SJ T 50597 27 94 半导体集成电路 JC4067型CMOS16选1 2

    B级器件

    Bl级器件

    项  目

  分组（见表3）

  变化量极限

  分组（见哀3）

  变化t板眼

中间（老化前）

电测试

Al

    —

A1

中间（老化后）

电测试

   A1^1）

    △^2）

A1^1）

    △^2）

最终电测试

A2．A3．A7．A9

  -

A2, A3, AT, A9

 -

 A组电测试

A1, A2, A3, A4,

A7, A9.A10. A11

  -

A1, A2, A3, A4,

A7,A9

-

 C组替终点电测试

A1．A2．A3

    '△^2）

'A1,A2,A3

    △^2）

C组检验增加的电测

试分组

-

A10.A11.

-

 D组终点电测试

A1,A2,A3

-

 A1．A2．A3’

-

寻I用标准

    条  件

    规范值

分组

‘符号

GB 3834

    （着无其它规定．VI嬲= OVo TA。25℃

最小

曩大

单位

Al

 V_IK+

1)

V_DD接地．Vss开路．被测输入I_IK =1mA非被测输入

开路，输出开路。

  -

1.5

  V

  V_IK-．

  V_DD开路．Vss按地．被测输入I_IK =-1mA．非被测输入开路，输出开路。

一6

  v

 I_DD

2.15

 V_DD= 15V, V_IL =-OV．V_IH=15V,输出开路。

  -

2

uA

  V_OH

 2.7

 V_DD= 15V，被测输人V_IL= OV．输出开路；

所有其它非被测端开路，被测输出I_OL=O,

 14.95

  V

 V_OL

  2.8

  V_DD=15V．被测输入V_IH= 15V．输出开路；

  所有其它非被测端开路，被测输出I_OL=0。

  -

  0．05

  V

 V_IH

 2.1

 V_DD  =5 V．被测输出V_OH =4.5V．非被测输入按功能表进行测量。

3.5

   -

 V_DD  =10V．被测输出V_OH =95V．非被测输入按功能表进行测量。

7

   -

  V

 V_DD  =15 V．被测输出V_OH =13.5V．非被测输入按功能表进行测量。

L1

  -

引用标准

    条  件

    规范值

分组

符号

GB 3834

    （若无其它规定．Vss= OV, T_A=25℃

最小

最大

单位

  AL

V_DD= 5V．被测输出V_OL=O.5V．非被测输入按功能表

进行预置．

  -

  1．5

V_IL

 2.2

V_DD= 10V．被测输出V_OL=1V．非被测输入按功能表

进行预置

   -

3

V_DD= 15V．被测输出V_OL=1.5V．非被测输入按功能表

进行预置

    -

4

  V

I_IH²⁾

2.9

V_DD= 5V．输入端逐一测V_IH=15V．其它输入端接地

-

10

I_IL²⁾

2,10'

V_DD= 5V．输入端逐一测V_IH=15V．其它输入端接地

   -

一10

nA

A1

R_ON

V_DD= 5V,. Vss= OV

    -

 1050

  Ω

2.17,

V_DD= 10V,. Vss= OV

    -

  400

V_DD= 15V,. Vss= OV

     -

  240

  A2

  TA= 125℃，除V_IK+．．V_IK-．测外，所有参效条件同A1分组．规范值按表1．

  A3

  TA= -55℃，除V_IK+．．V_IK-．测外，所有参效条件同A1分组．规范值按表1   '

  A4

  C1

  3.1

  V_DD= 5V．f=1MHz,分别测每个输入端Vss之间的电容  一

  7.5

  pF

 A7

功能测试，按功能表，‘见本规范3.2.2篆）

  A9

t_PLH

    3.9

RL =200Ω，CL = 50pF

 INH, A→I/O

-

 600

    t_t．t_f= 1Ons

V_DD= 5V

 I/O→O/I

-

 55

     ..f'= 200kHz

 INH, A→I/O

-

  150

V_DD= 10V

  I/O→O/I

-

  17

．I帆

    ，．10

 I/O→O/I

-

 55

m

V_DD= 5V

INH, A→I/O

-

 400

 I/O→O/I

-

 175

V_DD= 10V

INH, A→I/O

 L00

A10

 T_A = l2S℃，参载、条件同A9分组。规范值按表l

 AU

丁^一-55℃．参数、条件同A9分组。规范值按表l

    条件和要求

    ’筛选嘎百

    B鳜嚣件

    Bi鳜器件    ．

    说  明

方法

    条件

方法

    条件

内部目检

（封疑前）

2010

试验条件B

2010

试验条件B

稳定性烘烙

（不要求终点测试）

1008

试验条件C

 (t150℃．24h)．

1008

试验条件C

(150℃，24h)

温度循环

1010

试验条件C

1010

试硷条件C

可用方祛1011试验条件

A替代。

恒定加速度

200l

试验条件E．‘

Y1方向

2001

试验条件D．

Y1方向

试验后进行目检，引线断落、外克破裂、封盖脱落

为失效．

中间（老化前）电舅试

本规范A1分组

率规范A1分组

测试并剔除A1分组不会

格品，并记录要求(△)测

试的I_DD、I_OL、I_OH的值。

  老

  静态老化

  1015

  试验条件A

  （125℃，160h）

  1015

  试验条件^

  (125℃, 160h)

  采用本规范图3、图4线

 路

  化

动态老化

试验条件D或E

(125℃, 160h)．．

试验条件D或E

（125℃．1160h）

    可选取静态动态老

化的其中一种方式．

中间（老化后）电测试

本规范A1分组

和表10△极限

本规范A1分组

釉和表10△极限

允许不合格产品率

(PDA)及其计算    ．

5%．本规范A1

分组。当不合

格品率不超过

20%时，可重新

提交老化，但只

允许一次

10%．本规范

A1分组，当不

合格品率不超

过20%时，可重

新提交老化．但

只允许一次

甩老化失效数（包括超过

A1分组规范和△极限

值的器件）除以提交老化

的合格器件数即为PAD。

不大于规定的PAD时则

该批应接收。

最终电测试

本规范A2、A3、

A7、A9分组

本规范A2、A3、

A7、A9分组

本项筛选后．若器件的引

线涂覆或返工，尉应再进

行A1分组测试。

密封

  细检漏

  粗检漏

lOl4

试验条件t

 Al或A2

 Cl或C2

 1014

试验条件．

A1或A2

 C1或~C2

外部目硷

2009

2009

鉴定或质量一致性检验

的试验样品抽取

5005

第3:5条

5005

第3.5条

在发货前按批进行．