SJ 50597.19 94 半导体集成电路JT54LS136型LS TTL四异或门OC详细规范
半导体集成电路
JT54LS136型LS-TTL四异
或门(OC)详细规范
1 范围
1.1 主题内容
本规范规定了半导体集成电路JT54LS136型LS-TTL四异或门(OC)（以下简称器件）的
详细要求。
1.2 适用范围
本规范适用于器件的研制，生产和采购。
1.3 分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。
1.3.1 器件编号器件编号应按GJB 597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。
1.3.1.1 器件型号
器件型号如下．
|
器 件 型 号 |
器 件 名 称 |
|
JT54LS136 |
四异或门(OC) |
1.3.1.2 器件等级
器件等级应为GJB 597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B1级。
1.3.1.3 封装形式
封装形式按GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》的规定．
封装形式如下：
|
类 型 |
外形代号 |
|
C |
C20P3（陶瓷无引线片式载体封装） |
|
D |
D16S3(陶瓷双列封装) |
|
F |
F16X2盘（陶瓷扁平封装） |
|
H |
H16X2（陶瓷熔封扁平封装） |
|
J |
J16S3(陶瓷熔封双列封装) |
1.4 绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
|
|
|
数 值 |
| |
|
项 目 |
符 号 |
最 小 |
最 大 |
单 位 |
|
电源电压 |
Vcc |
-0.5 |
7.0 |
V |
|
输入电压 |
V1 |
-1.5 |
7.0 |
V |
|
贮存温度 |
T3 |
-65 |
150 |
℃ |
|
功耗¨ |
PD |
_ |
70 |
lnW |
|
引线耐焊接温度(los) |
Th |
|
300 |
mW |
|
结温” |
TA |
_ |
175 |
℃ |
注:(l）器件应能经受测试输出短路电流(hid时所增加的功耗．
2)除按GJB 548(微电子器件试验方法和程序》方法5004老化筛选条件外，不得超过最大结滠。
1.5 推荐工作条件
推荐工作条件如下；
|
|
|
数 值 |
| |
|
项 甘 |
符 号 |
最 小 |
最 人 |
单 位 |
|
电源电压 |
Vcc |
4.5 |
5.5 |
V |
|
输入高电平电压 |
VIH |
2.O |
- - |
V |
|
输入低电平电压 |
VIL |
|
0.7 |
V |
|
输出低电平电流 |
IoL |
- - |
4 |
mA |
|
工作环境温度 |
TA |
一55 |
125 |
℃ |
2 引用文件
GB 3431.1--82 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
GB 3431.2--86 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB 3439--82 半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理
GB 4590--84 半导体集成电路机械和气候试验方法
GB 4728.12--85 电气图用图形符号 二进制逻辑单元
GB/T 7092--93 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548--88 微电子器件试验方法和程序
GJB 597--88 微电路总规范
GJB 1649--93 电子产品防静电放电控制大纲
3 要求
3.1 详细要求
各项要求应按GJB 597和本规范的规定。
本规范规定的B1级器件仪在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项目和
要求不同于B级器件。
3.2 设计、结构和外形尺寸
设计，结构和外形尺寸按GJB 597和本规范的规定。
3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻辑符号、逻辑图符合GB 4728.12
的规定，引出端排列为俯视图。
逻辑符号 逻辑图(1/4)
(C型)
引出端排列
（D型）
图1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
注:F、H、J型封装引出端排列同D型。
3.2.2 功能表
功能表如下：
|
输 |
入 |
输 出 |
|
A |
B |
Y |
|
L |
L |
L |
|
H |
L |
H |
|
L |
H |
H |
|
H |
H |
L |
H 高电平 T． 低电平
3.2.3 电路图
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图由鉴定机构存档备查。
3.2.4 封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。
3.3 引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB 597第3.5.6条的规定。
3.4 电特性
电特性应符合表1的规定
表l JT54I.S136 电特性
|
|
|
条 件 |
规范值 |
| |
|
特 性
|
符 号
|
(若无其他规定，-55≤TA≤l25℃) |
最 小 |
最 大 |
单 位
|
|
输出截止态电流
|
Io(off)
|
Vcc =4.5V, Vo--5.5V VIL=0.7V, VIH=2.0V |
_ |
100
|
uA
|
|
输出低电平电压
|
VOL
|
Vcc =4.5V, Iol=12mA VIL=0.7V |
_ |
0.4
|
V
|
|
输入钳位电压
|
VIk
|
Vcc = 4.5V, IIK = -18mA TA=25℃ |
_ |
-1.5
|
V
|
|
输入高电平电流 |
IIH |
Vcc=5.5V, V1=2.7V |
_ |
40 |
uA |
|
最大输入电压下的输入 电流 |
IJ
|
Vcc=5.5V V1=7.0V |
_ |
200
|
uA
|
|
输入低电平电流 |
LJL |
Vcc =5.5V,V1=0.4V |
_ |
-0.8 |
mA |
|
电源电流 |
ICC |
Vcc=5.5V, |
_ |
10 |
mA |
|
输出由低电平到高电 平传输延迟时间 |
tPIH
|
Vcc =5.0V, CL=15Pf±10% RL=2kΩ±5% |
_ |
40
|
ns
|
|
输出由高电平到低电 平传输延迟时间 |
tPHL
|
Vcc=5.0V, CL =15pF±10% RL=-2kΩ±5% |
_ |
40
|
ns |
注：1）完整的测试条件列于表3。
3.5 电试验要求
器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。
表2 电试验要求
|
|
分 组（见衷3） | |
|
项 目 |
B缀器件 |
Bl级器件 |
|
中间（老化前）电测试 |
Al |
Al |
|
中间（老化后）电测试 |
A1” |
A1¨ |
|
最终电测试 |
A2,A3,A7,A9 |
A2,A3,A7,A9 |
|
A组试验要求 |
AI ,A2,A3,A7,A9,AI0,A11 |
A1,A2,A3,AT,A9 |
|
C组终点电测试 |
AI,A2,A3 |
AI,A2,A3 |
|
C组检验增加的分组 |
不要求 |
AIO,A11 |
|
D组终点电测试 |
A1,A2,A3 |
A1,A2,A3 |
注：1）该分组要求PDA计算（见本规范第4.2条）．
表3 JT54LS136 电测试
|
|
符号 |
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
单位 | |
|
分组 |
GB 3439 |
（若无其他规定，TA=25`C） |
最小 |
最大 | ||
|
A1
|
TO(0FF) |
2.22 条
|
Vcc= 4.5V ,VIH:= 2.OV,Vn.= O.7V Vo = 5.5V |
-- |
100
|
pA
|
|
VoL
|
2.5 条
|
Vcc=4.5V,VIH= 2.0V,VIE,= 0.7V, VOL.= 4mA |
- |
0.4
|
V
| |
|
VlK |
2.1 条 |
Vcc=4.5V，被测输入端I1K= -l8mA |
-- |
—1.5 |
V | |
|
I1 |
2.11 条
|
Vcc=5.5V，被测输入端V1 = 0.7V， 其余输入端VI=OV。 |
|
200
|
uA
| |
|
IIH
|
2.12 条
|
Vcc=5.5V，被测输入端Vr = 2.7V 其余输入端V1 = OV． |
-- |
40
|
uA
| |
|
In
|
2.13 条
|
Vcc=5.5V，被测输入端V1 = -0.4V． 其余输入端V1=5.5V。 |
-- |
--0.8
|
mA
| |
|
IccL |
2.25 条
|
Vcc=5.5V，A输入端V1 = 0V． B输入端V1= 4.5V．输出端开路。 |
|
10
|
mA
| |
|
A2 |
TA=125C，除VIK不测外，参数，条件、规范值均同A1分组． | |||||
|
A3 |
TA=一55C,除VlK不测外，参数、条件、规范值均同A1分组。 | |||||
|
A7 |
按功能亵进行。 | |||||
|
A9 |
LPIH |
3.4条 |
Vcc=5.OV,CL= 15pF土10% |
-- |
30 |
|
|
LPHL |
3.5条 |
RL=2kΩ±5% 见本规范图2 |
-- |
30 |
ns
| |
|
A10 |
LPLH |
3.4条 |
TA=125C |
-- |
40 |
|
|
lPHI |
3.5条 |
测试条件同A9分组。 |
-- |
40 |
ns | |
|
A11 |
TA= -55℃，测试条件、参数和规范值同A10分组。 | |||||
图2 开关测试线路和波形图
注:脉冲发生器应具有下列特性：
tW=500ns；t1=15ns；tf=6ns；f≤1MHZ
3.6 标志
标志应按qB 597第3.6条的规定。
3.7 微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第8微电路组（见GJB 597附录E）。
4 质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽桴和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定
4.2 筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表《的规定进
行筛选。
表4 筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方
|
筛选项目 |
条 件 和 要 求 |
说 明 | |||
|
B 级 器 件 |
B1级 器 件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部项目 |
2010 |
试验条件B |
2010 |
试验条件B |
|
|
稳定性烘培 |
1008 |
试验条件C |
1008 |
试验条件C |
|
|
（不要求终 |
|
(温度：150℃ |
|
(温度：150℃ | |
|
点电测试） |
时间：24h) |
时间：24h) | |||
|
温度循环 |
1010 |
试验条件C |
1010 |
试验条件C |
可用方法1001试验条件A替 |
|
|
|
|
代 | ||
|
恒定加速度 |
2001 |
试验条件E, |
2001 |
试验条件D, |
试验后进行目检，引线段落 |
|
|
Y1方向 |
Y1方向 |
外壳破裂，封盖脱落为失败 | ||
续表4
|
|
条 件 和 要 求 |
| |||
|
筛选项目 |
B 级，器 件 |
B1 级 器 件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
中间（老化 前）电测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
由制造厂选择是否进行
|
|
老化
|
1015
|
试验条件D <温度,125℃ 时间}160h) |
IOI5
|
试验条件D （温度：125 C 时问,l6Oh） |
接本规范图3线路或等效线 路。
|
|
中间（老化 后）电测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
|
|
PDA计算
|
|
5%．本规范A1 分组。当不合格 品率不超过 20%时可重新 提交老化，但其 允许一次 |
|
10%．本规范 A1分组。当不 合格品率不超 过20%时可重 新提交老化，但 只允许一次 |
若老化前未进行中间电测汉， 则老化后中问电测试A1分组 检出的失效数也应计入PDA 内，
|
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3 A7、A9分组
|
|
本规范A2、A3 A7、A9分组
|
本项筛选后，若改变器件的引 线涂覆或返工，则应再进行 A1和A7分组试验。 |
|
密封 细检漏 租检漏 |
1014
|
试验条件． A1或A2 C1或C2 |
1014
|
试验条件． A1或A2 C1或C2 |
|
|
外部目检 |
2009 |
接规定 |
2009 |
按规定 |
可在发货前按批进行。 |
|
鉴定或质量 一致性检验 试验样品的 选取 |
5005
|
3.5条
|
5005
|
3.5条
|
|
图3老化线路和寿命试验线路图
注:①Vcc= 5.0V; Rl=10Ω; R2=lkΩ；R1=27Ω。
②脉冲发生器特性要求：
VIH= 2.0～5.5V;Vn= -0.5～0.7V;f=l00kHz；占空比q=50%。
4.3 鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规
范A、B、C和D．组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）的规定。
4.4 质世一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005
和本规范A、B、C和D纽检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）的规定。‘
4.4.1 A组榆验
A组检验应按本规范表5的规定。
电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。
锯分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样率大小超过批的大小时．允许100%检
验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
试 验 |
LTPD | |
|
B级器件 |
B1级器件 | |
|
A1分组 25℃．下静态测试 |
2
|
2
|
|
A2分组 125℃下静态测试 |
3
|
3
|
|
A3分组 一55℃下静态测试 ‘ |
5 |
5 |
|
A7分组 25℃下功能测试 |
2 |
2 |
|
A9分组 25℃下开关测试 |
2 |
2 |
|
A10分组 25℃下开关测试 |
3
|
－ |
|
Al1分组 -55℃下开关测试 |
5
|
－ |
4.4.2 B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1～B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
BI级器件 |
或 |
说 明 | ||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 |
LTPD
|
| |
|
B1分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
2/(0) |
|
|
B2分组 扰溶性 |
2015 |
按规定 |
2015 |
按规定 |
4/(O) |
|
|
B3分组 可焊性
|
2022 或 2003 |
焊接温度： 245士5℃ |
2022 或 2003 |
焊接温度； 245士5℃ |
15
|
LPTD系对引线数 而盲，被试器件数应 多于3个。 |
|
B4分组 内部目检和机 械检查 |
2014
|
按规定
|
2014
|
按规定
|
1/(0)
|
|
|
B5分组 键台强度 超声焊
|
2011
|
试验条件C 或D
|
2011
|
试验条件C 或D
|
15
|
可在封装工序前的 内部目检筛选后．随 机抽取样品进行本 分组试验 |
|
B8分分组 (a)电测试 (b)静电放电晃 敏度等级 (c)电测试 |
GJB 1649
|
A1分组
A1分组 |
|
适用时
|
15/(O)
|
仅在初始鉴定或产 品重新设计时进行．
|
4.4,3 C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7 C组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要求 |
样品敷/（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
Bl 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方 法 |
条 件 |
方 法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
Cl分组 稳态寿命
绻点电测试 |
L005
|
试验条件D 或E 温度：125℃ 时间：1000h A1,A2, A3分 |
1005
|
试验条件D 或E 温度：125℃ 时间：l000h A1，A2．A3分 |
5
|
采用本规范 图3的线路
|
续表7
|
|
条 件 和 要 求
|
样品数/（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
|
|
组（见本规 范表2和表3） |
|
组（见本规 范表2和袭3） |
|
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速魔
密封 细检滑 粗捡滑 目检
终点电测试
|
1010 2001
lOl4
|
试验条件C 试验条件E Y1方向 试验条件。 A1或A2 C1或C2 按方法I010 的目检判据 A1 ,A2,A3分 组（见本规 范表2和表3） |
1010 2001 1014
|
试验条件C 试验条件D Y1方向 试验条件， A1或A2 C1或C2 按方法1010 的目检翔据 A1,A2,A3分 组（见本规 范表2和表3) |
15
|
|
|
C3分组 125℃下开关测
试 |
|
不要求
|
|
AIO分组（见本规
范表2和表3） |
3
|
|
|
C4分组 一55℃下开关 测试 |
|
不要求
|
|
All分组（见本规 范表2和表3）
|
5
|
|
4.4.4 D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
DI,D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。
表8 D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
|
条 件 和 要 求
|
样品数／（接收效） |
| |||
|
试 验 |
B 缓 器 件 |
Bl级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
15 |
|
|
D2分组 引线牢固性
|
2004
|
试验条件 B2（片式 载体采用试 |
2004
|
试验条件 B2（片式 载体采用试 |
|
|
续表8
|
|
条 件 和 要 求
|
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
Bl级器件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
密封 细榱漏 粗检漏 |
1014
|
验条件D） 试验条件： A1或A2 C1或C2 |
1014
|
验条件D） 试验条件： A1或A2 C1或C2 |
|
|
|
D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 ． 细检漏 粗检漏 目 检
终点电测试
|
1011
1010
1004
1014
|
试验条件B 15次循环 试验条伴C 100次循环 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1004 和1010的目 检判据 A1 ,A2,A3分 组（见本规 范表2和表3） |
1)10
1 )04
|
试验条件A 15次循环 试验条件C 10次循环 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理 试验条件： A1或A2 C1或C2 接方法1004 和l010的目 检判据 A1,A2,A3分 组（见本觌 范表2和表3） |
15
|
B：级器件可 按GB 4590第 3.6条 时间：56d
B1级器件可 按GB 4590 第3.6条
|
|
D4分组 机械冲击 变额振动 恒定加速度
密封 细检漏 枫检漏 目检
终点电测试
|
2002 2007 2001
1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Y1方向 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法2002 和2007的目 检判据 A1,A2，A3分 组（见本规 范表2和表3） |
2002 2007 200I
1014
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Yl方向 试验条件； A1或A2 C1或C2 按方法2002 和2007的目 检判据 A1 ,A2，A3分 组（见本规 范表2和袁3） |
15
|
用于D3分 组的样品可 用在D4分 组．
|
|
D5分组 盐雾
|
1009
|
试验条件A 片式载体不要求 |
|
适用时 同B级器件
|
15
|
|
续表8
|
|
条 件 和 要 求
|
样品数／（接收数） |
| |||
|
试 验 |
B 级 器 件 |
B1 级 器 件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD | ||
|
密封 细检漏 租检漏 目检
|
1014
|
引线弯曲应力的 预处理 试验条件． AI或A2 cl或c2 按方法1009 的目检判掘 |
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D6分组 内部水汽 含量
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1018
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100℃时最 大水汽音量 为：5OOOppm
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不要求
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3/(0) 或 5／(D
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当试验3个器 件出现1个失 效时，可加试2 十器件并且不 失效。 若第一次试验 未通过时，可在 鉴定机构认可 的另一试验窒 进行第二次试 验，若第二次试 验通过，则浚批 应被接收。 |
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D7分组 引线涂曩 牿附强度 |
2025
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不适用于片 式载体 |
2025
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不适用于片式载 体 |
15
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LTPD 系 对 引
线数而言。 |
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DS分组 封盖扭矩
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2024
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仅适用于熔封的 外壳 |
2024
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． ． 仅适用于熔封的 外壳 |
5/(0)
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4.5 检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5.1电压和电流
所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。
4.6 数据报告
当订货合同有规定时，应提供下列数据的副本。
a． 质量一致性检验数据（见本规范4.4条）；
b． 老化期间的电参数分布数据<见本规范3.5条）；
c． 最终电测试数据（见本规范4.2条）。
5 交货准备
5.1包装要求
包装要求按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1 订货资料
订货合同应规定下列内容：
a． 完整的器件编号（见本规范1.3.1条）；
b． 荫要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质地--致性数据的要求；
c． 需要时，对合格证书的要求；
d． 需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求；
e． 需要时，对失效分析（包括GJB 548方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提
供报告的要求；
f． 对产品保证选择的要求；
g． 需要时．对特殊载体、引线长度或引线形式的要求；
h． 对认证标志的要求；
I． 需要时，其他要求。
6.2 缩写词、符号和定义
本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB 597、GB 3431.1和GB 3431.2的规定。
6.3 替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许甩普通工业用器件替代军用器
件。
附加说明，
本规范由中国电子技术标准化研饨所归口；
本规范由北京八七八厂起草。
本规范主要起草人：孙人杰。
汁划项目代号；B21033。
1332
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