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SJ 2903—85 电子元器件详细规范

时间：2012-5-28 14:42:50 作者：标准吧来源：SJ 阅读：1234次

中华人民共和国电子工业部部标准

SJ 2903—85

电子元器件详细规范

厚膜混合集成电路CHM8546视放电路

中华人民共和国电子工业部

评定器件质量的依据

GB8976《膜集成电路和混合膜集成电路总规范》

SJ2903—88

CHM8546视放电路详细规范

订货资料．见本规范第7章

1机械说明

外形图:见本规范第9.1条；

安装:器件的引出端子用绕焊，管座

直接安装在显像管管脚上

标志:按GB8976第2.6条和本规范

第6章

2简要说明

厚膜混合集成电路

封装:光敏阻焊漆涂覆保护

应用:用于彩色电视机末级灯空板

3质量评定水平M

4 极限值

条款号	参数名称	符号	数值		单位
条款号	参数名称	符号	最小	最大	单位
4.1	电源电压	V_CC	——	250	V
4.2	店员电流	I_CC	——	55	Ma
4.3	功耗	P_D	——	14	W
4.4	工作温度	T_aMB	-10	60	℃
4.5	贮存温度	T_STG	-25	85	℃

5电特性

条款号	参数名称	符号	测试条件		测试路线	规范值			单位
						最小	典型	最大
5.1	增益	A_G	集电极直流电压为150V输出信号电压V_OPP为50V	条件1：频率为100kHz		33	34	35	dB
				条件2：频率为500kHz		31	32	33
5.2	增益偏差	A_R/G	集电极直流电压为150V输出信号电压V_OPP为50V 条件1：频率为100kHz 条件2：频率为500kHz	白平衡电位器调到最大以A_R=A_C+4dB为基准	按本规范10.3	-1.5	0	+1.5	dB
				白平衡电位器调到最小以A_R=A_C-5dB为基准
				白平衡电位器调到最大以AB=AG+4Bd为基准

续表

条款号	参数名称	符号	测试条件		测试路线	规范值			单位
条款号	参数名称	符号	测试条件		测试路线	最小	典型	最大	单位
		A_B/G		白平衡电位器调到最小以A_B=A_G-5dB为基准
5.3	增益频率特性	A_G1	集电极直流电压为150V输出信号电压V_OPP为50V,1MHz	条件1：频率为100kHz	按本规范10.3	-5.0	-4.0	-3.0	dB
5.3	增益频率特性	A_G1	集电极直流电压为150V输出信号电压V_OPP为50V,1MHz	条件2：频率为500kHz	按本规范10.3	-3.0	-2.0	-1.0	dB
5.4	增益频率特性偏差	A_Rf/Bf A_Bf/Cf A_Gf/Cf	集电极直流电压为150V输出信号电压V_OPP为50V，三管y端射集阻值相等，1MHz测定		按本规范10.3	-1.0	0	+1.0	dB
5.5		V_B	输入信号电压为0V,RP₃～RP₅集电极直流电压的可调范围		按本规范10.3	≤130	-	≥185	V
5.6	窗栅集电压可调范围	V_G	窗栅集电压为800V,测试用电压表输入阻抗要大于100MΩ		按本规范10.4	＜510	-	800	V

6 标志

器件上标志的标法示例．

7订货资料

订购器件至少需要下列资料

a．器件名称及型号，

b．详细规范号；

c．质量评定水；

d．电路功能；

e．其它。

8试验条件和检验要求

若无其它规定，本章引用文件指GB8976。

A组和B组

分组	评定水平M
分组	检查水平IL	AQL
A₁	Ⅰ	2.5
A₂	Ⅱ	1
B₂	S₄	1
B₁₁	Ⅱ	1

C组和D组

分组	评定水平M
分组	P(周期：月)	n(样本大小)	C（合格判定数）
C₁	6	8	1
C₂	6	8	1	2
C₃	12	8	1
C₄	12	8	1
C₁₁	12	4	1
D₁	6	13	1
D₂	12	8	1
D₁₁	12	4	1

A组一一一逐批

所有试验均为非破坏性的

检验或试验	引用文见条款号	条件若无其他规定Tamb=25℃(见GB8976第4.2条)	检验要求规范值
	4.3.2	按本规范附录A1	按本规范附录A1
	4.4.11	按本规范第5章，第10.3，10.4条	按本规范第5章

B组一一一逐批

所有试验均为非破坏性的

检验或试验	引用文件条款号	条件若无其他规定Tamb=25℃(见GB8976第4.2条)	检验要求规范值
	4.3.3	用通用或专用量具检验	按本规范第9.1条
		按本规范附录A2	按本规范附录A2

C组——周期

标有(D)的试验为破坏性的

检验或试验	引用文间条款号	条件若无其他规定Tamb=25℃(见GB8976第4.2条)	检验要求规范值
	4.4.11	见本规范附录A3	见本规范附录A3
	4.4.11 4.4.11	同A2分组见本规范附录A4 见本规范附录A5 见本规范附录A6 同A2分组	同A2分组见本规范附录A4 见本规范附录A5 见本规范附录A6 同A2分组
	4.4.11 4.5.8.3 4.5.3 4.4.11	同A2分组按4.5.8.3 按4.5.3条件1 加电时间：21d 同A2分组	同A2分组同A1分组同A1、A2分组同A2分组
	4.4.11 4.4.11	同A2分组按4.5.1温度：85±2℃ 时间：21d 同A2分组	同A2分组同A2分组同A2分组
	4.1.11 4.1.11	同A2分组见本规范附录A7 见本规范附录A8 同A2分组	同A2分组见本规范附录A7 见本规范附录A8 同A2分组

D组---周期

标有(D)的试验为破坏性的

检验或试验

引用文间条款号

条件若无其他规定Tamb=25℃(见GB8976第4.2条)

检验要求规范值

SJ 2903—85 电子元器件详细规范

4.4.11

4.5.14

4.4.11

同A2分组

按4.5.14温度：60±2℃

加电：

时间：1000h

同A2分组

同A1、A2分组

集电极电压变化小于±0.8V

同A2分组

SJ 2903—85 电子元器件详细规范

4.4.11

4.5.12.1

4.4.11

同A2分组

按4.5.12.1

静拉力：20N

时间：5±1S

数量：4根

见本规范附录A9

见本规范附录A10

同A2分组

同A1分组

见本规范附录A9

见本规范附录A10

同A2分组

SJ 2903—85 电子元器件详细规范

4.4.11

4.5.16

4.4.11

同A2分组

见本规范附录A11

见本规范附录A12

见本规范附录A13

按4.5.16（燃烧部位应不影响电测量

同A2分组

见本规范附录A11

见本规范附录A12

见本规范附录A13

同A1、A2分组

同A2分组

9外形图

9.1外形尺寸

SJ 2903—85 电子元器件详细规范

9.2引出端名称符号

引出端符号
V_CCG(K₁)	900V窗栅电源电压
V_CC(K2)	200V电源电压
GND(K₃)	接地
GND	显像管石墨层接地
B-Y	蓝色差信号输入端
G-Y	绿色差信号输入端
R-Y	红色差信号输入端
Y	亮度差信号输入端
T₁、T₂	灯丝电压

10附加资料

10.1电路图

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10.2元器件参数

位号	名称和型号	数量	备注
R₁	电阻器R—00.125±5%	1
R_2-3	R—0.125—150Ω±5%	2
R_4-6	R—0.125—1KΩ±10﹪	3
R_7-9	R—2—12KΩ±3﹪	3
R_10-11	R—0.125—5.6KΩ±10﹪	2
R₁₂	R—0.125—2.7KΩ±10﹪	1
R₁₃	R—0.125—1.5MΩ	1
R₁₄	R—0.125—1.5MΩ±10﹪	1
RP₁～₂	电位器W—0.125—510Ω±25﹪	2
RP₃～₅	W—0.125—5.6Ω±10﹪	3
RP₆	W—0.125—1.3M	1	R₁₃/P₆±10％
C₁	电容器CC1—61V—PfⅡ	1

续表

位号	名称和型号	数量	备注
C₂	CT81—3—2KV2200PfⅡ	1
L₁	电感器120Υh±10%	1
V₁_～3	晶体管参照DA1514	3	HFE80～00
X	显像管管座GZS12—13	1

10.3测试线路图

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10.4帘栅极电压的测试线路图

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10.5实验路线图

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注：集电极直流电压为l.50V．

附录A

试验方法

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A1外部目检

条件：目检或用3倍以上放大镜检。

检验要求及规范值：要求标志清晰，产品无裂痕；漆层不脱落;焊接不能有虚焊、漏焊;引出端子不许断裂、松动脱落;旋钮颜色符合安装位置（与标准样品对比），火花放电隙不能短路。

A2旋钮

条件：用外观或手检法

检验要求及规范值：要求手感灵活，不应过松或脱落，旋转时能限位。

A3极限温度下的主要电特性

条件：试验样品按本规范第10.5条接线，输入信号为OV，集电极电压为150V时，按下表的要求和顺序进行试验。

阶段	温度	存放时间	集电极电压
1	+25±2℃	30min	V_C11
2	-10±2℃		V_C12
3	+25±2℃		V_C13
4	+70±2℃		V_C14
5	+25±2℃		V_C15

检验要求及规范值：各管集电极电压的变化。

△ V_C1=V_C12-V_{C13``````````}（1）

△ V_C2=V_C14-V_{C15``````````}（2）

应在±0.8V内。

△V_C3=V_C11-V_{C13``````````}（3）

△ V_C4=V_C13-V_{C15``````````}（4）

△ V_C5=V_C15-V_{C11``````````}（5）

应在±0.4V内。

A4基扳强度

条件：用手捏住试验样品，在显像管管脚上或模拟插头上插拔5次，

检验要求及规范：仍能满足本规范A1分组的规定。

A5振动

条件：把试验样品直接安装在显像管管脚或模拟插头上，一起装上振对台进行试验，振幅2㎜（峰-峰值），频率20Hz，垂直和水平两个方向各振2h。

检验要及规范值：仍能满足本规定A1分组的规定。

A6跌落

条件：试验样品以任意方向跌落在2㎜厚聚氯乙稀铺设的混凝土地面上或枫木台面上，跌落5次，落差40cm。

检验要求及规范值：仍能满足本规范A1,A2分组的规定。

A7周期温热

条件：试验样品按本规范第10.5条接线，集电极电压为150V，置于交变湿热箱内，按下图所示的要求和顺序进行试验。（a、b、d、e、g、i阶段相对湿度90%～96%，c，f阶段相对温度80%～96%，h阶段任意）循环10次。

SJ 2903—85 电子元器件详细规范

检验要求及规范值：仍能满足本规范A1分组的规定。

A8高压蒸汽

条件：将试验样品旋钮取下，置于2×10Pa的高压锅内，隔水蒸煮8h，恢复时间大

于4h，在24h内测完。

检验要求及规范值：仍能满足本规范A1、A2分组的规定。

A9抗弯

条件：试验样品的方形接线柱，沿基板平行两个方向，将20N的静拉力施加在方形

接线柱上，保持时问为5±1S，进行10次，数量4根。

检验要求及规范值．仍能满足本规范A1分组的规定。

A10元器件焊接强度

条件：沿基板法线方向将30N静拉力施加在各元器件上保持时间为l0±1S．

检验要求及规范值，仍能满足本规范A1、A2分组的规定。

Al1静电破坏

条件：试验样品按实装条件和下图所示，在整机显像管屏幕上外贴100×200㎜铝箔，通过球间隙（2个铜球的直径为φ20mm，间隙为3㎜，串电阻R=lkΩ接地，

电源开关切换100次，每次时间为1s，使静电放电.

SJ 2903—85 电子元器件详细规范

检验要求及规范值．仍能满足本规范A1分组的规定。

A12高压放电

条件：试验样品按实装条件和下图所示，将显像管阳极上的高压通过电阻R=51MΩ,向电容C=3300pF/30kV充电，通过球间隙对显像管管座各端分别进行200次高压放电试验，调节两球间隙，达到每3S放电一次．

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