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SJ T 50597.7 94 半导体集成电路JT54S74和JT54S175型 S TTL触发器详细规范 2

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:950次
SJ T 50597.7 94 半导体集成电路JT54S74和JT54S175型 S TTL触发器详细规范 2
 

表3-2 JT54S175  电测试

 

 

  引用标准

    条    件

规范值

 

  分组

  符号

  GB 3439

25℃)

最小

最大

单位

    AI

 

 VOH

 

 2.2条

 

Vcc = 4.5V, VIL= 0.8V, VIH=2.0V,

IOH= -1mA

2.5

 

__

 V

 

VOL

 

2.5条

 

Vcc = 4.5V, VIL= 0.8V, VIH=2.0V,

IOH= 20mA

 

---

    0.5

 

 V

 

 VIK

2.1条

Icc=4.5V.被测输入端.rn=- 18mA

--

-1.2

 V

    A1

 

  IJ

 

  2.11条

 

  Vcc= 5.5V,被测输入端V1=5.5V.

    其余输入端V1= OV。

 

--

    l

 

 mA

 

 IIH

 

2.12条

 

Vcc= 5.5V,被测输入端V1=2.7V.

    其余输入端V1= OV。

 

--

    50

 

mA

IIL

 

 2,13条

 

Vcc= 5.5V,被测输入端V1=0.5V.

    其余输入端V1= 5.5V。

 

--

    -2

 

 mA

 

IOS

2,21条

Vcc= 5.5V

_40

- 100

mA

 ICC

 

2.25条

 

Vcc=5.5V,CR端和D端V1=4.5 v.

CP端瞬时接地后接4.5v,输出端开路

 

--

    96

 

mA

    A2

 TA= 125'C,除VIK不测外,  参数、条件、规范值均同AI分组。

    A3

 TA=-55℃,除VIK不测外,  参数、条件、规范值均同A1分组。

  A7

按功能表进行。 

    A9

  ?mix

3.10条

Vcc= 5.0V.

CL= 15pF±10%

RL= 280Ω±5%

见本规范图2

 CP

  75

  —

 MHZ

  tPLH

 

 

 3.4条

CR→Q

    15

 

ns

CP→Q,Q

    12

   tPLH

3.5条

CR→Q

 

    22

 

CP→Q.Q

    17

 ns

    AlO

   ?mix。

3,10条

T^= 125"C,  条件同A9分

CP

  65

   —

 MHZ

  tPLH

 

CR→Q

 

    18

 

3.4条、

CP→Q,Q

    15

 ns

    tPLH

5.5条

CR→Q.Q

 

    25

 

  CP→Q,Q

    20

 ns

    All

 TA=- 55℃,  参数、条件、规范值均同A1O分组。

 


a.     负载线路

SJ/T 50597.7-94 半导体集成电路JT54S74和JT54S175型 S-TTL触发器详细规范_2

 

 

 

SJ/T 50597.7-94 半导体集成电路JT54S74和JT54S175型 S-TTL触发器详细规范_2

 

                 图2负载线路和波形图

    注:①输入波形应具有下列特性。

    tW=20ns;tf=2.5ns;?≦1MHz

    ⑦二极管型号为2CK76。

3.6标志

    标志应按GJB 597第3.6条的规定。

3-7微电路组的划分

    本规范所涉及的器件应为第10微电路组(见GIB 597附录E)。

4质量保证规定

4.1抽样和检验

    除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB 597和GJ8 548方法5005的规定。

4.2筛选  

    在鉴定和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB548方法5004

和本规范表4的规定进行筛选。   


表4筛选程序

 

    条件和要求

 

  筛选项目

    B级器件

    Bl级器件

    说  明

方法

  条  件

方法

  条  件

内部目检

2010

试验条件B

 2D10

试验条件B

 

稳定性烘烙

(不要求终

点测量)

1008

 

 

试验条件C

《温度:l50℃

时闻.24h)

1008

 

 

试验条件C

(温度:15O℃

时间:24h)

 

温度循环

1010

试验条件c

 lOlO

试验条件C

可用方法1011试验条件A替代。

恒定加速度

 

200I

 

试验条件E.

YI方向

2∞I

 

试验条件D.

Y1方向

 

目检

 

 

 

 

   

 

可在“密封”筛选后进行。引线断落、

外壳破裂、封盖脱落为失效。

中间(老化

前)电涮试

 

本规范AI分组

 

 

本规范A1分组

 

由制造厂选择是否进行。

 

老化

 

 

1015

 

 

试验条件D

(温度:125℃

时间:160h)

lOl5

 

 

试验条件D

(温度:125℃

时闻:160h)

按本规范圈3线路或等效线路。

 

 

中间(老化

后)电测试

    ,

 

本规范AI分组

 

 

本规范Al分组

 

 

PDA计算

 

 

 

 

 

 

5%,本规范AI

分组。当不合

格品璋【不超过

1096时可重新

提交老化,但只

允许一次

 

10%.本规范

.A1分组。当不

合牿晶率不超

过20%时可重

新提交老化,但

只允许一次

若老化前未进行中何电参致试验,那

么老化后A1分组检出的失效散也应

计入PDA内。

 

 

 

最终电测试

 

 

 

本规范A2、A3、

A7、A9分组

 

 

本规范A2、A3、

A7、A9分组

 

本项筛选后,若改变器件的引线涂覆

或返工.则应再进行A1和A7分组试

验。

密封

    细检漏

    祖检漏

1014

 

 

 

 IOl4

 

 

 

 

外部目检

2009

 

 2009

 

可在发货前按批进行。

  鉴定试验或

质量一致性检验试验样品的选取

 

 

 

5005

 

 

 

 

 3.5条

 

 

 

 

5005

 

 

 

 

 3.5条    .

 

 

 


SJ/T 50597.7-94 半导体集成电路JT54S74和JT54S175型 S-TTL触发器详细规范_2

    图3老化线路和寿命试验线路图

    注;①Vcc=5.0V  R,=220n士10%;  Rz=27n.

    ②脉冲发生器特性要求:

    G1:VIH=2.0~5.5V;VIL=-0.5~0.7V;?=100kHz;占空比:q=50%

    G2:除?= 50kHz外,其余与G1相同,且与G1同步

4.3鉴定检验

    鉴定检验应接GJB 5974.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范

A、B、C和D组检验(见4.4.1~4.4.4条)的规定。

A.4质量一致性检验

    质量一致性验应按G]B5974.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本

规范A、B、C和D组检验(见4.4.1-4.4,4条)的规定。

4.4,1 A组检验

  A组检验应按本规范表5的规定。

  电试验要求按本规范表2,各分组的具体参效测试按本规范表3的规定。

  各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时,允许100%检


验。各分组的测试可按任意顺序进行,合格判定数(C)最大为20

表5 A组检验

 

    LTPD

    试    验

 

 

    B级器件

 

    BI级器件

    Al分组

    25℃下静态测试

    2

 

    2

 

  A2分组

    125"(2下静态测试

    3

 

    3

 

  A3分组

    - 55℃下静态测试

    5

 

    5

 

    A7分组

    25℃下功能测试

    2

 

    2

 

  A9分组

    25℃下开关测试

    2

 

    2

 

    A10分组

    125℃下开关测试

    3

 

    A11分组

    - 55℃下开关测试

    9

 

    —

4,4.2 B组检验

  B组检验应按本规范表6的规定。

Bl~B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。

表6 B组检验

若无其他规定,表中采用的方法系指GJB 548的试验方法

 

    条件和要求   

 

 

  试  验

  B级器件

  Bl级器件

样品数/(接收数)或LTPD

 

  说  明

方法

  条  件

  方法

  条  件

BI分组

尺寸

2016

 

 

 2016

 

 

    2/(0)

 

 

B2记分组

扰溶性

2015

 

 

 2015

 

 

    4/(0)

 

 

B3分组

可焊性

 

 

2022

  戏

2003

 

焊接温度:

245±5℃

 

 

  2022

  或

  2003

 

  焊接温度:

  245±S℃

 

 

    15

 

 

 

 LPTD系对引线

截面育,被试器

件数应多子3

个。

 


续  表

 

    条件和要求

 

 

  试  验

  B级器件

  Bl级器件

样品数/(接收效)或LTPD

 

  说  明

 

方法

  条  件

  方法

  条  件

B4分组

内部目检

和机械检查

 

2014

 

 

 

 2014

 

 

 

    1/(O)

 

 

B5分组

键合强度

(1)热压焊或

(2)超声焊

 

 

2011

 

 

 

 

试验条件C

或D

 

 

 

  2011

 

 

 

 

  试验条件C

  或D

 

 

 

    7

 

 

 

可在封装工序

前的内部目检

筛选后,随机抽

取样品进行本

分组试验。

B8分组

(a)电测试

(b)静电放电

灵敏度等级

(c)电测试

 

 

GJB-

1649

 

 

 AI分组

 

 

AI分组

 

不要求    .

 

 

 

 

 

 

    15/(0)

 

 

仅在初始浆定

或产品重耪设

计时进行。

 

 

4.4.3C组检验

  C组检验应按本规范表7的规定。

表7   C组检验

若无其他规定,表中采用的方法系指GJB 548的试验方法

 

    条件和要求

 

 

 

试  验

  B级器件

  Bl级器件

样品数/(接收效)或LTPD

 

  说  明

方法

条  件

方法

条  件

    C1分组

    稳态寿命

 

 

 

  终点电测试

 

 

 

  1005

 

 

 

 

 

 

 

试验条件D

或E

温度:125℃

时间:1000h

A1.A2.A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

1005

 

 

 

 

 

 

 

试验条件D

或E

温度z125℃

时间:1000h

A1,A2.A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

    5

 

 

 

 

 

 

 

采用本规范

图3的线路

 

 

 

 

 

  C2分组

  温度循环恒

  定加速度

 

    密封

    细检漏

    粗检漏

 

1010

2001

 

l014

 

 

 

试验条件C

试验条件E

Y1方向

 

 

 

 

1010

2001

 

1014

 

 

 

试验条件C

试验条件D

Y1方向

 

 

 

    15

 

 

 

 

 

 

 

 


   续表

 

    条件和要求

 

 

 

试  验

  B级器件

  Bl级器件

样品数/(接收效)或LTPD

 

  说  明

方法

条  件

方法

条  件

   目检

 

  终点电测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

按方法1010的目检判据

A1.A2.A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

 

 

 

 

 

 

 

按方法1010的目检判据

A1.A2.A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

   

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

  C3分组

 125℃下开关测试

 

 

 

 

不要求

 

 

 

A10分组(见本规范表2和表3)

 

 

      3

 

 

 

C4分组

 -55℃下开关测试

 

 

不要求

 

 

A11分组(见本规范表2和表3)

 

      5

 

 

 

4,4.4 D组检验

D组检验应按本规范表8的规定。

D1、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。

表8 D组检验

若无其他规定,表中采用的方法系指GJB548的试验方法

 

    条件和要求

 

 

 

    试  验

  B级器件

  B1级器件

样品效/(接收数)

 

  说  明

方法

  条  件

方法

条  件

  或LTPD

D1分组

尺寸

 

2016

 

 

 2016

 

 

     l5

 

 D2分组

引线牢同性

 

 

 

密封

  细检漏

  粗检漏

 

  2004

 

 

 

  1014

 

 

 

  试验条件

  B2(片状

  载体采用试

  验条件D)

 

 

 

 

2004

 

 

 

  1014

 

 

 

  试验条件

  B2(片状

  载体采用试

  验条件D)

 

 

 

 

 

  D3分组

  热冲击

 

温度循环

 

 

  lOll

 

  10lO

 

 

  试验条件B

  15次循环

  试验条件C

  100次循环

 

  10ll

 

  1010

 

 

  试验条件..

  15次循环

  试验条件C

  10次循环

 

 

续  表

 

    条件和要求  

样品数/(接收效)

    或LTPD

 

 

  试  验

  B级器件

  B1级器件

 

  说  明

方法

  条  件

方法

条  件

抗潮湿

 

 

 

密封

  细检漏

  粗检漏

目  捡

 

 

1004

 

 

 

  1014

 

 

 

 

 

片状载体不

要求引线弯

曲应力的预

处理

 

 

 

按方法1004

和1010的目

检判据

  1004

 

 

 

  10l4

 

 

 

 

 

片状载体不

要求弓l筑弯

曲应力的预

处理

 

 

 

按方法1004

和1010的耳

检判据

 

 

 

 

    15

 

 

 

 

 

 B1级器件可

按GB4590

第3.6条。

时间:56d

 

 

 

 

 

 

终点电测试

 

 

 

 

Al,A2,A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

 

Al,A2,A3分

组(见本规范

表2和袭3)

 

 

可在抗潮湿

后和密封试

验前进行终

点电参数涮试

D4分组

机械冲击

变频振动

恒定加速

密封

  细检漏

  粗检漏

目检

 

 

终点电测

 

 

2002

 2007

 200J

 

 1014

 

 

 

 

 

 

 

 

 

试验条件B

试验条件A

试验条件E

Y1方向

 

 

 

按方法2002

和2007的目

检判据

A1.A2,A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

2002

2007

2001

 

1014

 

 

 

 

 

 

 

 

 

试验条件A

试验条件A

试验条件D

Yl方向

 

 

 

按方法2002

和2007的目

检判据

A1.A2.A3分

组(见本规范

表2和表3)

 

 

    15

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 D3分组的

样品可用在

D4分组。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D5分组

盐雾

 

 

 

 

密封

  细检漏

  粗检滴

 

  1009

 

 

 

 

  1014

 

 

 

试验条件A

片状载体不

要求引线弯

曲应力的预

处理

 

 

 

 

 

 

    15

 

 

 

 

 

 

 

 Bl级器件用

户有要求时,

可进行此项试

验,条件和要

求同B级器件

 

 

 

 

 


sJ50597.7-94

续  表

 

    条件和要求

样品数/(接收数)

    或LTPD

 

 

  试  验

  B级器件

 B1级器件

 

  说  明

方法

  条  件

  方法

  条  件

  目捡

 

 

按方法1009

的目检判据

 

 

 

 

D6分组

内部水汽

台量

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1018

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 100℃时最

大水汽含量

为:5OOOppm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

不要求

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3/(0)

 

5/(1)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

当试验3个

器件出现1

个失效时.

可加试2个

器件并且不

失效。

若第一次试

验未通过时,

可在鉴定机

构认可的另

一试验室进

行第二次试

验,若第二

次试验通过.

则该批应被

接收。

D7分组

引线涂覆粘

附强度

 

2025

 

 

不适用于片

状载体

 

2025

 

 

不适用于片

献载体

 

    15   

 

 

LTPD系对引线

数而盲。

1)8分组

封盖扭矩

2024

 

仅适用于熔

封的外壳

2024

 

仅适用于熔

封的外壳

    5(O)

 

 

 

4.5检验方法

    检验方法应按下列规定。

4.5,1  电压和电流

    所有电压的参考点为器件的GND端,电流约定以流入器件引出端为正。

5交货准备

5.1包装要求

    包装要求按GJB 597第5.1条的规定。

6说明事项

6.1订贷资料

订货合同应规定下列内容:

a.    完整的器件编号(见1.3.1)

b.    需要时,对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求;

c.    需要时,对合格证书的要求;

d.    需要时,对产品或工艺的更改,通知采购单位的要求;

e.    需要时,对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求;

f.    对产品保证等级选择的要求;

g.    需要时,对特殊载体、引线长度或引线形式的要求;

h.    对认证标志的要求;

i.    需要时,其他要求。

6.2缩写词、符号和定义

 本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB597、GB3431.1和GB3431.2的规定。

6.3替代性

  本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件,不允许用普通工业用器件替代军用器件。

 

附件说明:

本规范由中国电子技术标准化研究所归口。

 本规范由北京八七八厂起草。

本规范主要起草人:孙人杰。

计划项目代号:JB11011    950
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