SJ 20278 93 半导体集成电路JC4104. JC4015和JC4021型 CMOS移位寄存器详细规范 2

项    目

B级器件

B1级器件

分组（见表3）

变化量极限

分组（见表3）

变化量极限

中间（老化前）

电测试

A1

A1

中间（老化后）

电测试

A1

表1O△极限

A1

表1O△极限

最终电测试

A2, A3, A7, A9

A2, A3, A7, A9

A组电试验要求

A1, A2, A3, A4,

A7, A9, A10, A11

A1,A2, A3, A4,

A7, A9

B组终点电测试

A1

A1

C组终点电测试

A1, A2, A3

表1O△极限

A1, A2, A3

表10△极限

C组检验增加的

电试验分组

不要求

A10, A11

D组终点电测试

A1, A2, A3

A1, A2, A3

E组终点电测试

A7, A9

表13△极限

A7, A9

表13△极限

分组

符号

引用标准

GB 3834

条  件

规范值

单位

(若无其他规定，V_SS=0，T_A=25℃)

最小

最大

A1

V_IK+

V_DD接地，Vss开路，输出端开路，被测输入I_IK=1 mA

1.5

V

V_IK-

V_DD开路，Vss接地，输出端开路，被测输入I_IK=-1 mA

-6

V

I_DD

2.15

V_DD=15V，V_IL=15V，V_IH=15V，（按功能表对输入端进行组合预置，测试。）

2

V_OH

2.7

V_DD=15 V，所有输入端V₁=15 V，仅CP端

接  分别对各输出端进行测试。

14．95

V

V_OL

2.8

V_DD=15 V，所有输入端V₁=0V，仅M端接

15 V．分别对各输出端进行测试。

0.05

V

V_IH1

2.1

V_DD=5V，被测输入端V_IH=3.5V．其它端

V_IL=1.5V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=0.5V

3.5

V

V_IH2

2.1

V_DD=10V，被测输入端V_IH=7V．其它端

V_IL=3V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=1V

7

分组

符号

引用标准

GB 3834

条  件

（若无其他规定，V_SS=0，T_A=25℃）

规范值

单位

最小

最大

A1

V_IH3

2．1

V_DD=15V，被测输入端V_IH=11V．其它端

V_IL=4V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=1V

11

V

V_IL1

2.2

V_DD=5V，被测输入端V_IL=1.5V．其它端

V_IH=3.5V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=4.5V

1.5

V

V_IL2

2.2

V_DD=10V，被测输入端V_IL=3V．其它端

V_IH=7V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=9V

3

V_IL3

2.2

V_DD=15V，被测输入端V_IL=4V．其它端

V_IH=11V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=13.5V

4

I_OL1

2.12

V_DD=5 V．CP端接   其它输入端接地，

被测输出接V_OL=0.4 V

O．51

mA

I_OL2

2.12 

V_DD=15 V，CP端接   其它输入端接地，

被测输出接V_OL=1.5 V

3.4

I_OH1

2.11

V_DD=5 V，CP端接  其它输入端接5V，

被测输出接V_OH=4.6 V

-0.51

mA

I_OH2

2.11

V_DD=15 V，CP端接    其它输入端接5

V，被测输出接V_OH=13.5V

-3.4

I_IH

2.9

V_DD=15 V，被测输入端并接V_IH=15 V（仅25

℃条件下测）

110

nA

V_DD=15 V，输入端逐一测V_IH=15 V，其它输

入端接地

10

I_IL

2.10

V_DD=15 V．被测输入端并接V_IL=O V(仅25 ℃

条件下测)

-11O

nA

V_DD=15 V，输入端逐一测V_IL=O V

-1O

A2

T_A=125℃，除V_IK不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表1。

A3

T_A=-55℃，除V_IK不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表1。

A4

C_I

3.1

V_DD=O V，每个输入端分别测，f=1MHz

12

pF

A7

V_DD=5 V．功能测试按功能表．

A9

t_PHL

3.10

V_DD=5V，见本规范图4

975

ns

t_PLH

3.9

CP→Q

t_THL

V_DD=5V，见本规范图4

650

ns

t_TLH

每个输出端逐一测试

900

f_max

3.8

V_DD=5 V

1000

kHz

A10

T_A=125℃，参数、条件同A9分组，规范值按表1。

A11

T_A=-55℃，参数、条件同A9分组，规范值按表1。

分组

符号

引用标准

GB 3834

条  件

规范值

单位

(若无其他规定，V_SS=0，T_A=25℃)

最小

最大

A1

V_IK+

V_DD接地，Vss开路，输出端开路，被测输入I_IK=1 mA

1.5

V

V_IK-

V_DD开路，Vss接地，输出端开路，被测输入I_IK=-1 mA

-6

V

I_DD

2.15

V_DD=15V，V_IL=0V，V_IH=15V，（按功能表对输入端进行组合预置，测试。）

2

A

V_OH

2.7

V_DD=15 V，数据输入端V₁=15 V，CR端地，CP端为  分别对各输出端进行测试。

14．95

V

V_OL

2.8

V_DD=15 V，所有输入端V₁=0V，CR端接地，

CP端为  分别对各输出端进行测试。

0.05

V

V_IH1

2.1

V_DD=5V，被测输入端V_IH=3.5V．

V_IL=1.5V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=0.5V

3.5

V

V_IH2

2.1

V_DD=10V，被测输入端V_IH=7V．

V_IL=3V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=1V

7

V_IH3

2．1

V_DD=15V，被测输入端V_IH=11V．

V_IL=4V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=1V

11

V_IL1

2.2

V_DD=5V，被测输入端V_IL=1.5V．

输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=4.5V

1.5

V

V_IL2

2.2

V_DD=10V，被测输入端V_IL=3V．

输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=9V

3

V_IL3

2.2

V_DD=15V，被测输入端V_IL=4V，

输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=13.5V

4

I_OL1

2.12

V_DD=5 V．CP端接   CR端、D端接地，

被测输出接V_OL=0.4 V

O．51

mA

I_OL2

2.12 

V_DD=15 V，CP端接   CR端、D端接地，

被测输出接V_OL=1.5 V

3.4

I_OH1

2.11

V_DD=5 V，CR端接地，D端接5V，

被测输出接V_OH=4.6 V

-0.5

mA

I_OH2

2.11

V_DD=15 V，CR端接地，D端接15V，

被测输出接V_OH=13.5V

-3.4

I_IH

2.9

V_DD=15 V，被测输入端并接V_IH=15 V（仅25℃条件下测）

60

nA

V_DD=15 V，输入端逐一测V_IH=15 V，其它输

入端接地

10

nA

I_IL

2.10

V_DD=15 V．被测输入端并接V_IL=O V(仅25 ℃

条件下测)

-60

nA

V_DD=15 V，输入端逐一测V_IL=O V

-10

分组

符号

引用标准

GB 3834

条  件

规范值

单位

(若无其他规定，V_SS=0，T_A=25℃)

最小

最大

A2

T_A=125℃，除V_IK不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表1。

A3

T_A=-55℃，除V_IK不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表1。

A4

C_I

3.1

V_DD=O V，每个输入端分别测，f=1MHz

12

pF

A7

V_DD=5 V．功能测试按功能表．

A9

t_PHL

3.10

V_DD=5V，

CP→Q

975

ns

t_PLH

3.9

见本规范图4

975

t_PHL

3.10

R→Q

975

t_THL

每个输出端逐

一测试

650

ns

t_TLH

975

f_max

3.8

V_DD=5 V

1000

kHz

A10

T_A=125℃，参数、条件同A9分组，规范值按表1。

A11

T_A=-55℃，参数、条件同A9分组，规范值按表1。

分组

符号

引用标准

GB 3834

条  件

规范值

单位

(若无其他规定，V_SS=0，T_A=25℃)

最小

最大

A1

V_IK+

V_DD接地，Vss开路，输出端开路，被测输入I_IK=1 mA

1.5

V

V_IK-

V_DD开路，Vss接地，输出端开路，被测输入I_IK=-1 mA

-6

V

I_DD

2.15

V_DD=15V，V_IL=0V，V_IH=15V，（按功能表对输入端进行组合预置，测试。）

2

A

V_OH

2.7

V_DD=15 V，所有输入端V₁=15 V，仅CP端

为    分别对各输出端进行测试。

14．95

V

V_OL

2.8

V_DD=15 V，所有输入端V₁=0V，CP端为 其他输入端V₁=0V，分别对各输出端进行测试。

0.05

V

V_IH1

2.1

V_DD=5V，被测输入端V_IH=3.5V．其他输入端

V_IL=1.5V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=0.5V

3.5

V

V_IH2

2.1

V_DD=10V，被测输入端V_IH=7V．其他输入端

V_IL=3V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=1V

7

V_IH3

2．1

V_DD=15V，被测输入端V_IH=11V．其他输入端

V_IL=4V．输出端︱I_O︱≤1A，V_OL=1V

11

分组

符号

引用标准

GB 3834

条  件

规范值

单位

(若无其他规定，V_SS=0，T_A=25℃)

最小

最大

A1

V_IL1

2.2

V_DD=5V，被测输入端V_IL=1.5V．其他输入端V_IH=3.5V输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=4.5V

1.5

V

V_IL2

2.2

V_DD=10V，被测输入端V_IL=3V．其他输入端

V_IH=7V输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=9V

3

V_IL3

2.2

V_DD=15V，被测输入端V_IL=4V，其他输入端

V_IH=11V输出端︱I_O︱≤1A，V_OH=13.5V

4

I_OL1

2.12

V_DD=5 V．输入端接地，

被测输出接V_OL=0.4 V

O．51

mA

I_OL2

2.12 

V_DD=15 V，输入端接地，

被测输出接V_OL=1.5 V

3.4

I_OH1

2.11

V_DD=5 V，输入端接5V，

被测输出接V_OH=4.6 V

-0.51

mA

I_OH2

2.11

V_DD=15 V，输入端接15V，

被测输出接V_OH=13.5V

-3.4

I_IH

2.9

V_DD=15 V，被测输入端并接V_IH=15 V（仅25℃条件下测）

110

nA

V_DD=15 V，输入端逐一测V_IH=15 V，其它输

入端接地

10

I_IL

2.10

V_DD=15 V．被测输入端并接V_IL=O V(仅25 ℃

条件下测)

-110

nA

V_DD=15 V，输入端逐一测V_IL=O V

-10

A2

T_A=125℃，除V_IK不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表1。

A3

T_A=-55℃，除V_IK不测外，所有参数、条件同A1分组，规范值按表1。

A4

C_I

3.1

V_DD=O V，每个输入端分别测，f=1MHz

7.5

pF

A7

V_DD=5 V．功能测试按功能表．

A9

t_PHL

3.10

V_DD=5V，

见本规范图4

CP→Q

PS→Q

975

ns

t_PLH

3.9

975

t_THL

每个输出端逐

一测试

700

ns

t_TLH

900

f_max

3.8

V_DD=5 V

1000

kHz

A10

T_A=125℃，参数、条件同A9分组，规范值按表1。

A11

TA=-55℃，参数、条件同A9分组，规范值按表1。