SJ T 505971 28 94 导体集成电路 JC4504型CMOS六TTL CMOS~CMOS 电平转换器详细规范 3
注；1）引用标准为GB 3439第2.1条。
2)对25℃条件下测/llt',llL.制造厂可选择分别测每一个输入蜡或所有输入端并接测量的方法。测试线路
输出
输出
测试波形图
图2开关时间测试线路和波形图
SJ 50597/28~9
注：①RL= 200kΩ,．CL= 50±5pF(包括探头及夹具电容)。
②脉冲发生器具有下列特性；
脉冲幅度；Vｍ=ＶＤＤ±1%
占空比：ｑ=50%
脉宽： ｔｗ．=1．O±0.1ｕｓ；
上升、下降时间：ｔｆ=ｔｔ±2.0nsl
频率：，ｆ= 240kHz-１MHz。
3.6标志
器件标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3.6.1 总剂量辐射强度标志
总剂量辐射强度等级标志应接GJB 597第3.6.2.6条和本规范第4.5.5条的规定。
3.6.2标志的正确性
所有器件在标上器件编号后，应经受表2规定的最终电测试，也可以经受特殊设计经认可的电测试，以验证器件编号标志的正确性。
3.7微电路组的划分
本规范所涉及器件应为第39微电路组（见GJB 597附录）。
4质量保证规定
一．1抽样和检验
若无其它规定，抽样和检验程序应接GJB 597和GJB 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB 548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
若无其它规定，表中引用的试验方法系指GJB 548的试验方法。
|
|
条件和要求 |
| |||
|
筛选项目 |
B级器件 |
Bl级器件 |
说， 明 | ||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
|
内部目检 （封装前） |
2010
|
试验条件B
|
2010
|
试验条件B
|
|
|
稳定性烘烙 （不要求终点测试） |
1008
|
试验条件C (150℃,24h) |
1008
|
试验条件C (tSOE．24h) |
|
|
温度循环
|
lOID
|
试验条件C
|
10lO
|
试验条件C
|
可用方法1011试验条件
A替代 |
|
恒定加速度
|
200l
|
试验条件E，
Ｙ１方向 |
2001
|
试验条件D．
Y１方向 |
试验后进行目检，引线断 落、外壳破裂。封盖脱 落为失效。 |
SJ S0597/28--94
续表4
|
|
条件和要求 |
| ||||
|
筛选项目 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | |||
|
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
|
中间（老化前） 电测试
|
|
本规范A１分组
|
|
本规范A１分组
|
测试并剔除A１分组不 合格品．井记录要求 （△)测试的ＩＤＤ、 ＩＯＬ、ＩＯＨ的值。 | |
|
老 |
静态老化
|
|
试验条件A (125℃．160h) |
|
试验条件A (125℃，１60h) |
采用本规范图3、图4线路。 |
|
化
|
动态老化
|
1015
|
试验条件D或E
(125℃，160h) |
1015
|
试验条件D或E
(125℃．160h) |
可选取静态动态老化的 其中一种方式。
|
|
中间《老化后） 电测试 |
|
本规范A1分组 和表１０△极
|
|
本规范A1分组 和表lO△极限 |
| |
|
允许不合格品率( PDA) 及其计算
|
|
5%．本规范Al 分组。当不合 格品率不‘超过 20%时，可重新 提交老化，但只 允许一次 |
|
10%，本规范 A1分组。当不 合格晶率不超 过20%时，可重 新提交老化，但 只允许一次 |
用老化失效效（包括超过 A1分组规范值和△极限· 值的器件）除以提交老化 的合格器件数即ＰADo 不大于规定的PAD时则 该批应接收。 | |
|
最终电则试
|
|
本规范A2、A3 AT, A9分组
|
|
本规范A2、A3 A7、A9分组
|
本项筛选后，着器件的引 线涂覆或返工，剐应再进 行A１组测试。 | |
|
密封 细检漏 粗检漏 |
1014
|
试验条件； ‘ A１或A2 Cl和Ｃ２ |
lOl4
|
试验条件t A１或Ａ２ C1和C2 |
| |
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
| |
|
鉴定或质萱一致性检验 的试验样晶抽取 |
5005
|
第３5条
|
5005
|
第3.5条
|
在发货前按批进行。
| |
S,150597/28--94
y∞
——‰／2
L开路
图3静态老化试验线路
注：①静态老化I：所有输人端接OV．即开关S1置“l”。
②静态老化Ⅱ：所有输入端接VDD轴即开关S1置“2”。
③除VDD和Vss端外，每个引出端应通过一个2kΩ-47kΩ的电阻相连接，由于工作，受热和老化，实用电阻的实测值应不超过其标称值的±20%
④输出端开关S2可以置“I“或“2’。
⑤VDD =15V, Vss =OV。
VoD
∞／2
图4 动态老化和稳态寿命试验线路
注：①除VDD和Vss外，每个引出端应通过一个2kΩ-47kΩ妁电阻相连按，由予使用、受热或老化，选用电阻的实测值应不超过其振称值的±20%。
②对输入信号的要求，
a．方波：占空比q=50%；
b．频率；f=25kHz-lMHz;
c．tf<1us；tt<1us；
d．幅度Vm最小值为(Vss-O.5V)+VDD×10%；
最大值为(VDD+ 0.5V) - VDDx 10%。
③VDD= 15V，Vss=0v。
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB 597的第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和
本规范A、B、C、D、E组检验（见本规范4.4,1-4.4.5条）的规定。
4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB 597的第4.5条和本规范的规定。所进行的检验应符合
GJB 548方法5005和本规范A、B、C、D、E组检验（见本规范4.4．1-4.4.5条）的规定。
4.4.1 A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。各分组的电测试按本规范表3的规定。
各个分组的测试可用同一个样本进行，当所要求的样本大小超过批的大小时允许I00%
检验。各分组测试可按任意顺序进行。
合格判定数(C)最大为2。
表5 A组检验
|
|
LTPD | |
|
试 验
|
B级器件 |
B1级器件 |
|
A1分组 25℃下静态澍试 |
2 |
2 |
|
A2分组 125℃下静态测试 |
3 |
3 |
|
,A3分组 一55℃下静态测试 |
5 |
5 |
|
A4分组 25℃下动态测试(Cl)‘’ |
2 |
2 |
|
A7分组 25℃下功能测试 |
2 |
2 |
|
A9分组 25℃下开关测试 |
2 |
2 |
|
A10分组 125℃下开关测试 |
3 |
|
|
All分组 -55℃下开关测试 |
5 |
|
注。1）仅在初始鉴定或工艺、设计改进时才进行时该分组测试。（即在1MHz频率下测量指定输入端和Vss间的电容。）
．I．4.2 B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
B1—B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其它规定，表中引用的方法系指GJB 548的试验方法。
|
|
条件和要求 |
样品数／（接收数） |
| |||
|
分组
|
B级器件
|
Bl级器件
|
或 |
说 明
| ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
LTPD | ||
|
B1分组 尺寸 |
2016
|
按规定
|
2016
|
按规定
|
2/(0)
|
|
|
B2分组 扰溶性 |
2015
|
按规定
|
2015
|
按规定
|
4/(0)
|
|
|
B3分组 可焊性 |
2022 或 2003
|
焊接温度： 245土5℃ |
2022 或 2003
|
焊接温度： 245±5'C |
15 |
LTPD系对引线 数而言，被试器件 应不少于3个。
|
|
B4分组 内部目捡和 机械性能 |
2014
|
按规定
|
2014 |
按规定
|
1/(0)
|
|
|
B5分组 键台强度 超声焊
|
2011
|
试验条件C或D
|
2011
|
试验条件C或D
|
15
|
或在密封前的内 部目检。筛选后， 随机抽取样品进 行本分组试验。 |
|
B8分组 (^a)电测试 (b)静电放电 灵敏度等级 (c)电测试 |
GJB . 1649
|
本规范A1分组
本规范A1分组 |
GJB- 1649
|
卒规范A1分组
|
15(0)
|
初始鉴定或产品 重新设计进行。
|
|
B9分组 输入高压 (VZAP)试验 |
|
本规范第4,5.3条
|
|
本规范第4,5.3条
|
15
|
初始鉴定或工艺
设计改变时进行。 |
4.4.3 C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7 C组检验
若无其他规定，表巾引用的方法系指GJB 548的试验方法。
|
|
条件和要求
|
样品数／（接收数） |
| |||
|
分组 |
B级器件 |
B1级器件 |
或 |
说 明 | ||
|
方法 |
条件 |
方法 |
条件 |
LTPD | ||
|
C1分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
试验条件D 温度：125℃ 时间：1000h A1，A2．A3分组 和表lO△极限
|
1005
|
试验条件D 温度；12S℃ 时间：1000h A1．A2．A3分组 和表10△极限
|
5
|
采用本规范图 3线路或其等 效线路。 A1分组要求测 试并计算△ 极限值（见本 规范4.5.2条） |
|
C2分组 温度循环 恒定加速度
密封 (1)细检漏 (2)粗检漏 目检
终点电测试
|
10lO 200l
lO14
|
试验条件C 试验条件E Y1方向 试验条件： AI或A2 Cl或C2 按方法1010 的目检判据 A1、A2、A3分 组（见本规范 表2和表3） |
1010 200l
1014
|
试验条件C 试验条件D Y1方向 试验条件： A1或A2 C1或C2 按方法1010 的目检判据 Al、A2、A3分 组（见车规范 表2和表3） |
15
|
|
|
c3分组 125℃ 开关测试 |
|
不要求
|
|
AlO分组（见本 规格表2和3）
|
3
|
|
|
C4分组 - 55 ℃开关测试 |
|
不要求
|
|
All分组（见本 规范表2和3）
|
5
|
|
4,4.4 D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一批检验批中电性能不合格的器件作为样本。
1259
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