您的位置:标准吧 > 标准下载 > SJ T 10068 91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J触发器

SJ T 10068 91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J触发器

时间:2012-5-28 14:42:50 作者:标准吧 来源:SJ 阅读:1617次
SJ T 10068 91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J触发器
 

中华人民共和国电子工业行业标准

              电子元器件详细规范

半导体集成电路CH2005型    SJ/T 10068-91

               双下降沿J-K触发器

Detail specification for electronic component

Semiconductor lntegrated circuit Type CH2005 dual J-K   negative-edge triggered flip-flop

   本规范规定了半导体集成电路CH2005型双下降沿J-K触发器质量评定的全部内容。

本规范是参照GB5965《半导体集成电路双极性门电路空白详细规范》制订的,标准符GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。     

        中华人民共和国机械电子工业部

 

  评定器件质量的依据,

GB 4589.1《半导体器件  分立器件和集

成电路总规范》

GB/T 12750《半导体集成电路分规范(不

  包括混合电路 )》

 

SJ/T 10068—91

  CH2005型双下降沿J-K触发器详细规范

订货资料,见本规范第7章

  1.机械说明 

   外形依据} GB 7092《半导体集成电路外形尺寸》

 

 

 

外形图:GB 7092  

2.简要说明

    双极型HTL触发器

    半导体材料:硅

    封装:空封、非空封

    逻辑符号、逻辑图和功能表,见本规范第

    11章

品种:

            环境

 型号         温度

装形式

 

85℃

   (E)

陶瓷直插(D)

CH2005ED

黑瓷直插(J)

CH2005EJ

塑料直插(P)

CH2005EP

    D型

5.3条及5.3.1条   

    J型

  5.4条及5.4.1条

    P型

  5.5条及5.5.1条

 

   引出端排列:  

SJ/T 10068-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器

   

       引出端符号的名称见本规范第11章

       标志;按GB4589.1第2.5条及本规范

      第6章 

 

      3质量评定类别

    Ⅱ. ⅢA,ⅢB, ⅢC

4极限值(绝对最大额定值)

若无其它规定,适用于全工作温度范围。

   条款号

  参    数

  符号

    数    值

单  位

  最小

  最大

    4.1

  工作环境温度

  Tamb

    -40

    85

    ℃

    4.2

贮存温度

  Ts

    -55

    125

    ℃

    4.3

电源电压

  Vcc

    -0.5

    18

    V

    4.4

输入电压

   Vi

 

    18

    V   

    4.5

输入电流

   Ii

 

    -10

    mA

    4.6

输出电流

   Io

 

    30

    mA

5电工作条件和电特性

电特性的检验要求见本规范第8章

5.1电工作条件

若无其它规定,适用于全工作温度范围。

  条款号

    参    数  

  符号

    数    值

单  位

  最小

  最大

  5.1.1

电源电压

    Vcc

    13.5

   16.5

    V

  5.1.2

输入高电平电压 

    VIH

     9

 

    V

  5.1.3

输入低电平电压   

    VIL

 

    6.5

    V

  5.1.4

输出高电平电流

    IOH

 

    -0.5

    mA

  5.1.5

输出低电平电流

    IOL

 

    14

    mA

5.2电特性 

若无其它规定,适用于全工作温度范围

条款号

         参    数

  符 号

    规范值

  单位

试验

最小

最大

5.2.1

   Vcc=13.5V,VIH=9V,VIL=6.5V

   IOH=-0.5mA  

VOH

  

 11.5

 

   V

 A3

5.2.2

 

  输出低电乎电压  

 Vcc=13.5V, VIH=9V, VIL =6.5V

IOL=14mA 

VOL

 

  1.5

   V

 A3

5.2.3

  输入高电平电流

Vcc=15V

VIH=16.5V

 

 J、K

IIH

 

    6

  μA

  A3

 Ro

 

    18

  CP

 

    12

                                        续表

条款号

       条件和条

  符号

  规范

 单位

试   

最小

最大

 

 5.2.4

  输入低电平电流

  Vcc= 16.5V,VIL=1.5V 

J、K

 

  IIL

 

  --1.4

 

    mA

 

  A3

 Ro

 

  --2.8

 CP

 

 --1.4

 5.2.5

  输出短路电流Vcc=16.5V 

  Ios  

   -4

   -18

    mA

    A3

 5.2.6

电串时电源电流

Vcc=l6.5V  

  ICCH

 

    20

mA

 A3

 5.2.7

  输出低电平时电源电流6.5V

  ICCL

 

   20

    mA

  A3

 5.2.8

  传输延迟时间  

 Vcc=15V,Tamb=25℃,Vm=15V

 F=500kHz,q=50%,tr≤15ns

 Ti≤15ns,VREF=7.5V,CL=80pF

RL=1.8kΩ

  tPLH

 

   390

  A4

  tPHL

 

   180

6标志

器件上的标志示例:

SJ/T 10068-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器        若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。

7订货资料

  若无其它规定,订购器件至少需要下列资料:   

a.产品型号

b.详细规范编号

c.质量评定类别

d.其它

8 验条件和检验要求

抽样要求:根据采用的质量评定类别,按GB/T12750第9章的有关规定

                           A组检验的抽样要求

                 

  分组

                             AQL

              Ⅰ类

Ⅱ类

    IL

    AQL

       IL

        AQL

A1

      I  

0. 65

    I 

    0. 65

A2

    I

    O.1

    I

    O.1

 

    A3

      I

    0.15

    l

    O.15

A3a

     S4

    1.0

    S4

    1.0

A3b

     S4

    1.0

    S4

    1.0

A4

     S4

    1.0

    S4

    1.0

  

    B组C组和D组检验的抽样要求

     分组   

                  LTPD

     I类 

     Ⅱ类   

    A

    B                  C

    B1

    15

    15

    15

    15  

    C1

    20

    20 

    20

    20

 B3 C3

    15

    15

    15

    15

B4 C4

    10  

    10

    10

    10

B5 C5

    10

    10

    10

    10

    C6

    20

    20

    20

    20

    C7

    15

    15

    15

    15

B8 C8

    10

    5 

    7

    10

    C9

    15

    5

    7

    15

    C11

    20

    20  

    20

    20

 B21 

    20

    10

    10

    15

    C23  

    20

    10

    15

    20

    C24

    20 

    10

    15

    20

        D8

    10

    5

    7

    10

A组——逐批

全部试验均为非破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

    

     检验或试验

 

  引用标准

       条  件

若无其它规定 Tamb=25℃

(见GB 4589.1第4.1条)

 检验要求

  规范值

   A1分组

   外部目检

GB4589.1

  第4.2.1.1条

 

标志清晰,表面无

损伤和气孔

   A2分组

   功能验证

 

   按本规范5.2.1条、5.2.2条和

    11.3条

按本规范5.2.1条、5.2.2条和l1.3条

   A3分组

 25℃下的静态特征

  GB 6797《半导体

集成电路接口由电路

电平转换器测试方法的基本原理》

按本规范5.2.1条至5.2.5条和10.1条

按本规范5.2.1条

  至5.2.5条

A3a分组 

最高工作温度下的静态特性

GEl 6797

 

   Tamb按本规范4.1条规定的最

 大值条件,同A3分组   

 

  同A3分组

  A3b分组

最低工作温度下的

  静态特性

 

  GB 6797

    Tamb按本规范4.1条规定的最

    小值.条件。同A3分组

 

  同A3分组

  A4分组

25℃下的动态特性

GB 3440

按本规范5.2.8条和lO.2条

按本规范5.2.8条

 

 B组一逐批

标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

    检验或试验

   引用标准

         条件

  若无其它规定.Tamb=25℃

  (见GB 4589.1第4.1条)

检验要求 

    规范值

B1分组

     尺寸      

GB 4589.1第4. 2.2

条及附录B   

 

 按本规范第1章

B4分组可焊性

GB 4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》第2.5条  

 

按方法b(槽焊法)

按2.5.6条

B5分组

温度快速变化

a.空封器件

温度快速变化

随后进行

电测量

(同A3、A3分组)

GB 4590第3.1条

温度:严格度D

循环次数:lO次  tI= 5min

同A3、A3分组

 

 

同A2、A3分组

 

B组——逐批(续)

  检验或试验

    引用标准

     条  件

若无其它规定.Timb=25℃  (见GB 4589.1第4,1条)

   检验要求

    规范值

密封:细检漏

粗检漏

 b.非空封和环氧

封的空封器件

随后进行

外部目检  

稳态湿热

电测量

(同A3、A3分组)

GB 4590第3.12条

OB 4590第3.13条

GB 4590第3.1条

GB 4589.1

第4.2.1.l条

GB 4590

第3.7条 

按规定

按规定

温度:按本规范第4.1条规定   

循环次数:10次tI= 5min

按规定

严格度A

时间:24h

周A2、A3分组

同A1分组

 

 

 

同A2、A3分组

B8分组

电耐久性(168h)  

最后测量(同A2,A3和A4分组)

GB/T12750第12.3条

平均能耗为:(ICCH+ICCL/2)×Vcc

温度:按本规范4.1条最大值,其他按本规范10.3条

同A2、A3和A4分组

同A2、A3和A4分组

B21分组

高压蒸汽(D)(非空封器件)

最后测量:

(同A2和A3分组)

GB 4590

 严格度C

 时间:24h

 

 同A2和A3分组

  同A2和A3分组

  CRRL分组  

  就B3、B4、B5、B8和B21分组提供计数检查结果.

                       C组——周期

标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589.1第3.6.6条)

   检验或试验

     引用标准

     条  件

    若无其它规定.Tamb=25℃

  

   检验要求

    规范值

C1分组    尺寸 

GB 4589.1第4.2.2

条及附录B

 

按本规范第1章

C3分组引线强度拉力(D)

2.1条GB 4590《半导体集成电路机械和气候试验方法》第2.2条

    外加力的值按2.1条表l

无损伤

C4分组:

耐焊接热(D)

最后测量

(同A3分组)   

GB 4590

 第2.6条   

  按方法l(260℃槽焊)

    同A3分组

同A3分组

 

 

                          C组——周期(续)

  检验或试验

   引用标准 

      条  件

    若无其它规定.Tamb=25℃

   检验要求

    规范值

C5分组

温度快速变化(D)

 

(非空封和环氯封的空封器件)

随后进行

外部目检

稳态湿热

  电测量

(同A2 A3分组)

GB 4590   

第3.1条   

GB 4589.1   

第4.2.1.1条

GB 4590

第3.7条

 

 温度严格度D

 循环次数:500  tl=5min

严格度A

时间:24h

同A2 A3分组

 

同A1分组

 

同A2 A3分组

 

C6分组,

稳态加速度(D)

(空封器件)

最后测量

(同A2 A3分组)

GB 4590第2. 10条

加速度:196000m/s2

同A2 A3分组

 

同A2和A3分组

C7分组

稳态湿热(D)

a.空封器件

b.非空封器件

  最后测量

(同A2 A3分组)

GB 4590 

第3.6条

GB 4590

第3.7条

严格度D

严格度A  时间:1000h

同A2 A3分组

同A2和A3分组

C8分组

电耐久性(1000h)

最后测量

(同A2 A3 A4分组)

GB 4590

第4.7条

同B8分组

同A2 A3 A4分组

同A2 A3 A4分组

C9分组

高温贮存(D)

最后测量   

(同A2 A3 A4分组)  

 GB 4590 

第3.3条

 

温度严格度B

时间:1000h

同A2 A3 A4分组

同A2 A3 A4分组

C l1分组 

标志耐久性

  GB 4590

  第4.3条 

 按方法2溶液:A型  

按GB 4590第

4.3.2条  

 C 23分组  

抗溶性:(D) 

(非空封器件)

GB 4590   

第4.4条

按GB 4590   

第4.4.2条

 

按GB 4590   

第4.4.2条

   C24分组

易燃性(D)

(非空封器件)

GB 4590

 第4.1条 

按GB 4590   

第4.1.2条

按GB 4590   

第4.1.2条

CRRL分组

就C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、Cll、C23和C24分组提供计数检查结果.

注:1)连续三次通过后,周期可延长为一年一次.

9    D

D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行,其后每年进行一次。

    检验或试验

   引用标准     

    条  件

 若无其它规定,Tamb=25℃      (见GB 4589.1第4.1条)

    检验要求

    规范值

D8分组

电耐久性

  最后测量

(同A2 A3 A4分组) 

GB 4590

第4.7条

l类: 2000h

 lI类:3000h

其它同B8分组

 

同A2 A3 A4分组

同A2 A3 A4分组

10 附加资料

10.1 静态特性的测量

静态特性的测量按GB3440《半单体集成电路HTL电路测试方法的基本原理》

10,2动态特征的测量

10.2.1  动态特征的测量按GB3440

10.2.2 负载线路

SJ/T 10068-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器

10.3电耐久性试验线路

SJ/T 10068-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器

 

11型号说明

11.1逻辑符号

SJ/T 10068-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器

11.2逻辑图(1/2)

SJ/T 10068-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器

11.3功能表

    输    入 

    输    出

    Ro

    CP

    J

    K

    Q

  Q

  L

   ×

    ×

   ×

    L

    H

  H

    ↓

L     

    L

    Q

  Qo

  H

    ↓

    L

   H

    L

    H

    H 

    ↓

    H

    L

    H

    L

    H

    ↓

    H

    H

   Qo

    Qo

11.4  引出端符号名称

 

    引出端符号

    名    称

    CP

    时钟脉冲

    J,K

    数据输入

    Q,Q    

     输出

    Ro

清除

 

                                 附录A

                                 筛选

                              (补充件)

1类器件:生产厂自行规定筛选条件。

II类器件:筛选项目和条件如下:

等级A                     等级B                 等级C

内部目检

GB4590

第4.6 条

内部目检

GB4590

第4.6 条

内部目检

GB4590

第4.6 条

  高温贮存

GB 4590  

第3.3条

  150℃:96h

高温贮存

GB 4590  

第3.3条

  150℃:48h

     

温度快速变化

GB4590

第3.1条

-55~125℃,10 次

温度快速变化

GB4590

第3.1条

-55~125℃,5 次

稳态速度

GB4590

第2.10条

稳态速度

GB4590

第2.10条

密         封

GB4590

第3.12条和3.13条

密         封

GB4590

第3.12条和3.13条

老化前电测量

  同A3分组  

  剔除不合格品

老化前电测量

  同A3分组  

  剔除不合格品

老化前电测量

  同A3分组  

  剔除不合格品

老    化  

GB4590       

  第4.7条

   Tamb 最大、240h

老    化  

GB4590       

  第4.7条

   Tamb 最大、168h

老    化  

GB4590       

  第4.7条

   Tamb 最大、168h

老化后电测量

  同A3分组.   

  剔除不合格品.若不合

  格品率大予5%,则该

  批拒收.

老化后电测量

  同A3分组.   

  剔除不合格品.若不合

  格品率大予5%,则该

  批拒收.

老化后电测量

  同A3分组.   

  剔除不合格品.

 

注:1)不适用于非空封器件

1617
国家标准下载

下载说明:
1.请先分享,再下载
2.直接单击下载地址,不要使用“目标另存为”
3.压缩文件请先解压
4.PDF文件,请用PDF专用软件打开查看
5.如果资料不能下载,请联系本站
最新评论
发表评论
大名:
联络: QQ 或者 邮箱
内容:不能超过250字,需审核,请自觉遵守互联网相关政策法规。

验证码: 7183