SJ 20295 93 半导体集成电路JT4344型 鉴频 鉴相器详细规范2
续表3
|
|
|
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
| ||
|
分组
|
符号
|
GB 3439 |
25℃） |
最小 |
最大 |
单位
| |
|
|
tPLH |
3.5条 |
|
R→U1 |
_ |
20 |
|
|
tPLH |
3.4条
|
Vcc=5V．RL=400Ω,
|
R→D1 |
_ |
34 | ||
|
A10
|
tPLH |
3.5条
|
CL=150pF,TA= 125℃，
见本规范图3 |
V→D1
|
_ |
20
|
ns
|
|
tPLH |
3.4条 |
V→U1 |
_ |
34 | |||
|
|
tPLH |
3.5条 |
|
R→U1 |
_ |
16 |
|
|
tPLH |
3.4条 |
Vcc=5V．RL=400Ω CL= 150pF ,TA=-55℃， 见本规范图3 |
R→D1 |
_ |
18 | ||
|
A11
|
tPLH |
3．5条
|
V→D1
|
_ |
16
|
ns
| |
|
tPLH |
3.4条 |
V→U1 |
_ |
18 | |||
|
A10 |
TA=125OC，VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组。 | ||||||
|
A11 |
TA=-55 OC，VIK不测，其余参数、条件和规范值均同A1分组。 | ||||||
3.6标志
标志应按CJB 597第3.6条的规定．
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定．
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范衷4的规定进行筛选．
图3开关参数测试线路和波形图
注:①脉冲发生器应具有下列特性
②n包括测头和夹具电容．
③所有=极管为3DK3B(bc短接)．
表4筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB 548的试验方法．
|
|
条件和要求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检 |
2010 |
试验条件B |
2010 |
试验条件B |
|
|
稳定性烘焙（不要 求终点电测试）
|
1008
|
试验条件C (温度150"C
时间24h) |
1008
|
试验条件C (温度150℃
时间24h) |
|
|
温度循环 |
1010 |
试验条件C |
1010 |
试验条件C |
可用方法1011试验条件A替代 |
|
恒定加速度
|
2001
|
试验条件E YI方向 |
200l
|
试验条件D Y1方向 |
|
|
目检
|
|
|
|
|
可在“密封”筛选后进行．引线断 落、外壳破裂、封盖脱落为失效 |
|
中间（老化前）电 测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
由制造厂选择是否进行
|
|
老化
|
1015
|
试验条件B或E
(温度125℃ 时间160h)
|
|
试验条件B或 E(温度125℃ 时间160h) |
按本规范图4线路或等效线路
|
|
中间（老化后）电测试 |
|
本规范A1分组
|
|
本规范A1分组
|
|
|
PDA计算
|
|
5%．本规范A1分 组，当不合格品串不超过10%时可置新提交老化，但只允许一次
|
|
10%．本规范 A1分组，当不 合格品率不超 过20%时可重 新提交老化，但 只允许一次 |
若老化前未进行中间电测试，则 老化后中间电测试A1分组的失 效，也应计入PDA内．
|
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
本项筛选后，若改变器件的引线 涂覆或返工，则应再进行A1和 A7分组试验 |
|
密封 细检漏 粗检漏 |
1014
|
|
1014
|
|
|
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
可在发货前按批进行 |
|
鉴定或质量一致 性检验试验样品 的选取 |
5005
|
3.5条
|
5005
|
3,5条
|
|
图4动态老化和稳态寿命试验线路
注:1） Vcc=5V ；R1= 240Ω；R2=240Ω；R3= 2KΩ；R4=68Ω．C=0.47pF．
2) fa>fv;fR=1OOkHz;fv=50kHz;占空比50%；VIL<0.8V;VIH>2.0V．
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597第4.4条的规定，所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、C和D组检验（见4.4.1条～4.4.4条）的规定．
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597第4.5条的规定，所进行的检验应符合GJB 548方法5005
和本规范A、B、C和D组检验（见4.4.1条～4.4.4条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验要求按本规范表5的规定．
电试验要求按本规范表2．各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行．当所要求的样本大小超过批的大小时允许100%检验，各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
|
LTPD | |
|
试 验
|
暑级 |
B1级 |
|
A1分组25℃静态测试 |
2 |
2 |
|
A2分组125℃静态测试 |
3 |
3 |
|
A3分组-55℃静态测试 |
5 |
5 |
|
A7分组25℃功能测试 |
2 |
2 |
|
A9分组25℃开关测试 |
2 |
2 |
|
AIO分组125℃开关测试 |
3 |
|
|
All分组-55℃开关测试 |
5 |
|
4.4.2B组检验
B组检验按本规范表6规定。
B1～B5分组可用同一检验批中不合格的器件作为样本．
表6 B组检验
若无其它规定，表中采用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
|
|
条件和要求 |
样品数／ |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
BI级器件 |
（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPD | ||
|
B1分组 尺寸 |
|
2016
|
|
2016
|
2/(0)
|
|
|
B2分组 抗溶性 |
2015
|
|
2015
|
|
4/(0)
|
|
|
B3分组 可焊性
|
2022 或 2003 |
焊接温度 245±5℃
|
2022 或 2003 |
焊接温度 245士5℃
|
15
|
LTPD系对引线 而言被试器件数 应多于3个
|
|
B4分组 内部目检和机 械检查 |
2014
|
|
2014
|
|
1/(0)
|
|
|
B5分组 健合强度 (1)热压焊或 (2)超声焊 ’ |
2011
|
试验条件 C或D
|
201l
|
试验条件 C或D
|
7
|
可在封装工序前 的内部目检筛选 后随机抽取样品 进行本分组试验 |
|
B8分组 (a)电参数 (b)静态放电 电灵敏度 (c)电参数 |
|
A1分组
|
．
|
不要求
|
151(0)
|
仅在初始鉴定或 产品重新设计时 进行
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7规定．
表7 C组检验
若无其它规定，表中采用的试验方法系指GJB 548的试验方法．
|
|
条件和要求 |
样品数／ |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPI) | ||
|
C1分组 稳态寿命
|
1005
|
试验条件D或E 温度:125℃ 时间:l000h |
1005
|
试验条件D或E 温度..125℃ 时间..1000h |
5
|
采用本规范图4 的线路
|
续表7 、 ，
|
|
条件和要求 |
样品数／ |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPD | ||
|
终点电测试
|
|
本规范AI、A2、 A3(见本规范 表2和表3) |
|
本规范A1，A2、 A3(见本规范 表2和表3) |
|
|
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测试
|
1010 2001
1014
|
试验条件C 试验条件E Y1方向
按方法1010 的目检判据 本规范A1、A2、 A3(见本规范 表2和表3) |
10lO 2001
1014
|
试验条件C 试验条件D Y1方向
按方法1010 的目检判据 本规范A1、A2、 A3(见本规范 表2和表3) |
|
|
|
C3分组 125℃下开关 测试 |
|
不要求
|
|
本规范A1O分组 （见袁2和表3） |
3 |
|
|
C4分组 -55℃下开关 测试 |
|
不要求
|
|
本规范A10分组 （见表2和表3） |
5
|
|
4.4.4D组检验
D组检验按本规范表8的规定．
D1、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。
表8 D组检验
若无其它规定，表中采用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
|
|
条件和要求 |
样品数／ |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
B-级器件 |
（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPD | ||
|
D1分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
15 |
|
|
D2分组 引线牢固性 密封 细检漏 粗检漏 |
2004 1014
|
试验条件B2
|
2004 1014
|
试验条件B2
|
15
|
|
续表8
|
|
条件和要求 |
梓品数／ |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPI)
| ||
|
.D3分组 热冲击
温度循环
抗潮湿
密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电参数
|
1011
1011
1004
1014
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环
按方法1004和 1010的目检判据 本规范A1、A2 A3分组（见本 规艳表2和表3） |
1011
1010
1004
1014
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环
按方法1004和 1010的目检判据 本规范A1、A2 A3分组（见本 规范表2和表3） |
15
|
B1级器件可按 68 4590第3.6条 严格度D
可在抗潮湿后密 封试验前进行终 点电参数测试 |
|
I)4分组 机械冲击 变顾振动 恒定加速度
密封 细俭漏 粗检漏 日检
终点电参数
D5分组 盐雾 密封 细检漏 粗检漏 目检
|
2002 2007 2001
1014
1009 1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Y1方向
按方法2002和 2007的目检判据 A1、A2、A3分组 （见本规定表2 和表3）
试验条件A
按方法1009的 目检 |
2002 2007 2001
1014
d
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D YL方向
按方法2002和 2007的目检判据 AI、A2、A3分组 （见本规定表2 和表3）
|
15
15
|
用于D3分组的样 品可用在D,I分组
B1级器件用户有 要求时可进行此 项试验、条件和 要求同B级器件
|
|
D6分组 内部水汽含量
|
1018
|
100℃时最大 水汽含量为 5000PPm |
|
不要求
|
3/(0)
5/(1)
|
当试验3个器件 出现1个失效时 可加试两个器 件并且不失效． |
续表8
|
|
条件和要求 |
样品数／ |
| |||
|
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
（接收数） |
说 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPD | ||
|
|
|
|
|
|
|
若第一次试验 未通过，可在 鉴定机构认可 的另一试验室 进行第二次试 验，若试验通过， 则该批被接收． |
|
D7分组 引线涂覆粘附 强度 |
2025
|
不适用于片状载 体 |
2025
|
不适用于片状载 体 |
15
|
LTPD系对引线 数而言
|
|
D8分组 封盖扭矩
|
2024
|
仅适用于熔封的 外壳 |
1024
|
仅适用于熔封的 外壳． |
5/(0)
|
|
4.5检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5.1 电压和电流
所有给出的电压均以器件GND端为基准。给定的电流以流入引出端为正，
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订货资料
订货合同规定下列内容。
a． 完整的器件编号（见本规范1.3.1条）
b． 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据要求
c． 需要时，对合格证书的要求
d． 需要时，对产品或工艺的更改通知采购单位的要求
e． 需要时，对失效分析，纠正措施和结果提供报告的要求
f． 对产品保证等级选择的要求
g． 需要时，对特殊载体，引线长度或引线形状的要求
h． 对认证标志的要求
1． 需要时，其它要求。
6.2缩写词、符号和定义
本规范所用的缩写词，符号和定义应符合GJB 597、GB 3431.1及如下的规定．
a． IOLK输出管截止时反向漏电流
b． VF电荷泵二极管电压；
c． Vm电荷泵输出电压．
6.3替代性
本规范规定的微电路其功能可替代普蠲工业器件，不允许用工业用器件替代军用器件。
附加说明
本规范由中国电子工业部科技与质量监督司提出
本规范由中国电子技术标准化研究所归口
本规范由国营第八七一厂起草
本规范主要起草人:葛红
计划项目代号IBll001． 979
下载说明：
1.请先分享，再下载
2.直接单击下载地址，不要使用“目标另存为”
3.压缩文件请先解压
4.PDF文件，请用PDF专用软件打开查看
5.如果资料不能下载，请联系本站