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SJ 50597 37 95 半导体集成电路 JSC145152型CMOS并行输入锁相环 频率合成器 详细规范1

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:491次
SJ 50597 37 95 半导体集成电路 JSC145152型CMOS并行输入锁相环 频率合成器 详细规范1
 

中华人民共和国电子行业军用标准

      半导体集成电路

JSC145152型CMOS并行输入锁相环

       频率合成器                  SJ 50597/37-95

      详细规范

       Semiconductor integrated circuits

    Detail specification for type JSC145152 CMOS

parallel input phase-locked loop frequency synthesize

1范围

1.1  主题内容

    本规范规定了半导体集成电路JSC145152型CMOS并行输入锁相环频率合成器(以下简

称器件)的详细耍求。

1.2适用范围

    本规范适用于:器件的研制、生产和采购。

1.3分类

  本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类。

1.3.1器件编号

    器件编号成按GJB 597(微电路总规范)第3.6.2条的规定。

1.3.1.1器件型号

    器件型号如下:

    器件型号

                  器    件    名    称

    JSC145152

                并行输入锁相环频率合成器

1.3.1.2器件等级

    器件等级应为GJB 597笫3.4条规定的B级和本规范规定的Bl级。

1.3.1.3封装形式

  封装形式应按GB/T 7092《半导体集成电路外形尺寸》的规定。

  封装形式如下:

  类型

外形代号

D

D2813

1.4绝对最大额定值

  绝对最大额定值如下:

项    目

 

符  号

 

数    值

单  位

 

最  小

最  大

电源电压

VDD

-0.5

10

V

输入电压

V1

-0.5

VDD+0.5

V

输入电流

I1

 

lO

mA

功  耗

PD

500

mW

贮存温度

Tstg

-65

150

引线耐焊接温度(10s)

Th

300

结  温

Tj

150

1.5推荐工作条件

    推荐工作条件如下:

项    目

 

符  号

 

规  范  值

单  位

 

最  小

典  型

最  大

电源电压

VDD

3

5

9

V

工作环境温度

TA

-55

25

125

2引用文件

    GB 3.131.1--82    半导体集成电路文字符号  电参数文字符号

    GB 3431.2--86     半导体集成电路文字符号  引出端功能符号

    GB 3834--83       半导体集成电路CMOS电路路测试方法的基本原理

    GB 4590--84       半导体集成电路机械和气候试验方法

    GB/T 7092--93     半导体集成电路外形尺寸

    GJB 548--88       微电子器件试验方法和程序

    GJB 597--88       微电路总规范

    GJB 1649--93      电子产品防静电放电控制大纲

3要求

3.1详细要求

    各项要求应按GJB 597和本规范的规定。

    本规范规定的B1级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项目和要求方面不同于B级。

3.2设汁、结构和外形尺寸

    设计、结构和外形尺寸应按GJB 597和本规范的规定。

3.2.1功能框图和引出端排列

    功能框图见图1,引出端排列见图2(俯视图)。


SJ 50597/37-95 半导体集成电路 JSC145152型CMOS并行输入锁相环 频率合成器 详细规范_1

 

引出端排列:

SJ 50597/37-95 半导体集成电路 JSC145152型CMOS并行输入锁相环 频率合成器 详细规范_1
引出端功能符号

引出端序号

功    能

符    号

l

信号输入

INf

2

负电源

VSS

3

正电源

VDD

4~6

参考译码器地址

RA0~RA2

7~8

鉴相输出

PDOl~PD02

9

双模控制信号输出

MC

10

A计数器输入

DA5

11~20

N计数器输入

DN0~DN9

21~25

A计数器输入

DA1~DA4

26

振荡器输出

OSC0

27

振荡器输入

OSC1

28

锁相状态检测

LD

 

                  图2  引出端排列和功能符号

3.2.2功能测试

   该电路的动态功能测试主要是采用功能级的故障模拟法产生测试图形(共1909条)控制OSC1、IN1、DN、PA端的输入状态,在计算机控制的LSI测试系统上运行测试图形,实时比较器件的PDOl、PDO2、LD输出端的逻辑状态与输入端的逻辑关系正确与否。

   用于功能和电特性测试的矢量表属于本规范的组成部分,应提交鉴定机构存档备查。

3.2.3电路图

    制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构存档箭查。

3.2.4封装形式

    封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。

3.3引线材料和涂覆

    引线材料和涂覆应按GJB 597第3.5.6条的规定。

3.4电特性

    电特性应符合本规范表1的规定。

                             表1  电特性

特  性

 

符号

 

若无其他

规定

规  范  值

单位

 

TA=-55℃

TA==25℃

TA==125℃

VSS=0V

VDD

(V)

最小

最大

最小

最大

最小

最大

输出

低电平

电压

VOL

V1=VDD

0V

3

5

9

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

0.05

V

 

 

 


续表1

特  性

 

符号

 

若无其他

规定

规  范  值

单位

 

TA=-55℃

TA==25℃

TA==125℃

VSS=0V

VDD

(V)

最小

最大

最小

最大

最小

最大

输出

高电平

电压

VOH

V1=0V或

VDD

3

5

9

2.95

4.95

8.95

2.95

4.95

8.95

2.95

4.95

8.95

V

 

 

输入

低电平

电压

 

 

V1L

 

 

Vo=2.5V

或0.5v

Vo=4.5V

或0.5V

Vo=8.5V

 或1.5V

3

 

5

 

9

 

 

 

0.9

 

1.5

 

 2.7

 

 

 

0.9

 

1.5

 

2.7

 

 

 

0.9

 

1.5

 

2.7

 

V

 

 

 

 

输入

高电平

电压

 

 

 

V1H

 

 

Vo=O.5V

或2.5V

Vo=0.5V

或4.5V

Vo= l.5V

或8.5V

3

 

5

 

9

 

2.6

 

3.6

 

6.3

 

 

 

2.6

 

3.6

 

6.3

 

 

2.6

 

3.6

 

6.3

 

 

V

 

 

 

 

 

输出

高电压

电流

IOH

Vo=2.7V

Vo=4.6V

Vo= 8.5V

3

5

9

-0.44

-0.64

-1.3

-0.3

-0.51

-1.0

-0.22

-0.36

-0.7

mA

 

输出

低电平

电流

IOL

Vo=0.3V

Vo=0.4V

VO=O.5V

3

5

9

0.44

0.64

1.3

  t1.3

  0.5l

  J.0

0.22

0.36

0.7

mA

 

输出高电

平电流

(MC端)

IOH

Vo=2.7V

Vo=4.6V

Vo=8.5V

3

5

9

-0.25

-0.75

-1.25

-0.15

 0.45

 0.75

-0.08

- 0.23

-0.38

mA

 

输出低电

平电流

(MC端)

IOL

Vo=O.3V

Vo=0.4V

Vo=O.5V

3

5

9

0.8

1.5

3.5

 0.48

 0.9

2.1

0.24

0.45

1.05

mA

 

输入低

电平电

I1L

 

INf,

OSC1

其他输入端

9

 

9

 

±15

 

-60

 

±10

 

-50

 

±8

 

-35

μA

输入高

电平电

I1H

 

 

  INf

OSC1

其他输入端

9

 

9

 

±15

 

±0.3

 

±10

 

±0.1

 

±8

 

±1.0

μA


                                   续表1

特  性

 

符号

 

    条    件

若无其他

  规定

规  范  值

单位

 

TA=-55℃

TA==25℃

TA==125℃

VSS=0V

VDD

(V)

最小

最大

最小

最大

最小

最大

  电源

 

  电流

IDD

 

 

3

5

9

800

1200

1600

800

1200

1600

1600

2400

3200

μA

输入

电容

Cl

f=1MHz

3~9

lO

pF

输出

转换

时间

tTLH

见图4和

图8

CL=50pF

3

5

9

180

90

70

200

100

80

260

130

100

ns

输出转

 

换时间

tTHL

见图4和

图8

CL=50pF

3

5

9

180

90

70

200

100

80

260

130

100

ns

传输延迟

时间(从

INf

MC端)

tPLH

 

见图5和

图8

CL=50pF

 

3

5

9

150

90

55

160

100

60

210

130

80

ns

tPHL

 

3

5

9

150

90

55

160

100

60

2lO

130

80

ns

输出脉冲

宽度(PD01

 PD02端)

tw

见图6和

图8

CL=50pF

3

5

9

155

130

115

70

50

30

170

150

130

220

200

170

ns

输入上升,

下降时间

(lNf

OSC1端)

tr、t1

见图7

 

3

5

9

4.5

3.5

1.8

5

4

2

6.5

5.2

2.6

ns

输入脉冲

宽度(lNf

OSC1端)

tW

3

5

9

35

30

23

40

35

25

55

45

33

ns

 


                              续表l

特  性

 

符号

 

条    件

若无其他

 规定,

规  范  值

单位

 

TA=-55℃

TA==25℃

TA==125℃

Vss=OV

VDD

(V)

最小

最大

最小

最大

最小

最大

工作频率

(OSC1端)

 

 

fmax

 

 

输入方波

VDD-Vss

占空比为

50%

CL=50pF

 

3

5

9

14

27

36

MHz

工作频率

(IN1端)

fmax

 

3

5

9

8

15

    26

MHz

3.5电试验要求

    各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组,各分组的电测试按本规范表

3的规定。

                      表2  电试验要求

项    目

 

分    组    (见表3)

B级器件

Bl级器件

中间(老化前)电测试

A1、A7

A1、A7

中间(老化后)电测试

Al1)、A71)

Al1)、A71)

最终电测试

A1、A2、A3、A7、A8

A1、A2、A3、A7、A8

A组检验电测试

A1、A2、A3、A4、A7、

 A8、A9、A10、A11

A1、A2、A3、A4、A7、A8、A9

 

C组终点电测试

A1、A7

A1、A7

C组检验增加的电测试分组

不要求

A10、A11

D组终点电测试

A1、A7

A1、A7

注:1)该分组要求PDA计算:(见4.2条)。 491
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