SJ T 10486 94 同轴射频电缆组件总规范 第1部分：一般要求和试验方法 2

 

 11.6耐溶剂和污染流体

11.8.1过程

  试验应按GB 11312中的19.1条进行。

11.6.2要求

    除非在详细规范中另有规定，在恢复周期结束后，电缆组件应符合下列试验的要求：

    a．绝缘电阻；

    b．外观检查；

  c．插入损耗。

11.6,3详细规范中应规定的内容：

    a．液体

    b．如不是70℃时，要规定干燥温度；

    c．绝缘电阻和插入损耗的要求；

    d．与标准试验程序的差异；

    e．连接器是否未被配接或受保护。

11.7浸水试验

    试验方法的细节应在详细规范中规定，一般应按GB 11313中的第14,7条的规定进行。

    组件的连接器应配接。

11．a盐雾和二氧化硫试验

    当要求本试验时，应从GB 2423,17和GB2423.19中选取试验方法。严醺度应在详细规

范中规定。

 

12  特殊试验方法

 

  仅适用于特殊电缆组件的特殊试验方法应在有关的分规范中规定。

  

第三篇试验一览表

 

13  试验一览表

 

试验一览表应在分规范和详细规范规定。

注: 特定分仃类是由特种类型的电缆（如柔软的或半硬的）和符合GB 11313或特殊设计并具有特殊特性

  （例精密和高屏蔽）的射频连接器制造的射频电缆组件组成。

附录A

反射系数测量方法

（补充件）

 

A1  概述

 

 可采用扫频法测量反射系数。

 本方法的基本原理是利用反射计装置测量电缆组件输入端的反射波幅度。

可以把反射波与经校正衰减器衰减的总反射波相比，也可借助比值计将反射波与入射波比。

 

A2  频率范围和反射系数的极限

 

    频率范围和最大反射系数应在详细规范中规定。

 

A3  精度

 

为确定测量系统的误差，在该频率范围内可采用一个经校正的失配负载进行比较试验。

为确定误差范围，可以采用计算效准的方法来提高测量精度。

 

A4  设备

 

    适用的框图示于图A1，经厂方和用户同意，也可采用其他等效装置。

  a.  射频扫频发生器：扫频速率应足够低，使纸带记录仅如实地重现峰值。测量端口的输出特性阻抗应与电缆组件的标称值相同。

  b． 低通滤波器：低通滤波器用于消除寄生谐波频率。

  c．反射计（定向耦合器或电桥）；反射计（带有标准转接器）的有效方向性应至少高于被测值15dB。

  d．  终端负载：终端负载应是一个标称阻抗负载，并应足够精密以满足总精度要求。

  e．  校准衰减器：衰减器应在所需频带内校准。

 

注；校准衰减器也可放在位置(2)。

图A1试验装置框图

附录B

测量插入损耗的试验方法

（补充件）

 

B1  目的

 

    确定同轴射频电缆组件的插入损耗。

 

B2试验方法

 

    在本附录中规定了测量同轴射频电缆组件的插入损耗的兰种试验方法。试验设备痘具有

与被试电缆组件相同的标称特性阻抗。如果不可能一样，则在分条款B2.1条和B2.2条中规

定的试验方法1和试验方法2中必须使用B3条中规定的校准公式和程序。

    试验方法3仅适用于插入损耗小于其回波损耗的那些同轴射频电缆组件。

    在试验设备和被试电缆组件之间可能需要转接器。这些转接器应作为试验设备的一部

分，并且当电缆组件作为试验程序的一部分移去时，它们应留在电路中。然而，当电缆组件移去而转接器不能与测试系统相连时，一个或多个转接器可以留在电缆组件上。在此情况下，需留几个转接器将在详细规范中规定。

B2.1试验方法IB2.1.1检验程序

    电缆组件应按照图B1所示的试验设备电路进行试验。

 

 图B1测量插入损耗的电路图

    首先，电缆组件用已知损耗的参考线代替，或把两个试验接点连接在一起．并把指示器调节到一个适当的值（即小于最大值）。然后，把电缆组件插在两试验接点之间，回调校准衰减器，其值等于电缆组件极限值，如使用参考线应扣除其损耗值。指示器读效应不小于调节值。这样就保证了电缆组件的插入损耗不会大于规定值。

B2.1.2测量程序

    电缆组件按图B1所示的试验设备电路图进行试验。把指示器调到一个适当值（即小于

最大值），然后移去电绕组件，用校准衰减器和已知损耗的参考线（如必要）使指示器读数返回到上述调节值。

B2.1.3验收

    电缆组件的插入损耗应不大子规定值。

B2.1.4注意事项

    a．  在两试验接点处的回波损耗可能会引起测量值的误差，应予以考虑（见B3条）。

    b．  使用太大功率时，应注意不要损伤检测器。

    c．  振荡器应是足够纯的或经过滤波的，以保证无谐波和杂散信号影响本试验。

    d．关于转接器的使用见B2条。

B2.2试验方法2

    本试验方法可用于与试验设备有相同的标称特性阻抗的电缆组件（即高回波损耗情况），

也可用于与试验设备有不同的标称特性阻抗的电缆组件（即低回波损耗情况）。

B2.2.1程序

    本试验电路如图B2所示．图中检测器V通过匹配器（如必要时）与定向耦合器或电桥的输出端相连接。

    根据试验接点的回波损耗，用振幅或振幅和相位进行校准（高回波损耗只需用振幅进行校准，而低回波损耗应按B3条的规定需要用振幅和相位进行校准）。电缆组件插在定向耦合器或电桥的输出端和检测器V之间，必要时要用转接器。衰减通过扫频振幅分析仪确定。

 

图B3测量插入损耗替换电路图

B2.2.2验收

    电缆组件的插入损耗应不大于规定值。

112.2.3注意事项

    a．  在两试验接点处的回波损耗可能会引起测量值的误差，应予以考虑（见B3条）。特殊情况下，在检测器V之前可能需要一个低反射的衰减器。

    b．  系统的校准应考虑功率和耦合器的关系。

    c．信号发生器应是足够纯的或经过滤波的，以保证无谐波和杂散信号影响本试验。

    d．在模拟一扫频系统中，扫频信号发生器的频率扫描速度相对于振幅分析仪响应应足

够低，以便获得插入损耗的精确测量值，特别是对于具有下述情况的电缆组件，其扫描速度应足够低。

    第一种情况：在电缆组件中的回波损耗引起的谐振十分尖锐。

    第二种情况：在电缆组件的两端或试验接点之间有多次反射。

    e．  在数字阶跃式扫频系统中，阶跃间隔应足够小，以便精确地测量插入损耗。特别是，在本条的d中所述的情况下，此间隔应足够小。

    f．关于转接器的使用见B2条。

B2.3试验方法3

    如电缆组件的插入损耗比其回波损耗小，并且试验频带充分宽时，可使用一个双程的试验方法。此要求排除不匹配电缆组件的试验。

B2.3.1程序

    试验电路图如图B4所示。

 

图B4  测量插入损耗的双程电路图

    对V或R在0dB和任何其它要求的衰减下，在要求的频率范围内，定向耦合格接点或转

接器的终端为下述情况，对于0dB或其它要求的衰减值确定电平V或R。

    a．短路；

    b．开路。

    这两种电平a和b的平均分贝数应作为参考电平。

    然后，把电缆组件用转接器（如必要时）与定向耦合器连接，并在短路或开路时测出衰减电平。在两种不同终端下浏得的两个衰减曲线的平均分贝数即是被试电缆组件的插入损耗的两倍。

B2.3.2验收

    电缆组件的插入损耗应不大于规定值。

B2.3.3注意事项

    a．两试验接点处的回波损耗和定向耦合器的方向性或电桥的视在方向性会引起测量值

的误差，应予以考虑（见B3条）。

    b．试验频带应足够宽以便从两测试曲线得到可信的平均值。

    c．  系统的校准应考虑功率和耦合器的关系。

    d．信号发生器应是足够纯的或经过滤波的，以保证无谐波和杂散信号影响本试验。

    e．在模拟一扫频系统中，扫频信号发生器的频率扫描速度相对于振幅分析仪响应应足

够低，以便获得插入损耗的精确测量值，特别是对手具有下述情况的电缆组件，其扫描速度应足够低。

    第一种情况：在电缆组件中的回波损耗引起的谐振十分尖锐。

    第二种情况：在电缆组件或试验接点两端有多次反射。

    f．  在数字阶跃式扫频系统中，阶跃间隔应足够小，以便精确地测量插入损耗。特别是在本条的e中所述的情况下．此间隔应足够，j、。

    g．  电缆组件的插入损耗应允许把电缆组件上的反射和其终端上的反射分开。

    h．  在开路试验中，连接器中心接点处的辐射应不降低精确度。若必要，可使用精密开路终端（屏蔽的或端都封闭的开路终端）。

    i．  关于转接器的使用见B2条。

 

B3  特性阻抗偏差的校准

 

    当试验设备和电缆组件的特性阻抗不同时，试验方法I和试验方法2应和校准公式B1--

起使用。

       ……………．(B1)

式中：——被试电缆组件的真正插入损耗，dB o

    ——电缆组件插入损耗的测量值，dB；

    ——发生器的隔离器或衰减器（对试验方法1）以及耦合器或电桥（试验方法2）的标称输出阻抗．Ω

    ——电缆组件的标称特性阻抗，Ω；

    一一校准衰减器（试验方法1）以及检测器或者耦合器或电桥（试验方法2）的标称输入阻抗，Ω；

    ——电缆组件的衰减常数，neper/m；

    ——电缆组件的相位常数，rad/m;

     ——电缆组件的物理长度，m。

    衰减与频率的曲线上显示出与两试验接头之间的多次反射引起相一致的波动，可由下式求得：

                                                ………(B2)

式中：-一在频率，附近的衰减波动曲线上的两个临近和最大值或两个临近的最小值之间的频率差。

    此外，近似等子下式的

                      ...............  (B3)

                                                   

然而，为提高精度，此公式在公式B1中用a7代替n重复地使用。

 

附录C

传播时间测量方法

（补充件）

 

C1  概述

 

    用于长、短两种电缆组件的测量方法都是需要的。对于长电缆组件，推荐入射

波和反射波的谐振法，谐振法作为方法1在下面叙述。对子短电缆组件，推荐时域法，作为方法2叙述。

C2谐振法(方法1）

    测量频率和,是短路电缆组件近端的电压最小值的频率，五是开路电缆组件远端的电压最大值的频率。第一个最大值或最小值记为，第二记为，以此类推。

    适用的装最框图示于图C1。

在频率或的传播时间。由下列公式给出：

                    ...............  (C1)               

式中：=或

    注：耦合器和转接器的电长度应计人。

    精度可以采用平均值来改进；

                      ...............  (C2)           

                   ...............  (C3) 

式中：==

    为了得到最佳精度，电缆应该端接相同电长度的短路或开路连接器。

    在不同于上面的谐振频率时，可以采用下面的公式。系数由测量几个谐振频率决定。

                  ...............  (C3) 

 

C3  时域法（方法2）

 

    短的或非常短的电缆组件的传播时间可由通过电缆的回波时延来确定。

    可采用时域反射计TDR或脉}申回波测试仪来测量传播时间。系统的上升时间和脉冲宽

度应按所需的分辨力来决定

    为获得电缆组件的传播时间，要把测得的回波延迟时间除以2。对短路或开路的电长度

应取一个容差。

 

图C1试验装置框图

附录D

屏蔽效率测量方法

（补充件）

 

D1 屏蔽效率的测量方法正在考虑中。

 

附录E

环境试验严酷度

（补充件）

 

El  试验的环境条件和严酷度的关系

 

El.1总则

    环境工程的目的是提出产品和环境的相容性，这应考虑所有的经济和技术方面的问题。

为了评价产品承受环境的能力，应选择最好的试验方法和适当的严酷度。产品的试验程序应

根据试验方法及试验顺序来确定，并规定极限。

E1.2环境条件

    环境条件应根据测量或其它可能获得的资料来评定以便能建立与最高可能限制条件相应的统计概率特征值，每种情况都有其自己的环境，但对每个具有轻微差异的耐环境特性的单个产品都规定其环境是不合理的，应把这些环境合并成一类，形成一个有关的环境范围。仅考虑那些影响产品性能的参数是必要的。环境应包括产品寿命中所出现的所有条件，即贮存、运输、使用和操作。

E1.3环境试验

    环境试验目的是为了证明产品在规定的环境条件下能保持完好而无永久性失效，并且能

按规范的规定工作。所选择的试验的严酷度取决于参数的特征值、失效机理、老化因子（若知道）和失效的结果。后者可以通过某特定产品的应用来研究分析，并依赖其用途：这就是说，试验的严酷度可根据产品的临界状态来确定，是提高还是降低。如果产品的抽样表明产品在承受环境的能力上有较大变化，则试验的等级应提高。如果环境条件的分布范围和耐一些环境试验的特性不完全一致，试验等级也应提高以澄清弱点。

    也应该考虑性能要求。通常规定标称特性用于所有主要功能，但对次要功能，在极限条件范围内可放宽要求以避免不必要的超规定。

    进行一种环境试验可以有很多目的。在本总规范中，环境试验是鉴定批准试验的一部分。

在此情况下，一种耐环境试验表示产品在约束条件下工作或耐上述约束条件的能力。但由于

试验通常在几个试样上进行，因此，给某种设计而不是某个产品提供保护。试验成功将保证作为某一类型的产品有耐琐计环境的能力。不同的试验和严酷度等级对产品的可靠性和耐久性是必要的。

    制订一种环境试验规范所需的行动的方框图如图El所示。

 

图El  制订环境试验规范所需的行动的方框图

 

E2  环境试验的严酷度

 

E2.1振动

    本试验应按GB 2423.10进行，如GB 11313中15.2.2条的规定一样。GB B313中

15,2.2条包括了关于电连续性控制和应在有关规范和详细规范中规定的内容。

    振动的严酷度应由频率范围、振幅、持续时间（用扫颇循环次数表示）三个参数共同确定。有关规范应从下列优选值中选取适当的参数。

    扫频范围：
                                  

10～150Hz

10～500Hz

10～2000Hz

振幅：高交越频率57—62Hz时的振幅值的优选值见表E1。

    表El

低于交越颏翠时的位移幅值	高于交越频率时的加速度幅值
mm	mg/s2	(g)
0.75 1.0 1.5	98 147 196	(10) (15) (20)

 

    持续时间：

    每个轴线上的扫频循环次数：2.5.10或20次。

E2.2碰撞

    本试验应按GB 2423.6的规定进行。除在分规范或详细规范中另有规定外，严酷度应从

下列优选值中选取。

表E2

峰值加速度值		相应脉冲持续时间	相应的速度变化量
mg/s2	(g)	ms	m／s
98 245 390	(JO) (25) (40)	16 6 6	1.00 0.94 1.50

 

    碰撞次数：1000±10次

E2.3冲击

    本试验应按GB 2423.5的规定进行。

    除在分规范或详细规范中另有规定外，优选的脉冲形式应从下表选取。冲击的严酩度应

由峰值加速度和标称脉冲持续时间共同决定。

表E3

峰值加速度		相应脉冲持续时间	相应的速度变化量
			后峰锯齿波	半正弦渡	梯形波
mg/s2	(g)	ms	m／s	m／s	m/s
147 294 490 981 4900 14700	(15) (30) (50) (l00} (500) (1500)	11 18 II 6 1 0.5	0.81 2.65 2.69 2.94 2. 15 3.68	1,03 3.37 3.43 3.74 3.12 4.68	1.46 4.77 4,86 5.30 4.42 6.62

 

E2.4气候类别

    除在分规范或详细规范中另有规定外，应从下列优选的严酷度中选择。

    低温：-40～55℃

    高温：+70．+85．+125，+155．+200℃

    时间：4, 10，21,56d

E2.5恒定湿热

    本试验应按GB 2423.3的规定进行。

    除在分规范或详细规范中另有规定外，应从下列优选的严酷度中选择。

    时间：4，10，21,56d。

E2.6温度的迅速变化

    本试验应按GB 2423.22中试验Na的规定进行。温度的范围应按气候类别的规定选取。

    高低温暴露时间；各为30rain或按有关标准规定。

    循环次数：5（除另有规定）

E2.7盐雾

    本试验应按GB 2423.17中的规定进行。试验时问为96h或168h。

E2.8二氧化硫试验

    本试验应按GB 2423.19的规定进行，试验时间为4d。

FI  推荐的温度稳定性试验方法

 

附录F

温度稳定性试验方法

（参考件）

 

    对实心聚四氟乙烯介质半硬电缆，推荐下列稳定性程序进行三个连续的温度循环。

    a.   按有关标准的规定，把试样加热到其上限温度。

    b．  将试样恢复到室内温度，修整伸出的芯线，并与外导体平齐。

    c．  将试样在窒湿下至少放置1h。

    d．  将试样冷却到- 45℃，至少保持1h。

    e．  将试样恢复到室温，并至少保持1h。

    上述程序应在组装连接器之前在电缆上进行。应把电缆每边附加5mm长度，修整电缆的

端面以避免存在任何阻碍外导体内绝缘介质位移的毛口。在稳定性程序之后，电缆最终修整

到装配连接器的长度。

    如果对直的电缆在装配连接器之前进行附加的稳定性程序，那么可以改善温度稳定性。

 

附加说明：

本标准由电子工业都提出。

本标准由上海传输线研究所、电子工业部标准化研究所负责起草。

本标准主要起草人：赵士华、高文清、吴正平。

 

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