SJ 50597 50 97 半导体集成电路 JT54F74型FTTL双上升沿D 触发器详细规范2
鉴定和质量一致性检验中，承制方可采用GJB 597A附录C结构相似性程序，但需经鉴定机构
批准。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548A方法5004A和本规范表4
的规定进行筛选。
表4筛选
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548A的试验方法。
|
|
条件和要求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
BI级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
|
内部目检 （封装前） |
2010A |
试验条件B |
2010A |
试验条件B |
|
|
稳定性烘焙 （不要求终点 电测试） |
1008A
|
试验条件C 温度zlSO℃ 时间：24h |
1008A
|
试验条件C 温度：150℃ 时间24h |
|
|
温度循环 |
IOIOA |
试验条件C |
IOIOA |
试验条件C |
可用方法IOllA试 验条件A替代。 |
|
恒定加速度
|
2001A
|
试验条件E
YI方向 |
2001A
|
试验条件D
YI方向 |
试验后进行目检， 引线断落，外壳破 裂，封盖脱落为失效。 |
|
中间（老练前） 电测试 |
|
本规范AI 分组 |
|
本规范AI 分组 |
电承制方选择是否 进行。 |
|
老炼
|
1015A
|
试验条件D 温度：125℃ 时间.160h |
1015A
|
试验条件D 温度：125℃ 时间：160h |
按本规范图6电路 或等效电路。
|
|
中间（老炼后） 电测试 |
|
本规范A1 分组 |
|
本规范Al 分组 |
|
|
允许不合格 品率(PDA) 及其计算 |
|
5%．本规范 AI分组，当 不合格品率 超过20%时 |
|
10%．本规 范AI分组 当不合格品 率超过20% |
若老练前未进行中 间电测试，则老炼 后中间电测试AI分 组的失效数也应计 |
续表4
|
|
条件和要求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
BI级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
|
|
|
可重新提交 老炼，担只 允许一次。 |
|
时，可重新 提交老练， 但只允许一次 |
入PDA内。
|
|
最终电测试
|
|
本规范A2 A3．A7．A9分组
|
|
本规范A2 A3．A7．A9分组
|
本项筛选后，若改变 器件的引线镀涂或者 返工，则应再进行A1 分组测试。 |
|
密封 细检漏 粗检漏 |
1014A
|
试验条件： A1或A2方法 CI方法 |
1014A
|
试验条件： A1或A2方法 Cl方法 |
|
|
外部耳检 |
2009A |
|
2009A |
|
可在发货前按批进行 |
|
鉴定或质量一 致性检验试验 样品的选取 |
5005A
|
3.5
|
5005A
|
3.5
|
|
图6老炼和寿命试验电路图
注：①输入信号特性：
FA=100kHz±50%，fR= 50kHZ±50%．占空比q=50±15%
V1H=2.0-5.5V. VIL=0.5--0.8V
2Rl= 240n±5%, R2= 51n±1:5% R3= lkn±5%
3Vcc和R4值的选择应使老炼器件Vcc蛸至少为5.5V
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597A中4,4的规定。所进行的检验应符合GJB 548A方法5005A和
本规范A、B、C、和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4)的规定。
静电放电敏感度(ZSDS)等级鉴定应在筛选之前按GJB 597A中3.4.1.4规定进行。
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597A中4.5的规定和本规范的规定。所进行的检验应按GJB
548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1-4.4.4)的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验要求按本规范表5的规定。
电试验要求应按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%
检验。各分组测试可按任意顺序进行。合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
|
LTPD | |
|
试 验
|
B级器件 |
B1级器件 |
|
AI分组 25℃下静态测试 |
2 |
2 |
|
A2分组 125℃下静态测试 |
3 |
3 |
|
A3分组 - 55℃下静态测试 |
5 |
5 |
|
A7分组 25E下功能测试 |
2 |
2 |
|
A8分组 125℃下功能测试 -55℃下功能测试 |
5 |
5 |
|
A9分组 25℃下开关测试 |
2 |
2 |
|
AIO分组 125℃下开关测试 |
3 |
|
|
All分组 -55℃下开关测试 |
5 |
|
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1 -B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其他规定，表中采用的试验方法系指GJB 548A的试验方法。
|
|
条件和要求
|
样品效 |
| |||
|
试验 |
B级器件 |
BI级器件 |
／（接收效） |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
或LTPD
| ||
|
BI分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
2/(0) |
|
|
睨分组 耐溶剂性 |
2015A |
按规定 |
2015A |
按规定 |
4/(0) |
|
|
B3分组 可焊性
|
2022A
2003A |
焊料温度： 245士5℃ |
2022A
2003A |
焊料温度； 245±5"C |
15
|
LTPD系对引线数 而言，至少应选 取3个器件。 |
|
B4分组 内部目检和 机械检查 |
2014
|
按规定
|
2014
|
按规定
|
1/(0)
|
|
|
135分组 键合强度 超声焊
|
2014A
|
试验条件： C或D
|
2014A
|
试验条件： C或D
|
10
|
可在封装工序前 的内部目检筛选 后，随机抽取样品 进行本分组试验。 |
4,4,3 C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7 C组检验
若无其他规定，表中采用的试验方法系指GJB 548A的试验方法。
|
|
条件和要求
|
样品数 |
| |||
|
试验 |
B级器件 |
BI级器件 |
／（接收效） |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
或LTPD
| ||
|
CI分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005A
|
试验条件D 125℃．1000h 本规范AI,A2 和A3分组 （见本规范表2 和表3） |
1005A
|
试验条件D 125℃．1000h 本规范AI、A2 和A3分组 （见本规范表2 和表3） |
5
|
采用本规 范图6的 电路。
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 |
1010A 2001A
i014A
|
试验条件C 试验条件E YI方向 试验条件： A1或A2方法 |
1010A 2001A
1014A
|
试验条件C 试验条件D YI方向 试验条件： AI或A2方法 |
15
|
|
续表7
|
|
条件和要求
|
样品效 |
| |||
|
试验 |
B缓器件 |
B1级器件 |
／（接收效） |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
或LTPD
| ||
|
粗检漏 目检
终点电测试
|
|
C1方法 按方法1010A 的耳检判据 本规范A1、A2 和A3分组（见 本规范表2和 表3） |
|
C1方法 按方法1010A 的目检判据 本规范A1、A2 和A3分组（见 本规范表2和 表3） |
|
|
|
C3分组 125℃下开 关测试 |
|
不要求
|
|
本规范AIO分 组（见本规范 表2和表3） |
3
|
|
|
c4分组 -55℃下开 关测试 |
|
不要求
|
|
本规范All分 组（见本规范 表2和表3） |
5
|
|
4.4.4D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1、D2、D5、D6、D7和D6分组可有同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表8 D组检验
若无其他规范，表中采用的试验方法系指GJB 548A的试验方法。
|
|
条件和要求
|
样品效 |
| |||
|
试验 |
B级器件 |
BI级器件 |
／（接收效） |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
或LTPD
| ||
|
DI分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
15
|
|
|
I)2分组 引线牢固性 密封 细检漏 粗检漏 |
2004A 1014A
|
试验条件B2 试验条件； A1或A2方法 CI方法 |
2004A 1014A
|
试验条件132 试验条件； AI或A2方法 CI方法 |
10
|
|
|
D3分组 热冲击
温度循环
耐湿 |
1011A
1010A
1004A |
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环 按规定 |
1011A
1010A
1004A |
试验条件A 15次循环 试验条件C 100次循环 按规定 |
|
|
续表8
|
|
条件和要求
|
样品数 |
| |||
|
试硷 |
B级器件 |
BI级器件 |
／（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
或LTPD
| ||
|
目检
密封 细检漏 粗检漏 终点电测试
|
1014A
|
按方法1004A 和1010A的目 检判据 试验条件。 A1或A2方法 Cl方法 本规范A1、A2 和A3分组（见 本规范表2和 表3） |
1014A
|
按方法1004A 和1010A的目 检判据 试验条件： A1或A2方法 C1方法 本规范AI、A2 和A3分组（见 本规范表2和 表3） |
|
|
|
D4分组 机械冲击 扫频振动 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
2002A 2007 2001A
1014A
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E YI方向 试验条件： AI或A2方法 Cl方法 按方法2002A 和2007的目检 判据 按本规范AI、 A2和A3分组 （见本规范表2 和表3） |
2002A 2007 2001A
1014A
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Y1方向 试验条件： A1或A2方法 Cl方法 按方法2002A 和2007的目检 判据 按本规范A1、 A2和A3分组 （见本规范表2 和表3） |
15
|
用于D3分组的 样品可用在I)4 分组。
|
|
D5分组 盐检 目检
密封 细检漏 粗检漏 |
1009A
1014A
|
试验条件A 按方法1009A 的目检判据 试验条件： A1或A2方法 C1方法 |
|
适用时同B级 器件
|
15
|
BI级器件可
在订货合同 上要求。
|
|
176分组 内部水汽 含量
|
1008A
|
100℃时最大 水汽含量为 5000ppm
|
1008A
|
不要求
|
3/(0) 或5/(1)
|
当试验3个器件 出现1个失效时， 可加试2个器件 并且不失效。若 |
续表8
|
|
条件和要求
|
样品数 |
| |||
|
试验 |
B级器件 |
BI级器件 |
／（接收效） |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
或LTPD
| ||
|
|
|
|
|
|
|
第一次试验未过 时，可在鉴定机 构认可的另一个 试验室进行第二 次试验，若试验 通过，则该批应 被接收。 |
|
D7分组 引线镀涂 粘附强度 |
2025A
|
按规定
|
2025A
|
按规定
|
15
|
LTPD系对
引线数而育。 |
|
D8分组 封盖扭矩 |
2024 |
按规定 |
2024 |
按规定 |
5/(0) |
仅适用于熔封 陶瓷外壳 |
4.5检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5.1 电压和电流
所有电压以被测器件(DUT)的GND端为基准，电流以流入器件引出端为正。
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 597A中5.1的规定。
6说明事项
6.1订货资料
订货合同应规定下列内容：
a． 完整的器件编号（见本规范1.3.1）；
b． 需要时，对器件承制方提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求；
c． 需要时，对合格证书的要求；
d． 需要时，对产品或工艺更改时通知采购单位的要求；
e． 需要时，对失效分析（包括GJB 548A方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提
供报告的要求；
f．对产品保证选择的要求；
g．需要时，对特殊载体、引线长度或引线形状的要求；
h． 对认证标志的要求；
i． 需要时，其他要求。
6.2缩写词、符号和定义
本规范所用的缩写词、符号和定义按GB 3431.1、GB 3431.2和GJB 597A的规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器
件。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。
本规范由国营第八七一厂负责起草。
本规范主要起草人：刘文兵。
计划项目代号：B51022。
968
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