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SJ T 10076 91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:1065次
SJ T 10076 91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器
 

中华人民共和国电子工业行业标准

电子元器件详细规范

半导体集成电路CJ 710型电压比较器     SJ/T  10076-91

   Detuil specification for eleetronic componens 

Semiconductor integrated circuit

     Voltage comparator type CJ 710

      本规范规定了半导体祭成电路CJ 710型电压比较器质量评定的全部内容,

    本标准符合GB.4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T 18750/(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求

 

        中华人民共和国机械电子工业部

 

  评定器件质量的依据,

GB 4589.1《半导体器件  分立器件和集

成电路总规范》

GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不

  包括混合电路 )》

 

SJ/T 10076——91

  CJ 710 型电压比较器详细规范

订货资料,见本规范第7章

  1.机械说明 

    外形依据} GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》

 

 

 

外形图:GB 7092  

2.简要说明

    双极型电平转换器电路

    半导体材料:硅

    封装:空封、非空封

    逻辑符号、逻辑图和功能表,见本规范第

    11章

品种:

            环境

 型号         温度

装形式

 

-70℃

   (C)

 

-55~125℃(M)

金属圆壳(T)

CJ 710CT

CJ710MT

黑瓷封装(J)

CJ 710CJ

CJ710MJ

塑料直插(P)

CJ 710CP

 

    J型

5.4条及5.4.1条   

    P型

  5.5条及5.5.1条

    T型

  5.6条及5.6.2条

 

    引出端排列:

    SJ/T 10076-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器

       引出端符号的名称见本规范第11章

       标志;按GB4589.1第2.5条及本规范

      第6章 

 

      3质量评定类别

    Ⅱ. ⅢA,ⅢB, ⅢC

4极限值(绝对最大额定值)

若无其它规定,适用于全工作温度范围。

条款号

     参    数  

  符  号

    数    值

  单  位

  最小

 最大

4.1

工作环境温度

54

  Tamb

 

    -55 

    125

    ℃

74

    0

   70

4.2

贮存温度

  Tstg

    -65

    150

    ℃

4.3

电源电压(Tamb=25℃)

   V+

 

    14

    V

   V-

    -7

 

4.4  

输出电流

   IOM

 

    10 

    mA

4.5             

短路输出限时

tos

 

    10

    a

    4.6

差模输入电压范围

  VIOR

    -5

     5

   V

    4.7

共模输入电压范围

  VICR

     -7

     7

   V

    4.8

功     耗              T

                       J P

  Po

 

 300

   mW

 

 200

   4.9

耐焊接热(60s)

Th

 

300

 

5电工作条件和电特性

电特性的检验要求见本规范第8章

5.1电工作条件

若无其它规定,适用于全工作温度范围。

  条款号

    参    数  

  符号

    数    值

单  位

  最小

  最大

  5.1.1

正电源电压

   V+

   

    12

    V

  5.1.2

负电源电压 

   V-

   -6

 

    V

5.2电特性 

若无其它规定,Tamb=25℃

条款号 

特性和条件 

符号

规范值

单位

  试  验

 

最小

最大

  5.2.1

  输入失调电压Rs≤200ΩVIC=0V

 VIO

 

  5.0

 V

  A3

  5.2.2

  输入失调电流Vo=1.4V

IIO

 

5.0

mA

A3

  5.2.3

  输入偏执电流

IIB

 

 25

mA

A3

  5.2.4

  差模电压增益

AVD

 1000

 

A

A3

5.2.5

  输出端吸入电流

 Isink

1.6

  l

 

A3

                              续表

 

条款号

      特性和条件

  符  号

  规范值

  单位    试 验

 

  最小

  最大

  5.2.6

输入失调电压温漂Rs=50Ω

-55℃≤Tamb≤125℃

aVIO

 

20

 μV/℃  A3a/A3b

  5.2.7

输入失调电流温漂

25℃≤Tamb≤Tmax

 aHO

 

50

  nV/℃  A3a/A3b

25℃≤Tamb<25℃

   

  100

  5.2.8

共模输入电压范围V=-7V     -55℃≤Tamb≤125℃

CIR

  -5 

    5

   V     A3a/A3b  

5.2.9

共模抑制比-55℃≤Tamb≤125℃

  KCMR

70

    

 dB      A3a/A3b

   5.2.10

差模输入电压范围-55℃≤Tamb≤125℃

  VIOR

-5

5

 

   V     A3a/A3b

   5.2.11          

正输出电压-5mA≤Io≤0,V1≥10mV

VO+

2.5

  

   V      A3

   5.2.12

负输出电压V1≥10mV

VO-

-1.0

 

   V      A3

   5.2.13

正电源电流V1≥10mV

I+

 

9

  mA        A3

   5.2.14

负电源电流V1≥10mV

I-

 

7

  mA       A3

   5.2.15

功耗V1≥10mV Io=0V

Po

 

150

 mW        A3

6标志

  器件上的标志示例:

  SJ/T 10076-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器

若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。

 

SJ/T 10076-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器

   若在管壳侧面打印,则将器件正放,从“引出端识别标志”前逆时针方向一次标志:制造单位商标,型号,认证合格标志,验证批识别代码,质量评定类别

 

7订货资料

  若无其它规定,订购器件至少需要下列资料:   

  a.产品型号

b.详细规范编号

c.质量评定类别

d.其它

8 验条件和检验要求

   抽样要求:根据采用的质量评定类别,按GB/T12750第9章的有关规定

 

                        A组检验的抽样要求

                 

  分组

                             AQL

              Ⅰ类

Ⅱ类

    IL

    AQL

       IL

        AQL

A1

      I  

0. 65

    I 

    0. 65

    A3

      I

    0.15

    l

    O.15

A3a

     S4

    1.0

    S4

    1.0

A3b

     S4

    1.0

    S4

    1.0

  

    B组C组和D组检验的抽样要求

     分组   

                  LTPD

     I类 

     Ⅱ类   

    A

    B                  C

    B1

    15

    15

    15

    15  

    C1

    20

    20 

    20

    20

 B3 C3

    15

    15

    15

    15

B4 C4

    10  

    10

    10

    10

B5 C5

    10

    10

    10

    10

    C6

    20

    20

    20

    20

    C7

    15

    15

    15

    15

B8 C8

    10

    5 

    7

    10

    C9

    15

    5

    7

    15

    C11

    20

    20  

    20

    20

 B21 

    20

    10

    10

    15

    C23  

    20

    10

    15

    20

    C24

    20 

    10

    15

    20

        D8

    10

    5

    7

    10

 

A组——逐批

全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

    

     检验或试验

 

  引用标准

       条  件

若无其它规定 Tamb=25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

 检验要求

  规范值

   A1分组

   外部目检

GB4589.1

  第4.2.1.1条

 

标志清晰,表面无

损伤和气孔

   A3分组

 25℃下的静态特征

  GB 6797《半导体

集成电路接口由电路

电平转换器测试方法的基本原理》

按本规范5.2.1条至5.2.5条和10.1条

按本规范5.2.1条

  至5.2.5条, 5.2.11条至5.2.15条

A3a分组 

最高工作温度下的静态特性

GEl 6797

 

   Tamb按本规范4.1条规定的最

 大值条件,同A3分组   

按本规范5.2.6条

  至5.2.10条

  A3b分组

最低工作温度下的

  静态特性

 

  GB 6797

    Tamb按本规范4.1条规定的最

    小值.条件。同A3分组

 

  同A3a分组

 

  检验或试验

    引用标准

    25℃

  (见GB 4589.1第4.1条)

  检验要求

    规抱值

                      

 

 

B组一逐批

标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

    检验或试验

   引用标准

         条件

  若无其它规定.Tamb=25℃

  (见GB 4589.1第4.1条)

检验要求 

    规范值

B1分组

     尺寸      

GB 4589.1第4. 2.2

条及附录B   

 

 按本规范第1章

 B 3分组

    引线强度

    弯曲.(D

GB 4590(半导体集成电路机械和气候试验方法) 

第2.2条  

外加力的值接第2.2条表2

  无损伤

B4分组可焊性

GB 4590

第2.5条  

按方法b(槽焊法)

按2.5.6条

B5分组

温度快速变化

a.空封器件随后进行电测量

密封:细检漏

粗检漏

 b.非空封和环氧

封的空封器件

随后进行

外部目检  

稳态湿热

电测量

GB 4590

第3.1条

GB 4590第3.12条

OB 4590第3.13条

GB 4590第3.1条

GB 4589.1

第4.2.1.l条

GB 4590

第3.7条 

温度:按本规范第4.1条规定

循环次数:lO次  tI= 5min

同A3、A3分组恢复2h

按规定

按规定

温度:按本规范第4.1条规定   

循环次数:10次tI= 5min

按规定

严格度A

时间:24h

周A2、A3分组

同A2、A3分组

 

 

同A1分组

 

 

 

同A2、A3分组

B8分组

电耐久性(168h)  

最后测量(同A2,A3和A4分组)

GB 4590

第4.7条

Tamb按本规范1条规定的最大

位,其它按奉规范I0.3条

同A2,A3和A4分组

同A2、A3和A4分

B组——逐批(续)

  检验或试验

    引用标准

     条  件

若无其它规定.Timb=25℃  (见GB 4589.1第4,1条)

   检验要求

    规范值

B21分组

高压蒸汽<D)(非空封器件)

最后测量:

(同A2和A3分组)

GB 4590

 严格度C

 时间:24h

 

 同A2和A3分组

  同A2和A3分组

  CRRL分组  

  就B3、B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果.

                       C组——周期

标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

   检验或试验

     引用标准

     条  件

    若无其它规定.Tamb=25℃

  (见GB 4589.1第4.1条)

   检验要求

    规范值

C1分组    尺寸 

GB 4589.1第4.2.2

条及附录B

 

按本规范第1章

C3分组引线强度拉力(D)

GB 4590

    外加力的值按2.2条表2

按2.1.5条  

C4分组:

耐焊接热(D)

最后测量

(同A2,A3分组)   

GB 4590

 第2.6条   

  按方法l(260℃槽焊)

    同A3分组

同A3分组

C5分组

温度快速变化(D)

 

(非空封和环氯封的空封器件)

随后进行

外部目检

稳态湿热

  电测量

(同A3分组)

GB 4590   

第3.1条   

GB 4589.1   

第4.2.1.1条

GB 4590

第3.7条

 

TA=-65℃     Ta=150℃

  循环次数:500  tl=5min

严格度A

时间:24h

同A3分组

 

同A1分组

 

同A3分组

 

   C组——周期(续)

  检验或试验

   引用标准 

      条  件

    若无其它规定.Tamb=25℃

    (见GB 4589.1第4.1条)

   检验要求

    规范值

C6分组,

稳态加速度(D)

(空封器件)

最后测量

(同A3分组)

GB 4590第2. 10条

加速度t按规定

 

同A3分组

 

同A3分组

C7分组

稳态湿热(D)

a.空封器件

b.非空封器件

  最后测量

(同A 3分组)

GB 4590 

第3.6条

GB 4590

第3.7条

严格度D

严格度A  时间:1000h

同A3分组

同A3分组

C8分组

电耐久性(1000h)

最后测量

(同B8分组)

GB 4590

第4.7条

同B8分组

同B8分组

同B8分组

C9分组

高温贮存(D)

最后测量   

(同B8分组)  

 GR 4590 

第3.3条

 

  温度:按Tstg(max)

时间:1000h

同B8分组

同B8分组

C l1分组 

标志耐久性

  GB 4590

  第4.3条 

  按方法2 溶液:A型  

按4.3.2条  

 C 23分组  

抗溶性:(D) 

(非空封器件)

GB 4590   

第4.4条

按4.4.2条

 

按4.4.2条

   C24分组

易燃性(D)

(非空封器件)

GB 4590

 第4.1条 

按4.1.2条

按4.1.2条

CRRL分组

就C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、Cll、C23和C24分组提供计数检查结果.

注:1)连续三次通过后,周期可延长为一年一次.

9    D组

D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。

    检验或试验

   引用标准     

    条  件

 若无其它规定,Tamb=25℃      (见GB 4589.1第4.1条)

    检验要求

    规范值

D8分组

电耐久性

  最后测量

(同B8分组) 

GB 4590

第4.7条

l类: 2000h

 lI类:3000h

其它同B8分组

 

同B8分组

同B8分组

10 附加资料

10.Ro和ttot电特性测量如下:

条 款 号

特性和条件

符号

典型值

单位

10.1.1

 输出电阻

  Ro

200

Ω

10.1.2

 全响应时间

  ttot

40

 ns            

 

 

10,2其余电特性测量如下:

其余电特性测量按GB6798的规定。

10.3电耐久性试验线路

SJ/T 10076-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器

   10.4电原理图 

SJ/T 10076-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ 710型电压比较器

 

   附录A

                                 筛选

                              (补充件)

1类器件:生产厂自行规定筛选条件。

II类器件:筛选项目和条件如下:

等级A                     等级B                 等级C

内部目检

GB4590

第4.6 条

内部目检

GB4590

第4.6 条

内部目检

GB4590

第4.6 条

  高温贮存

GB 4590  

第3.3条

  150℃:96h

高温贮存

GB 4590  

第3.3条

  150℃:48h

     

温度快速变化

GB4590

第3.1条

-55~125℃,10 次

温度快速变化

GB4590

第3.1条

-55~125℃,5 次

稳态速度

GB4590

第2.10条

稳态速度

GB4590

第2.10条

密         封

GB4590

第3.12条和3.13条

密         封

GB4590

第3.12条和3.13条

老化前电测量

  同A3分组  

  剔除不合格品

老化前电测量

  同A3分组  

  剔除不合格品

老化前电测量

  同A3分组  

  剔除不合格品

老    化  

GB4590       

  第4.7条

   Tamb 最大、240h

老    化  

GB4590       

  第4.7条

   Tamb 最大、168h

老    化  

GB4590       

  第4.7条

   Tamb 最大、168h

老化后电测量

  同A3分组.   

  剔除不合格品.若不合

  格品率大予5%,则该

  批拒收.

老化后电测量

  同A3分组.   

  剔除不合格品.若不合

  格品率大予5%,则该

  批拒收.

老化后电测量

  同A3分组.   

  剔除不合格品.

 

注:1)不适用于非空封器件

1065
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