SJ 20278 93 半导体集成电路JC4104. JC4015和JC4021型 CMOS移位寄存器详细规范 3
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB 597和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表5
的规定进行筛选。
表4筛选
若无其它规定，表中引用的试验方法系指GJB 548。
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筛选项目 |
条件和要求 |
说 明 | ||||
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B级器件 |
B1级器件 | |||||
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方法 |
条件 |
方法 |
条件 | |||
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内部目检 （封装前） |
2010
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试验条件B
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2010
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试验条件B
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稳定性烘焙（不 要求终点电测 试） |
1008
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试验条件C (150 ℃, 24h)
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1008
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试验条件C (150 ℃, 24h)
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温度循环
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1010
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试验条件C
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1010
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试验条件C
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可用方法1011试验条件 A替代 | |
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恒定加速度
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2001
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试验条件E，Y1 方向 |
2001
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试验条件D，Y1 方向 |
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目检
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可在“密封”筛选后进 行。引线断落，外壳破 裂、封盖脱落为失效。 | |
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中间（老化前） 电测试
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本规范A1分组
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本规范A1分组
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测试并剔除A1分组不合 格品，并记录要求(△) 测试的IOO、IOL、IOH的 值 | |
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老化
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静态老化
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1015
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试验条件B (125 ℃．160h) |
1015
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试验条件B (125 ℃, 160h) |
采用本规范图2或图3 线路 |
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动态老化
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不要求
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试验条件D或E 125℃, 160 h
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B1级器件可选取静态、 动态老化的其中一种方 式。 | |||
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中间（老化后） 电测试 |
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本规范A1分组
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本规范A1分组
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按表5测A1分组，按表 1O测(△)极限值 | |
续表4
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筛选项目 |
条件和要求（GJB 548） |
说明 | |||
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B级器件 |
B1级器件 | ||||
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方法 |
条件 |
方法 |
条件 | ||
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允许不合格品率 (PDA)计算
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5%．本规范A1分组，当 不合格品率未超过10%时， 可重新提交老炼．但只许一 次．
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10%．本规范A1分组，当 不合格品率未超过20%时， 可重新提交老炼，但只许一 次．
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用老化失效数（包括超过A1分组规范值和△极限值的器件）除以提交老化的合格品件数即为PDA |
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最终电测试
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本规范A2、A3、A7、 A9分组
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本规范A2、A3、A7、 A9分组
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本项筛选后，若引线涂覆改变或返工，则应再进行A1分组测试 |
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密封 细检漏 粗检漏 |
1014
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1014
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外部目捡 |
2009 |
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2009 |
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鉴定和质量一致 性检验的试验样 品抽取 |
5005
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第3.5条
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5005
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第3．5条
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a．JC4014
b．JC4015
c．JC4021
注：①静态老化I：所有输入端接OV，即开关S1置“1”；
②静态老化II：所有输入端接VDD，即开关S1置“2”。
③除VDD和Vss端外，每个引出端应通过一个2 k
—47 k
电阻器相连接．由于使用、受热或老化．所选电阻的实测值应不超过其标称值的±20%。
④输出端开关SO可以置“l”或“2”；
⑤VDD=15～18 V；Vss=0 V。
图2静态老化试验线路
a． JC4014
b． JC4015
C．JC4021
注：①除VDD和Vss端外，每个引出端应通过一个2 k
～或47 k
电阻器相连接。由于使用、受热或老化，所选电阻的实测值应不超过其标称值的±20%。
②对输入信号的要求：
a．方波：占空比50%；
b．频率：25 kHz～1MHz；
c．tr和tf＜1
S。
d．幅度：最小值为：Vss-0.5 V，+10%VDD。；
最大值为：Vss+0.5V，-1O%VDD。
③VDD=15 V；VSS=OV。
图3 动态老化和稳态寿命试验线路
a． JC4014
b． JC4015
C． JC4021
注：①脉冲发生器：Vm= VDD±1%；tr≤20ns、tf≤20ns；f=200kHz；占空比：50%。
②负载RL=200k
，CL=50pF（ 包括探头夹具电容）。
图4开关测试线路和电压波形
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