中华人民共和国电子工业行业标准
电子元器件详细规范
半导体集成电路CJ 710型电压比较器 SJ/T 10076-91
Detuil specification for eleetronic componens
Semiconductor integrated circuit
Voltage comparator type CJ 710
本规范规定了半导体祭成电路CJ 710型电压比较器质量评定的全部内容,
本标准符合GB.4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T 18750/(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求
中华人民共和国机械电子工业部 |
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评定器件质量的依据, GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集 成电路总规范》 GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不 包括混合电路 )》 |
SJ/T 10076——91 | |||||||||||||
CJ 710 型电压比较器详细规范 订货资料,见本规范第7章 | ||||||||||||||
1.机械说明 外形依据} GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》
外形图:GB 7092 |
2.简要说明 双极型电平转换器电路 半导体材料:硅 封装:空封、非空封 逻辑符号、逻辑图和功能表,见本规范第 11章 品种:
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J型 |
5.4条及5.4.1条 | |||||||||||||
P型 |
5.5条及5.5.1条 | |||||||||||||
T型 |
5.6条及5.6.2条 | |||||||||||||
| ||||||||||||||
引出端排列:
引出端符号的名称见本规范第11章 标志;按GB4589.1第2.5条及本规范 第6章 |
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3质量评定类别 Ⅱ. ⅢA,ⅢB, ⅢC |
4极限值(绝对最大额定值)
若无其它规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
参 数 |
符 号 |
数 值 |
单 位 | ||
最小 |
最大 | |||||
4.1 |
工作环境温度 |
54 |
Tamb
|
-55 |
125 |
℃ |
74 |
0 |
70 | ||||
4.2 |
贮存温度 |
Tstg |
-65 |
150 |
℃ | |
4.3 |
电源电压(Tamb=25℃) |
V+ |
|
14 |
V | |
V- |
-7 |
| ||||
4.4 |
输出电流 |
IOM |
|
10 |
mA | |
4.5 |
短路输出限时 |
tos |
|
10 |
a | |
4.6 |
差模输入电压范围 |
VIOR |
-5 |
5 |
V | |
4.7 |
共模输入电压范围 |
VICR |
-7 |
7 |
V | |
4.8 |
功 耗 T J P |
Po |
|
300 |
mW | |
|
200 | |||||
4.9 |
耐焊接热(60s) |
Th |
|
300 |
℃ |
5电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第8章
5.1电工作条件
若无其它规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
参 数 |
符号 |
数 值 |
单 位 | |
最小 |
最大 | ||||
5.1.1 |
正电源电压 |
V+ |
|
12 |
V |
5.1.2 |
负电源电压 |
V- |
-6 |
|
V |
5.2电特性
若无其它规定,Tamb=25℃
条款号 |
特性和条件 |
符号 |
规范值 |
单位 |
试 验
| |
最小 |
最大 | |||||
5.2.1 |
输入失调电压Rs≤200ΩVIC=0V |
VIO |
|
5.0 |
V |
A3 |
5.2.2 |
输入失调电流Vo=1.4V |
IIO |
|
5.0 |
mA |
A3 |
5.2.3 |
输入偏执电流 |
IIB |
|
25 |
mA |
A3 |
5.2.4 |
差模电压增益 |
AVD |
1000 |
|
A |
A3 |
5.2.5 |
输出端吸入电流 |
Isink |
1.6 |
l |
|
A3 |
续表
条款号 |
特性和条件 |
符 号 |
规范值 |
单位 试 验
| ||
最小 |
最大 | |||||
5.2.6 |
输入失调电压温漂Rs=50Ω -55℃≤Tamb≤125℃ |
aVIO |
|
20 |
μV/℃ A3a/A3b | |
5.2.7 |
输入失调电流温漂 |
25℃≤Tamb≤Tmax |
aHO |
|
50 |
nV/℃ A3a/A3b |
25℃≤Tamb<25℃ |
|
100 | ||||
5.2.8 |
共模输入电压范围V=-7V -55℃≤Tamb≤125℃ |
CIR |
-5 |
5 |
V A3a/A3b | |
5.2.9 |
共模抑制比-55℃≤Tamb≤125℃ |
KCMR |
70 |
|
dB A3a/A3b | |
5.2.10 |
差模输入电压范围-55℃≤Tamb≤125℃ |
VIOR |
-5 |
5
|
V A3a/A3b | |
5.2.11 |
正输出电压-5mA≤Io≤0,V1≥10mV |
VO+ |
2.5 |
|
V A3 | |
5.2.12 |
负输出电压V1≥10mV |
VO- |
-1.0 |
|
V A3 | |
5.2.13 |
正电源电流V1≥10mV |
I+ |
|
9 |
mA A3 | |
5.2.14 |
负电源电流V1≥10mV |
I- |
|
7 |
mA A3 | |
5.2.15 |
功耗V1≥10mV Io=0V |
Po |
|
150 |
mW A3 |
6标志
器件上的标志示例:
若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。
若在管壳侧面打印,则将器件正放,从“引出端识别标志”前逆时针方向一次标志:制造单位商标,型号,认证合格标志,验证批识别代码,质量评定类别
7订货资料
若无其它规定,订购器件至少需要下列资料:
a.产品型号
b.详细规范编号
c.质量评定类别
d.其它
8 验条件和检验要求
抽样要求:根据采用的质量评定类别,按GB/T12750第9章的有关规定
A组检验的抽样要求
分组 |
AQL | |||
Ⅰ类 |
Ⅱ类 | |||
IL |
AQL |
IL |
AQL | |
A1 |
I |
0. 65 |
I |
0. 65 |
A3 |
I |
0.15 |
l |
O.15 |
A3a |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 |
A3b |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 |
B组C组和D组检验的抽样要求
分组 |
LTPD | |||
I类 |
Ⅱ类 | |||
A |
B C | |||
B1 |
15 |
15 |
15 |
15 |
C1 |
20 |
20 |
20 |
20 |
B3 C3 |
15 |
15 |
15 |
15 |
B4 C4 |
10 |
10 |
10 |
10 |
B5 C5 |
10 |
10 |
10 |
10 |
C6 |
20 |
20 |
20 |
20 |
C7 |
15 |
15 |
15 |
15 |
B8 C8 |
10 |
5 |
7 |
10 |
C9 |
15 |
5 |
7 |
15 |
C11 |
20 |
20 |
20 |
20 |
B21 |
20 |
10 |
10 |
15 |
C23 |
20 |
10 |
15 |
20 |
C24 |
20 |
10 |
15 |
20 |
D8 |
10 |
5 |
7 |
10 |
A组——逐批
全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定 Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
A1分组 外部目检 |
GB4589.1 第4.2.1.1条 |
|
标志清晰,表面无 损伤和气孔 |
A3分组 25℃下的静态特征 |
GB 6797《半导体 集成电路接口由电路 电平转换器测试方法的基本原理》 |
按本规范5.2.1条至5.2.5条和10.1条 |
按本规范5.2.1条 至5.2.5条, 5.2.11条至5.2.15条 |
A3a分组 最高工作温度下的静态特性 |
GEl 6797
|
Tamb按本规范4.1条规定的最 大值条件,同A3分组 |
按本规范5.2.6条 至5.2.10条 |
A3b分组 最低工作温度下的 静态特性 |
GB 6797 |
Tamb按本规范4.1条规定的最 小值.条件。同A3分组 |
同A3a分组 |
检验或试验 |
引用标准 |
25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规抱值 |
B组一逐批
标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条件 若无其它规定.Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
B1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4. 2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
B 3分组 引线强度 弯曲.(D |
GB 4590(半导体集成电路机械和气候试验方法) 第2.2条 |
外加力的值接第2.2条表2 |
无损伤 |
B4分组可焊性 |
GB 4590 第2.5条 |
按方法b(槽焊法) |
按2.5.6条 |
B5分组 温度快速变化 a.空封器件随后进行电测量 密封:细检漏 粗检漏 b.非空封和环氧 封的空封器件 随后进行 外部目检 稳态湿热 电测量 |
GB 4590 第3.1条 GB 4590第3.12条 OB 4590第3.13条 GB 4590第3.1条 GB 4589.1 第4.2.1.l条 GB 4590 第3.7条 |
温度:按本规范第4.1条规定 循环次数:lO次 tI= 5min 同A3、A3分组恢复2h 按规定 按规定 温度:按本规范第4.1条规定 循环次数:10次tI= 5min 按规定 严格度A 时间:24h 周A2、A3分组 |
同A2、A3分组
同A1分组
同A2、A3分组 |
B8分组 电耐久性(168h) 最后测量(同A2,A3和A4分组) |
GB 4590 第4.7条 |
Tamb按本规范1条规定的最大 位,其它按奉规范I0.3条 同A2,A3和A4分组 |
同A2、A3和A4分 组 |
B组——逐批(续)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定.Timb=25℃ (见GB 4589.1第4,1条) |
检验要求 规范值 |
B21分组 高压蒸汽<D)(非空封器件) 最后测量: (同A2和A3分组) |
GB 4590 |
严格度C 时间:24h
同A2和A3分组 |
同A2和A3分组 |
CRRL分组 |
就B3、B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果. |
C组——周期
标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定.Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
C1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4.2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
C3分组引线强度拉力(D) |
GB 4590 |
外加力的值按2.2条表2 |
按2.1.5条 |
C4分组: 耐焊接热(D) 最后测量 (同A2,A3分组) |
GB 4590 第2.6条 |
按方法l(260℃槽焊) 同A3分组 |
同A3分组 |
C5分组 温度快速变化(D)
(非空封和环氯封的空封器件) 随后进行 外部目检 稳态湿热 电测量 (同A3分组) |
GB 4590 第3.1条 GB 4589.1 第4.2.1.1条 GB 4590 第3.7条
|
TA=-65℃ Ta=150℃ 循环次数:500 tl=5min 严格度A 时间:24h 同A3分组
|
同A1分组
同A3分组
|
C组——周期(续)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定.Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
C6分组, 稳态加速度(D) (空封器件) 最后测量 (同A3分组) |
GB 4590第2. 10条 |
加速度t按规定
同A3分组 |
同A3分组 |
C7分组 稳态湿热(D) a.空封器件 b.非空封器件 最后测量 (同A 3分组) |
GB 4590 第3.6条 GB 4590 第3.7条 |
严格度D 严格度A 时间:1000h 同A3分组 |
同A3分组 |
C8分组 电耐久性(1000h) 最后测量 (同B8分组) |
GB 4590 第4.7条 |
同B8分组 同B8分组 |
同B8分组 |
C9分组 高温贮存(D) 最后测量 (同B8分组) |
GR 4590 第3.3条
|
温度:按Tstg(max) 时间:1000h 同B8分组 |
同B8分组 |
C l1分组 标志耐久性 |
GB 4590 第4.3条 |
按方法2 溶液:A型 |
按4.3.2条 |
C 23分组 抗溶性:(D) (非空封器件) |
GB 4590 第4.4条 |
按4.4.2条
|
按4.4.2条 |
C24分组 易燃性(D) (非空封器件) |
GB 4590 第4.1条 |
按4.1.2条 |
按4.1.2条 |
CRRL分组 |
就C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、Cll、C23和C24分组提供计数检查结果. |
注:1)连续三次通过后,周期可延长为一年一次.
9 D组
D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
D8分组 电耐久性 最后测量 (同B8分组) |
GB 4590 第4.7条 |
l类: 2000h lI类:3000h 其它同B8分组
同B8分组 |
同B8分组 |
10 附加资料
10.Ro和ttot电特性测量如下:
条 款 号 |
特性和条件 |
符号 |
典型值 |
单位 |
10.1.1 |
输出电阻 |
Ro |
200 |
Ω |
10.1.2 |
全响应时间 |
ttot |
40 |
ns |
10,2其余电特性测量如下:
其余电特性测量按GB6798的规定。
10.3电耐久性试验线路
10.4电原理图
附录A
筛选
(补充件)
1类器件:生产厂自行规定筛选条件。
II类器件:筛选项目和条件如下:
等级A 等级B 等级C
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
高温贮存 GB 4590 第3.3条 150℃:96h |
高温贮存 GB 4590 第3.3条 150℃:48h |
|
温度快速变化 GB4590 第3.1条 -55~125℃,10 次 |
温度快速变化 GB4590 第3.1条 -55~125℃,5 次 | |
稳态速度 GB4590 第2.10条 |
稳态速度 GB4590 第2.10条 | |
密 封 GB4590 第3.12条和3.13条 |
密 封 GB4590 第3.12条和3.13条 | |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、240h |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、168h |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、168h |
老化后电测量 同A3分组. 剔除不合格品.若不合 格品率大予5%,则该 批拒收. |
老化后电测量 同A3分组. 剔除不合格品.若不合 格品率大予5%,则该 批拒收. |
老化后电测量 同A3分组. 剔除不合格品.
|
注:1)不适用于非空封器件
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