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SJ 50597.34 95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范 2

时间：2012-5-28 14:42:50 作者：标准吧来源：SJ 阅读：1052次

SJ 50597.34 95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范 2

表3—2 JCA086 电测试

分组	符号	引用标准 GB 3834	条件 = 0V）	规范值		单位
分组	符号	引用标准 GB 3834	条件 = 0V）	最小	最大	单位
A1 25℃)		GB 3439第2.1条	接地，开路，输出端开路，被测输入端=lmA。	—	1.5	V
			开路，接地，输出端开路，被测输入端=1mA。	—	-6.0	V
		2.15	=15V，=，= 1输出端开路	—	0.4	μA
		2.7	=15V，=，= 1=1μA,	14.95	—	V
		2.8	=15V，=，= 1 =1μA	—	0.05	V
		2.1	=15V，被测门任意一输入端=3.5V,其他=1.5V,=0.5V	3.5	—	V
			=15V，被测门任意一输入端=7.0V,其他=3.0V,=1.0V	7.0	—
			=15V，被测门任意一输入端=11.0V,其他=4.0V,=1.5V	11.0	—

续表3—2

分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）		规范值		单位
					最小	最大
		2.2	=5V，=1.5V，= 0.5V		—	1.5	V
			=10V，=3.0V，= 1.0V		—	3
			=15V，=4.0V，= 1.5V		—	4
		2.11	=5V，=，= 4.6V		-0.51	—	mA
			=15V，=，= 13.5V		-3.4	—
		2.12	=5V，=，= 0.4V		0.51	—	mA
			=15V，=，= 1.5V		3.4	—
		2.9	=15V，所有输入端并接，=15V,仅25℃条件下测试		—	100	nA
			=15V，输入端逐一测=3.5V,其他输入端接地		—	10
		2.10	=15V，所有输入端并接，=0V,仅25℃条件下测试		—	-100	nA
			=15V，输入端逐一测=0V,其他输入端接15V		—	-10
A2 (=25℃)	除不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表l
A3 (=25℃)	除不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表l
A4 (=25℃)	C1	3.1	=0V,f=1MHZ,每个输入端分别侧		—	7.5	pF
A7 (=25℃)	= 5V．功能测试按功能表
A9 (=25℃)		3.10	=200KΩ =50pF	=5	—	450	ns
				=10V	—	180
		3.9		=5V	—	620	ns
				=10V	—	250
		3.16	=200KΩ =50pF（见图2）	=5V	—	200	ns
				=10V	—	100
		3.15		=5V	—	200	ns
				=10V	—	100
A10 (=25℃)	参数、条件同A9分组，规范值按表l
A11 (=25℃)	参数、条件同A9分组，规范值按表l

注：1）25℃条件下测 SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 埘．可选取分别测试每个输入端或所有输入端井接测量的方法。

表3—3 JC 4070电测试

分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）	规范值		单位
分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）	最小	最大	单位
A1 (=25℃)		GB 3439第2.1条	接地，开路，输出端开路，被测输入端=lmA。	—	1.5	V
			开路，接地，输出端开路，被测输入端=1mA。	—	-6.0	V
		2.15	=15V，=，= 1输出端开路	—	0.4	μA
		2.7	=15V，=，= 1=1μA,	14.95	—	V
		2.8	=15V，=，= 1 =1μA	—	0.05	V
		2.1	=15V，被测门任意一输入端=3.5V,其他=1.5V,=0.5V	3.5	—	V
			=15V，被测门任意一输入端=7.0V,其他=3.0V,=1.0V	7.0	—
			=15V，被测门任意一输入端=11.0V,其他=4.0V,=1.5V	11.0	—
		2.2	=15V，被测输入端=4.0V，其他== 0.5V	—	1.5	V
			=10V，被测输入端=3.0V，其他== 1.0V	—	3
			=15V，被测输入端=4.0V，其他== 1.5V	—	4
		2.11	=15V，=，=被测门输出= 4.6V	-0.51	—	mA
		2.11	=15V，=，=被测门输出= 13.5V	-3.4	—	mA

续表3—3

分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）		规范值		单位
					最小	最大
		2.12	=5V，=，= 0.4V,逐一测每个输出门		0.51	—	mA
			=15V，=，= 1.5V，逐一测每个输出门		-3.4	—
		2.9	=15V，所有输入端并接，=15V,仅25℃条件下测试		—	100	nA
			=15V，输入端逐一测=3.5V,其他输入端接地		—	10
		2.10	=15V，所有输入端并接，=0V,仅25℃条件下测试		—	-80	nA
			=15V，输入端逐一测=0V,其他输入端接15V		—	-10
A2 (=25℃)	除不测外，所有参数、条件同A1分组，规范疽按表l
A3 (=25℃)	除不测外，所有参数、条件同A1分组，规范疽按表l
A4 (=25℃)	C1	3.1	=0V,f=1MHZ,每个输入端分别侧		—	7.5	pF
A7 (=25℃)	= 5V．功能测试按功能表
A9 (=25℃)		3.10	=200KΩ =50pF	=5	—	450	ns
				=10V	—	180
		3.9		=5V	—	620	ns
				=10V	—	250
		3.16	=200KΩ =50pF（见图2）	=5V	—	200	ns
				=10V	—	100
		3.15		=5V	—	200	ns
				=10V	—	100
A10 (=25℃)	参数、条件同A9分组，规范值按表l
A10 (=25℃)	参数、条件同A9分组，规范值按表l

注：1）25℃条件下测 SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 埘．可选取分别测试每个输入端或所有输入端井接测量的方法。

表3—4 JC 4077电测试

分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）	规范值		单位
分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）	最小	最大	单位
A1 (=25℃)		GB 3439第2.1条	接地，开路，输出端开路，被测输入端=lmA。	—	1.5	V
		GB 3439第2.1条	开路，接地，输出端开路，被测输入端=1mA。	—	-6.0	V
		2.15	=15V，=，= 输出端开路	—	0.4	μA
		2.7	=15V，=，= =1μA,逐一测每个门输出端	14.95	—	V
		2.8	=15V，=，= =1μA，逐一测每个输出端	—	0.05	V
		2.1	=5V，被测输入端=3.5V,其他=1.5V,=0.5V	3.5	—	V
			=10V，被测输入端=7.0V,其他=3.0V,=1.0V	7.0	—
			=15V，被测输入端=11.0V,其他=4.0V,=1.5V	11.0	—
		2.2	=5V，被测输入端=1.5V，其他== 4.5V	—	1.5	V
			=10V，被测输入端=3.0V，其他== 9.0V	—	3
			=15V，被测输入端=4.0V，其他== 13.5V	—	4
		2.11	=5V，== 4.6V，逐一测每个门输出端	-0.51	—	mA
		2.11	=15V，== 13.5V，逐一测每个门输出端	-3.4	—	mA

续表3—4

分组	符号	引用标准 GB 3834	条件（若无其他规定,= 0V）		规范值		单位
					最小	最大
		2.12	=5V，=，=被测门输出= 0.4V		0.51	—	mA
			=15V，=，=被测门输出= 0.4V		-3.4	—
		2.9	=15V，所有输入端并接，=15V,仅25℃条件下测试		—	80	nA
			=15V，输入端逐一测=3.5V,其他输入端接地		—	10
		2.10	=15V，所有输入端并接，=0V,仅25℃条件下测试		—	-80	nA
			=15V，输入端逐一测=0V,其他输入端接15V		—	-10
A2 (=25℃)	除不测外，所有参数、条件同A1分组，规范疽按表l
A3 (=25℃)	除不测外，所有参数、条件同A1分组，规范疽按表l
A4 (=25℃)	C1	3.1	=0V,f=1MHZ,每个输入端分别侧		—	7.5	pF
A7 (=25℃)	= 5V．功能测试按功能表
A9 (=25℃)		3.10	=200KΩ =50pF	=5	—	250	ns
				=10V	—	120
		3.9		=5V	—	250	ns
				=10V	—	120
		3.16	=200KΩ =50pF（见图2）	=5V	—	200	ns
				=10V	—	100
		3.15		=5V	—	200	ns
				=10V	—	100
A10 (=25℃)	参数、条件同A9分组，规范值按表l
A11 (=25℃)	参数、条件同A9分组，规范值按表l

注：1）25℃条件下测 SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 埘．可选取分别测试每个输入端或所有输入端井接测量的方法。

测试电路

SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2

测试波形

SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2

图2开关测试电路和波形图

注：①测试中所有不用的输入端必须接到 SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 上。

②脉冲发堆器H“下列特性： SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 ：；

SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 ，f=200kHz；

③负载 SJ 50597.34-95 半导体集成电路 JC4085、JC4086、JC4070、JC4077型 CMOS门电路详细规范_2 一50pF(包括探头央具及分市电容)。

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