SJ T I0075 91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ75361型双TTL MOS驱动器
中华人民共和国电子工业行业标准
电子元器件详细规范
半导体集成电路CJ75361型
双TTL-MOS驱动器
Detail specification for electronic components
Semiconductor integrated circuit
CJ 75361 dual TTL-MOS driver
本规范规定了半导体集成电路CJ75361型双TTL-MOS驱动器质量评定的全部内容。
本标准符合GB4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。
1991-04-08批准 1991-07-01|
中华人民共和国机械电子工业部 |
| |||||||
|
评定器件质量的依据， GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集 成电路总规范》 GB/T 12750《半导体集成电路分规范（不 包括混合电路 ）》 |
SJ/T 10075——91 | |||||||
|
CJ 75361型双TTL-MOS驱动器详细规范 订货资料，见本规范第7章 | ||||||||
|
1．机械说明 j 外形依据} GB 7092《半导体集成电路外， 形尺f寸》 外形图：GB 7092 |
2．简要说明 双极型电平转换器电路 半导体材料：硅 封装：空封、非空封 逻辑符号、逻辑图和功能表，见本规范第 11章 品种： | |||||||
|
J型 |
5.4条及5.4.1条 | |||||||
|
P型 |
5.5条及5.5.1条 | |||||||
|
| ||||||||
|
引出端排列： 
引出端符号的名称见本规范第11章 标志；按GB4589.1第2.5条及本规范 第6章 |
| |||||||
|
3质量评定类别 Ⅱ． ⅢA,ⅢB, ⅢC | ||||||||
4极限值（绝对最大额定值）
若无其它规定，适用于全工作温度范围。
|
|
|
|
数 值 |
| |
|
条款号 |
参 数 |
符号 |
最小 |
最大 |
单 位 |
|
4.1 |
工作环境温度 |
Tamb |
0 |
70 |
℃ |
|
4.2 |
贮存温度 |
Tstg |
-65 |
150 |
℃ |
|
4.3 |
电源电压(Tamb=25℃) |
Vccg |
|
24 |
V |
|
4.4 |
输入电压 |
Vi |
|
5.5 |
V |
|
4.5 |
输入端之间的电压 |
Vn |
|
5.5 |
V |
5 电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第8章。
5.1 电工作条件
若无其它规定，适用于全工作温度范围。
|
|
|
数 值 |
| ||
|
条款号 |
参 致 |
符号 |
最小 |
最 |
单 位 |
|
5．1.1 |
电源电压 |
VCCZ |
5 |
24 |
V |
|
5.1.2 |
输入高电平电压 |
VIH |
2 |
|
V |
|
5.1．3 |
输入低电乎电压 |
VIL |
|
0.8 |
V |
|
5.1.4 |
输出高电平电流 |
IOH |
|
10 |
mA |
|
5．1．5 |
输出一低电乎电流 |
IOL |
|
40 |
mA |
5.2电特性
若无其它规定，适用于全工作温度范围。
|
条款号 |
特性和条件 |
符号 |
规范值 |
单位 |
试 验 | ||
|
最小 |
最大 | ||||||
|
5．2．1 |
输出高电平电压 |
VIL=0.8V IOH=-50μA |
VOH |
VCCZ-l |
|
V |
A3/A3a/A3b |
|
VIL=0.8V Io =-lOmA |
VCCZ-2.3 | ||||||
|
5. 2.2 |
输出低电平电压 |
VIH=2V l0L= 10mA |
VOL |
|
0.3 |
V |
A3/A3a/A3b |
|
VCC2= 15~24V VIH=2V,IOL=40nA |
0．5 | ||||||
续表
|
条款号 |
特性和条件 |
符号 |
规范值 |
单位 |
试 验 | |||
|
最小 |
最大 | |||||||
|
5．2.3 |
输出籍位电压 |
VI=0,IOH=20mA |
VOK |
|
VCCZ+1.5 |
V |
A3/A3a/A3b | |
|
5.2.4 |
输入高点平电流 |
VI=2.4V |
A输入 |
IIH |
|
40 |
|
|
|
E输入 |
80 |
μA |
A3/A3a/A3b | |||||
|
5.2.5 |
输入低电平电 |
VI=0.4V |
A输入 |
IIL |
|
--1.6 |
mA
|
A3/A3a/A3b
|
|
E输入 |
|
-3.2 | ||||||
|
5.2.6 |
电源电流 |
VCCI=0,VCCZ=24V 全部输入=5V．空载 |
ICCZ |
|
0.5 |
mA |
A3/A3a/A3b | |
|
5.2.7
|
输出高电平电 源电流 |
VCCI=5. 25V VCCZ=24V 全部输入=OV 空载 |
ICCI(H) |
|
4 |
mA |
A3/A3a/A3b
A3/A3a/A3b | |
|
ICCZ(H) |
|
0.5 | ||||||
|
5.2.8 |
输出低电平电源电流
|
VCCI=5．25 V VCCZ= 24V 全部输入=5V 空载 |
ICCI(L) |
|
24 |
mA | ||
|
ICCZ(L) |
|
13 | ||||||
|
5.2.9 |
传输延迟时间 |
VCCI= 5V TA=25℃ VCCZ=20V CL=390pF Rσ=10Ω |
tOLH |
|
24. |
ns |
A4 | |
|
tOHL |
20 | |||||||
|
tTLH |
40 | |||||||
|
tTHL |
|
35 | ||||||
|
tPLH |
55 | |||||||
|
tPHL |
47 | |||||||
注：1）为输出串联电阻：在电路中起阻尼作用．所以又称阻尼电阻，
6标志
器件上的标志示例：
若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。
7订货资料
若无其它规定，订购器件至少需要下列资料：
a.产品型号
b.详细规范编号
c.质量评定类别
d.其它
8试验条件和检验要求
抽样要求．：根据采用的质量评定类别．参照GB/T 12750第9章的有关规定．
A组检验的抽样要求
|
分组 |
AQL | |||||||
|
Ⅰ类 |
Ⅱ类 | |||||||
|
IL |
AQL |
IL |
AQL | |||||
|
A1 |
I |
0. 65 |
I |
0. 65 | ||||
|
A2 |
I |
O．1 |
I |
O．1 |
| |||
|
A3 |
I |
0.15 |
l |
O．15 | ||||
|
A3a |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 | ||||
|
A4b |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 | ||||
B组C组和D组检验的抽样要求
|
分组 |
LTPD | |||
|
I类 |
Ⅱ类 | |||
|
A |
B C | |||
|
B1 |
15 |
15 |
15 |
15 |
|
C1 |
20 |
20 |
20 |
20 |
|
B3 C3 |
15 |
15 |
15 |
15 |
|
B4 C4 |
10 |
10 |
10 |
10 |
|
B5 C5 |
10 |
10 |
10 |
10 |
|
C6 |
20 |
20 |
20 |
20 |
|
C7 |
15 |
15 |
15 |
15 |
|
B8 C8 |
10 |
5 |
7 |
10 |
|
C9 |
15 |
5 |
7 |
15 |
|
C11 |
20 |
20 |
20 |
20 |
|
B21 |
20 |
10 |
10 |
15 |
|
C23 |
20 |
10 |
15 |
20 |
|
C24 |
20 |
10 |
15 |
20 |
|
D8 |
10 |
5 |
7 |
10 |
A组——逐批
全部试验均为非破坏性的（见GB 4589.1第3.6.6条）
|
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定 Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
A1分组 外部目检 |
GB4589.1 第4.2.1.1条 |
|
标志清晰，表面无 损伤和气孔 |
|
A2分组 功能验证 |
|
按本规范5.2.1条、5.2.2条和 11.3条 |
按本规范5.2.1条、5.2.2条和l1.3条 |
|
A3分组 25℃下的静态特征 |
GB 6797《半导体 集成电路接口由电路 电平转换器测试方法的基本原理》 |
按本规范5.2.1条至5.2.8条和10.1条 |
按本规范5.2.1条 至5.2.8条 |
|
A3a分组 最高工作温度下的静态特性 |
GEl 6797
|
Tamb按本规范4.1条规定的最 大值条件，同A3分组 |
同A3分组 |
|
A3b分组 最低工作温度下的 静态特性 |
GB .6797 |
Tamb按本规范4.1条规定的最 小值．条件。同A3分组 |
同A3分组 |
|
A4分组 25"C下的动态特性 |
GB 6797 |
按本规范5.2.9条 |
按本规范5.2.9条 |
B组——逐批
标有(D)的试验是破坏性的（见GB 4589.1第3.6.6条）
|
检验或试验 |
引用标准 |
条件 若无其它规定．Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
Bi分组 尺寸 |
GB 4589.1第4. 2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
|
3分组 引线强度 弯曲．(D |
GB 4590<<半导体集成电路机械和气候试验方法>> 第2.2条 |
外加力的值接第2.2条表2 |
无损伤 |
|
B4分组可焊性 |
GB 4590 第2.5条 |
按方法b（槽焊法） |
按2.5.6条 |
|
B5分组 温度快速变化 a．空封器件随后进行电测量 密封：细检粗检漏 b．非空封和环氧 封的空封器件 随后进行外部目检 稳态湿热 电测量 |
GB 4590 第3.1条 GB 4590第3.12条 OB 4590第3.13条
GB 4590第3.1条
GB 4589.1 第4.2.1.l条 GB 4590 第3.7条 |
温度：按本规范第4.1条规定 循环次数：lO次 tI= 5min 同A3、A3分组恢复2h 按规定 按规定
温度：按本规范第4.1条规定 循环次数：10次tI= 5min 按规定
严格度A
时间:24h
周A2、A3分组 |
同A2、A3分组
同A1分组
同A2、A3分组 |
|
B8分组 电耐久性 (168h) 最后测量（同A2,A3和A4分组） |
OB4590 第4.7条 |
Tamb按本规范1条规定的最大 位，其它按奉规范I0.3条 同A2，A3和A4分组 |
同A2、A3和A4分 组 |
B组——逐批（续）
|
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定．Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4,1条） |
检验要求 规范值 |
|
B21分组 高压蒸汽<D）（非空封器件） 最后测量： （同A2和A3分组） |
GB 4590 |
严格度C 时间：24h
同A2和A3分组 |
同AZ和A3分组 |
|
CRRL分组 |
就B3、B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果． | ||
C组——周期
标有(D)的试验是破坏性的（见GB 4589.1第3.6.6条）
|
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定．Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
C1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4.2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
|
C3分组引线强度拉力(D) |
G]5 4590 2.1条 |
外加力的值按2.1条表l |
按2.1.5条 |
|
C4分组： 耐焊接热（D） 最后测量 （同A3分组） |
GB 4590 第2． 6条 |
按方法l(260℃槽焊) 同A3分组 |
同A3分组 |
|
C5分组 温度快速变化(D)
（非空封和环氯封的空封器件） 随后进行 外部目检 稳态湿热 电测量 （同A3分组） |
GB 4590 第3.1条 GB 4589.1 第4.2.1.1条 GB 4590 第3.7条
|
TA=-65℃ Ta=150℃ 循环次数:500 tl=5min 严格度A 时间：24h 同A3分组
|
同A1分组
同A3分组
|
C组——周期（续）
|
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定．Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
C6分组， 稳态加速度(D) (空封器件) 最后测量 （同A3分组） |
GB 4590第2. 10条 |
加速度t按规定
同A3分组 |
同A3分组 |
|
C7分组 稳态湿热(D) a．空封器件 b．非空封器件 最后测量 （同A 3分组） |
GB 4590 第3.6条 GB 4590 第3.7条 |
严格度D 严格度A 时间：1000h 同A3分组 |
同A3分组 |
|
C8分组 电耐久性(1000h) 最后测量 （同B8分组） |
GB 4590 第4.7条 |
同B8分组 同B8分组 |
同B8分组 |
|
C9分组 高温贮存（D） 最后测量 （同B8分组） |
GR 4590 第3.3条
|
温度：按Tstg(max) 时间：1000h 同B8分组 |
同B8分组 |
|
C l1分组 标志耐久性 |
GB 4590 第4.3条 |
按方法溶液:A型 |
按4.3.2条 |
|
C 23分组 抗溶性：(D) （非空封器件） |
GB 4590 第4.4条 |
按4.4.2条
|
按4．4.2条 |
|
C24分组 易燃性（D） （非空封器件） |
GB 4590 第4.1条 |
按4.1.2条 |
按4.1.2条 |
|
CRRL分组 |
就C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、Cll、C23和C24分组提供计数检查结果． | ||
注：1）连续三次通过后，周期可延长为一年一次．
9 D组
D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。
|
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定，Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
D8分组 电耐久性 最后测量 （同B8分组） |
GB 4590 第4.7条 |
l类： 2000h lI类：3000h 其它同B8分组
同B8分组 |
同B8分组 |
10 附加资料
10.1 静态特性的测量
静态特性的测量按B 6797的规定
10，2动态特征的测量
10．2．1 基本测试线路
按GB6787的规定
10．2．2 负载线路
CL包括探头及夹具的探头
10．3 电耐久性试验线路
10． 4 特性曲线
制造厂应提供各种特性曲线
11 型号说明
11.1逻辑符号
|
引出端符号 |
名称 |
|
A |
输入 |
|
E |
输入 |
|
Y |
输出 |
11．2逻辑图9逻辑图（1/2）
11．3功能表
|
A E
|
Y
|
|
H H L H H L L L |
L H H H |
附录A
筛选
（补充件）
1类器件：生产厂自行规定筛选条件。
II类器件:筛选项目和条件如下：
等级A 等级B 等级C
|
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
|
高温贮存 GB 4590 第3.3条 150℃：96h |
高温贮存 GB 4590 第3.3条 150℃：48h |
|
|
温度快速变化 GB4590 第3.1条 -55~125℃，10 次 |
温度快速变化 GB4590 第3.1条 -55~125℃，5 次 | |
|
稳态速度 GB4590 第2.10条 |
稳态速度 GB4590 第2.10条 | |
|
密 封 GB4590 第3.12条和3.13条 |
密 封 GB4590 第3.12条和3.13条 | |
|
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
|
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、240h |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、168h |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、168h |
|
老化后电测量 同A3分组． 剔除不合格品．若不合 格品率大予5%，则该 批拒收． |
老化后电测量 同A3分组． 剔除不合格品．若不合 格品率大予5%，则该 批拒收． |
老化后电测量 同A3分组． 剔除不合格品．
|
注：1）不适用于非空封器件
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