SJ 20296 93 半导体集成电路IF2500JF2520型高转换速率 运算放大器详细规范6
VOR至过零偏负1mV若VIO为负．则要调VIOR至过零偏正1mV．本表规定的规范值表明所要求的最小整调
|
|
yD (mV) |
JlB+(nA) |
I=-(nA) | |||||||||
|
器件 型号 |
规范值 |
变化量(△)极限 |
规范值 |
变化量(△)极限 |
规范值 |
变化t(△)极限 | ||||||
|
量小 |
最大 |
最小 |
最大 |
最小． |
最大 |
最小 |
最大 |
最小 |
最大 |
最小 |
最大 | |
|
JF2500 |
-5.0 |
5．O |
-1.5 |
1.5 |
1.0 |
200．O |
-20.0 |
20.0· |
1.0 |
200．O |
-20.0 |
20．O |
|
JF2520 |
-8.0 |
8．O |
-1.5 |
1.5 |
1.0 |
200．O |
-20.0 |
20.0 |
1.O |
200．O |
-20.0 |
20．O |
3.1.3.15条）．
2)为了确定变化量(△)极限，老化或寿命试验前后应记录表中所列的参数值．
3.6标志
标志应符合GJB 597第3.6条规定，
所有器件在打完标志后都应进行表3--1或表3--2规定的A1分组电测试，以证明打在
其上的器件编号是否正确．为此目的，也可选择采用一种经批准的电参数测试．
3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第49微电路组（见GJB 597附录E）．
4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验应符合GJB 597第4章和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，所有器件应按GJB 548方法5004和本规范表5规
进行筛选，
表5筛选
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条件和要求(GJB 548) |
| |||
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项 目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检（封装前） |
2010 |
试验条件B |
2010 |
试验条件B |
|
|
稳定性烘焙（不要求
终点电测试） |
1008
|
试验条件C
(1500C ,24h) |
1008
|
试验条件C
(150℃,24h) |
|
|
温度循环
|
1010
|
试验条件C
|
1010
|
试验条件C
|
可用方法1011试验条件A 替代 |
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恒定加建度
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2001
|
试验条件E， Y-方向 |
8001
|
试验条件E． Yl方向 |
|
|
且检
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|
|
|
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可在“密封”筛选后进行．引 线断蒋、外壳破裂、封盖脱 落为失效 |
续表5
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条件和要求(GJB 5.48) |
| |||
|
项 目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
中间（老化前）电测 试
|
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
由生产厂决定是否进行本 筛选（但表4所要求的电参 数必须进行本筛选） |
|
老化
|
1015
|
试验条件D(125℃． 160h)见本规范圈5， 或试验条件F (175℃，48h)见本规 范图4 |
1015
|
试验条件D(l~5℃， 160h)见本规范图5． 或试验条件F (175℃．4Sh)见本规 范图4 |
制造厂也可选用方法1015 中的其他温度一时阿组合， |
|
中间（老化后）电测 试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
|
|
允许的不合格品率 (PDA)计算
|
|
5g（由A1分组翻试 结果计算）．当PDA ≤20%时，可重提交 老化，但只允许一次
|
|
(由本规范A1 分组测试结果计 算），当PDA≤20% 时，可重提交老化， 但只允许一次
|
若老化前进行了中间（老化 前>电测试，则可将其失效 数从PDA中扣除I若老化 前来进行，则老化后中间 （老化后）电测试A1分组的 失效数也应计入PDA中． |
|
最终电测试
|
|
本规范A2．A3．A4
分组，
|
|
本规范A2．A3．A4
分组
|
本顶筛选后若引线涂复改
变或遍工，则应再进行A1 分组翻试 |
|
密封 细检漏 粗检漏 |
1014
|
|
1014
|
|
|
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
|
|
鉴定和质量一致性 检验试验样品的抽 取 |
5005
|
第3.5条
|
5005
|
第3.5条
|
|
4.3鉴定检验
鉴定检验要求应符合GJB 597第4.4条的规定，具体的检验内容是GJB 548方法5005和
本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）．
4.4质量一致性检验
质量一致性检验要求应符合GJB 597第4.5条的规定．具体的检验内容是GJB 548方法
5005和本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4条）．
4.4.1 A组检验
A组检验应按表6的规定进行，各分组测试可按任意顺序进行．
电测试要求应符合表2的规定，各分组具体的电参数测试按表3--1或表3--2规定。
各分组的测试可甩一个样本，当所要求的样本大小超过批的大小时，必须100%检验．
AI2分组的合格判据为15/(0)A13分组的合格判据为32/(0)，其他分组的合格判定数
(C)最大为2．若A13分组的AVIO和AHO响测试结果表明其失效情况为32/(1)，则该批应对A13
分组的参数重新进行100%的电测试，并剔除不合格品．
表6 A组检验
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|
项 目 |
|
样品数／（接收数）或I.TPD |
|
A1分组 |
25℃下静态测试 |
|
2 |
|
A2分组 |
125℃下静态测试 |
|
3 |
|
A3分组 |
-55℃下静态测试 |
|
5 |
|
A4分组 |
25℃下动态测试 |
|
2 |
|
AS分组 |
125℃下动态测试 |
|
3 |
|
A6分组 |
-55℃下动态测试 |
|
5 |
|
A7分组 |
25℃下功能测试 |
|
2 |
|
A5分组 |
-55℃、125℃下功能测试 |
|
5 |
|
A12分组 |
25℃下建立时间测试 |
|
15/(0) |
|
Al3分组 |
-55℃、125℃下温度系数测试 |
|
321(0) |
图4静态、加速老化和工作寿命试验线路
图5动态老化和工作寿命试验线路
注：①输入信号要求；
a． 占空比50%的方波
b． V1=5.0V
c． f=5Hz
d． TTHL<1μs,TTLH<lμs.
@JF25ZO要求lOOpF补偿电容（在CON与V+之间接）
图6--1 JF2500建立时间测试线路及波形图
图6--2 JF2520建立时间测试线路及波形图
图6建立时间测试
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表7的规定进行．
BI"-'B5分组试验可用同一检验批中电性能不合格的器件作样本． ，
若无其他规定，表中引用的试验方法指GJB 548．
表Z B组检验
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|
条件和要求 |
样品数／ |
| ||||
|
项 目 |
B级器件 |
Bl级器件 |
（接收数）或 |
说 明 | |||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
LTPD
| |||
|
B1分组:尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
2/(0) |
| |
|
B2分组:抗溶性 |
2015 |
|
2015 |
|
4／(0) |
| |
|
B3分组:可焊性
|
2022或 2003
|
焊接温度 245±5℃
|
2022或 2903
|
焊接温度 245士5℃
|
15
|
LTPD系对引 线数而言，被 测器件数应不 少于3个 | |
|
B4分组，内部目检翔机 械性能
|
2014
|
|
2014
|
|
1/(0)
|
在封装和打印 后的任何工序 抽取样品 | |
|
B5分组：键合强度 a．热压焊
b．超声焊
|
2011
|
泼验条件C或 )
|
201l
|
试验条件C或D
|
7
|
可在封装前的
内部目检筛选 后，随意抽取 样品进行本分 组试验 | |
|
|
电参数
|
|
本规范A1分组
|
不要求
|
15/(0)
|
至少在初始 重新设计时 鉴定或产品 进行 | |
|
B8 分
|
静电放电灵敏度 等级 |
GJB 1649 |
| ||||
|
组
|
电参数 |
|
本规范A1分组 | ||||
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表8的规定进行。
若无其他规定，表中引用的试验方法指GJB 548．
表召C组检验
|
|
条件和要求 |
|
| ||||
|
项 目 |
B级器件 |
B1级器件 |
LTPD |
说 明 | |||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||||
|
|
稳态寿命 |
1005 |
试验条件D (125℃,1000h)见 图5本规范或试 |
1005 |
试验条件D (125℃,1000h)见 ．本规范图S或试 |
|
制造厂也可选用 方法1005中其他 温度一时间组合 |
|
C1
分 |
验条件F(1750C,
40h)见本规范圈4 |
验条件F(175℃．
40h)见本规范图4 |
5
|
| |||
|
组
|
终点电测试 |
|
本规范A1分组和 表t的△极限（见
|
|
本规范A1分组和 表4的△极限（见
| ||
|
本规范表2和+表 3) |
本规范表2和表 3)
|
|
| ||||
|
|
温度循环 |
1010 |
试验条件C |
1010 |
试验条件C | ||
|
恒定加速
|
2001
|
试验条件E．Yz方 向 |
2001
|
试验条件D．Yi方 向
| |||
|
密封 细检滑 粗检漏 |
1014
|
|
1014
|
|
15
| ||
|
C2 分 组 |
目检
|
|
按方法1010的目 检判据 |
|
按方法1010的目 检判据 | ||
|
终点电测试
|
|
本规范A1分组和 表4的△极限（见
本规范表Z和表 3) |
|
本规范A1分组和 表7的△极限（见
本规范表2和表 3) | |||
1023
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