中华人民共和国电子行业军用标准
半导体集成电路JT54S74和JT54S175型
S-TTL触发器详细规范 SJ 50597.7-94
Detail specification for types JT54S74,
JT54S175 S-TTL flip-flops
of semiconductor integrated circuits
1范围
1.1主题内容
本规范规定了硅单片半导体集成电路JT54S74和JT54S175型S-TTL触发器(以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。
1.3.1器件编号器件编号应按GJB 597(微电路总规范>第3.6.2条的规定。
1.3.1.1器件型号
器件型号如下:
器件 |
型号 |
器 件 名 称 |
JT54S74 |
|
双上升沿D型触发器(有预置、清除端) |
JT54S175
|
|
四上升沿D型触发器(有公共清除端) |
1.3.1.2器件等级
器件等级应为GJB 597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B1级。
1.3.1.3封装形式
封装形式按GB 7092(半导体集成电路外形尺寸>的规定。
封装形式如下:
字母 |
封 装 形 式 |
C |
C20P3(陶瓷无引线片式载体封装) |
D |
D16S3(陶瓷双列封装) |
F |
FI6X2(陶瓷扁平封装) . |
H |
HI6X2(陶瓷熔封扁平封装) |
J |
J16S3(陶瓷熔封双列封装) |
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下:
|
|
数 值 |
| ||
项 目 |
符 号 |
最 小 |
最 大 |
单 位 | |
电源电压 |
Vcc |
-0.5 |
7.0 |
V | |
输入电压 |
VI |
-1.5 |
5.5 |
V | |
贮存温度 |
Ts |
-65 |
150 |
℃ | |
功耗 |
JT54S74 |
PD |
--- |
275 |
|
JT54S175 |
---- |
528 |
mW | ||
引线耐焊接温度 (lOs) |
Th |
--- |
300 |
℃ | |
结温2I |
Tj |
---- |
175 |
℃ |
注:1)器件应能经受测试输出短路电流(IOS)时所增加的功耗。
2)除接CJB 548(微电路试验方法和程序)方法5004老化筛选条件外,不得超过最大结温。
1.3.3推荐工作条件
推荐工作条件如下:
|
符号 |
数 值 |
| ||
项 目 |
最 小 |
最 大 |
单 位 | ||
电源电压 |
VCC |
4.5 |
5.5 |
V | |
输入高电平电压 |
VIH |
2.O |
—— |
V | |
输入低电平电压 |
VIL |
— |
0.8 |
V | |
工作环境温度 |
TA |
- 55 |
125 |
℃ | |
时钟脉冲宽度 |
JT54S74 |
tW(CP) |
7.3 |
— |
|
JT54S175 |
7 |
nS | |||
清除脉冲宽度 |
JT54S74 |
tW(RD) |
7 |
— |
|
JT54S175 |
tW(CR) |
10 |
nS | ||
预置脉冲宽度 |
JT54S74 |
tW(SD) |
7 |
— |
nS |
输入建立时间 |
JT54S74 |
tet |
3 |
— |
ns |
JT54S175 |
5 | ||||
榆人保持时间 |
JT54S74 |
tH |
2 |
|
|
JT54S175 |
3 |
ns |
2引用文件
GB 3431.1--82 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
GB 3431.2--86 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB 3439--82 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
GB 4590--84 半导体集电路机械和气候试验方法
GB 4728.12--85 电气图用图形符号二进制逻辑单元
GB 7092 半导体集成电路外形尺寸
GJB 548--88 微电子器件试验方法和程序
GJB 597--88 微电路总规范
GJB 1649--93 电子产品防静电放电控制大纲。
3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB 597和本规范的规定。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸按GJB 597和本规范的规定。
3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列
逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图l的规定。逻辑符号、逻辑图符合GB 4728.12的规定,引出端排列为俯视图。
图1-1 JT54S74
3.2.2功能表
功能表如下:
a.JT54S74
输入 |
输出 |
SD RD CP D |
Q Q |
L H X X H L X X L L X X H H ↑ H H H ↑ L H H L X |
H L L H H1) H1) H L L H Q Q |
输入 |
输出 |
CR CP D |
Q Q |
L X X H ↑ H H ↑ L H L X |
L H H L L H Q0 Q0 |
注:H-高电平:
L-低电平;
↑-低电平到高电平跳变;
X-任意态;
Q0-规定的稳态输入条件建立前Q的电平;
ò0-规定的稳态输入条件建立前ò0的电平;
1)当SD和RD同时恢复到高电平时输出状态不确定。
3.2.3电原理图
制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构。各制造厂的电原理图由鉴定机构存档备
查。
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。
3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB 597第3.5.6条的规定。
3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
表1-1 JT54S74电特性
特 性 |
符号 |
条 件1) (若无其他规定.- 55≤T^≤125"C) |
规范值 |
| ||
最小 |
最大 |
单位
| ||||
输出高电平电压
|
VOH
|
VCC=4.5 V, IoH=- 1mA VIL = 0.8V, VIH= 2.0V |
2.5
|
— |
V
| |
输出低电平电压
|
VOL
|
VCC=4.5 V, IoH=20mA VIL = 0.8V, VIH= 2.0V |
— |
O.5
|
V
| |
输入钳位电压
|
VIK
|
VCC=4.5 V, IoH=-18mA TA=0.5 |
— |
-1.2
|
V
| |
输入高电平电流 |
IOH |
Vcc=5.5V,= 2.7V |
D |
— |
50 |
|
RD |
150 |
uA | ||||
SD、CP |
100 | |||||
最大输入电压下 的输入电流 |
Ii
|
Vcc=5.5,V1= 2.7V |
|
1
|
mA
|
续 表
|
|
条 件1) |
规范值 |
| |||
特 性 |
符号 |
(若无其他规定,-55≤TA≤125℃) |
最小 |
最大 |
单位 | ||
输入低电平电流 |
IIL |
Vcc=5.5,V1= 0.5V |
D |
— |
-2 |
| |
RD |
-6 |
mA | |||||
SD、CP |
-4 | ||||||
输出短路电流” |
IOS |
Vcc=5.5V |
-40 |
- 100 |
mA | ||
电源电流 |
VCC |
VCC= 5.5V,输出端开路 |
---- |
50 |
mA | ||
最高工作颜率 |
Mfmax |
CL=15pF±10% |
CP |
____ |
65 |
MHz | |
输出由低电平到
|
tPLH
|
RL= 280N_+5%
|
→, |
|
8 |
| |
高电平传输延迟 |
Vcc =5.0V |
→, |
8 | ||||
时间
|
见本规范图2
|
→, |
11 | ||||
输出由高电平到 低电平传输延迟 |
tPHL
|
→, (CP端为高) |
15.5 |
ns | |||
时间
|
→, (CP端为低) |
10
| |||||
→, |
ll | ||||||
注;1)完整的测试条件列于表3。
2)每次只短路一个输出端。
表1-2 JT54S175电特性
|
|
条 件1’ |
规范值 |
| |
特 性 |
符号 |
(若无其他规定,- 55≤TA≤125℃) |
最小 |
最大 |
单位 |
输出高电平电压 |
VCH |
Vcc = 4.5V, VCH= - lmA VIL= 0.8V, VIH = 2.0V |
2.5 |
— |
V |
输出低电平电压
|
VOL
|
Vcc=4.5V, IOL= 20mA Vn=O.8V, Vm= 2.0V |
— |
0.5
|
V
|
输入钳位电压
|
VIK
|
Vcc =4.5V, ILH= -18mA TA = 25℃ |
— |
-1.2
|
V
|
输入高电平电流 |
ILH |
Vcc= 5.5V,V1= 2.7V |
— |
50 |
uA |
最大输入电压下 的输入电流 |
Ii
|
Vcc =5.5V; V1= 5.5V |
__ |
1
|
mA
|
输入低电平电流 |
IIL |
Vcc = 5.5V, V1=O.5V |
__ |
一2 |
mA |
输出短路电流2] |
IOS |
Vcc=5.5V1 |
-40 |
- 100 |
mA |
电源电流 |
IOCL |
Vcc = 5.5V.输出端开路 |
__ |
96 |
mA |
续 表
|
|
条 件1) |
规范值 |
| ||
特 性 |
符号 |
(若无其他规定,-55≤≤125℃) |
最小 |
最大 |
单位 | |
最高工作频率 |
fmax |
CL= 15pF±10% |
CP |
65 |
__ |
MHz |
输出由低电平到 |
tPLH |
RL= 280Ω±5% |
→, |
— |
L8 |
|
高电平传输延迟 时间 |
Vcc=5.0V |
CP→Q, |
15 |
ns
| ||
输出由高电平到 |
tPHL |
见本规范图2
|
→Q, |
25 | ||
低电平传输延迟 时间 |
CP→Q, |
20 |
注;1)完整的测试条件列于表3。
2)每次只短路一个输出端。
3.5电试验要求
器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规
定。
表2 电试验要求
|
分 组 (见表3) | |
项 目 |
B级器件 |
Bl级器件 |
中间(老化前)电测试 |
A1 |
Al |
中间(老化盾)电测试 |
A11) |
A11) |
最终电测试 |
A2,, A3, A7, A9 |
A2, A3, A7, A9 |
A组试验要求 |
AI, A2, A3, A7, A9, A10, A11 |
A1, A2, A3,A7, A9 |
C组终点电测试 |
A1,A2, A3 |
A1,A2,A3 |
C组检验增加的分组 |
不要求 |
A1O, All |
D组终点电测试 |
A1,A2,A3 |
A1,A2,A3 |
注1)该分组要求PDA计算(见4.2条)。
表3 -l JT54S74电测试
|
|
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
| |
分组 |
符号 |
GB 3439 |
(若无其他规定, TA=25℃) |
最小 |
最大 |
单位 |
A1 |
VCH |
2.2条 |
Vcc =4.5V. VIL =O.8V. VIH = 2.0V. ICH=-1mA. |
2.5 |
— |
V |
VOL |
2.5条
|
Vcc =4.5V, VIL=O,8V,VIH =2.0V IOL= 20mA。 |
— |
0.5
|
V
| |
VIK |
2.1条 |
Vcc= 4,5V.被测输入端IIK =- 18mA |
— |
-1.2 |
V | |
II
|
2.11条
|
Vcc =5.5V.被测输入端VV1 =5.5V, 其余输入端Vl= OVo |
— |
1
|
mA
|
续 表
|
|
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
| |||
分组 |
符号 |
GB 3439 |
《若无其他规定, TA=25℃)) |
最小 |
最大 |
单位 | ||
AI |
ILH |
2.12条 |
Vcc =5.5V. |
D |
— |
50 |
uA
| |
被测输入端V1= 2.7V, |
RD |
150 | ||||||
其余输入端V1= OV。 |
SD |
100 | ||||||
CP |
100 | |||||||
IIL |
2.13条 |
Vcc=5.SV, 测输入端V1=O.5V, 其余输入端V1=5.5V |
D |
— |
-2 |
| ||
RD |
-6 | |||||||
SD |
-4 |
mA
| ||||||
CP |
-4 | |||||||
IOS |
2.21条 |
Vcc = 5.5V |
40 |
-100 |
mA | |||
ICC
|
2.25条
|
Vcc = 5.5V.RDV1= 0V CP端V1=0V,其余输入端V1=4.5V. 输出端开路。 |
|
50
|
mA
| |||
Vcc=5.5 V,SD端Vz= OV,CP端V1=OV.其余输入端V1=4.5V.输出端开路。 | ||||||||
A2 |
TA= 125℃,除VIK不测外. 参数、条件、规范值均同A1分组。 | |||||||
A3 |
TA=- 55℃,除VIK不测外, 参数、条件、规范值均同AI分组。 | |||||||
A7 |
Vcc= 5V,按功能表进行测试。Vcc= 5V.按功能表进行测试。 | |||||||
A9 |
?mix |
3.10条 |
Vcc= 5.0V. |
CP |
75 |
— |
MHE | |
tPLH |
3.4条 |
CL= 15pF±10% RL= 280Ω±5% 见本规范图2 |
→, |
— |
6 |
| ||
→, |
6 |
ns
| ||||||
→, |
9 | |||||||
tPLH.
|
3.5条
|
Vcc= 5.0V. CL= 15pF±10% RL= 280Ω±5% 见本规范图2 |
SD→Q.Q (CP端为高) |
__ |
13.5
|
| ||
SD→Q.Q (CP端为低) |
8
|
ns
| ||||||
CP→Q.Q |
9 | |||||||
A10 |
?mix。 |
3.10条 |
TA= 125℃.条件同A9分组。 |
CP |
65 |
|
MHz | |
tPLH |
3.4条 |
RD→Q,Q |
'
|
8 |
| |||
SD→Q,Q |
8 |
ns | ||||||
CP→Q,Q |
II | |||||||
tPLH
|
3.5条
|
SD→Q,Q (CP端为高) |
|
15.5 |
| |||
SD→Q.Q (cP端为低) |
10
|
ns
| ||||||
CP→QQ |
11 | |||||||
All |
TA= - 55"C,参数、条件、规范值均同A1O分组。 | |||||||
表3-2 JT54S175 电测试
|
|
引用标准 |
条 件 |
规范值 |
| ||
分组 |
符号 |
GB 3439 |
《若无其他规定. T^=25℃) |
最小 |
最大 |
单位 | |
AI
|
VOH
|
2.2条
|
Vcc = 4.5V, VIL= 0.8V, VIH=2.0V, IOH= -1mA |
2.5
|
__ |
V
| |
VOL
|
2.5条
|
Vcc = 4.5V, VIL= 0.8V, VIH=2.0V, IOH= 20mA |
--- |
0.5
|
V
| ||
VIK |
2.1条 |
Icc=4.5V.被测输入端.rn=- 18mA |
-- |
-1.2 |
V | ||
A1
|
IJ
|
2.11条
|
Vcc= 5.5V,被测输入端V1=5.5V. 其余输入端V1= OV。 |
-- |
l
|
mA
| |
IIH
|
2.12条
|
Vcc= 5.5V,被测输入端V1=2.7V. 其余输入端V1= OV。 |
-- |
50
|
mA | ||
IIL
|
2,13条
|
Vcc= 5.5V,被测输入端V1=0.5V. 其余输入端V1= 5.5V。 |
-- |
-2
|
mA
| ||
IOS |
2,21条 |
Vcc= 5.5V |
_40 |
- 100 |
mA | ||
ICC
|
2.25条
|
Vcc=5.5V,CR端和D端V1=4.5 v. CP端瞬时接地后接4.5v,输出端开路 |
-- |
96
|
mA | ||
A2 |
TA= 125'C,除VIK不测外, 参数、条件、规范值均同AI分组。 | ||||||
A3 |
TA=-55℃,除VIK不测外, 参数、条件、规范值均同A1分组。 | ||||||
A7 |
按功能表进行。 | ||||||
A9 |
?mix |
3.10条 |
Vcc= 5.0V. CL= 15pF±10% RL= 280Ω±5% 见本规范图2 |
CP |
75 |
— |
MHZ |
tPLH
|
3.4条 |
CR→Q |
— |
15 |
ns | ||
CP→Q,Q |
12 | ||||||
tPLH, |
3.5条 |
CR→Q |
— |
22 |
| ||
CP→Q.Q |
17 |
ns | |||||
AlO |
?mix。 |
3,10条 |
T^= 125"C, 条件同A9分 |
CP |
65 |
— |
MHZ |
tPLH |
|
组 |
CR→Q |
— |
18 |
| |
3.4条、 |
CP→Q,Q |
15 |
ns | ||||
tPLH |
5.5条 |
CR→Q.Q |
— |
25 |
| ||
CP→Q,Q |
20 |
ns | |||||
All |
TA=- 55℃, 参数、条件、规范值均同A1O分组。 |
,
a. 负载线路
图2负载线路和波形图
注:①输入波形应具有下列特性。
tW=20ns;tf=2.5ns;?≦1MHz
⑦二极管型号为2CK76。
3.6标志
标志应按GJB 597第3.6条的规定。
3-7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第10微电路组(见GIB 597附录E)。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应按GJB 597和GJ8 548方法5005的规定。
4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前,全部器件应按GJB548方法5004
和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
|
条件和要求 |
| |||
筛选项目 |
B级器件 |
Bl级器件 |
说 明 | ||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | ||
内部目检 |
2010 |
试验条件B |
2D10 |
试验条件B |
|
稳定性烘烙 (不要求终 点测量) |
1008
|
试验条件C 《温度:l50℃ 时闻.24h) |
1008
|
试验条件C (温度:15O℃ 时间:24h) |
|
温度循环 |
1010 |
试验条件c |
lOlO |
试验条件C |
可用方法1011试验条件A替代。 |
恒定加速度
|
200I
|
试验条件E. YI方向 |
2∞I
|
试验条件D. Y1方向 |
|
目检
|
|
|
|
|
可在“密封”筛选后进行。引线断落、 外壳破裂、封盖脱落为失效。 |
中间(老化 前)电涮试 |
|
本规范AI分组
|
|
本规范A1分组
|
由制造厂选择是否进行。
|
老化
|
1015
|
试验条件D (温度:125℃ 时间:160h) |
lOl5
|
试验条件D (温度:125℃ 时闻:160h) |
按本规范圈3线路或等效线路。
|
中间(老化 后)电测试 |
,
|
本规范AI分组
|
|
本规范Al分组
|
|
PDA计算
|
|
5%,本规范AI 分组。当不合 格品璋【不超过 1096时可重新 提交老化,但只 允许一次 |
|
10%.本规范 .A1分组。当不 合牿晶率不超 过20%时可重 新提交老化,但 只允许一次 |
若老化前未进行中何电参致试验,那 么老化后A1分组检出的失效散也应 计入PDA内。
|
最终电测试
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
|
本规范A2、A3、 A7、A9分组
|
本项筛选后,若改变器件的引线涂覆 或返工.则应再进行A1和A7分组试 验。 |
密封 细检漏 祖检漏 |
1014
|
|
IOl4
|
|
|
外部目检 |
2009 |
|
2009 |
|
可在发货前按批进行。 |
鉴定试验或 质量一致性检验试验样品的选取 |
5005
|
3.5条
|
5005
|
3.5条 .
|
|
图3老化线路和寿命试验线路图
注;①Vcc=5.0V R,=220n士10%; Rz=27n.
②脉冲发生器特性要求:
G1:VIH=2.0~5.5V;VIL=-0.5~0.7V;?=100kHz;占空比:q=50%
G2:除?= 50kHz外,其余与G1相同,且与G1同步
4.3鉴定检验
鉴定检验应接GJB 5974.4条的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法5005和本规范
A、B、C和D组检验(见4.4.1~4.4.4条)的规定。
A.4质量一致性检验
质量一致性验应按G]B5974.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本
规范A、B、C和D组检验(见4.4.1-4.4,4条)的规定。
4.4,1 A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。
电试验要求按本规范表2,各分组的具体参效测试按本规范表3的规定。
各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时,允许100%检
验。各分组的测试可按任意顺序进行,合格判定数(C)最大为20
表5 A组检验
|
LTPD | |
试 验
|
B级器件 |
BI级器件 |
Al分组 25℃下静态测试 |
2
|
2
|
A2分组 125"(2下静态测试 |
3
|
3
|
A3分组 - 55℃下静态测试 |
5
|
5
|
A7分组 25℃下功能测试 |
2
|
2
|
A9分组 25℃下开关测试 |
2
|
2
|
A10分组 125℃下开关测试 |
3
|
— |
A11分组 - 55℃下开关测试 |
9
|
— |
4,4.2 B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。
Bl~B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。
表6 B组检验
若无其他规定,表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
条件和要求 |
|
| |||
试 验 |
B级器件 |
Bl级器件 |
样品数/(接收数)或LTPD |
说 明 | ||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
BI分组 尺寸 |
2016
|
|
2016
|
|
2/(0)
|
|
B2记分组 扰溶性 |
2015
|
|
2015
|
|
4/(0)
|
|
B3分组 可焊性
|
2022 戏 2003
|
焊接温度: 245±5℃
|
2022 或 2003
|
焊接温度: 245±S℃
|
15
|
LPTD系对引线 截面育,被试器 件数应多子3 个。 |
续 表
|
条件和要求 |
|
| |||
试 验 |
B级器件 |
Bl级器件 |
样品数/(接收效)或LTPD |
说 明
| ||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
B4分组 内部目检 和机械检查 |
2014
|
|
2014
|
|
1/(O)
|
|
B5分组 键合强度 (1)热压焊或 (2)超声焊
|
2011
|
试验条件C 或D
|
2011
|
试验条件C 或D
|
7
|
可在封装工序 前的内部目检 筛选后,随机抽 取样品进行本 分组试验。 |
B8分组 (a)电测试 (b)静电放电 灵敏度等级 (c)电测试 |
GJB- 1649
|
AI分组
AI分组 |
|
不要求 .
|
15/(0)
|
仅在初始浆定 或产品重耪设 计时进行。
|
4.4.3C组检验
C组检验应按本规范表7的规定。
表7 C组检验
若无其他规定,表中采用的方法系指GJB 548的试验方法
|
条件和要求 |
|
| |||
试 验 |
B级器件 |
Bl级器件 |
样品数/(接收效)或LTPD |
说 明 | ||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
C1分组 稳态寿命
终点电测试
|
1005
|
试验条件D 或E 温度:125℃ 时间:1000h A1.A2.A3分 组(见本规范 表2和表3) |
1005
|
试验条件D 或E 温度z125℃ 时间:1000h A1,A2.A3分 组(见本规范 表2和表3) |
5
|
采用本规范 图3的线路
|
C2分组 温度循环恒 定加速度
密封 细检漏 粗检漏 |
1010 2001
l014
|
试验条件C 试验条件E Y1方向
|
1010 2001
1014
|
试验条件C 试验条件D Y1方向
|
15
|
|
续表
|
条件和要求 |
|
| |||
试 验 |
B级器件 |
Bl级器件 |
样品数/(接收效)或LTPD |
说 明 | ||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
目检
终点电测试
|
|
按方法1010的目检判据 A1.A2.A3分 组(见本规范 表2和表3) |
|
按方法1010的目检判据 A1.A2.A3分 组(见本规范 表2和表3) |
|
|
C3分组 125℃下开关测试 |
|
不要求
|
|
A10分组(见本规范表2和表3)
|
3
|
|
C4分组 -55℃下开关测试 |
|
不要求
|
|
A11分组(见本规范表2和表3)
|
5
|
|
4,4.4 D组检验
D组检验应按本规范表8的规定。
D1、D2、D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。
表8 D组检验
若无其他规定,表中采用的方法系指GJB548的试验方法
|
条件和要求 |
|
| |||
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
样品效/(接收数) |
说 明 | ||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 |
或LTPD | ||
D1分组 尺寸 |
2016 |
|
2016 |
|
l5 |
|
D2分组 引线牢同性
密封 细检漏 粗检漏 |
2004
1014
|
试验条件 B2(片状 载体采用试 验条件D)
|
2004
1014
|
试验条件 B2(片状 载体采用试 验条件D)
|
|
|
D3分组 热冲击
温度循环
|
lOll
10lO
|
试验条件B 15次循环 试验条件C 100次循环 |
10ll
1010
|
试验条件.. 15次循环 试验条件C 10次循环 |
|
|
续 表
|
条件和要求 |
样品数/(接收效) 或LTPD |
| |||
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | |||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
抗潮湿
密封 细检漏 粗检漏 目 捡
|
1004
1014
|
片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理
按方法1004 和1010的目 检判据 |
1004
10l4
|
片状载体不 要求弓l筑弯 曲应力的预 处理
按方法1004 和1010的耳 检判据 |
15
|
B1级器件可 按GB4590 第3.6条。 时间:56d
|
终点电测试
|
|
Al,A2,A3分 组(见本规范 表2和表3)
|
|
Al,A2,A3分 组(见本规范 表2和袭3)
|
|
可在抗潮湿 后和密封试 验前进行终 点电参数涮试 |
D4分组 机械冲击 变频振动 恒定加速 度 密封 细检漏 粗检漏 目检
终点电测 试
|
2002 2007 200J
1014
|
试验条件B 试验条件A 试验条件E Y1方向
按方法2002 和2007的目 检判据 A1.A2,A3分 组(见本规范 表2和表3) |
2002 2007 2001
1014
|
试验条件A 试验条件A 试验条件D Yl方向
按方法2002 和2007的目 检判据 A1.A2.A3分 组(见本规范 表2和表3) |
15
|
D3分组的 样品可用在 D4分组。
|
D5分组 盐雾
密封 细检漏 粗检滴 |
1009
1014
|
试验条件A 片状载体不 要求引线弯 曲应力的预 处理
|
|
|
15
|
Bl级器件用 户有要求时, 可进行此项试 验,条件和要 求同B级器件
|
续 表
|
条件和要求 |
样品数/(接收数) 或LTPD |
| |||
试 验 |
B级器件 |
B1级器件 |
说 明 | |||
方法 |
条 件 |
方法 |
条 件 | |||
目捡
|
|
按方法1009 的目检判据 |
|
|
|
|
D6分组 内部水汽 台量
|
1018
|
100℃时最 大水汽含量 为:5OOOppm
|
|
不要求
|
3/(0)
5/(1)
|
当试验3个 器件出现1 个失效时. 可加试2个 器件并且不 失效。 若第一次试 验未通过时, 可在鉴定机 构认可的另 一试验室进 行第二次试 验,若第二 次试验通过. 则该批应被 接收。 |
D7分组 引线涂覆粘 附强度 |
2025
|
不适用于片 状载体 |
2025
|
不适用于片 献载体 |
15
|
LTPD系对引线 数而盲。 |
1)8分组 封盖扭矩 |
2024
|
仅适用于熔 封的外壳 |
2024
|
仅适用于熔 封的外壳 |
5(O)
|
|
4.5检验方法
检验方法应按下列规定。
4.5,1 电压和电流
所有电压的参考点为器件的GND端,电流约定以流入器件引出端为正。
5交货准备
5.1包装要求
包装要求按GJB 597第5.1条的规定。
6说明事项
6.1订贷资料
订货合同应规定下列内容:
a. 完整的器件编号(见1.3.1)
b. 需要时,对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性数据的要求;
c. 需要时,对合格证书的要求;
d. 需要时,对产品或工艺的更改,通知采购单位的要求;
e. 需要时,对失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求;
f. 对产品保证等级选择的要求;
g. 需要时,对特殊载体、引线长度或引线形式的要求;
h. 对认证标志的要求;
i. 需要时,其他要求。
6.2缩写词、符号和定义
本规范所用的缩写词、符号和定义按GJB597、GB3431.1和GB3431.2的规定。
6.3替代性
本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件,不允许用普通工业用器件替代军用器件。
附件说明:
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。
本规范由北京八七八厂起草。
本规范主要起草人:孙人杰。
计划项目代号:JB11011
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