
|
|
中间（老化后）电测 试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
|
|
PDA计算
|
|
5%．本规范A1 分组。当不合格 品率不超过20% 时可重新提交老 化，但只允许一次 |
|
10%，本规范A1 分组。当不合格 品率不超过20% 时可重新提交老 化，但只允许一次 |
若老化前来进行中间电测试，则 老化后中阿电测试AI分组检 出的失效效也应计入IDA内o
|
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
本项筛选后，若改变器件的引线 浍覆或返工．埘应再进行A1和 A7分组试验。 |
|
密封 细检漏
粗检漏 |
lOl4
|
试验条件； At或A2
C1或C2 |
1014
|
试验条件． A1或A2
C1或C2 |
|
|
外部目检 |
2009 |
按规定 |
2009 |
按规定 |
可在发货前按批进行。 |
|
鉴定或质量一致性 检验试验样品的选 取 |
5005
|
3.5条
|
5005
|
3.5条
|
'
|
测试线路 波形图
图2测试线路和渡形图
注:输入脉冲应具有下列特性．
tw=500ns; tt≤15us; tf≤6ns; f≤1MHz.
图3- 1 JT54LS28
图3- 2 JT54LS37
图 3 - 3 JT54LS38
图3-4 JT54LS40
注：①VCC=5.0V；R1=27Ω；R2= lkΩ；R3= 10Ω
②脉冲发生器特性要求：
VIH=2.0～5.5V；VIL=-0.5～0.5V；f=100kHz；占空比q=50%。
4.3 鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本
规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）的规定。
4.4 质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005
和本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1-4.4.4条）的规定。
4,4.1 A组检验．
A组检验应按本规范表5的规定。
电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批时大小时，允许100%
检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
|
LTPD | |
|
试 验
|
B级器件 |
B1级器件 |
|
A1分组 2S℃下静态测试 |
2 |
2 |
|
A2分组 L25℃下静态测试 |
3 |
3 |
|
A3分组 –55℃下静态测试 |
5 |
5 |
|
A7分组 2S℃下功能测试 |
2 |
2 |
|
A9分组 25℃下开关测试 |
2 |
2 |
|
A10分组 125℃下开关测试 |
3 |
— |
|
All分组 一55℃下开关测试 |
S |
— |
4.4.2 B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1～B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 545的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数/（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1 级 器 件 |
或 |
说 啊 | ||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
B1分组 尺寸 |
2016
|
按规定
|
2016
|
按规定
|
2/(0)
|
|
|
B2分组 抗溶性 |
2015
|
按规定
|
2015
|
接规定
|
4/(O)
|
|
|
B3分组 可焊性
|
2022或 2003
|
焊接温度： 245±5℃
|
2022 或 2003 |
焊接温度: 245±5℃
|
15
|
LPTD系对射线数 而言，被试器件教 应多于3个． |
|
1t4分组 内部目检和机械 检查 |
2014
|
按规定
|
2014
|
接规定
|
1(O)
|
|
|
B5分姐 键合强度超声焊
|
2011
|
试验条件C 或D
|
2011
|
试验条件C 或D
|
15
|
可在封装工序前 的内部日检筛选 后，随机抽取样品 进行本分组试t。 |
|
B8分组 (a)电羽试 (b)静电放电灵敏 度等级 (c)电测试 |
GJB 1649
|
A1分组
A1分组 |
|
适用时
|
15/(0)
|
仅在初始鉴定或 产品重新设计时 进行。
|
4.4.3 C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7 C组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求
|
样品数/（接收效） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 |
LTPD | |
|
Cl分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
试验条件D 玻E 温度：125℃ 时间：l000h A1，A2，A3分 组（见本规范 袭2和表3） |
1005
|
试验条件D 或E 温度：125℃ 时间：l000h A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和表3） |
5
|
采用本规范 图3的线路
|
续表7
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方 法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD
| ||
|
C2分组 - 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1010 200l
1014
|
试验条件C 试验条件E YI方向 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1010 的目检判据 A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和表3） |
1010 2001
1014
|
试验条件C 试验条件D Y1方向 试验条件： Al或A2 C1或(22 按方法1010 的目硷刿据 A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和表3） |
15
|
|
|
C3分蛆 125℃下开关测试
|
|
不要求
|
|
A1O分组（见本 规范表2和表 3) |
3
|
|
|
C4分组 -55℃下开关测 试 |
|
不要求
|
|
All分组（见本 规范表2和表 3) |
5
|
|
4.4.4 D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。
表8 D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
Bl 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 |
LTPD
| ||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
15
|
|
|
D2分组 引线牢固性
密封 细检漏 粗检漏 |
2004
1014 |
试验条件B2 (片式载体采 用试验条件D) 试验条件: A1或A2 C1或C2 |
2004
1014 |
试验条件B2 (片式载体采 用试验条件D) 试验条件： A1或A2 C1或C2 |
15
|
|
续表8
|
|
条 件 和 罂 求
|
品数/（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
Bl级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1011
1010
1004
1014
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1004 和1010的目 检判据 A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和表3） |
10ll
ID10
1004
1014
|
试验条件A 15次循环 试验条件C 10次循环 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1004 和1010的目 检判据 A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和表3） |
15
|
BL级器件可按 GB 4590第3.6条． 时间：56d
B1级器件可按 GB 4590第3.6条
|
|
D4分组 机城冲击 变颊振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
2002 2007 2001
1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Y1方向 试验条件； A1或A2 C1或C2 按方法2002 和2007的目 检判据 A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和表3） |
2002 2007 200l
1014
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Y1方向 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法2002 和2007的目 检判据 A1，A2，A3分 组（见本规范 表2和衷3） |
15
|
用于D3分组的 样品可用在D4 分组。
|
|
D5分组 盐雾
|
1009
|
试验条件A 片式载体不要 求引线弯曲应 力的预处理 |
|
适用时 同B级器件
|
15
|
|
续表8
|
|
条件和要求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 |
LTPD
| ||
|
密封 细检漏 粗检漏 目检
|
1014
|
试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1009 的日检判据 |
|
|
|
|
|
D6分组 内部水汽含量
|
lOl8
|
100℃时最大 水汽含量为： 5000ppm
|
|
不要求
|
3/(0) 或5/（1）
|
当试验3个器件出 现1个失效时，可加 试2个器件并且不 失效。 若第一次试验来通 过时，可在鉴定机构 认可的另一试验室 进行第二次试验，若 第二次试验通过，则 该批应被接收。 |
|
D7分组 引线涂覆 坫附强度 |
2025
|
不适用于片式 载体 |
2025
|
不追用于片式 载体 |
15
|
LTPD系对引线数而 言。 |
|
嘣分绢 封盖扭
|
2024
|
仅适用于熔封 的外壳 |
2024
|
仅适用于熔封 的外壳 |
5/（0)
|
|
4.5检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5.1 电压和电流
所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。
4.6 数据报告
当订货合同有规定时，应提供下列数据的副本：
a. 质量一致性检验数据（见本规范4.4条）；
b． 老化期间的电参数分布数据（见本规范3.5条）；
c． 最终电测试数据（见本规范4.2条）。
5 交货准备
5.1 包装要求
包装要求按GJB 597第5.1条的规定。
说明事项
6.1 订货资料
订货合同应规定下列内容：
a．完整的器件编号（见本规范1.3.1条）；
b．需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求；
c．需要时，对合格证书的要求；
d．需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求；
e．需要时，对失效分析（包括GJB 548方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提
供报告的要求；
f．对产品保证选择的要求；
g．需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求；
h．对认证标志的要求；
1．需要时，其他要求。
6.2缩写词、符号和定义
本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB 597、GB 3431.1和GB 3431.2的规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器
件。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口；
本规范由北京八七八厂起草；
本规范主要起草人：孙人杰；
计划项目代号；B210320
1028
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