SJ T 50597 30 1995 半导体集成电路 JC40106型CMOS反相器有斯密特触发器对 详细规范 2

  输    入

  输  出

    A

    Y

    L

    H

    H

    L

    规  范  值

    条    件

  特  性

符号

TA= -55℃

TA= 25℃

TA= 125℃

单位

(若无其他规定．vwfov)

‰

(V)

最小

最大

最小

最大

最小

最大

输入正箝位电压

V_CH

Vss开路，输出端开路，I_IK= 1m

接地

1．5

 V

输入负措位电压

V_IK-．

Vss开路，输出端开路，I_IK= -1mA

开路

  ．

  -6

  V

  电源电流

  I_DD．

V_IL =0V V_IH=15V

  15

  0.4

  12

  uA

  输出高电平电压

 V_OH

  V_IL =0V,I_OH=0

  15

  14.95

  14.95

  14.95

  V

  输出低电平电压

 V_OL

V_IH=15V,I_OL=0

  15

0.05

0.05

0.05

 V

正触发阀值电压

V_IT+

I_o≤luA

 5

 2.2

 4.3

  2.2

 4.3

  2.2

 4.3

 V

 I_o≤luA

10

 4.6

 8.6

  4.6

 8.6

  4.6

 8.6

 I_o≤luA

15

 6.8

12.8

  6.8

12.8

  6．8

12.8

负触发阀值电压

V_IT-

I_o≤luA

5

 0.7

 2.8

  0.7

 2.8

  0.7

 2.8

 V

 I_o≤luA

 lO

 1.4

 5.2

  1.4

 5.2

  1．4

 5.2

I_o≤luA

15

 2.1

 7.4

  2.1

 7.4

  2.1

 7.2

滞后电压

△V_IT

△V_IT =V_IT+ -V_IT-

  5

  0.3

 3.6

 0.3

 3.6

  0.3

 3.6

 V

 10

 l.2

 7.2

  1.2

 7.2

  1.2

 7.2

  15

  1.6

  1O

  1.6

  10

  I．5

  10

  输出低电平电流

  I_OL

V_I =5V,V_OL=0.4V

  5

  0.64

  0.51

  0.36

mA

V_I =15V,V_OL=1.5V

 15

 4.2

 3.4

 2.4

输出高电平电流

I_OH

V_I =0V,V_OL=4.6V

 5

-0.64

-0.51

-0.36

 mA

V_I =0V,V_OL=13.5V

 15

-4.2

—3．4

-2.4

 nA

输入高电平电浇

I_IH

V_IH =15V

 15

 lO

 100

nA

输入低电平电流

I_IL

V_IL =0V

 15

—10

- 100

 nA

输入试验电压

V_ZAP

 Cl= 100pF, R2=1.5kΩ

（见本规范4.5.3）

  400

 V

输人电容

C1

F= 1MHz

  0

  一

7.5

 pF

传输延迟时阿

t_PHL

 C_L=. 50pF    ’

ns

t_PLH

R_L=200kΩ（见本规范图2）

  5

 370

 370

520

t_PHL

  lO

  140

  t_PLH

    规  箍  值

    条    件

    特  性

符号

TA= -55℃

TA= 25℃

TA= 125℃

单位

（若无其他规定．Vss=0V）

V_DD（V)

最小

最大

最小

最大

最小

最大

输出转换时间

t_PHL

C_L= 50pF

5

 180

 180

280

 ns

t_PLH

 R_L= 200kΩ（见本规范图2）

t_PHL

  10

 100

  t_PLH

    B级器件

    岛级器件    -

    项    目’

  分组（见袁3）

  变化量极限

  分组（见表33

  变化量极限

中间（老化前）电测

试

    A1

    A1

中间（老化后）电测

试

    A1^1）

    △^2）

A1^1）

    △^2）

最终电测试

  A1,A2, A3, , A9

 A1,A2, A3, , A9

 A组电测试

A1. A2, A3, A4, ,

 A9. A10, A11

A1, A2,A3, A4,

  A9

B组电测试

  A1

     A1

C组终点电测试

  A1．A2．A3

    △^2）

  A1．A2．A3

    △^2）

 C组检验增加的电测

试分组

    A10．All

 D组终点电测试

    A1,A2,A3

    A1,A2, A2

引用标准

    条    件

  规范值

分组

符号

GB 3834

    （若无其他规定．V舀=O）

罩小

最大

单位

A1

(TA =

V_IK+

CB 3439

 V_DD接地．Vss开路，输出端开路,被测输入I_iK= 1mA

    1．5

 V

25"C)

 V_IK-．

2.1

V_DD接地．Vss开路，输出端开路,被测输入I_iK= -1mA

  -6

 V

I_DD

2.15

  V_DD= 15V, V_IL = OV.V_IH =1 5V,输出端开路

  0.4

uA

V_OH

2.7

V_DD=15V．被测门输入V_IL=OV．被测输出I_OH =0

逐一测试每个门的输出端

14.95

V

V_OL

2.8

'V_DD=5V．被测门输入V_IL=15V．被测输出I_OH =0

逐一测试每个门的输出端

  0.05

  V

V_IT+

  2.1

  V_DD= 5V,被测门输入端V_IT+．，其他输入端接地，

  被测输出端|I_O|≤1uA,Vo=0．O5V

  2,2

  4．3

 V

 V_DD= 10V,被测门输入端V_IT+．，其他输入端接地，

  被测输出端|I_O|≤1uA,Vo=0．O5V

  4.6

  8.6

 V_DD= 15V,被测门输入端V_IT+．，其他输入端接地，

  被测输出端|I_O|≤1uA,Vo=0．O5V

  6.8

  12.8

 V_IT-．

2.2

 V_DD= 5V,被测门输入端V_IT-．，其他输入端接地，

  被测输出端|I_O|≤1uA,Vo=4．95V

  0.7

  2.8

 V

V_DD= 10V,被测门输入端V_IT-．，其他输入端接地，

  被测输出端|I_O|≤1uA,Vo=4．95V

    1.4

    5.2

'V_DD= 5V,被测门输入端V_IT-．，其他输入端接地，

  被测输出端|I_O|≤1uA,Vo=4．95V

    2.1

    7.4

 V∞=SV,输入甥yl m 5V．被澍输出翰voL= 0.4v

  0.5l

I_OL

 2.12

 V_DD= 15V．输入端V_I =5V；．被测输出端V_CL=0.4V

    3.4

mA

 V_DD= 5V．输入端V_I =0V；．被测输出端V_CL=4.6V

-0.51

 I_OH

 2．1l

 V_DD= 15V．输入端V_I =0V；．被测输出端V_CL=13.5V

  ．3.4

mA

 V_DD= 15V，所有输入端并接V_IH=15V（仅25℃条件下测）

    60

 I_IH¹⁾

2.9

V_DD= 15V．输入端运一测V_IH=15V．其他输入端接地

    lO

 nA

 V_DD= 15V．所有输入端并接V_IL-= OV（仅25℃条件下测）

  一60

 JlLl'

2.10

 V_DD= 15V．输入端运一测V_IL =OV．其他输入端接l5V

  - 10

nA