中华人民共和国电子工业行业标准
电子元器件详细规范
半导体集成电路CH2005型 SJ/T 10068-91
双下降沿J-K触发器
Detail specification for electronic component
Semiconductor lntegrated circuit Type CH2005 dual J-K negative-edge triggered flip-flop
本规范规定了半导体集成电路CH2005型双下降沿J-K触发器质量评定的全部内容。
本规范是参照GB5965《半导体集成电路双极性门电路空白详细规范》制订的,标准符GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。
中华人民共和国机械电子工业部 |
| |||||||||
评定器件质量的依据, GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集 成电路总规范》 GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不 包括混合电路 )》 |
SJ/T 10068—91 | |||||||||
CH2005型双下降沿J-K触发器详细规范 订货资料,见本规范第7章 | ||||||||||
1.机械说明 外形依据} GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》
外形图:GB 7092 |
2.简要说明 双极型HTL触发器 半导体材料:硅 封装:空封、非空封 逻辑符号、逻辑图和功能表,见本规范第 11章 品种:
| |||||||||
D型 |
5.3条及5.3.1条 | |||||||||
J型 |
5.4条及5.4.1条 | |||||||||
P型 |
5.5条及5.5.1条 | |||||||||
| ||||||||||
引出端排列:
引出端符号的名称见本规范第11章 标志;按GB4589.1第2.5条及本规范 第6章 |
| |||||||||
3质量评定类别 Ⅱ. ⅢA,ⅢB, ⅢC |
4极限值(绝对最大额定值)
若无其它规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
参 数 |
符号 |
数 值 |
单 位 | |
最小 |
最大 | ||||
4.1 |
工作环境温度 |
Tamb |
-40 |
85 |
℃ |
4.2 |
贮存温度 |
Ts |
-55 |
125 |
℃ |
4.3 |
电源电压 |
Vcc |
-0.5 |
18 |
V |
4.4 |
输入电压 |
Vi |
|
18 |
V |
4.5 |
输入电流 |
Ii |
|
-10 |
mA |
4.6 |
输出电流 |
Io |
|
30 |
mA |
5电工作条件和电特性
电特性的检验要求见本规范第8章
5.1电工作条件
若无其它规定,适用于全工作温度范围。
条款号 |
参 数 |
符号 |
数 值 |
单 位 | |
最小 |
最大 | ||||
5.1.1 |
电源电压 |
Vcc |
13.5 |
16.5 |
V |
5.1.2 |
输入高电平电压 |
VIH |
9 |
|
V |
5.1.3 |
输入低电平电压 |
VIL |
|
6.5 |
V |
5.1.4 |
输出高电平电流 |
IOH |
|
-0.5 |
mA |
5.1.5 |
输出低电平电流 |
IOL |
|
14 |
mA |
5.2电特性
若无其它规定,适用于全工作温度范围
条款号 |
参 数 |
符 号 |
规范值 |
单位 |
试验 | ||
最小 |
最大 | ||||||
5.2.1 |
Vcc=13.5V,VIH=9V,VIL=6.5V IOH=-0.5mA |
VOH
|
11.5 |
|
V |
A3 | |
5.2.2
|
输出低电乎电压 Vcc=13.5V, VIH=9V, VIL =6.5V IOL=14mA |
VOL |
|
1.5 |
V |
A3 | |
5.2.3 |
输入高电平电流 Vcc=15V VIH=16.5V
|
J、K |
IIH |
|
6 |
μA |
A3 |
Ro |
|
18 | |||||
CP |
|
12 |
续表
条款号 |
条件和条 |
符号 |
规范 |
单位 |
试 | ||
最小 |
最大 | ||||||
5.2.4 |
输入低电平电流 Vcc= 16.5V,VIL=1.5V |
J、K |
IIL |
|
--1.4 |
mA |
A3 |
Ro |
|
--2.8 | |||||
CP |
|
--1.4 | |||||
5.2.5 |
输出短路电流Vcc=16.5V |
Ios |
-4 |
-18 |
mA |
A3 | |
5.2.6 |
电串时电源电流 Vcc=l6.5V |
ICCH |
|
20 |
mA |
A3 | |
5.2.7 |
输出低电平时电源电流6.5V |
ICCL |
|
20 |
mA |
A3 | |
5.2.8 |
传输延迟时间 Vcc=15V,Tamb=25℃,Vm=15V F=500kHz,q=50%,tr≤15ns Ti≤15ns,VREF=7.5V,CL=80pF RL=1.8kΩ |
tPLH |
|
390 |
A4 | ||
tPHL |
|
180 |
6标志
器件上的标志示例:
若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。
7订货资料
若无其它规定,订购器件至少需要下列资料:
a.产品型号
b.详细规范编号
c.质量评定类别
d.其它
8 验条件和检验要求
抽样要求:根据采用的质量评定类别,按GB/T12750第9章的有关规定
A组检验的抽样要求
分组 |
AQL | |||||||
Ⅰ类 |
Ⅱ类 | |||||||
IL |
AQL |
IL |
AQL | |||||
A1 |
I |
0. 65 |
I |
0. 65 | ||||
A2 |
I |
O.1 |
I |
O.1 |
| |||
A3 |
I |
0.15 |
l |
O.15 | ||||
A3a |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 | ||||
A3b |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 | ||||
A4 |
S4 |
1.0 |
S4 |
1.0 | ||||
B组C组和D组检验的抽样要求
分组 |
LTPD | |||
I类 |
Ⅱ类 | |||
A |
B C | |||
B1 |
15 |
15 |
15 |
15 |
C1 |
20 |
20 |
20 |
20 |
B3 C3 |
15 |
15 |
15 |
15 |
B4 C4 |
10 |
10 |
10 |
10 |
B5 C5 |
10 |
10 |
10 |
10 |
C6 |
20 |
20 |
20 |
20 |
C7 |
15 |
15 |
15 |
15 |
B8 C8 |
10 |
5 |
7 |
10 |
C9 |
15 |
5 |
7 |
15 |
C11 |
20 |
20 |
20 |
20 |
B21 |
20 |
10 |
10 |
15 |
C23 |
20 |
10 |
15 |
20 |
C24 |
20 |
10 |
15 |
20 |
D8 |
10 |
5 |
7 |
10 |
A组——逐批
全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定 Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
A1分组 外部目检 |
GB4589.1 第4.2.1.1条 |
|
标志清晰,表面无 损伤和气孔 |
A2分组 功能验证 |
|
按本规范5.2.1条、5.2.2条和 11.3条 |
按本规范5.2.1条、5.2.2条和l1.3条 |
A3分组 25℃下的静态特征 |
GB 6797《半导体 集成电路接口由电路 电平转换器测试方法的基本原理》 |
按本规范5.2.1条至5.2.5条和10.1条 |
按本规范5.2.1条 至5.2.5条 |
A3a分组 最高工作温度下的静态特性 |
GEl 6797
|
Tamb按本规范4.1条规定的最 大值条件,同A3分组 |
同A3分组 |
A3b分组 最低工作温度下的 静态特性 |
GB 6797 |
Tamb按本规范4.1条规定的最 小值.条件。同A3分组 |
同A3分组 |
A4分组 25℃下的动态特性 |
GB 3440 |
按本规范5.2.8条和lO.2条 |
按本规范5.2.8条 |
B组一逐批
标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条件 若无其它规定.Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
B1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4. 2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
B4分组可焊性 |
GB 4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》第2.5条
|
按方法b(槽焊法) |
按2.5.6条 |
B5分组 温度快速变化 a.空封器件 温度快速变化 随后进行 电测量 (同A3、A3分组) |
GB 4590第3.1条 |
温度:严格度D 循环次数:lO次 tI= 5min 同A3、A3分组
|
同A2、A3分组
|
B组——逐批(续)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定.Timb=25℃ (见GB 4589.1第4,1条) |
检验要求 规范值 |
密封:细检漏 粗检漏 b.非空封和环氧 封的空封器件 随后进行 外部目检 稳态湿热 电测量 (同A3、A3分组) |
GB 4590第3.12条 OB 4590第3.13条 GB 4590第3.1条 GB 4589.1 第4.2.1.l条 GB 4590 第3.7条 |
按规定 按规定 温度:按本规范第4.1条规定 循环次数:10次tI= 5min 按规定 严格度A 时间:24h 周A2、A3分组 |
同A1分组
同A2、A3分组 |
B8分组 电耐久性(168h) 最后测量(同A2,A3和A4分组) |
GB/T12750第12.3条 |
平均能耗为:(ICCH+ICCL/2)×Vcc 温度:按本规范4.1条最大值,其他按本规范10.3条 同A2、A3和A4分组 |
同A2、A3和A4分组 |
B21分组 高压蒸汽(D)(非空封器件) 最后测量: (同A2和A3分组) |
GB 4590 |
严格度C 时间:24h
同A2和A3分组 |
同A2和A3分组 |
CRRL分组 |
就B3、B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果. |
C组——周期
标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定.Tamb=25℃
|
检验要求 规范值 |
C1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4.2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
C3分组引线强度拉力(D) |
2.1条GB 4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》第2.2条 |
外加力的值按2.1条表l |
无损伤 |
C4分组: 耐焊接热(D) 最后测量 (同A3分组) |
GB 4590 第2.6条 |
按方法l(260℃槽焊) 同A3分组 |
同A3分组 |
C组——周期(续)
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定.Tamb=25℃ |
检验要求 规范值 |
C5分组 温度快速变化(D)
(非空封和环氯封的空封器件) 随后进行 外部目检 稳态湿热 电测量 (同A2 A3分组) |
GB 4590 第3.1条 GB 4589.1 第4.2.1.1条 GB 4590 第3.7条
|
温度严格度D 循环次数:500 tl=5min 严格度A 时间:24h 同A2 A3分组
|
同A1分组
同A2 A3分组
|
C6分组, 稳态加速度(D) (空封器件) 最后测量 (同A2 A3分组) |
GB 4590第2. 10条 |
加速度:196000m/s2 同A2 A3分组 |
同A2和A3分组 |
C7分组 稳态湿热(D) a.空封器件 b.非空封器件 最后测量 (同A2 A3分组) |
GB 4590 第3.6条 GB 4590 第3.7条 |
严格度D 严格度A 时间:1000h 同A2 A3分组 |
同A2和A3分组 |
C8分组 电耐久性(1000h) 最后测量 (同A2 A3 A4分组) |
GB 4590 第4.7条 |
同B8分组 同A2 A3 A4分组 |
同A2 A3 A4分组 |
C9分组 高温贮存(D) 最后测量 (同A2 A3 A4分组) |
GB 4590 第3.3条
|
温度严格度B 时间:1000h 同A2 A3 A4分组 |
同A2 A3 A4分组 |
C l1分组 标志耐久性 |
GB 4590 第4.3条 |
按方法2溶液:A型 |
按GB 4590第 4.3.2条 |
C 23分组 抗溶性:(D) (非空封器件) |
GB 4590 第4.4条 |
按GB 4590 第4.4.2条
|
按GB 4590 第4.4.2条 |
C24分组 易燃性(D) (非空封器件) |
GB 4590 第4.1条 |
按GB 4590 第4.1.2条 |
按GB 4590 第4.1.2条 |
CRRL分组 |
就C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、Cll、C23和C24分组提供计数检查结果. |
注:1)连续三次通过后,周期可延长为一年一次.
9 D组
D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 若无其它规定,Tamb=25℃ (见GB 4589.1第4.1条) |
检验要求 规范值 |
D8分组 电耐久性 最后测量 (同A2 A3 A4分组) |
GB 4590 第4.7条 |
l类: 2000h lI类:3000h 其它同B8分组
同A2 A3 A4分组 |
同A2 A3 A4分组 |
10 附加资料
10.1 静态特性的测量
静态特性的测量按GB3440《半单体集成电路HTL电路测试方法的基本原理》
10,2动态特征的测量
10.2.1 动态特征的测量按GB3440
10.2.2 负载线路
10.3电耐久性试验线路
11型号说明
11.1逻辑符号
11.2逻辑图(1/2)
11.3功能表
输 入 |
输 出 | ||||
Ro |
CP |
J |
K |
Q |
Q |
L |
× |
× |
× |
L |
H |
H |
↓ |
L |
L |
Q |
Qo |
H |
↓ |
L |
H |
L |
H |
H |
↓ |
H |
L |
H |
L |
H |
↓ |
H |
H |
Qo |
Qo |
11.4 引出端符号名称
引出端符号 |
名 称 |
CP |
时钟脉冲 |
J,K |
数据输入 |
Q,Q |
输出 |
Ro |
清除 |
附录A
筛选
(补充件)
1类器件:生产厂自行规定筛选条件。
II类器件:筛选项目和条件如下:
等级A 等级B 等级C
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
内部目检 GB4590 第4.6 条 |
高温贮存 GB 4590 第3.3条 150℃:96h |
高温贮存 GB 4590 第3.3条 150℃:48h |
|
温度快速变化 GB4590 第3.1条 -55~125℃,10 次 |
温度快速变化 GB4590 第3.1条 -55~125℃,5 次 | |
稳态速度 GB4590 第2.10条 |
稳态速度 GB4590 第2.10条 | |
密 封 GB4590 第3.12条和3.13条 |
密 封 GB4590 第3.12条和3.13条 | |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、240h |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、168h |
老 化 GB4590 第4.7条 Tamb 最大、168h |
老化后电测量 同A3分组. 剔除不合格品.若不合 格品率大予5%,则该 批拒收. |
老化后电测量 同A3分组. 剔除不合格品.若不合 格品率大予5%,则该 批拒收. |
老化后电测量 同A3分组. 剔除不合格品.
|
注:1)不适用于非空封器件
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