SJ T 50597 28 1995 半导体集成电路JC4585型 CMOS4位数值比较器详细规范 2

    B级器件

    Bl级器件

    项  目．

  分组（见表3）

  变化量极限

  分组（见表3）

  变化量极限

中间（老化前）

电测试

Al

 Al

中间（老化后)

电测试

Al²⁾

    △₂₎

A1¹⁾

    △²⁾

最终电测敢

A2,, A3, A7, A9

A2., A3, A7, A9

 A组电测试

A1, A2. A3. A4,

A7. A9. A10, Al1

A1, A2, A3, A4,

A7,A9

C组终点电测试

A1．A2．A3

    △²⁾

A1, A2,A3

    △²⁾

 C组检验增加的电测

试分组

A1O．All

 D组终点电测试

A1．AT.,A3

 A1．A2．A3

引用标准

    条  件

  规范值

分组

符号

GB 3834

    （若无其它规定，Vss；OVo TA--25℃

  最小

最大

单位

  Al

  V_IK+

  1)

  V_DD接地，Vss开路。被测输入I_IK= lmA．非被测输入开路，输出开路。

  1.5

  V

 V_IK-．

V_DD开路，Vss接地。被测输入I_IK= -lmA．非被测输入开路，输出开路。。

一6

  V

 V_CH

V_DD．=5V V_IL= OV．V_IH = 5V．输出开路。

0．S

2.15

V_DD．=10V V_IL= OV．V_IH = 10V．输出开路。

    1

uA

 V_DD．=15V V_IL= OV．V_IH = 15V．输出开路。

    2

V_OH

 2.7

 V_DD= ISV．被测输入V_IL=0V'输出开路；

所有其它非被测端开路，被测输出f_OH=O。

14.95

  V

 V_OL

  2.8

  V_DD= 15V，被测输入V_IH= 15V．输出开路；

  所有其它非被测端开路，被测输出I_OL-=O。

  0.05

  V

引用标准

    条  件

  规范值

  分组

符号

GB 3834

    （若无其它规定，’，舀≮OV。Tx ffi 25℃

最小

最大

单位

 V_IH

 2.1

 V_DD=5 V，被测输入端为V1．其它输入端接地．

被测输出端V_OL= O.5V或V_OH=4.5V。

3.5

  V

    Al

 V_DD=10 V，被测输入端为V1．其它输入端接地．

被测输出端V_OL= 1V或V_OH=9V。

7

 V_DD=105V，被测输入端为V1．其它输入端接地．

被测输出端V_OL= 1V或V_OH=13.5V。

n

V_DD=5 V，被测输入端为V1．其它输入端接地．

被测输出端V_OL= 0.5V或V_OH=4.5V。

  1.5

  v

V_IL

2.2

 V_DD=105V，被测输入端为V1．其它输入端接地．

被测输出端V_OL= 1V或V_OH=9V。

3

    ．    ’

V_DD=105V，被测输入端为V1．其它输入端接地．

被测输出端V_OL= 1.5V或V_OH=13.5V。

4

_，I_IH²⁾

2.9

 V_DD  =15V．输入端逐一测V_IH =15V，其它输入端接地。

10

I_IL²⁾

3.0

 V_DD  =15V．输入端逐一测V_IH =0V，其它输入端接15V。。

一10

 nA

I_OH

2．11

 V_DD= 5V，被测输入端为V_IL =OV，

被测输出端V_OH置4.6V。

-0．5l

V_DD= 10V，被测输入端为V_IL =OV，

被测输出端V_OH置9.5V。

-1.3

    ．

mA

V_DD= 15V，被测输入端为V_IL =OV，

被测输出端V_OH置13.5V。

-3.4

I_CL

 3.12

 V_DD= 5V,被测输入端为V_IH=5V．

被测输出端V_OL．=0.4V。

0.5l

 mA．

V_DD= 10V,被测输入端为V_IH=10V．

被测输出端V_OL．=0.5V。

1.3

-

V_DD= 15V,被测输入端为V_IH=15V．

被测输出端V_OL．=1.5V。

3.4

 A2

 TA=125℃，除V_IK+’，V_IK-．不测外，所有参效条件同A1分组，规范值按表1。

A3

 TA=-55℃，除V_IK+’，V_IK-．不测外，所有参效条件同A1分组，规范值按表1。

A4

 C1

 3.1

 V_DD  =OV，f =1MHz．分别测每个输入端对Vss之间的电

容。

7.5

 pF

A7

V_DD=5V．功能测试，按功能袤。

引用标准

    条  件

  规范值

分组

符号

GB 3834

    （若无其它规定．y函= OVo TA'-"25℃

最小

最大

单位

A9

 lH．H

 3.9

 RL= 2001~．

A, B--~Fs,>B

Vm= 5V

6∞

CL= 50pF，

A, B~FA<s

Vm=lD

2∞

n皇

ff．1r  10ns

A, B--~F^. l

y∞=15V

150

 l甩

（见卒规范图2）

A>B—畸’^‘a

 VDo- 5V

400

3.10

A< B-~FA< B

V~= IOV

1∞

hD=15V

120

 lTIj{

 3)

RL= 200kfl．CLz $0pF．

V∞=5V

 200

II．1．= 10ha

 Vm= lOV

 100

 nS

l硼L

测输出端。（见本规范图2）

 Voo= 15V

 80

 A10

 I^5 IZ3乙-零奴、泵仟同^9分组。规范值按衰l

 AlI

 o^2一，，0．爹觋、燎仟同A9分组。规范值按表l

    条件和要求

    筛选项目

    B级器件

    b级器件

    说明

方法

    条件

方法

    条件

内部目检

（封装前）

2010

试验条件B

 2010

试验条件B

稳定性烘焙

（不要求终点测试）

1008

试验条件C

(150℃，24h)

1008

试验条件C

(150℃，24h)

温度循环

lO1O

试验条件C

 10lO

试验条件C

可用方格1011试验条件

A替代。

恒定加速度

200l

试验条件E，

Yl方向

200l

试验条件D，

Y1方向

试验后进行目检，引线断

落、外壳破裂、封盖脱落

为失效。

    条件和要求

   筛选项目

    B级器件

    B．1级器件

    说  明

方法

    条件

方法

    系纬

  中闻《老化前）电测试

  本规范A1分组

  本规范A1分组

  涎试井剔除A1分组不合

  格品，并记录要求（△）测试的I_DD、I_OL、I_CH的值。

  老

静态老化

1015

试验条件A

( L25℃C．160h)

t015

试验条件A

( L25℃C．160h)

采用本规范图3、图4线

路。

  化

动态老化

试验条件D或E

(125℃．160h)

试验条件D或E

(125℃,160h)

    可选取静态、动态老

化的其中一种方式。

中间（老化后）电测试

本规范A1分组

和表10△极限

本规范A1分组

和表10△极限

允许不合格晶率(PI)A)

及其计算

5%，本规范A1

分组。当不合

格品率不超过

20%时，可重新

提交老化，但只

允许一次

10%，本规范A1

分组。当不合

格品率不超过

20%时，可重新

提交老化，但只

允许一次

用老化失效数（包括超过

A1分组规范值和△极限

值的器件）除以提交老化

的合格器件散即为PAD。

不大予规定的PAD时脚

该批应接收。

最终电测试

本规范A2,A3、

A7、A9分组

本规范A2、A3、A7、A9分组

本想筛选后，若器件的引线涂覆或返工，则应在进行A1分组测试

密封

    细检漏

    粗检漏

  10 14

  试验条件：

  A1或A2

  C1或C2

  lO14

  试验条件：

  AL或.42

  CI或C2

  外部目检

  2009

  2009

  鉴定或质量一致性检验

  的试验样品抽取

  5005

  第3.5条

  5005

  第3.5条

  在发货前按批进行。