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SJ 20296 93 半导体集成电路IF2500JF2520型高转换速率 运算放大器详细规范7

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:1019次
SJ 20296 93 半导体集成电路IF2500JF2520型高转换速率 运算放大器详细规范7
  4.4.4D组检验

    D组检验应按本规范表9的规定进行.

    D-、D,、D5、D6、D,、D-组可用同一检验批中电性能不合格的器件作样本。

    若无其他规定,表中引用的试验方法指GJB 548.

表9 D组检验

 

    条件和要求

样品教/

 

 

    项  目

 

 

    B级器件

 

 

    BI级器件

 

(接收数)

 

  或

 

    说  明

 

方法

  条  件

方法

  条、件

  LTPD

  D1分组l尺寸

2016

 

 2016

 

    15

 

 D2

引线牢固性

2004

试验条件B2

 200t

试验条件B2

 

 

 

细检漏

 

    粗检漏

1014

 

 

 

 

 1014

 

 

    15

 

 

 

热冲击

 

101l

 

试验条件B

15次循环

1011

 

试验条件A

15次循环

 

 

温度循环

 

1010

 

试验条件C

100次循环

1010

 

试验条件C

100次循环

 

抗潮湿

 

 

1004

 

 

 

 1∞4

 

 

B.级器件允许按GB 4590

 

第3.6条56进行试验

 D3

 

 

密封

细检漏

    粗检漏

 

1014

 

 

 

 1014

 

 

 

 

    15

 

 

 

 

 

目检

 

 

 

 

按方法1004和

1010的目检判

 

 

按方法1004和

1010的目检判

 

终点电测试

 

 

 

 

本规范AI分

组(见本规艳表

 

2和表3)

 

本规范A1分

组(见本规范表

 

2和表3)

 

可在“抗潮湿”后和“密封”

试验前进行终点电测试

 

 

机械冲击

2002

试验条件B

 2002

试验条件B

 

可用D3分组的样品

变牍振动

2007

试验条件A

 2007

试验条件A

恒定加速度

 

2001

 

试验条件E

YI方向

2001

 

试验条件D

Y1方向

 

D1

密封

细捡漏

    粗检漏

1014

 

 

 1014

 

 

 

 

 

目检

 

 

 

 

按方法2002或

2007的目检判

 

 

按方法2002或

2007的目检判

    15

 

 

 

终点电测试

 

 

 

本规范A1分

组(见本规范表

2和表3)

 

本规范A1分

组(见本规范表

2和表3)

 

续表”9

 

       条件和要求

样品数/

 

 

    项  目

 

 

    B级器件 

 

 

    B1级器件

 

(接收数)

 

  或

 

    说  明

 

方法

-‘条  件

力链

  条  件

  LTPD

 

盐雾

1009

试验条件A

 1009

试验条件A

 

 

D5

密封

细检漏

    粗检漏

1014

 

 

 10l

 

 

 

    15

B1级器件是否进行本分

组试验,根据合同要求而

 

 

 

目检

 

 

 

按方法1009的

目检判据

 

 

按方法1009的

目检判据

 

 

 

 

 

D6分组

内部水汽

    含量

 

 

 

 

 

 

 

1018

 

 

 

 

 

 

 

100℃时最大

水汽含量为

 

5000ppm

 

 

 

 

 

 

    不要求

 

 

 

 

 

 

 

3/(o~

 

 

5/C1)

 

 

 

当试验3个器件出现1

个失效时,可加试2个器

件并且不失效.若第一次

试验样品(3个或5个器

件失效).可在鉴定机构

 

认可的另一试验室进行

第二次试验,若试验通

过,则该批应被接收

D7分组。引线涂覆

    附粘强度

2025

 

 

 2025

 

 

    15

 

 LTPD系对引线数而盲

 

D8分组.封盏扭矩

2024

 

 2024

 

    5/(0)

仅用于陶瓷熔封外壳

 

4.5检验方法

    检验方法应符合相应表格的规定。电试验线路可采用本规范、GJB 548或GB 3442所规定

的线路.替代试验线路应由鉴定机构批准。

4.5.1  电压和电流

    所有给出的电压值均以外电源电压的零电平为参考点,给出的电流值均以流入器件引出

端为正值.

4.5.2寿命试验冷却程序

    器件经稳态寿命或老化试验后,应被冷却刭与室温下器件加电稳定温度之差不超过250C

时,才能去掉偏置,然后在25℃下测量.

4.6包装检验   

    包装检验应按GJB 597第4.5.9条规定进行.

5交货准备   

5.1包装要求

    包装要求应符合GJB S97第5.1条规定.

6说明事项

6.1订货资料

    S工20296--93

    订贷合同应规定下列内容,

    a  完整的器件编号(见1.3.1条)。

    b.  需要时,提供与所交付器件有关检验批的质量一致性检验数据的要求.

    c.  需要时,对合格证书的要求.

    d.  需要时,对产品或工艺更改通知采购单位的要求.

    e.  需要时,对失效分析(包括GJB 548方法5003所要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求.

    f.  对产品保证等级选择的要求:

    g.  需要时,对引线长度或引线形状的要求.

    h.  对认证标志的要求。

    I.  需要时的其他要求.

6.2缩写词、符号和定义

    本规范采用的缩写词、符号和定义均符合GB 34,31.1和GB 3431.2、GJB 597的规定。

6.3替代性

    本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件.不允许用普通工业用器件替代军用器

件.

附加说明;

本规范由中国电子工业部科技与质量监督司提出.

本规范由中国电子技术标准化研究所归口,

本规范由国营七七七厂负责起草

本规范主要起草人。陈中洲、邢瑛敏.

计划项目代号lBJ 11010.

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