SJ 50597 37 95 半导体集成电路 JSC145152型CMOS并行输入锁相环 频率合成器 详细规范3
表4 筛 选
若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
|
项 目 |
方法和条件 |
说 明 | |||
|
B级器件 |
B1级器件 | ||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检（封装前） |
2010 |
试验条件B |
20lO |
试验条件B |
|
|
稳定性烘焙 （不要求终点电测试） |
1008
|
试验条件C 150℃，24h) |
1008
|
试验条件C (150℃，24h) |
|
|
温度循环
|
lOlO
|
试验条件C
|
1010
|
试验条件C
|
可用方法lO11试验条 件A替代。 |
|
恒定加速度
|
2001
|
试验条件E Y1方向 |
2001
|
试验条件D Y1方向 |
试验后进行目检。引 线断落、外壳破裂、封 盖脱落为失效。 |
|
中间（老化前）电测试 |
|
本规范A1、A7分组 |
|
本规范A1、A7分组 |
|
|
老化
|
1015
|
试验条件D (125℃，160h) |
lOl5
|
试验条件D (125℃，l60h) |
采用本规范图3电路
|
|
中间（老化后）电测试 |
|
本规范A1、A7分纽 |
|
本规范A1、A7分组 |
|
|
允许不合格产品率 (PDA)及其计算
|
5%，本规范A1、A7分组。 当不合格品率不超过20% 时，可重新提交老化，但只允许一次。 |
10%，本规范A1、A7分组。 当不合格品率不超过20% 时，可重新提交老化．但只允许一次。 |
用老化失效数除以提交 老化的器件数即为 PDA。不大于规定的 PDA的，则该批接收。 | ||
|
最终电测试
|
本规范A1、A2、A3、A7、A8分组
|
本规范Al、A2、A3、A7、A8分组 |
本筛选后，若引线涂覆 改变或返工，则应再进 行A1、A7分组测试。 | ||
|
密封 细检漏 粗检漏 |
lO14
|
试验条件； A1或A2 Cl或C2 |
1014
|
试验条件： A1或A2 Cl或C2 |
|
|
外部目检 |
2009 |
第3.l条 |
2009 |
条3.1条 |
|
|
鉴定或质量一致性检 验的试验样品抽取 |
5005
|
第3.5条
|
5005
|
第3.5条
|
|
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）的规定
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A纽检验应按本规范表5的规定。
电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行。
合格判定数(c)最大为2。
表5 A组检验
|
试 验 |
LTPD | |
|
B级器件 |
B1级器件 | |
|
A1分组 （25℃下静态测试） |
2 |
2 |
|
A2分组 （I25℃下静态测试） |
3 |
3 |
|
A3分组 （-55℃下静态测试） |
5 |
5 |
|
A4分组 （25℃下动态测试） |
2 |
2 |
|
A7分组 （25℃下功能测试） |
2 |
2 |
续表5
|
试 验 |
LTPD | |
|
B级器件 |
B1级器件 | |
|
A0分组 （125℃、一55℃下功能测试） |
5 |
5 |
|
A9分组 （25℃下开关测试） |
2 |
2 |
|
A10分组 （125℃下开关测试） |
3 |
3 |
|
All分组 （一55℃下开关测试） |
5 |
5 |
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1～B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB548的试验方法。
|
试 验 |
方法和条件 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B组器件 |
B1组器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
Bl分组 尺寸
|
2016
|
按规定
|
2016
|
按规定
|
2/(0) |
|
|
B2分组 抗溶性 |
2015 |
按规定 |
2015 |
按规定 |
4/(0) | |
|
B3分组 可焊性
|
2022 或 2003 |
焊接温度 245±5℃ |
2022或 2003 |
焊接温度 245±5℃ |
15 |
LTPD系对引 线数而言，被试 器件数应不少 于3个。 |
|
B4分组 内部目检 和机械性能 |
2014 |
按规定 |
2014 |
按规定 |
1/(O) |
|
|
B5分组 键合强度 超声焊
|
20ll |
试验条件C 或D |
20ll |
试验条件C 或D |
15 |
LTPD系对键合数而言，被试 器件数应不少 于4个。 |
|
B8分组 (a)电测试 |
|
本规范A1、 |
|
本规范A1、 |
15/(O) |
|
续表 6
若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
|
试 验 |
方法和条件 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B组器件 |
B1组器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
(b)静电放电 灵敏度等 级 (c)电测试
|
GJB 1649
|
A7分组
本规范A1、 A7分组 |
GJB 1649
|
A7分组
本规范A1、 A7分组 |
|
仅在初始鉴定 或产品重新设 计时进行。
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7的舰定。
表7 C组检验
若无其他规定，表中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法
|
试 验 |
方法和条件 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | |||
|
B组器件 |
B1组器件 | |||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
C1分组 稳态寿命
终点电测试
|
1OO5
|
试验条件D (125℃，1000h) 本规范Al、A7分组 （见本规范表3） |
1OO5
|
试验条件D (125℃，1000h) 本规范Al、A7分组 （见本规范表3） |
5
|
采用本规 范图3电路
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检 终点电测试
|
1010 2001
1014
|
实验条件C 试验条件E Y1方向
试验条件A1或A2 试验条件C1或C2 按方法1010的目 检判据 本规范A1、A7分组 （见本规范表3） |
1010 2001
1014
|
实验条件C 试验条件D Y1方向
试验条件A1或A2 试验条件C1或C2 按方法1010的目 检判据 本规范A1、A7分组 （见本规范表3） |
15
|
|
|
C3分组 （125℃ 开关测试） |
|
不要求
|
|
本规范A10分组 （见本规范表3）
|
3 |
|
|
C4分组 （一55℃ 开关测试） |
|
不要求
|
|
本规范All分组 （见本规范表3）
|
5 |
|
4.4.4D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1、D2、D5、D6和D7分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表8 D组检验
若无其他规定，裘中引用的试验方法系指GIB 548的试验方法。
|
试 验 |
条件和要求 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | ||||
|
B级器件 |
B1级器件 | ||||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
按规定 |
2016 |
按规定 |
15 |
| |
|
D2分组 引线牢固性 密封 细检漏 粗检漏 |
2004 1014
|
试验条件B2
试验条件Al或A2 试验条件C1或C2 |
2004
1014
|
试验条件B2
试验条件Al或A2 试验条件C1或C2 |
15
|
| |
|
D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 (I)细检漏 (2)粗检漏 目检
终点电测试
|
10ll
1010
1004
1014
|
试验条件B， 15次循环 试验条件C， 100次循环 按规定
试验条件Al或A2 试验条件C1或C2 按方法1010和 1004的目检判据 本规范A1、A7分 组（见本规范表3） |
10ll
1010
1004
1014
|
试验条件B， 15次循环 试验条件C， 100次循环 按规定
试验条件Al或A2 试验条件C1或C2 按方法1010和 1004的目检判据 本规范A1、A7分 组（见本规范表3） |
15
|
Bl级器件 可用GB4590 第3.6条 严格度D 替代
可在“抗潮湿”后“密封” 前进行终 电测试。 | |
|
D4分组 机械冲击 变频振动 恒定加速度
密封 (1)细检漏 (2)粗检漏 目检
终点电测试
|
2002 2007 2001
1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Y1方向
试验条件A1或A2 试验条件C1或C2 按方法2002或 2007的目检判据 本规范A1、A7分组 （见本规范表3） |
2002 2007 200l
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Y1方向
试验条件A1或A2 试验条件C1或C2 按方法2002或 2007的目检判据 本规范A1、A7分组 （见本规范表3） |
15
|
用于D3分组的样 品可用于D4分组
| |
续表8
|
试 验 |
条件和要求 |
样品数／ （接收数） 或LTPD |
说 明 | ||||||
|
B级器件 |
B1级器件 | ||||||||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||||||
|
D5分组 盐雾 密封 细检漏 粗检漏 目检
|
1009 1014
|
试验条件A
试验条件A1或A2 试验条件C1或C2 按方法1009的 目检判据 |
|
适用时同B级 器件
|
15
|
| |||
|
D6分组 内部水汽 含量
|
10l8
|
100℃时最大水汽含量为5000ppm
|
|
不要求
|
3/(0)或 5/（1）
|
当试验3个 器件出现1 个失效时， 可加试2个 器件并且不失效。若第一次试验未通过，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验，若试验 通过，则该 批接收。 | |||
|
D7分组 引线涂覆 粘附强度
|
2025
|
按规定
|
2025
|
按规定
|
15
|
LTPD系对引线数 而言。 | |||
4.5检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5.1 电压和电流
电压以器件Vss端为参考点；电流以流入器件引出端为正。
4.5.2老化和寿命试验冷却程序
被试器件(DUT)在完成老化和寿命试验之后，应先冷却到35℃，然后再去掉偏置，最后在25℃下进行电参数终点测试。
5 交货准备
5.1 包装要求
包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订货资料
订货合同应规定下列内容：
a．完整的器件编号（见本规范1.3,1条）。
b． 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求。
c．需要时，对合格证书的要求。
d．需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。
e．需要时，对失效分析（包括GJB 548方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求。
f．对产品保证选择的要求。
g．需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求。
h．对认证标志的要求。
i．需要时，其他要求。
6.2缩写词、符号和定义
本规范所使用的缩写词、符号和定义按GB 3431.1、GB 3431.2和GJB 597的规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件。但不允许用普通工业用器件替代军用
器件。
6.4操作
器件必须采取防静电措施进行操作。
推荐下列操作措施：
a．器件应在防静电的工作台上操作；
b．试验设备和器具应接地；
c．不能触摸器件引线；
d．器件应存放在导电泡沫材料或容器中；
e．生产、测试、使用以及流转过程中，MOS器件区域内应避免使用能引起静电的塑料、橡胶或丝织物；
f．相对湿度应尽可能保持在50%以上。
附加说明：
本标准由中国电子技术标准化研究所归口。
本标准由华晶中央研究所起草。
本标准主要起草人：吴佑华、张志勇。
计划项目代号：B31016。 638
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