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SJ 50597 15 94 半导体集成电路 JT541LS247型LS TTL电路BCD 七段译码器 驱动器 详细规范 2

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:1093次
SJ 50597 15 94 半导体集成电路 JT541LS247型LS  TTL电路BCD   七段译码器 驱动器 详细规范 2
 

测试线路:

SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2

测试波形

SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2

3.6标志

    标志应按GJB 597第3.6条的规定。

3.7微电路组的划分

    本规范所涉及的器件应为第11徽电路组(见GJB 597附录E)。

4质量保证规定

4.1抽样和检验

    除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。

4.2筛选

    在鉴定和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。

    表4筛选

  若无其他规定,表中采用的方法系指GJB 548的试验方法。

 

    条件和要求

 

    筛选项目

    B级器件

    SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2级器件

    说    明

方法

    条    件

方法

    条    件

内部目检

2010

试验条件B

 2010

试验条件B

 

稳定性烘烙   

(不要求终点电测试)

 

1008

 

 

试验条件C

150℃

时间24h

1008

 

 

试验条件C

温度150℃

时间24h

 

温度循环

 

1010

 

试验条件C

 

 1010

 

试验条件C

 

可用方法1011试验条

件A替代

恒定加速度

 

 

2D0l

 

 

试验条件EY方向

 

 

200l

 

 

试验条件DY方向

 

 

试验后进行目检,引线

断落,外壳破裂,封盏

脱落为失效。

中间(老化前)电测试

 

 

本规范A1分组

 

 

本规范A1分组

 

由制造厂诲择是否避

行。

老化

 

 

  lOl5

 

 

  试验条件B

  温度125"C

  时间160h

 

  试验条件B

  温度12513

  时问160h

  按卒规范图3线路或

  等效线路。

 

中间(老化后)电测试

 

  本规范A1分组

 

  本规花AI分组

 

  PDA计算

 

 

 

 

 

  5%,本规范A1分组,

  当不合格品率不超过20%时可重复提交老化.但只允许一次

 

 

 10%.本规范A1分

 组,当不合格品率不超过20%时可重新提交老化,但只允许一次

  着老化前未进行中电参数试验,那么老化

 后AI分组检出的失

 效也应计人FDA内。

  最终电测试

 

 

 

 本规范A2,A3.A7.A9

  分组

 

 

 

 本规范A2.A3.A7.A9分组

 

 

  本项筛选后,改变器件的引线涂该或返工,

剐应再进行A1和A7

分组试验。

  密封细检漏

    粗检橱

1014

 

 Al或A2

 C1或C2

 1014

 

A1或A2

C1或C2

 

外部目检

2009

 3.1条

2009

3.1条

可在发货前按批进行。

鉴定或质量一致性检验试验样品的选取

5005

 

3.5条

 

5005

 

3.5条

 

 

 


 SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2

4.3鉴定检验

    鉴定检验应按GJB 597第4.4条的规定,所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4.4.1至4.4.4条)的规定。

4.4质量一致性检验

    质量一致性检验应按GJB S97第4.5条的规定,所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范A、B、C和D组检验(见本规范4,4.1至4.4.4条)的规定。

4.4.1 A组检验

    A组检验要求按本规范表5的规定。.

    电试验要求按本规范衰2,各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测量可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时,允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行,合格判定数(C)最大力2。

 


 

表5 A组检验

 

    LTPD

    试    验

 

 

    B级器件

 

    BI级器件

    A1分组25℃静态测试

    2

    2

    A2分组125℃静态测试

    3

    3

    A3分组 -55℃静态测试

    5

    S

    A7分组2S℃功能测试

    2

    2

    A9分组25℃开关测试

    2

    2

    A10分组125℃开关测试

    3

 

    All分组-55℃开关测试

    5

 

4.4.2B组检验

B组检验按本规范表6规定。

BI~B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。

表6 B组检验

若无其它规定,表中采用的试验方法系指GJB 548的试验方法。

 

    条件和要求

 

 

    样品数/

 

  试  验

    B级器件

    Bl级器件

    (接收效)

    说    明

方  法

条  件

方法

条  件

    或LTPD

B1分姐

尺寸

    2016

 

 按规定

 

  2016

 

  按规定

 

    2/(0)

 

 

B2分组

抗溶性

  2015

 

  按规定

 

2015

 

按规定

 

    4/(0)

 

 

B3分组

可焊性

 

  2022或

    2003

 

焊接温度

245±5℃

 

2022或

  2003

 

  焊接温度

  245±5℃

 

    15

 

 

 LTPD系对引线而吉,

被试器件数应多子3

个。

B4分组

内部目捡和

机械检查

  2014

 

 

  按规定

 

 

  2014

 

 

  按规定

 

 

    t/CO)

 

 

 

B5分组

健合强度

超声焊

 

    2011

 

 

 

 

试验条件

  C或D

 

 

 

  20il

 

 

 

 

  试验条件

  C或D

 

 

 

    15

 

 

 

 

可在封装工序前的内

部目检筛选后,随机抽取样品进行本分组试验。

B8分组

(a)电参数

(b)静态放电

灵敏度等级

(c)电参数

GJB 1649--93

 

 

 

 

 

  A1分组

 

 

  A1分组

 

 

 

  适用时

 

 

 

 

    15/(0)

 

 

初始鉴定或产品重新

设计时进行。

 

 

 

 

4.4.3C组检验

C组检验应按本规范表7规定。

表7 C组检验

若无其它规定,表中采厢的试验方法系指GJB 548的试验方法。

 

    条  件  和  要  求

样品数/

 

  试  验

    B级器件

    BI级器件

C接收数)

说明

方法

    条    件

方法

    条    件

或L1限D

C1分组

 

稳态寿命

 

终点电测试

 

 

1005

 

 

 

 

 

试验条件B

温度125E

时间1000h

本规范A1.A2和A3分组,

(见本规范表2和表3)

 

1005

 

 

 

 

 

试验条件B

温度l125℃

时同l 1000h

本规范A1.A2和A3分组.

(见本规范表2和表3)

 

    5

 

 

 

 

 

采用本规

范图3的

线路

 

 

C2分组

温度循环

恒定加速度

 

密封

  细检漏

  粗检漏

目检

终点电浏试

 

 

1010

  2001

 

  1O14

 

 

 

 

 

 

  试验条件C

  试验条件E

  Yl方向

 

  AI或A2

  CI或C2

  按方法1010的目检判据

  本规范A1.A2和A3分组

  (见本规范表2和表3)

 

  1010

  200l

 

  1014

 

 

 

 

 

 

  试验条件C

  试验条件D

  Y1方向

 

  A1或A2

  CI或C2

  按方法1010的目检判据

  本规范Al,A2和A3分组

  (见本规范表2和裹3)

    15

 

 

 

 

 

 

 

 

 

   

 

 

 

 

 

 

 

 

 

C3分组

125E下开关

测试

 

 

不要求

 

 

 

本规范A10分组(见表2和

表3)

 

    3

 

 

C3分组

一55℃下开关测试

 

 

不要求

 

 

 

本规范All分组(见表2和

表3)

 

    5

 

 

 

4.4.4D组检验

    D组检验按本规范表8的规定。

D1、D2、D5.D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不舍格的器件为样本。

表8 D组检验

    若无其它规定,表中采用的试验方法系指GIB 548的试验方法。

试验

条件和要求

样品数/(接收数)LTPD

说明

B 级器件

SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2级器件

方法

条件

方法

条件

D1分组

 尺寸

2016

按规定

2016

按规定

15

 

D2分组

引线牢固性

 

  密封

细检漏

粗检漏

2004

 

 

1014

试验条件B2(片式载体    采用试验条件D)

 

Al或A2

C1或C2

2004

 

 

1014

试验条件B2(片式载体    采用试验条件D)

 

Al或A2

C1或C2

15

 

D3分组

热冲击

温度循环

抗潮湿

 

密封

细检漏

粗检漏

目检

终点电测试

 

1011

1010

1004

 

 

1004

 

试验条件B 15次循环

试验条件C 100次循环

片式载体不要求引线弯曲应力的预处理。

 

Al或A2

C1或C2

按方法1004和1010的目检判据

本规范A1.A2和A3分组(见本规范表2和表3)

1011

1010

1004

 

 

1004

 

试验条件A 15次循环

试验条件C 10次循环

片式载体不要求引线弯曲应力的预处理。

 

Al或A2

C1或C2

按方法1004和1010的目检判据

本规范A1.A2和A3分组(见本规范表2和表3)

15

SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2级器件可按GB 4590第3.6条严格度D。

 

D4分组

机械冲击

变频振动

恒定加速度度

密封

细检漏

粗检漏

目检

 

终点电测试

 

2002

2007

2001

1014

试验条件B

试验条件A

试验条件E Y1方向

 

Al或A2

C1或C2

按方法2002和2007的目检判据

本规范A1.A2和A3分组(见本规范表2和表3)

2002

2007

2001

1014

试验条件A

试验条件A

试验条件D Y1方向

 

Al或A2

C1或C2

按方法2002和2007的目检判据

本规范A1.A2和A3分组(见本规范表2和表3)

15

用于D3分组的样品

用于D4分组的样品

 

D5分组

  盐雾

 

1009

试验条件A

片式载体不要求引线弯曲应力的预处理。

 

适用时同B级器件

15

 

 

续表8

 

    条  件    和  要  求

样品数,

 

  试  验

    B级器件

    SJ 50597/15-94 半导体集成电路 JT541LS247型LS--TTL电路BCD-- 七段译码器/驱动器 详细规范_2级器件

(接收效)

说明

方法

    条    件

方法

    条    件

或LTFD

密封

  细检漏

  粗检漏

  目检

  1014

 

 

 

 

  Al或A2

C1或C2

  按方法1009的日检刿据

 

 

 

 

  D6分组

  内部水汽

 

  含量

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

旧l8

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

100℃时最大承汽含量为

 

5000ppm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

适用时

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3/(0)

 

 

5/(1)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

当试验3个

器件出现1

个失效时,

可加试2个

器件并且不失效。若第一次试验未通过,可在鉴定机构认可的另—试

验验进行第二次试验,若试验通过则该批被接收-

D7分组

引线涂覆粘

附强度‘

 

2025

 

 

不适用于片式载体

 

 

2025

 

 

不适用于片式载体

 

    1s

 

 

LTPD系对

引线敷而盲

 

D8分组

封益扭据

 

2024

 

仅适用于熔封陶瓷外壳

 

2024

 

仅适用于熔封陶瓷外壳

 

  5/(O)

 

 

4.5检验方法

    检验方法应按下列规定。

4.5.1  电压和电流

    所有电压的参考点为器件的GND端,电流约定以流入器件引出端为正。

4.6数据报告

    当采购方需要时,应提供下列数据的副本。

    a.质量一致性检验数据(见本规范第4.4条);

    b.老化期间的电参数分布数据(见本规范第3.5条);

    c.最后电测试数据(见本规范第4.2条)。

5交货准备

5,1包装要求

    包装要求应按GJB 597第5.1条的规定。

6说明事项

6.1  订货资料

  订货合同应规定下列内容。

  a. 完整的器件编号(见本规范1.3.1条);

  b. 需要时,对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求;

  c.需要时,对合格证书的要求;

  d.需要时,对产品或工艺的更改,通知采购单位的要求;

  e. 需要时,对失效分析(包括GJB 548方法5003要求的试验条件).纠正措施和结果提供报告的要求;

    f.  对产品保证选择的要求;

    g.  需要时,对特殊载体,引线长度或引线形式的要求;

    h.  对认表标志的要求

    I.  需要时,其它要求

6.2缩写词,符号和定义

    本规范所用的缩写诃,符号和定义按GJB 597和GB 3431.1和GB 3431.2的规定。

6.3替代性

    本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件,不允许用普通工业用器件替代军用器

件。

附加说明:

本标准由中国电子技术标准化研究所归口。

本标准由871厂起草。

本标准主要起草人:葛红、冉福瑞、李燕荣。

计划项目代号:B21035。

1093
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