SJ 50597.18 94 半导体集成电路JT54LS33型LS TTL四2输人或非门0C详细规范
半导体集成电路
JT54LS33型LS-TTL四2输人或
0C)详细规范
1 范围
1.1 主题内容
本规范规定了半导体集成电路JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)（以下简称器
件）的详细要求。
1.2 适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3 分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。
1.3.1 器件编号
器件编号应按GJB 597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。
1.3.1.1 器件型号
器件型号如下：
|
器 件 型 号 |
器 件 名 称 |
|
|
JT54LS33 |
四2输入或非门 |
(()C) |
1.3.1.2 器件等级
器件等级应为GJB 597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B1级。
1.3.1.3 封装形式
封装形式按GB 7092(半导体集成电路外形尺寸》的规定。
封装形式如下：
|
类 型 |
外 形 代 号 |
|
C |
C20P3（陶瓷无引线片式载体封装） |
|
D |
DI6S3(陶瓷双列封牧) |
|
F |
FI6X2(陶瓷扁平封装) |
|
H |
H16X2（陶瓷熔封扁平封装） |
|
J |
J1653（陶瓷熔封双殉封墟） |
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下；
|
|
|
数 值 |
| |
|
项 目 |
符 号 |
最 小 |
最 大 |
单 位 |
|
电源电压 |
Vcc |
-0.5 |
7,0 |
V |
|
输入电压 |
Vt |
--1.5 |
7.O |
V |
|
贮存温度 |
Ts |
--65 |
150 |
C |
|
功耗1) |
Pn |
|
97 |
mW |
|
引线耐焊接温度(IOS) |
Th |
|
300 |
C |
|
结温 |
Tj |
|
175 |
C |
注:1）器件应能经受测试输出短路电流（Ios）时所增加的功耗。
2)除按GJB 548(徽电子器件试验方法和程序》方法5004老化筛选条件外,不得超过最大结温。
1.5 推荐工作条件
推荐工作条件如下：
|
|
|
数 值 |
| |
|
项 目 |
符 号 |
最 小 |
最 大 |
单 位 |
|
电源电压 |
Vcc |
4.5 |
5.5 |
V |
|
输入高电平电压 |
VIH |
2,0 |
|
V |
|
输入低电平电压 |
VIL |
_ |
0.7 |
V |
|
输出低电平电流 |
IOL |
_ |
12 |
mA |
|
工作环境温度 |
TA |
-55 |
125 |
C |
2引用文件
GB 3431.1--82 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
GB 3431.2--86 半导体集成电路文字符号引出端功能符号
GB 3439--82 半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理
GB 4590--84 半导体集成电路机械和气候试验方法
GB 4728,12--85 电气图用图形符号 二进制逻辑单元
GB/T 7092--93 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548--88 微电子器件试验方法和程序
GJB 597—88 微电路总规范
GJB 1649--93 电子产品防静电放电控制大纲
3 要求
3.1 详细要求
各项要求应按GJB 597和本规范的规定。
本规范规定的B1级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项目和
要求不同于B级器件。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸按GJB 579和本规范的规定。
3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻辑符号、逻辑罔符合GB 4728. 12
的规定．引出端排列为俯视图。
图l 逻辑符号、逻辑图和引出端排列
注：F、H、J型封装的引出端捧列同D型封装。
3.2.2 功能表
功能表如下：
a． JT54LS33
|
输 入 |
输 出 |
|
A B |
Y |
|
L L |
H |
|
H L |
L |
|
L H |
L |
|
H H |
L |
|
H 高电平 |
L 低电平 |
3.2.3 电路图
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图由鉴定机构存档备查。
3.2.4 封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。
3.3 引线材料和涂覆
3.4 电特性
电特性应符合表1的规定
表1 JT54LS33 电特征
|
|
|
条 件1) |
规 范 值 |
| |
|
特 性 |
符号 |
（若无其他规定，--55≤TA≤125℃ |
最小 |
最大 |
单位 |
|
输出高电平电压 |
Io（OFF) |
Vcc-= 4.5V,Vo= 5.5V VIL= O.7V,VIH=2.OV |
- |
250 |
uA |
|
输出低电平电压 |
VOL |
Vcc= 4.5V,lcL = 12mA VIL=O.7V,VIL = 2.0V |
- |
0.4 |
V |
|
输入钳位电压 |
VIK |
Vcc=4.5V,Ilx= -18mA TA=25C |
- |
一1.5 |
V
|
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc=5.5V, V1 =2.7V |
- |
20 |
uA |
|
最大输入电压下的输 入电流 |
I1 |
Vcc= 5.5V V1=7.OV |
- |
100 |
uA |
|
输入低电平电流 |
IIL |
Vcc=5.5V, V1=0.4V |
- |
-0.4 |
mA |
|
电源电流 |
ICCL |
Vcc=5.5V, V1=4.5V |
- |
13,8 |
mA |
|
输出由低电平到高电 乎传输延迟时间 |
IPLH |
Vcc =5.OV, CL=45pF 士10% RL=667Ω士5% |
|
42
|
ns
|
|
输出由高电平到低电 平传输礁迟时间 |
TPHL |
Vcc=5.OV,CL=45pF 士10% RL=667Ω士5% |
- |
36 |
ns
|
注：完整的测试条件列于表3．
3.5电试验要求
器件的电试验要求应为本规范袭2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。
表2电试验要求
|
|
分 组（见表3） | |
|
项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
|
中间（老化前）电测试 |
A1 |
A1 |
|
中间（老化后）电测试 |
A11) |
A11) |
|
最终电测试 |
A2,A3,A7,A9 |
A2，A,A7，A9 |
|
A组试验要求 |
A1，A2，A3，AT，A9，A1，,A11 |
A1，A2，A3，A7，A9 |
|
C组终点电洳试 |
A1，A2，A3 |
A1，A2，A3 |
|
C组检验增加的分组 |
不要求 |
A1O，A11 |
|
D组终点电测试 |
A1，A2，A3 |
A1，A2,，3 |
注:1）该分组要求PDA计算（见本规范第4.2条）．
表3 JT54LS33 电测试
|
|
|
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
| |||||
|
分组 |
符号 |
GB 3439 |
(若无其他规定，TA=25℃) |
最小 |
最大 |
单位 | ||||
|
Al
|
Io(Off) |
2.22条
|
Vcc =4.5V,Va= O.7V,VIH=2.OV Vo = 5.5V |
- |
250
|
| ||||
|
VOL
|
2.5条
|
Vcc=4.5V,VIH=2.OV,VIL=O.7V, IOL=12mA |
- |
O.4
|
V
| |||||
|
Vih |
2.1条 |
Vcc=4.5V，被测输入端，IIK=-18mA |
- |
-1.5 |
V | |||||
|
I1
|
2.11条
|
Vcc=5.5V，被测输入端V1=7.OV， 其余输入端V1=OV． |
- |
100
|
| |||||
|
IIH
|
2.12条
|
VCC=5.5V，被测输入端V1=2.7V 其余输入端V1=OV． |
- |
2O
|
| |||||
|
IIL
|
2.l3条
|
Vcc=5.5V，被测输入端V1=0.4V， 其余输入端V1=5.5V。 |
- |
--0.4
|
mA
| |||||
|
ICCL
|
2.27条
|
Vcc=5.5V，A输入端V1= 0V． B输入端V1=4.5V，输出端开路． |
- |
13,8
|
mA
| |||||
|
A2 |
TA=125 C,除VIK不测外．参数、条件、规范值均同A1分组． | |||||||||
|
A3 |
TA=—55 C,除VIK不测外，参数，条件、规范值均同A1分组。 | |||||||||
|
A7 |
Vcc=5V,接功能表进行． | |||||||||
|
A9 |
tPLH |
3.4条 |
Vcc= 5.0V,CL= 45Pf±10% |
|
32 |
| ||||
|
tPHL |
3.5条 |
RL=667Ω士5% 见本规范围2 |
|
28 |
ns
| |||||
|
A10 |
tpLH |
3.4条 |
TA=125C |
|
42 |
| ||||
|
tpHL |
3.5条 |
测试条件同A9分组。 |
|
36 |
ns | |||||
|
A1) |
TA=-55C,测试条件、参数和规范值同A1O分组． | |||||||||
图2测试线路和波形图
注:输入脉冲应具有下列特性1tw=500ns；t1≤15ns;t1≤6ns;f≤1MHz．
3.6 标志
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.7 微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第9微电路组（见GJB 597附录E）。
4 质量保证规定
4.1 抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定
4.2 筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全都器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规定进
行筛选。
表4 筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条件和要求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部日检 |
2010 |
试验条件B |
2010 |
试验条件B |
|
|
稳定性烘烙 （不要求终 点电测试） |
1008
|
试验条件C (温度:1SO℃ 时间:24h) |
1008
|
试验条件C (温度:150℃ 时间；24h） |
．
|
|
温度循环
|
1010
|
试验条件C
|
1010
|
试验条件C
|
可用方法1011试验条件A替 代。 |
|
恒定加速皮
|
200l
|
试验条件E． Y1方向 |
2001
|
试验条件D． Y1方向 |
试验后进行目检，引线断落、 外壳破裂、封盖脱落为失效． |
|
中间（老化 莳）电测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A3分组
|
由制造厂选择是否进行
|
续表 4
|
|
条 件 和 要 求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
老 化
|
1015
|
试验条件D (温度:125℃ 时间:l60h) |
1015
|
试验条件D (温度:125℃ 时间:160h) |
接本规范围3线路或等效线路，
|
|
中间（老化 后）电测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
|
|
PDA计算
|
|
5%，本规范A1 分组．当不合格 品率不超 过 20％时可重新 提交老化，但只 允许一次 |
|
10%,本规范 A1分组。当不 舍格品率不超 过20% 时可重 新提交老化，但 只允许一次 |
若老化前未进行巾闻电测试，则 老化后中间电测试A1分组检出 的失效数也应讦入PDA内。
|
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3 A7、A9分组
|
|
本规范A2、A3 A7、A9分组
|
本项筛选后，若改变器件的引线 涂覆或返工，则应再进行A1和 A7分组试验。 |
|
密封 细检满 粗检漏 |
1014
|
试验条件t A1或A2 CI或C2 |
1014
|
试验条件： A1或A2 C1或C2 |
|
|
外部目检 |
2009 |
按规定 |
2009 |
接规定 |
可在发货前按批进行。 |
|
鉴定试验或质 量一致性检验 试验样品的选 取 |
5005
|
3.5条
|
5005
|
3.5条
|
|
图3老化和寿命试验线路图
②脉冲发生器特性要求：
4.3 鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规
范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.l～4.4.4条）的规定。
4.4 质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005
和本规范A、B．C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验应按本规范衷5的规定。
电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范衷3的规定。
备分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超越批的欠小时，允许l00%检
验.各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
|
LTPD | |
|
试 验
|
B级器件 |
B1级器件 |
|
A1分组
25℃下静态测试 |
2
|
2
|
|
A2分组
125℃下静态沁试 |
3
|
3
|
|
A3分组
-55℃下静态测试 |
5
|
5
|
|
A7分组
25℃下功能测试 |
2
|
2
|
|
A9分组
35"C下开关测试 |
2
|
2
|
|
A1O分组
125℃下开关测试 |
3
|
|
|
A11分组
-55℃下开关测试 |
5
|
-- |
4.4.2 B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1～B5分组可用同一榆验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其他规定，衷中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数/（接收数） |
| |||
|
试 验
|
B级器件 |
Bl级器件 |
或 |
说 明
| ||
|
方 法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
B1分组 尺 寸 |
2016
|
按规定
|
2016
|
接规定
|
2/(0)
|
|
|
B2分组 抗溶性 |
2015
|
按规定
|
2015
|
按规定
|
4/(0) ．
|
|
|
B3分组 可焊性
|
2022 或 2003 |
焊接湿度： 245士5C
|
2022
|
焊接温度： 245士5C
|
i5
|
LPDT系对引线数 而言，被试器件数应 多于3个。 |
|
B4分组 内部目检和机 械检查 |
2014
|
按规定
|
2014
|
按规定
|
l/(0)
|
|
|
B5分组 键合强度 超声焊
|
2011
|
试验条件C 或D
|
201l
|
试验条件C 或D
|
15
|
可在封装工序前的 内部目检筛选后，随 机抽取样品进行本 分组试验 |
|
B8分分组 (a)电测试 (b)静电放电员 敏度等级 (c)电测试 |
GJB 1649
|
A1分组
A1分组
|
|
适用时
|
15/(0)
|
仅在初始鉴定或产 品重新设计时进行。
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7 C组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
C1分组 稳态寿俞
终点电测试 |
1005
|
试验条件D 或E 温度:125C 时间:1000h A1,A2,A3分 |
1005
|
试验条件D 或E 温度：125C 时间:1000h A1,A2，A3分 |
5
|
采用本规范 图3的线路
|
续表7
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
|
|
组（见本规范 表2和表3） |
|
组（见本规范 表2和表3） |
|
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1010 2001
1014
|
试验条件C 试验条件E Yl方向 试验条件t A1或A2 Cl或C2 按方法I010 的目检判据 A1，A2，A3分 组（见本规 范表2和表 3) |
1010 2001
1014
|
试验条件C 试验条件D Y1方向 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方溘1010 的目检判据 A1，A2,A3分 组（见本规 范表2和衷 3) |
15
|
|
|
C3分组 125℃下开关测试 |
|
不要求
|
|
A1O分组（见本规 范表2和表3） |
3
|
|
|
C4分组 -55℃下开关 测试 |
|
不耍求
|
|
A11分组（见本规 范表2和表3） |
5
|
|
4.4.4 D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。
表8 D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收敛） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
Bl 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
15
|
|
|
D2分组 引线牢固性
|
2004
|
试验条件 B2（片式 |
2004
|
试睑条件 B2（片式 |
15
|
|
续表8
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
密封 细检精 粗检漏 |
1014
|
裁体采用试 验条件D） 试验条件； A1或A2 C l或C2 |
1014
|
载体采用试 验条件D） 试验条件： A1或A2 C1或C2 |
15
|
|
|
D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 细检漏 粗检漏 目 检
终点电测试
|
1011
1010
1004
lOl4
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环 片状载体不 要求引线弯 曲应力的狈 处理 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法lO04 和1010的目 检判据 A1，A2 ,A3分 组（见本规 范表2和表 3） |
1011
1010
1004
lOl4
|
试验条件A 15次循环 试验条件C 10次循环 片状载体不 安求引线弯 曲应力的预 处理 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1004 和1010的目 检判据 Al，A2，A3分 组（见本规 范表2和表 3) |
15
|
B1 级器件可 按GB 4.590第 3.6条 时间：56d
B1 级器件可 按GB 4590 第3.6条
|
|
D4分组 机械冲击 变额振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
2002 2007 2001
1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Yl方向 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法2002 和2007的目 检判据 A1，A2，A3分 组（见本规 范表2棚表 3) |
2002 2D07 2001
lOl4
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Y1方向 试验条件t A1或A2 C1或C2 接方法2002 和2007的目 检判据 A1，A2，A3分 组（见本规 范表2和表 3） |
15
|
用于D3分 组的样品可 用在D4分 组。
|
续表8
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数/（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
D5分组 盐雾
密封 细检精 粗检漏 目 检
|
1009
1014
|
试验条件A 片式载体不 要求引线弯 曲应力的顼 处理 试验条件： A1或A2 C1戒C2 接方法ICQS 的日检判据 |
|
适用时 同B级器件
|
1 5
|
|
|
D6分组 内部水汽 含岂
|
lOl8
|
100℃时最 大水汽含量 为:5000ppm
|
|
不要求
|
3/(0)
5/(1)
|
当试验3个器 件出现1个失 效时，可加试2 个器件亲且不 失效。 若第一次杖验 未通过时，可在 鉴定机构认可 的另一试验室 进行第二次试 验，若第二吹试． 验通过，则该批 应被接收。 |
|
D7分组 引线涂覆 牯附强度 |
2025
|
不适用于片 式载体 |
2025
|
不适用于片式载体 |
15
|
LTPD系对引 线数面言。 |
|
D8分组
封益扭矩
|
2024
|
仅适用于熔封的
外竞 |
2024
|
仅适用于熔封的
外亮 |
5/(0)
|
|
4.5 检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5.1 电压和电流
所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。
4.6 数据报告
当订货合同有规定时，应提供下列数据的副本：
a． 质量一致性检验数据（见本规范4.4条）；
b． 老化期间的电参数分布数据（见本规范3.5条）；
c． 最终电测试数据（见本规范4.2条）。
5 交货准备
5.1 包装要求
包装要求按GJB 597第5.1条的规定。
6 说明事项
6.1订货资料
订货合同应规定下列内容：
a． 完整的器件编号（见本规范1.3.1条）；
b． 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求；
c． 需要时，对合格证书的要求；
d． 需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求；
e． 需要时，对失效分析（包括GJB 548方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提
供报告的要求；
f． 对产品保证选择的要求；
g． 需要时，对特殊裁体，引线长度或引线形式的要求；
h． 对认证标志的要求，
j． 需要时，其他要求。
6.2 缩写词、符号和定义
本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB 597、GB 3431.1和GB 3431.2的规定。
6.3 替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器
件。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口;
本规范由北京八七八厂起草。
本规范主要起草人：孙人杰。
计划项目代号：B21033。
1206
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